金属-晶粒度评级图

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金属晶粒度评级标准
金属晶粒度是指金属材料中晶粒的大小和形状特征。

晶粒度的大小对金属材料的力学性能、物理性能和腐蚀性能有着重要的影响。

因此，对金属材料的晶粒度进行评级是非常重要的。

下面将介绍金属晶粒度评级的标准。

首先，金属晶粒度评级的标准主要有两种方法，一种是显微镜观察法，另一种是X射线衍射法。

显微镜观察法是通过显微镜对金属材料的横截面进行观察，根据晶粒的大小和分布情况进行评定。

而X射线衍射法则是通过X射线对金属材料进行照射，根据衍射图样分析晶粒度的大小和分布情况。

其次，对于显微镜观察法，评定金属晶粒度的标准主要有GB/T 6394-2002《金属材料晶粒度测定方法》和ASTM E112-13《标准试验方法用光学显微镜观察金属晶粒度》等。

这些标准主要是通过显微镜观察金属材料的晶粒大小、形状和分布情况，然后根据标准中的图表和描述进行评定，最终给出晶粒度的等级。

另外，对于X射线衍射法，评定金属晶粒度的标准主要有GB/T 6394-2002《金属材料晶粒度测定方法》和ASTM E112-13《标准试验方法用X射线衍射法测定金属晶粒度》等。

这些标准主要是通过X射线对金属材料进行照射，然后根据衍射图样的分析结果进行评定，最终给出晶粒度的等级。

综上所述，金属晶粒度评级标准是非常重要的，它对金属材料的性能有着直接的影响。

因此，在实际生产和应用中，需要严格按照相关标准对金属材料的晶粒度进行评定，以确保金属材料的质量和性能达到要求。

同时，对于不同的金属材料和不同的应用领域，可以选择合适的评级方法和标准，以便更好地评定金属材料的晶粒度。

平均晶粒度-⾦属材料的平均晶粒度标准测试⽅法平均晶粒度-⾦属材料的平均晶粒度标准测试⽅法名称:E112-96(2004年重新核准)1——平均晶粒度标准测试⽅法这⼀标准是根据E112条款颁布的;E112之后紧跟的数字表⽰最初编辑的年份，或者表⽰最后修改的年份(如果有修改)，括号内数字(如果有的话)则表⽰最终批准的年份，上1标ε表⽰从最后修改或批准之⽇起的⼀次编辑更换。

该标准被国防部各相关部门认可使⽤。

简介这些⾦属平均晶粒度测试⽅法根本上是测量过程。

因为这⼀过程完全是独⽴于⾦属及其合⾦材料的⼏何学问题。

实际上，这些基本⽅法也应⽤于评估⾮⾦属的平均晶粒、晶体及晶胞尺⼨。

如果材料组织结构接近于标准对⽐图谱中的某⼀个图的话，可以采⽤对⽐法。

截距法和求积法也经常应⽤于确定平均晶粒度。

然⽽，对⽐法不能应⽤于单个晶粒的测量。

1 范围1.1 本标准规定了⾦属组织的平均晶粒度表⽰及评定⽅法。

这些⽅法也适⽤晶粒形状与标准系列评级图相似的⾮⾦属材料。

这些⽅法主要适⽤于单相晶粒组织，但经具体规定后也适⽤于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺⼨的测量1.2 本标准使⽤晶粒⾯积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。

这些分布近似正态分布。

本标准的测定⽅法不适⽤于双峰分布的晶粒度。

双峰分布的晶粒度参见标准E1181。

测定分布在细⼩晶粒基体上个别⾮常粗⼤的晶粒的⽅法参见E930。

1.3本标准的测量⽅法仅适⽤平⾯晶粒度的测量，也就是试样截⾯显⽰出的⼆维晶度，不适⽤于试样三维晶粒，即⽴体晶粒尺⼨的测量。

1.4 试验可采⽤与⼀系列标准晶粒度图谱进⾏对⽐的⽅法或者在简单模板上进⾏计数的⽅法。

利⽤半⾃动计数仪或者⾃动分析晶粒尺⼨的软件的⽅法参见E1382。

1.5本标准仅作为推荐性试验⽅法，它不能确定受检材料是否接收或适合使⽤的范围。

1.6 测量数值应⽤SI单位表⽰。

等同的英⼨,英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值.1.7 本标准没有列出所有的安全事项。

晶粒度检验晶粒度是晶粒尺寸大小的量度，是金属材料的重要显微组织参量。

•晶粒度检验：借助金相显微镜测定钢中实际晶粒度和奥氏体晶粒度。

•晶粒度检验包括组织显示和晶粒度测定两部分。

•奥氏体晶粒度显示是晶粒度检验工作中的难点。

F钢与A钢的奥氏体晶粒度形成及显示对于铁素体钢奥氏体晶粒的显示方法:国家标准GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定法》规定可使用渗碳法、氧化法、铁素体网法、渗碳体网法、直接淬硬法、网状珠光体法、相关法、模拟渗碳法等。

1 渗碳法适用范围：C≤0.25%的碳素钢及合金钢具体步骤：•将试样在930±10 o C渗碳、并保温6h，渗碳层≥1mm，并使其表层有过共析成分。

•缓冷后在渗碳层的奥氏体晶界上析出渗碳体网。

•试样冷却后经磨制和腐蚀，显示出过共析区奥氏体晶粒形貌。

晶粒度的显示：由沉积在晶粒边界上的渗碳体显示浸蚀剂：1）3%-4%硝酸酒精溶液2）5%苦味酸溶液3）沸腾的碱性苦味酸钠水溶液2 氧化法适用范围：w(C)＝0.25%-0.60%的碳钢和合金钢一般采用气氛氧化法，步骤如下：•经抛磨（用400粒度或15цm）的试样抛光面朝上置于空气炉中加热（w(C) ≤0.35%时，加热温度900℃±10℃ ；w(C)＞0.35% 时，加热温度为860℃±10℃），保温1h，然后水冷。

•根据氧化情况可将试样倾斜10o ~ 15o进行研磨和抛光，直接在显微镜上测定晶粒度。

也可在真空中加热并保温，空气中冷却或缓冷，使晶界氧化，同样进行上述处理后测定奥氏体晶粒大小的方法为真空法。

晶粒度显示:用15%盐酸酒精溶液3 铁素体网法适用范围：含碳量为0.25%-0.60%的碳素钢和合金钢。

具体步骤：•对于（w(C)≤0.35%时，加热温度900℃±10℃ , w(C)＞0.35%时，加热温度为860℃±10℃）至少保温30min，然后空冷或水冷。

•经磨制和侵蚀，显示出沿原奥氏体晶界分布的铁素体网。

铜及铜合金平均晶粒度测定方法1范围本标准规定了铜及铜合金平均晶粒度的表示及测定方法，包含有比较法、面积法和截距法。

本标准适用于测定单相或以单相为主的铜及铜合金的晶粒度。

2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。

凡是注日期的引用文件，仅注明日期的版本适用于本文件。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T30067金相学术语YS/T449铜及铜合金铸造和加工制品显微组织检验方法3术语和定义GB/T30067界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1晶界grain boundary对于多晶材料，从一个结晶方向至另一个结晶方向过渡的很窄的区域，从而将相邻的晶粒分离。

3.2晶粒grain晶界所包围的整个区域。

即是二维面上所观察到的原始晶界范围内的面积，或是三维物体上原始晶界面内所包围的体积。

对于有孪晶界面材料，孪晶界面不予考虑。

3.3孪晶Twin grains两个晶体（或一个晶体的两部分）沿一个公共晶面（即特定取向关系）构成镜面对称的位向关系，这两个晶体就称为"孪晶"，此公共晶面就称孪晶面。

3.4晶粒度grain size）”来表示“晶粒平均直径”。

晶粒大小的量度。

铜及铜合金晶粒度通常采用“公称直径（dn3.5晶粒级别指数grain degree class index numberG在100倍放大倍率下，645.16mm2面积所包含的晶粒数n与G有如下关系：n=2G-1 (1)注:G值可在表3中查出。

4符号和说明本标准采用的符号和说明见表1。

表1符号和说明符号名称及说明单位G晶粒级别指数-n测量面积为645.16mm2时所包含的晶粒数个ng测量面积为5000mm2时所包含的晶粒数个n1测量圆内晶粒数个n2被圆切割的晶粒数个nA单位面积内的晶粒数个/mm2 L所有测量线段的总长度mmM放大倍率-N所有测量线段上的总截点数个S晶粒平均截距mmdn平均直径mmdf弗里特直径mm a平均晶粒截面面积mm25试样5.1试样应直接从产品上截取。

晶粒度等级标准是根据工业生产上的需求来划分的，共分为12级。

其中1~4级为粗晶粒，5~8级为细晶粒，9~12级为超细晶粒度。

晶粒度的评级可以通过三种方法进行：比较法、面积法和截点法。

比较法是根据标准系列图谱比较来确定晶粒度级别，评估值的重现性通常为±1.0级；面积法是通过单位面积内晶粒数目确定晶粒度级别，精度±0.25级，无偏差，重现性为±0.5级；截点法是通过计算一定长度的线段与晶界相交的截点数确定晶粒度级别，精度±0.25级，无偏差，重现性为±0.5级。

本质晶粒度是指钢在一定条件下奥氏体晶粒长大的倾向，在930±10℃保温3~8h后测定奥氏体晶粒。

晶粒度标准等级分为8级，1级最大，8级最小。

奥氏体晶粒在100倍显微镜下，其大小与标准的晶粒度进行对比，凡度晶粒为1~5级的定为本质粗晶粒钢，5~8级的定为本质细晶粒钢。

此外还有超细晶粒钢。

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9.5级10.0级。