位置度测量方法

三坐标测量位置度的方法及注意事项作者：申学利杨丽云来源：《中小企业管理与科技·上旬刊》2015年第08期摘要：位置度检测是机动车零部件检测中经常进行的一项常规检验。

所谓“位置度”是指对被评价要素的实际位置对理想位置变动量的指标进行限制。

在进行位置度检测时首先要很好地理解和消化图纸的要求，在理解的基础上选择合适的基准。

位置度的检测就是相对于这些基准，它的定位尺寸为理论尺寸。

关键词：三坐标；位置度1 位置度的三坐标测量方法1.1 计算被测要素的理论位置①根据不同零部件的功能要求，位置度公差分为给定一个方向、给定两个方向和任意方向三种，可以根据基准体系及确定被测要素的理论正确位置的两个理论正确尺寸的方向选择适当的投影面，如XY平面、XZ平面、YZ平面。

②根据投影面和图纸要求正确计算被测要素在适当投影面的理论位置。

1.2 根据零部件建立合适的坐标系。

在PC-DMIS软件中，可以把基准用于建立零件坐标系，也可以使用合适的测量元素建立零件坐标系，建立坐标的元素和基准元素可以分开。

1.3 测量被测元素和基准元素。

在被测元素和基准元素取点拟合时，最好使用自动程序进行，以减少手动检测的误差。

1.4 位置度的评价。

①在PC-DMIS软件中，位置度的评价可以直接点击位置度图标。

②在位置度评价对话框中包含两个页面，特征控制框和高级，首先根据图纸要求设置相应的基准元素，在基准元素编辑窗口中只会出现在编辑当前光标位置以上的基准特征，如图1所示。

③基准元素设置完成，回到特征控制框选择被测元素，设置基准，输入位置度公差。

④在位置度评价的对话框中选择高级，在此对话框中可以设置特征控制框尺寸的信息输出方式和分析选项。

如图2的对话框，在标称值一栏中手动键入被测要素的理论位置值，点击评价。

1.5 在报告文本中刷新就可以看到所评价的位置度结果。

2 三坐标测量位置度的注意事项2.1 评价位置度的基准元素选择和建立坐标系的元素选择有相似之处，都要用平面或轴线作为A基准，用投影于第一个坐标平面的线作为B基准，用坐标系原点作为C基准。

二次元位置度测量方法二次元角色的位置度测量是指能够准确测量二次元角色的位置坐标，并且将其转化为具体的数据形式。

在现代社会中，二次元文化已经成为了一种流行文化，其在各个领域都有广泛的应用。

为了能够更好地利用二次元文化，提高二次元文化产业的发展，二次元角色的位置度测量方法越来越重要。

本文将介绍10条关于二次元位置度测量方法，并展开详细描述。

1. 使用红外线感应技术进行测量红外线感应技术可以通过在二次元角色植入红外线探头，使得二次元角色的位置坐标可以连续地被检测出来。

通过这种方式，可以准确地测量二次元角色在空间中的位置，并将其转化为具体的数据形式。

2. 基于深度学习的测量方法深度学习技术可以通过对二次元角色进行图像识别，使得二次元角色的位置坐标可以被快速地测量出来。

通过这种方式，可以减少人工干预的时间和精力，提高测量的准确度和效率。

3. 基于声音波测量的方法通过发送一定的音频信号，可以在二次元角色身上发出声音波，通过对声音波的回波进行测量，可以准确地测量二次元角色在空间中的位置坐标，并将其转化为具体的数据形式。

4. 利用磁场测量二次元角色的位置度二次元角色中可以植入一定的磁性材料，利用磁感应的原理进行测量，可以从而实现对二次元角色在空间中位置的度量。

5. 基于增强现实技术的方法增强现实技术可以将二次元角色投射到现实世界中，在手机或者电脑上实现二次元角色的3D模型，通过对3D模型的位置进行测量，就可以得到二次元角色在空间中的位置坐标。

6. 利用加速度传感器的方法在二次元角色中植入加速度传感器，可以通过对加速度传感器的读取，来测量二次元角色在空间中的加速度变化，从而计算出其位置坐标，并将其转化为具体的数据形式。

7. 基于无线电波的测量方法通过向二次元角色发送特定频率的无线电波，在二次元角色植入了相应的传感器后，可以通过无线电波的变化，来测量二次元角色在空间中位置的变化，从而得到其精确的位置坐标。

8. 利用地磁传感器的方法在二次元角色中植入地磁传感器，可以通过对地磁传感器读数的移动，来测量二次元角色在空间中位置的变化，并从而得出精确的位置坐标。

位置度的介绍及测量方法一、位置度的定义是指被测实际要素对其具有理想位置的理想要素的变动量注：理想要素的理想位置由基准和理论尺寸确定（即由几何图框及其位置确定）二、位置度的三要素基准；理论位置值；位置度公差位置度公差带是一以理论位置为中心对称的区域，位置度是限制被测要素的实际位置对理想位置变动量的指标。

它的定位尺寸为理论正确尺寸。

位置度公差在评定实际要素位置的正确性, 是依据图样上给定的理想位置。

位置度包括点的位置度、线的位置度和面的位置度。

点的位置度:如公差带前加S￠，公差带是直径为公差值t的球内的区域，球公差带的中心点的位置由理论正确尺寸确定。

线的位置度：如公差带前加￠，公差带是直径为公差值t的圆柱面内的区域，公差带的轴线的位置由理论正确尺寸确定。

一般来说我们算位置度都是X.Y两个值的偏差量去换算以基准A、B、C建立坐标系，看具体的位置关系选择使用直角或极坐标，一般采用直角坐标，测出被测点到基准的X、Y尺寸，采用公式2乘以SQRT（平方根）（（x2-x1)平方+（y2-y1) 平方）就行，x2是实际尺寸，x1是图纸设计尺寸，计算出的结果就是：实际位置相对于设计的理想位置的偏移量，因为位置度是一个偏移范围￠，所以要乘以2 这个常见的公式三、位置度公差基本原则位置度公差是各实际要素相互之間或它們相对一个或多个基准位置允许的变动全量在位置度公差标注中用理论正确尺寸及位置度公差限制各实际要素相互之間或它們相对一个或多个基准位置,位置度公差相对理想位置为对称分布位置度公差可用于单个的被测要素,也可用于成组的被测要素,当用于成组的被测要素,位置度公差应同时限定成组的被测要素中的每一个被测要素四、位置度公差评定原则最小条件:被测实际要素對理想要素的最大变动量最小五、位置度的评定与测量1、点位置度的测量：其是指包容被测实际点，由基准表面（或）直线和理论正确尺寸确定的定位最小包容区域的直径。

公式：2、线位置度的测量其是指：包容被测实际直线（或轴线）对基准直线（基准面）和理论正确尺寸所确定的定位最小包容的宽度或直径。

位置度的测量方法及检测工具
对位置度的测量和检测，主要有以下几种方法和工具：
1. 千分尺
使用千分尺可以测量零件的外形尺寸，通过计算不同部位的尺寸来判断位置度。

适用于尺寸不太精密的大型零件。

2. 哈表和量角器
使用哈表可以测量平面度、直线度、圆柱度等。

使用量角器可以测量倾斜度、垂直度等角度位置度。

3. 激光跟踪仪
使用激光测距原理，可以进行高精度的大尺寸位置度测量，如同心度、同轴度、平行度等。

4. 三坐标测量机
三坐标测量机可以进行三维测量，通过探头测量不同部位的坐标值，来计算位置度误差。

精度高。

5. 轮廓仪
使用接触式或非接触式探头，测量零件轮廓，通过与CAD模型比较判断位置度。

6. 激光扫描仪
非接触式测量设备，可以快速获得零件点云数据，与CAD模型比较判断位置度。

7. 自动光学检测
使用机器视觉检测位置度，如AOI检测PCB板位置度。

8. 涡流检测
使用气体涡流的特性检测旋转零件的同心度、圆柱度等位置度。

选择方法时应考虑精度要求、尺寸大小、检测速度等因素。

法兰盘的位置度测量方法
法兰盘的位置度测量方法一般包括以下几个步骤：
1. 确定测量对象：首先，需要明确要测量的法兰盘，并确保其处于稳定的状态。

2. 安装检测仪器：根据具体的测量要求和仪器型号，安装适当的检测仪器，例如三维测量仪、激光扫描仪等。

3. 标定检测仪器：对于使用电子或光学测量仪器的方法，需要先对仪器进行标定和校准，以确保测量结果的准确性。

4. 放置基准平台：将法兰盘放置在一个平整的基准平台上，并进行稳定固定，以保证测量的准确性。

5. 进行测量：根据测量仪器的使用方法，按照测量需求逐一测量法兰盘的各个位置度参数，例如平面度、圆度、同心度、垂直度等。

6. 记录测量结果：将测量结果记录下来，并进行相关分析和比较，以确定法兰盘的位置度状况。

7. 分析并调整：根据测量结果，进行位置度数据分析，评估法兰盘的质量状况，如需要，可以进行相应的调整、修正或纠正措施。

需要注意的是，在进行法兰盘的位置度测量时，应遵循仪器操作指导，操作人员应具备相关的测量知识和技能，以确保测量操作的准确性和安全性。

同时，也要根据具体需求，选择适当的测量仪器和方法来进行测量。

三坐标位置度测量方法
三坐标位置度测量方法主要有以下几种：
1. 直接测量法：使用三坐标测量仪直接测量待测物体的三个坐标值，然后计算出其位置度。

2. 视差测量法：利用特殊的观察角度和相机设备，通过观察待测物体在不同视角下的图像差异，计算出其位置度。

3. 激光测量法：通过发射激光束，测量激光束到待测物体的反射或散射点的距离，从而计算出其位置度。

4. 光学投影法：利用光学投影仪或光学扫描仪，将待测物体的三维形状投影到二维平面上，再进行测量和计算。

5. 多点法：在待测物体上选择多个特征点，通过测量这些特征点之间的相对位置关系，计算出物体的位置度。

在实际应用中，根据具体测量要求和条件的不同，可以选择适合的测量方法。

面的位置度测量方法全文共四篇示例，供读者参考第一篇示例：面的位置度是指一个面相对于其参考面的位置偏移程度的度量。

在工程领域，面的位置度测量是一项非常重要的质量控制工作，它可以确保产品的外观和性能达到设计要求。

本文将介绍面的位置度测量的方法和步骤，帮助读者更好地理解和应用这一技术。

一、面的位置度测量的意义在制造过程中，面的位置度测量可以帮助我们了解产品各个面的位置情况，以及它们与参考面之间的偏移程度。

通过合理地设置面的位置度检测任务，可以避免制造过程中出现尺寸偏差、装配问题等质量问题，确保产品的准确性和一致性。

面的位置度测量还可以为产品的后续加工、使用和维护提供准确的参考数据，提高产品的使用寿命和性能。

1. 光学测量法光学测量法是一种常用的面的位置度测量方法，它通过光学仪器测量面的表面特征和位置，得出面相对于参考面的偏移情况。

在进行光学测量时，需要使用适当的光学仪器，如光学显微镜、激光测距仪等。

通过在不同角度和位置对面进行光学测量，可以获取面的位置度数据，并进行分析和验证。

2. 接触式测量法3. 数字化测量法1. 确定面的位置度测量任务在进行面的位置度测量时，首先需要明确面的位置度测量任务的具体要求和目标。

确定要测量的面的数量、位置和尺寸范围，选择合适的测量方法和仪器，制定详细的测量方案和步骤。

2. 准备测量仪器和工具在进行面的位置度测量之前，需要准备好相应的测量仪器和工具。

根据面的位置度测量任务的要求，选择合适的光学仪器、接触式传感器或数字化测量仪器，确保其正常运行和准确度。

4. 处理和分析测量数据完成面的位置度测量后，需要对测量数据进行处理和分析。

通过使用专业的测量软件或工具，处理和分析测量数据，得出面相对于参考面的偏移情况，进行数据校核和验证。

5. 制定改进措施和方案根据面的位置度测量结果，制定改进措施和方案。

对于存在偏差和问题的面，及时进行调整和改进，确保产品的位置度符合设计要求，提高产品的质量和性能。

蔡司三坐标阵列孔位置度的测量涉及到对多个孔的位置度进行测量。

这些孔可能是相对基准进行公差的，也可能是在不同的方向上受到限制的。

具体测量方式如下：
1. 常规方法：配置小测针，测针直径小于孔径，测针进入孔内进行触测测量圆或圆柱进行评价。

2. 针规辅助测量：运行程序前在小孔插入匹配合适的针规，用常规测针测量针规外露的圆柱部分，再用此测量圆柱与孔口和孔底两处虚构横截平面分别相交构造成点或圆，分别评价两点或圆的位置度，两结果中取最大值为该小孔的位置度。

3. 自定心测量法：用大于孔径1.5倍以上直径的测针在小孔口部中心测量自定心点，评价该自定心点的位置度即为小孔的位置度。

此方法的优点是减少了小直径测针、吸盘、库位等部件的投入，无需使用针规，无额外操作，程序运行测量时间短，测量效率极高。

缺点是自定心点测量的是孔口倒角的中心，跟小孔的真实中心有一定的误差，故此方法整体测量误差相对较大，精度相对较低。

自定心测量法适用于位置度或尺寸要求不高的短小孔的测量，如压铸件的通油孔，一般来说小孔位置度要求在0.5以上均可使用此简易测量法。

以上内容仅供参考，如需更多信息，建议查阅蔡司三坐标的使用说明或咨询相关专业人士。

1.基准﹔2.理論位置值﹔3.位置度公差三、位置度公差帶位置度公差帶是一以理論位置為中心對稱的區域。

四、位置度的標注與測量方法3﹑以中心线左边第二根端子为例﹐测出实际尺寸D1(0.82)﹑D2(1.02)﹐根据位置定义﹐DE=abs(Da-Dt)=abs{(D1+D2)/2-Dt)}=abs[(0.85+1.00)/2-0.90}]=0.025<0.05其中﹐DE表示实际偏差abs表示绝对值Da表示实际位置尺寸Dt表示理论位置尺寸﹐对于不同的端子﹐它们的理论位置尺寸是不测量时测量者须自行计算DE=abs(Da-Dt)=abs{(D1+D2)/2-Dt)}=abs{[(d1+Dt)+(Dt-d2)]/2-Dt)}=abs[(d1-d2)/2](二)﹑IDE44P垂直位置度的标注与测量如图﹐IDE44P端子在垂直方向上具有以下特点﹕排数少（只有两排）﹐每排端多（达22PIN）﹐长度值为端子材厚值﹐对于不同的端子﹐其值差异极小﹐因此我们排端子和下排端子分别看成两个整体。

下面以下排端子为例介绍其测量方法。

一、测出角柱垂直方向上Φ1.70的实际尺寸﹐然后置中归零﹔二、往下偏移2.00﹐然后归零﹔三、为基准﹐用于控制端子锡脚与与PCB板的配合﹐现其位置度公差0.18﹔另一个是端子域的位置度﹐此位置度以KEY为基准﹐用于控制端子接触区域与对插件的配合﹐现其度公差0.3。

对于第一个位置度﹐其标注方式已统一﹔对于第二个位置度﹐有如下两种式﹕以上两种标注方式中﹐第一种直接对124根端子接触区域一一测量其位置度﹐由接触区域是包在主体内部﹐若采用这种方式﹐测量繁琐困难﹔对于第二种测量方式﹐子是下料成型﹐且插在主体插槽中﹐插槽控制了端子的平面度﹐因此只须控制KEY相POST的位置度与端子锡脚相对POST的位置度﹐相应地也就控制了端子接触区域相对水平位置度Th和垂直位置度Tv后﹐須再驗証其是否滿足公式Th²+Tv²≦0.15²。