CMOS元器件及其模型
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cmos电路和器件基本结构CMOS电路和器件基本结构一、引言CMOS(亦称为互补金属-氧化物-半导体)电路是一种常用的逻辑电路,它由NMOS(N型金属-氧化物-半导体)和PMOS(P型金属-氧化物-半导体)两种互补型的MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)组成。
CMOS电路以其低功耗、高集成度和低电压操作等特点,在现代集成电路设计中得到广泛应用。
本文将介绍CMOS电路和器件的基本结构。
二、CMOS电路的基本结构1. NMOS器件NMOS器件由P型衬底上生长的N型沟道和两个掺入P型源极和漏极的P型扩散区组成。
沟道区域上方由一层薄的氧化硅(SiO2)作为绝缘层,上面再覆盖一层金属(通常为铝)作为电极。
当沟道区没有电压施加时,NMOS处于截止状态,导通状态需要在沟道区施加正电压。
2. PMOS器件PMOS器件与NMOS器件相反,由N型衬底上生长的P型沟道和两个掺入N型源极和漏极的N型扩散区组成。
沟道区域上方同样有一层氧化硅和金属电极。
当沟道区施加负电压时,PMOS处于导通状态,截止状态需要在沟道区施加正电压。
3. CMOS电路CMOS电路是通过将NMOS和PMOS器件相互串联或并联而构成的。
在CMOS电路中,NMOS器件的漏极与PMOS器件的源极相连,共同组成电路的输出端;NMOS器件的源极与PMOS器件的漏极相连,共同组成电路的输入端。
当输入信号施加到NMOS和PMOS器件上时,根据不同的输入信号电平,其中一个器件处于导通状态,另一个器件处于截止状态,从而实现电路的逻辑功能。
三、CMOS电路的工作原理CMOS电路的工作原理是基于MOSFET的三个重要特性:沟道截止、沟道饱和和门极电势控制。
当输入信号为低电平时,NMOS处于导通状态,PMOS处于截止状态,此时电路输出为高电平;当输入信号为高电平时,NMOS处于截止状态,PMOS处于导通状态,此时电路输出为低电平。
由于CMOS电路的输出仅在输入发生变化时才会改变,且输出信号的上升和下降均经过一个NMOS和一个PMOS器件,因此CMOS电路具有较低的功耗和较高的抗噪声能力。
集成电路常用器件介绍一、CMOS工艺下器件:CMOS工艺可分为P阱CMOS、N阱CMOS和双阱CMOS。
以NWELL工艺为例说明CMOS中常用有源及无源器件的器件结构、工作原理、特性参数等。
建议在此之前先了解CMOS的基本工艺。
1.1有源器件1. MOS管采用N阱工艺制作的PMOS与NMOS结构示意图如图(1.1-1),在衬底为轻掺杂P-的材料上,扩散两个重掺杂的N+区就构成了N沟器件,两个N+区即源漏,中间为沟道。
中间区域的表面上有以薄层介质材料二氧化硅将栅极(多晶硅)与硅隔离开。
同样,P沟器件是在衬底为轻掺杂的N-的材料(即N阱或NWELL)上,扩散两个重掺杂的P+区形成的。
图(1.1-1)图中的B端是指衬底,采用N阱工艺时,N阱接最高电位VDD,Psub接VSS。
通常将PMOS、NMOS的源极与衬底接在一起使用。
这样,栅极和衬底各相当于一个极板,中间是二氧化硅绝缘层,形成电容。
当栅源电压变化时,将改变衬底靠近绝缘层处感应电荷的多少,从而控制漏极电流的大小。
以N沟器件为例说明MOS管的工作原理:(1)N沟增强型MOS管:当栅源之间不加电压时,漏源之间是两只背靠背的PN结,不存在导电沟道,因此即使漏源之间加电压,也不会有漏极电流。
当u DS=0,且u GS>0时,由于二氧化硅的存在,栅极电流为零。
但是栅极金属层将聚集正电荷,它们排斥P型衬底靠近二氧化硅一侧的空穴,使之留下不能移动的负离子区,形成耗尽层。
当u GS增大,一方面耗尽层加宽,另一方面将衬底的自由电子吸引到耗尽层于绝缘层之间,形成一个N型薄层,称为反型层,如图(1.1-2)。
这个反型层即源漏之间的导电沟道。
指沟道刚刚形成的栅源电压称为开启电压U GS(th)。
u GS 越大反型层越厚,导电沟道电阻越小。
图(1.1-2)当u GS是大于U GS(th)的一个确定值时,若在漏源之间加正向电压,则产生一定的漏极电流。
此时,u DS的变化对导电沟道的影响与结型场效应管相似,即当u DS较小时,u DS的增大使漏极电流线性增大,沟道沿源漏方向逐渐变窄,一旦u DS增大到使u GD= U GS(th)[即u DS=U GS- U GS(th)]时,沟道在漏极一侧出现夹断点,称为预夹断,如图(1.1-3)所示。
第一章CMOS电路中的器件及其模型第一节MOSFET基础第二节MOSFET的SPICE模型第一节MOSFET基础MOSFET的基本结构MOSFET的基本原理MOSFET的稳态特性MOSFET的动态特性MOSFET的二级效应第一节MOSFET基础MOSFET Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor 金属-氧化物-半导体场效应晶体管四端器件:栅Gate源Source漏Drain衬底BodySDG多晶硅有源区金属WLSiO 2SiO 2n +n +S D Lp-Sit ox x jGMOS 晶体管的结构版图剖面图B关键参数:沟道长度L 沟道宽度W 栅氧化层厚度Tox衬底掺杂浓度Nsub 源漏pn 结结深xj实际沟道长度L = LG –2LDP-SiL DL(drawn)n+n+n+n+杂质的横向扩散实际沟道宽度DaWWW2-=场氧化产生的鸟嘴沟道宽度W W W 123w W=4wW=W1+W2+W3W =4WSSS S DD DMOS晶体管的电势分布MOS晶体管的分类I-V特性•简单电流方程•四端器件的完整电流方程•亚阈值区电流方程•MOS晶体管的主要直流参数MOSFET的工作过程及I-V 特性亚阈线性饱和I DSV G-V tMOSFET的输入、输出特性曲线MOS 管的电流电压NMOS 管的I~V 特性推导NMOS 管的电流——电压关系式:设:Vgs>Vtn ,且Vgs 保持不变,则:沟道中产生感应电荷,根据电流的定义有:其中:τ电子平均传输时间栅下感应总电子电荷数Qc Ids =L τυ=沟道长度电子运动速度ν=μn*E ds μn 为电子迁移率(cm ²/v*sec )E ds =V ds /L 沟道水平方向场强代入:ν=(μn*V ds )/L代入:关键是求Qc ,需要分区讨论:ds n V L ⨯=μτ2(1)线性区:Vgs-Vtn>Vds设:Vds 沿沟道区线性分布则:沟道平均电压等于Vds/2由电磁场理论可知:Qc=e o ⨯e ox ⨯Eg ⨯W ⨯L 其中:tox 为栅氧厚度e o 为真空介电常数e ox 为二氧化硅的介电常数W 为栅的宽度t oxVds Vtn Vgs Eg 2/)(--=令:Cox=(e o ⨯e ox)/tox 单位面积栅电容K= Cox ⨯μn 工艺因子βn=K(W/L) 导电因子则:Ids=βn[(Vgs-Vtn)-Vds/2]Vds——线性区的电压-电流方程当工艺一定时,K 一定,βn 与(W/L )有关。
cmos电路和器件基本结构CMOS电路和器件基本结构CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)电路是一种广泛应用于数字集成电路中的技术。
CMOS电路由CMOS 器件构成,它是一种特殊的半导体器件。
本文将介绍CMOS电路和器件的基本结构。
一、CMOS电路的基本原理CMOS电路的基本原理是利用n型MOS(NMOS)和p型MOS (PMOS)两种互补型的场效应晶体管(FET)来实现电路的逻辑功能。
NMOS和PMOS的特性互补,通过它们的联合工作可以实现低功耗、高集成度和高噪声抑制的优点。
二、CMOS器件的基本结构CMOS器件由一对互补型的MOSFET组成,即NMOS和PMOS。
这两种器件的基本结构如下:1. NMOS结构NMOS器件由一个n型沟道和两个控制电极(栅极和源极)组成。
栅极用于控制沟道的导电性,源极和漏极用于连接电路。
当栅极施加高电压时,沟道会形成导电通道,电流可以从源极流向漏极;当栅极施加低电压时,导电通道关闭,电流无法流动。
2. PMOS结构PMOS器件由一个p型沟道和两个控制电极(栅极和源极)组成。
栅极用于控制沟道的导电性,源极和漏极用于连接电路。
与NMOS 相反,当栅极施加低电压时,沟道会形成导电通道,电流可以从源极流向漏极;当栅极施加高电压时,导电通道关闭,电流无法流动。
三、CMOS电路的工作原理CMOS电路的工作原理是利用两个互补型MOSFET的特性,通过不同的输入信号来控制输出信号。
当输入信号为高电平时,NMOS 导通,PMOS截止;当输入信号为低电平时,PMOS导通,NMOS 截止。
这样就实现了输入信号与输出信号之间的逻辑关系。
四、CMOS电路的优点CMOS电路具有以下几个优点:1. 低功耗:CMOS电路只在切换时才消耗电能,而静态时几乎不消耗电能,因此功耗较低。
2. 高集成度:CMOS电路中的晶体管可以非常小型化,因此可以实现高度集成的芯片设计。
集成电路常用器件介绍、CMOS:艺下器件:CMO理艺可分为P阱CMOS N阱CMO副双阱CMOS以NWELLX艺为例说明CMO舛常用有源及无源器件的器件结构、工作原理、特性参数等。
建议在此之前先了解CMOS勺基本工艺。
1.1有源器件1. MOS管采用N阱工艺制作的PMO由NMOS吉构示意图如图(1.1-1 ),在衬底为轻掺杂P的材料上,扩散两个重掺杂的N夜就构成了N沟器件,两个N+区即源漏,中间为沟道。
中间区域的表面上有以薄层介质材料二氧化硅将栅极(多晶硅)与硅隔离开。
同样,P沟器件是在衬底为轻掺杂的N的材料(即N阱或NWELL 上,扩散两个重掺杂的P+区形成的。
pmos 5v: W/L=20/2.0uinnmos 5v: W/L=20/2.Oum图(1.1-1)图中的B端是指衬底,采用N阱工艺时,N阱接最高电位VDD Psub接VSS通常将PMOS NMOS勺源极与衬底接在一起使用。
这样,栅极和衬底各相当于一个极板,中间是二氧化硅绝缘层,形成电容。
当栅源电压变化时,将改变衬底靠近绝缘层处感应电荷的多少,从而控制漏极电流的大小。
以N 沟器件为例说明 MO 磨的工作原理:(1) N 沟增强型MOS^:当栅源之间不加电压时,漏源之间是两只背靠背的 因此即使漏源之间加电压,也不会有漏极电流。
当 U DS =。
,且U GS 0时,由于二氧化硅的存在,栅极电流为零。
但是栅极金属层将聚集正电荷,它们排 斥P 型衬底靠近二氧化硅一侧的空穴 ,使之留下不能移动的负离子区,形成耗尽层 。
当U GS 增大,一方面耗 尽层加宽,另一方面将衬底的自由电子吸引到耗尽层于绝缘层之间,形成一个 N 型薄层,称为反型层,如图 (1.1-2)。
这个反型层即源漏之间的导电沟道。
指沟道刚刚形成的栅源电压称为开启电压 U Gs (th )。
U GS越大反型层越厚,导电沟道电阻越小 。
图(1.1-2 )当u GS 是大于U G S (th )的一个确定值时,若在漏源之间加正向电压,则产生一定的漏极电流。
cmos的基本组成CMOS是一种集成电路技术,它的全称是互补金属氧化物半导体技术,是由金属、氧化物和半导体组成的。
CMOS电路中有两种不同类型的传输门,分别称为n型MOSFET和p型MOSFET,它们基本上是互补的,即它们的输出信号相反。
CMOS电路中还包括电源、电容、电阻等元器件,这些元器件构成了整个CMOS电路的完整体系。
下面将详细介绍CMOS的基本组成。
1. n型MOSFETn型MOSFET是一种半导体器件,具有一个n型源极、漏极和一个p型栅极。
当栅极上的电压为高电平时,n型MOSFET的源极和漏极之间产生一个电子通道,导致它的输出电压接近于零。
当栅极上的电压为低电平时,电子通道关闭,输出电压为高电平,和p型MOSFET的工作原理相似。
n型MOSFET是CMOS电路中基本的构件之一,用于实现与非门、或非门等多种逻辑门电路。
3. 电源和接地CMOS电路需要稳定的电源供电,通常使用DC电源和电阻分压器来提供稳定的电压。
将高电平信号通常连接到电源端,将低电平信号连接到接地端。
4. 电容电容是一种储存电荷的元件,用于在电路中产生时序延迟等效应。
CMOS电路中常用的电容是金属-氧化物-半导体场效应电容器(MOSCAP),它的结构类似于MOSFET。
5. 电阻电阻是一种调节电流的元件,它在CMOS电路中用于分压、限流等应用。
CMOS电路中一般采用硅电阻,通过电子注入控制电阻值大小。
6. 控制信号CMOS电路需要外部信号控制,通过控制信号的高低来改变电路的状态。
控制信号可以是数字信号或模拟信号,而数字信号可以是高电平或低电平,模拟信号则可以是连续变化的信号值。
控制信号的作用是开关电路,实现不同的逻辑功能。
7. 电路板和封装CMOS电路通常由许多片块组成,这些片块被固定在电路板上。
电路板常常是由遮蔽金属材料制成的,在电路板上布局电路的一般目的是减少噪音干扰和提高信号速度。
在CMOS电路中还需要封装,封装可以保护电路不受机械损坏和尘埃污染,提供物理支撑和冷却。