SPC控制图
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上管制线:
中心线:
下管制线:
12 100 24 24.0 44.6 16.9 30.8 13 100 35 35.0 44.6 16.9 30.8
VCL= P+3√P(1-P)/n CL= ∑Pn/∑n LCL= P-3√P(1-P)/n
14 100 28 28.0 44.6 16.9 30.8 15 100 40 40.0 44.6 16.9 30.8 16 100 32 32.0 44.6 16.9 30.8 17 100 29 29.0 44.6 16.9 30.8 18 100 33 33.0 44.6 16.9 30.8 19 100 32 32.0 44.6 16.9 30.8 20 100 34 34.0 44.6 16.9 30.8 21 100 23 23.0 44.6 16.9 30.8 22
限制日期:2003.1.1---1.30 抽样方法:取样时间22天, 每天随机抽样1组,每组100件。 测定人:WK
2200 677 30.8
100 ∑n = 35 ∑Pn= 35.0 P = 44.6 16.9 30.8 不良 种类 不良 数
占不良 比
柏拉图分析
耦合 隔离 驻波 短路2 大1 不够3 高4 402
累计百分比
7
7
不良类别 驻波高 短路 隔离不够 耦合大 耦合小 其它
序号
不良数
占不良比 累计比 59.30% 27.00% 7.83% 4.58% 0.90% 0.10% 59.30% 86.00% 93.00% 97.58% 98.90% 100.00%
1 2 3 4 5 6
402 184 53 31 6 1 677
部门: 仪表: 检测人:
6 100 21 21.0 44.6 16.9 30.8 7 100 33 33.0 44.6 16.9 30.8
生产部 网络分析仪 罗金辉
8 100 31 31.0 44.6 16.9 30.8 9 100 33 33.0 44.6 16.9 30.8 10 100 34 34.0 44.6 16.9 30.8 11 100 32 32.0 44.6 16.9 30.8
7
7
300 40.00% 30.00%
184 20.00%
200
%
CL
P
UCL
LCL
100
统计 管制图显稳态,制程正常。 分析
持续改进:在402台耦合度偏大的耦合器中,据本月不良记录
0
10.00% 53 31 6 1 0.00%
1
2
3
4
5
6
不良数量
有321台为5dB耦合器,需通知技术部对其进行原因分析,提出改善对策,减少下月此类不良数。
59%
耦合 其他7 合计 小5 6
0.90%
184
27%
53
7.80%
31
4.50%
1
0.10%
677
100.00% 98.90% 97.58% 93.00% 600.00%
管 制 图
500
70.00% 59.30% 400
402
60.00% 50.00%
P管制图表(一)
管制图编号:002—1
产品名称: 工序: 品质特性:
序号 检查数 φ Pn φP VCL LCL P 1 100 32 32.0 44.6 16.9 30.8
耦合器 合盖 电性能指标
2 100 21 21.0 44.6 16.9 30.8 3 100 40 40.0 44.6 16.9 30.8 4 100 32 32.0 44.6 16.9 30.8 5 100 23 23.0 44.6 16.9 30.8