2015电子显微分析
- 格式:ppt
- 大小:5.32 MB
- 文档页数:54
二硫化钼的电子显微分析摘要:本文采用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)对二硫化钼样品进行电子显微分析。
通过SEM观察表明样品表面呈现出均匀致密的颗粒状结构。
TEM观察结果表明,二硫化钼在晶体结构方面呈现出六边形排列的晶格结构,晶格常数为0.32 nm。
由此可以推断二硫化钼是一种具有高度有序晶体结构的材料。
本文的研究结果对于了解二硫化钼的晶体结构和性质具有重要意义。
关键词:二硫化钼;扫描电子显微镜;透射电子显微镜;晶体结构Introduction:二硫化钼是一种重要的材料,广泛应用于电子器件、光学元件、涂料等领域。
在这些应用中,二硫化钼的电子结构和晶体结构对材料的性质具有重要影响。
因此,对二硫化钼的晶体结构进行电子显微分析是十分有必要的。
Materials and Methods:样品的制备采用溶剂热法,将二硫化钼粉末在乙二醇和氨基甲酸铵的混合溶液中加热反应,得到纳米粒级的二硫化钼样品。
SEM和TEM的观测采用日本FEI Quanta650F和日本FEI Tecnai G2 F20-Twin两台电子显微镜,观测条件如下:SEM:电子加速电压:5 kV横向分辨率:2 nm垂直分辨率:3 nmTEM:电子加速电压:200 kV横向分辨率:0.2 nm垂直分辨率:0.35 nmResults:SEM观察表明,二硫化钼样品表面呈现出均匀致密的颗粒状结构,如图1所示。
TEM观察结果表明,二硫化钼在晶体结构方面呈现出六边形排列的晶格结构,晶格常数为0.32 nm,如图2所示。
Discussion:通过SEM和TEM的电子显微分析,可知二硫化钼样品表面呈现出均匀致密的颗粒状结构,且晶格结构为六边形排列的晶格结构,晶格常数为0.32 nm。
由此可以推断二硫化钼是一种具有高度有序晶体结构的材料。
而这种高度有序的晶体结构,则决定了二硫化钼的电子结构和物理性质。
Conclusion:通过扫描电子显微镜和透射电子显微镜的电子显微分析,确定了二硫化钼的颗粒状结构和六边形排列的晶格结构,晶格常数为0.32 nm。
《电子显微分析》知识点总结第一讲电子光学基础1、电子显微分析特点2、Airy斑概念3、Rayleigh准则4、光学显微镜极限分辨率大小:半波长,200nm5、电子波的速度、波长推导公式6、光学显微镜与电子显微镜的不同之处:光源不同、透镜不同、环境不同7、电磁透镜的像差产生原因,如何消除与减少像差。
8、影响光学显微镜与电磁透镜分辨率的关键因素,如何提高电磁透镜的分辨率9、电子波的特征,与可见光的异同第二讲TEM1、TEM的基本构造2、TEM中实现电子显微成像模式与电子衍射模式操作第三讲电子衍射1、电子衍射的基本公式推导过程2、衍射花样的分类:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样3、透射电子显微镜图像衬度,各自的成像原理。
第四讲TEM制样1、粉末样品制备步骤2、块状样品制备减薄的方法3、块状脆性样品制备减薄——离子减薄4、塑料样品制备——离子减薄5、复型的概念、分类第五讲SEM1、电子束入射固体样品表面会激发的信号、特点与用途2、SEM工作原理3、SEM的组成4、SEM的成像衬度:二次电子表面形貌衬度、背散射电子原子序数衬度、吸收电子像的衬度、X射线图像的衬度第六讲EDS与WDS1、EDS探测系统——锂漂移硅固体探测器2、EDS与WDS的优缺点第七讲EBSD1、EBSD的应用第八讲其它电子显微分析方法1、各种设备的缩写形式历年考题透射电镜的图像衬度有非晶样品质厚衬度, 薄晶体样品的衍射衬度, 相位衬度。
一、我校材料分析中心现有的两台场发射电子显微镜有哪些主要的功能附件?可以进行哪方面的分析工作?答:1、场发射扫描电子显微镜仪器型号: SUPRA 55 生产厂家:德国ZEISS功能附件:(1)配备Oxford INCA EDS设备,可以对5B-92U的元素进行微区成分定性、定量分析,包括点、线、面成分的分析;(2)配备HKL EBSD设备,可以对材料进行取向、织构及物相鉴定,晶体学结构分析,相位及相位差分析,应变分析;(3)配备拉伸弯曲台,可以在扫描电镜内对试样做拉伸、压缩与弯曲试验,同时原位观察组织变化。
电子行业电子显微分析1. 引言电子显微技术是一种通过利用电子束替代光束对样品进行放大和观察的高分辨率显微技术。
在电子行业,电子显微分析技术被广泛应用于材料检测、元器件分析和故障诊断等领域。
本文将对电子行业中的电子显微分析技术进行详细介绍。
2. 电子显微镜电子显微分析的核心工具是电子显微镜(Electron Microscope,简称EM)。
电子显微镜利用电子束替代光束,利用电子的波粒二象性以及电子与样品之间的相互作用来观察和分析样品的微观结构和成分。
主要包括传统的透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)和扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)两种类型。
2.1 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜能够提供非常高的分辨率,可以观察到纳米尺度的细节。
透射电子显微镜将电子束通过样品的薄片,然后通过透射的方式形成图像。
通过TEM可以观察到材料的微观晶格结构、晶体缺陷、原子排列等信息,对于研究材料的结构和性质非常有价值。
2.2 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜则通过扫描电子束在样品表面形成图像。
SEM能够提供非常高的表面分辨率和三维观察能力,对于表面形貌的分析非常有用。
扫描电子显微镜可以用于观察材料的形貌、粒度分布、表面元素等信息。
3. 应用领域3.1 材料检测在电子行业中,材料的质量和性能对产品的稳定性和可靠性起着至关重要的作用。
电子显微分析技术可以对材料的微观结构和成分进行精确观察和分析。
通过TEM和SEM,可以观察和分析材料的晶体结构、晶界、位错等缺陷,从而评估材料的质量和性能。
3.2 元器件分析在电子行业中,各种元器件被广泛应用于电子产品中。
电子显微分析技术可以对元器件的结构和成分进行分析和观察。
通过观察材料的微观结构,可以判断元器件是否存在缺陷、磨损以及其他性能问题。
通过元器件的成分分析,可以确保元器件的质量和性能符合要求。