B单晶硅片检验报告
- 格式:xls
- 大小:19.50 KB
- 文档页数:2
FAX:
客户名称: 检验日期: □全检 允收数/拒收数 3/4 □返工 □报废 检验结果 总数量: 检验数量3.0Ω ²cm
检验结果 ■合格 □不合格
判定
注:硅晶脱落可适当放宽到0.7mm但不能超过 崩边可适当放到
太阳能单晶硅片出货检验报告单(a级)
规格尺寸:
检验地点: 检验人: 检验方式: 抽检标准 GM/T2828.1-2003GⅡ 不良品处置 检验项目 抽样数 125 □让步接受 AQL值% 1 □挑选 检验要求 表面洁净,无沾污、色斑; 线痕深度≤15μ m; 外 观 无可视裂纹; 不能有穿孔现象; 崩边、硅晶脱落:深度≤0.5mm,长度≤1mm,≤2处 缺角:深度≤0.5mm,长度≤0.5mm,≤2处 156mm³156mm/125³125硅片边宽尺寸允许误差为±0.5mm; 156mm³156mm/125³125单晶硅片对角线长度尺寸 200mm/165/150,允许误差为±0.5mm; 硅片厚度允许误差为±20μ m; 尺 寸 TTV≤30μ m; 倒角长度1.5±0.5mm; 倒角角度45°±10°; 相邻两边的垂直度为90°±0.25°; 硅片翘曲度:≤35μ m; 包装 导电类型 少子寿命 碳浓度 氧浓度 电阻率 备注: 标识正确,数量正确,无污渍,无损坏。 P型 ≥1.5μ s; ≤5³10 /cm