X光倒易空间图谱技术分析矽锗异质磊晶材料的应变
- 格式:pdf
- 大小:827.98 KB
- 文档页数:9
1.概述x射线衍射是一种常用的材料表征技术,它在陶瓷研究方面具有重要的应用价值。
本文将从晶体结构分析、相变研究、缺陷分析和材料性能表征等方面,探讨x射线衍射技术在陶瓷研究中的应用。
2.晶体结构分析x射线衍射技术能够确定材料的晶体结构,通过分析材料的衍射图样,可以得到材料的晶胞参数、结构空间裙和原子位置等信息。
对于陶瓷材料而言,晶体结构的分析可以帮助研究人员了解其内部的原子排列方式,为材料的性能和制备提供重要参考。
通过x射线衍射技术可以确定陶瓷材料的晶格参数,从而指导材料的合成和改性。
3.相变研究许多陶瓷材料会在特定条件下发生相变,如铁电相-非铁电相转变、铁磁相-顺磁相转变等。
x射线衍射技术可以实时监测材料在不同温度、压力下的结构变化,从而揭示材料相变的机制和规律。
利用这项技术,研究人员可以深入了解相变过程中晶格结构的变化,为设计新型具有特定相变特性的陶瓷材料提供科学依据。
4.缺陷分析陶瓷材料中的缺陷如晶界、孔隙等对材料的性能有着重要的影响。
x射线衍射技术可以通过对衍射峰的形状和位置进行分析,获得有关晶体缺陷的信息,如位错密度、晶界能量、孔隙率等。
这些信息对于研究材料的力学性能、电学性能等具有重要意义。
通过缺陷分析,可以指导陶瓷材料的加工和改性,提高材料的性能稳定性和可靠性。
5.材料性能表征x射线衍射还可以用于研究陶瓷材料的晶体取向、应力分布、晶粒尺寸等性能参数。
这些参数对于评价材料的力学性能、疲劳特性、断裂行为等具有重要意义。
通过采用适当的衍射技术,研究人员可以获取材料的全面性能表征数据,为材料的设计与制备提供科学依据。
6.结论x射线衍射技术在陶瓷研究中具有重要的应用价值,它不仅可以用于分析材料的晶体结构、相变特性、缺陷信息,还可以为材料的性能表征提供科学依据。
随着x射线衍射技术的不断发展和完善,相信它将在陶瓷材料领域发挥越来越重要的作用,为陶瓷材料的研究与应用提供更加准确、全面的支持。
7. 晶体结构优化设计除了可以用来分析陶瓷材料的晶体结构外,x射线衍射技术还能帮助研究人员进行晶体结构的优化设计。
X射线衍射技术在材料分析中的应用和发展姓名:班级:s1467 学号:201421801014摘要:X射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在各种材料的研究和生产中被广泛应用。
本文概要介绍了概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论,总结了X射线衍射的各种实验方法,对X射线衍射分析在材料分析中的应用分别进行了叙述,最后对X射线衍射分析的发展进行了展望。
关键词:X射线衍射技术;晶体结构;材料分析1 引言自1896年X射线被发现以来,可利用X射线分辨的物质系统越来越复杂。
从简单物质系统到复杂的生物大分子,X射线已经为我们提供了很多关于物质静态结构的信息。
此外,在各种测量方法中,X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在材料的研究和生产中广泛应用。
2 X射线衍射原理1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质。
X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X射线的波长较短,大约在10-8~10-10cm之间。
X射线分析仪器上通常使用的X 射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管,在管子两极间加上高电压,阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。
当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。
第二章 X 射线衍射和倒格子大多数探测晶体中原子结构的方法都是以辐射的散射概念为基础的。
早在1895年伦琴发现X 射线不久,劳厄在1912年就意识到X 射线的波长量级与晶体中原子的间距相同,大约是0.1nm 量级,晶体必然可以成为X 射线的衍射光栅。
随后布拉格用X 射线衍射证明了NaCl 等晶体具有面心立方结构,从而奠定了用X 射线衍射测定晶体中的原子周期性长程有序结构的地位。
随着科学技术的不断发展,电子、中子衍射有为人类认识晶体提供了有效的探测方法。
但到目前为止,X 射线衍射仍然是确定晶体结构、甚至是只具有短程有序的无定形材料结构的重要工具。
本章以X 射线衍射为例介绍晶体的衍射理论,引入倒格子的概念,在此基础上介绍原子形状因子和几何结构因子,并介绍几种确定晶格结构的实验方法。
§2.1 晶体衍射理论一、布拉格定律 (Bragg ’s Law )X 射线是一种可以用来探测晶体结构的辐射,其波长可以用下式来估算012.4()()hcE h A E KeV νλλ==⇒= (2.1.1) 能量为2~10KeV 的X 射线适用于晶体结构的研究。
在固体中,X 射线与原子的电子壳层相互作用,电子吸收并重新发射X 射线,重新发射的X 射线可以探测得到,而原子核的质量相对较大,对这个过程没有响应。
X 射线的反射率大约是10-3~10-5量级,在固体中穿透比较深,所以X 射线可以作为固体探针。
1912年劳厄(ul )等发现了X 射线通过晶体的衍射现象之后,布拉格(W.L.Bragg )父子测定了NaCl 、KCl 的晶体结构,首次给出了晶体中原子规则排列的实验数据,发现了晶态固体反射X 射线特征图像,推导出了用X 射线与晶体结构关系的第一个公式,著名的布拉格定律(Bragg ’s Law )。
布拉格对于来自晶体的衍射提出了一个简单的解释。
假设入射波从晶体中的平行晶面作镜面反射,每个平面反射很少的一部分辐射,就像一个轻微镀银的镜子一样。