图形化Silicon-on-Insulator衬底上分子束外延生长可动GaN微光栅的研究
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gan晶体生长方法gan晶体是一种具有重要应用价值的材料,其生长方法的研究对于提高材料性能和应用效果具有重要意义。
本文将介绍几种常见的gan晶体生长方法。
一、气相沉积法气相沉积法是一种常见的gan晶体生长方法。
该方法通过在高温下使氮气和三甲基镓等有机金属物质相互反应,生成氮化镓气体,再让氮化镓气体在衬底上沉积形成晶体。
该方法具有生长速度快、质量高的优点,适用于大面积生长gan晶体。
二、分子束外延法分子束外延法是一种高真空条件下生长gan晶体的方法。
该方法通过使用电子束或离子束来加热材料,使其蒸发并沉积在衬底上形成晶体。
该方法能够控制晶体生长的速度和形貌,可用于生长复杂结构的gan晶体。
三、金属有机化学气相沉积法金属有机化学气相沉积法是一种通过金属有机化合物在高温下分解生成金属气体,再与氮气反应生成氮化物晶体的方法。
该方法可以生长高质量的gan晶体,并且可以控制晶体的杂质浓度和晶格缺陷。
四、水热法水热法是一种在高温高压水溶液中生长gan晶体的方法。
该方法通过在高温下将氨水和金属氧化物反应生成氮化物晶体。
水热法可以控制晶体的形貌和尺寸,适用于生长纳米级别的gan晶体。
五、熔融法熔融法是一种通过在高温下将金属和氮气反应生成氮化物晶体的方法。
该方法可以在熔融金属中加入氮气,使金属与氮气反应生成氮化物晶体。
熔融法可以生长大尺寸的gan晶体,适用于工业化生产。
六、激光热解法激光热解法是一种利用激光加热材料使其分解并沉积在衬底上形成晶体的方法。
该方法可以精确控制晶体的生长位置和形貌,适用于生长复杂结构的gan晶体。
七、气体相转移法气体相转移法是一种将氮化镓从衬底上转移到其他衬底上的方法。
该方法通过将gan晶体与其他衬底进行反应,使gan晶体从原来的衬底上转移到目标衬底上。
气体相转移法可以实现gan晶体的转移和重复利用。
在gan晶体生长方法的研究中,需要考虑生长条件的优化、材料纯度的控制以及晶体生长过程中的缺陷和应力等问题。
氮化镓这是一种具有较大禁带宽度的半导体,属于所谓宽禁带半导体之列。
它是微波功率晶体管的优良材料,也是蓝色光发光器件中的一种具有重要应用价值的半导体。
简介GaN材料的研究与应用是目前全球半导体研究的前沿和热点,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,并与SIC、金刚石等半导体材料一起,被誉为是继第一代Ge、Si半导体材料、第二代GaAs、InP化合物半导体材料之后的第三代半导体材料。
它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好(几乎不被任何酸腐蚀)等性质和强的抗辐照能力,在光电子、高温大功率器件和高频微波器件应用方面有着广阔的前景。
化学式GaNGaN材料的特性总述GaN是极稳定的化合物,又是坚硬的高熔点材料,熔点约为1700℃,GaN具有高的电离度,在Ⅲ—Ⅴ族化合物中是最高的(0.5或0.43)。
在大气压力下,GaN晶体一般是六方纤锌矿结构。
它在一个元胞中有4个原子,原子体积大约为GaAs的一半。
因为其硬度高,又是一种良好的涂层保护材料。
化学特性在室温下,GaN不溶于水、酸和碱,而在热的碱溶液中以非常缓慢的速度溶解。
NaOH、H2SO4和H3PO4能较快地腐蚀质量差的GaN,可用于这些质量不高的GaN 晶体的缺陷检测。
GaN在HCL或H2气下,在高温下呈现不稳定特性,而在N2气下最为稳定。
结构特性表1列出了纤锌矿GaN和闪锌矿GaN的特性比较。
电学特性GaN的电学特性是影响器件的主要因素。
未有意掺杂的GaN在各种情况下都呈n型,最好的样品的电子浓度约为4×1016/cm3。
一般情况下所制备的P型样品,都是高补偿的。
很多研究小组都从事过这方面的研究工作,其中中村报道了GaN最高迁移率数据在室温和液氮温度下分别为μn=600cm2/v·s和μn= 1500cm2/v·s,相应的载流子浓度为n=4×1016/cm3和n=8×1015/cm3。
ASIC(Application Specific Integrated Circuit)专用集成电路BB(Building Block Layout)积木块BGA(Ball Grid Array)球栅阵列BJT(Bipolar Junction Transistor)双极结型晶体管BSIM(Berkeley short-channel IGFET model)级别为4的MOS4模型CAD(Computer Aided Design)计算机辅助设计CVD(Chemical Vapor Deposition)化学汽相沉积CPLD(Complex Programmable Logic Device)复杂可编程逻辑器件DRAM(Dynamic Random Access Memory)动态随机存取存储器DIP(dual inline-pin package)双列直插式封装DRC(Design Rule Check)物理规则验证EDA(Electronic Design Automation)电子设计自动化ECL(Emitter-Coupled-Logic)射极耦合逻辑ERC(Electrical Rule Check)电气规则检查FET(Field Effect Transistor)场效应晶体管FPGA(Field-Programmable Gate Array)现场可编程门阵列GDSII(geometry data standard ii)几何数据标准GS(Sea of Gates)门海HBT(heterojunction bipolar transistor)异质结双极晶体管HEMT(High Electron Mobility Transistor)高电子迁移率晶体管IC(integrated circuit)集成电路IP(Intellectual Property)知识产权GA(Gate Array)门阵列LOCOS(Local Oxidation of Silicon)硅的局部氧化LPE(Layout Parasitic Extraction)版图寄生提取LVS(Layout vs. Schematic)布局图MBE(Molecular Beam Epitaxy)分子束外延生长MCM(Multi Chip Module)多芯片模块MEMS(Micro-Electro-Mechanical System)微机电系统MESFET(Metal-Semiconductor FET)金属-半导体[接触势垒]场效应晶体管MIM( Metal injection Molding)金属注射成形MOCVD(Metal Organic CVD)金属有机物汽相沉积MOS(metal oxid semiconductor)金属-氧化物-半导体场效应晶体管PCB(Printed Circuit Board)印制电路板PDK(Process Design Kits)工艺设计套件PE(Parasitical Extraction)寄生参数提取PLD(Programmable Logic Device)可编程逻辑器件SC(Standard Cell)标准单元SOC(System on Chip)芯片级系统SOI(Silicon-On-Insulator)绝缘衬底上的硅SOP(Standard Operation Procedure)标准作业程序SPICE(Simulation program with integrated circuit emphasis)通用模拟电路仿真器STI(Shallow trench isolation)浅沟槽隔离TCAD(Technology Computer Aided Design)工艺计算机辅助设计TTL(Transistor-Transistor-Logic)晶体管逻辑VLSI(Very Large Scale Integration)超大规模集成电路。
碳化硅基gan外延工艺
碳化硅基GaN外延工艺是一种用于制备氮化镓(GaN)薄膜的工
艺方法,其中碳化硅(SiC)被用作衬底材料。
这种工艺通常用于制
备高性能的光电子器件,例如LED和功率器件。
下面我将从几个方
面来介绍碳化硅基GaN外延工艺。
首先,碳化硅基GaN外延工艺的基本步骤包括表面处理、外延
生长和后续加工。
在表面处理阶段,碳化硅衬底表面通常需要经过
化学清洗和热处理,以去除杂质和提高表面平整度。
接下来是外延
生长阶段,这通常是通过化学气相沉积(CVD)或分子束外延(MBE)等技术来实现的。
在外延生长过程中,氮化镓薄膜被沉积在碳化硅
衬底上,形成所需的结构。
最后,经过后续加工,例如光刻、蚀刻
和金属沉积等步骤,制备出最终的器件结构。
其次,碳化硅基GaN外延工艺的优势在于碳化硅衬底具有优异
的热导率和化学稳定性,能够有效降低GaN薄膜的热应力和提高器
件的性能和可靠性。
此外,碳化硅基GaN外延工艺还能够实现高质
量的GaN薄膜生长,有利于提高器件的电学特性和光学特性。
另外,碳化硅基GaN外延工艺也面临一些挑战,例如碳化硅衬
底的制备成本较高,外延生长过程中碳化硅和GaN之间晶格不匹配等问题会导致晶格失配和缺陷的产生,影响器件的性能和可靠性。
总的来说,碳化硅基GaN外延工艺是一种重要的制备高性能光电子器件的工艺方法,具有许多优势和一些挑战。
随着材料科学和制备技术的不断发展,相信碳化硅基GaN外延工艺在未来会得到进一步的改进和应用。
国外gan功率器件衬底材料和外延技术
研发现状
国外GAN功率器件衬底材料和外延技术研发现状如下:
在衬底材料方面,GaN单晶衬底已经实现2-3英寸小批量产业化,4英寸已经实现样品生产;GaN异质外延衬底已经实现6英寸产业化,8英寸正在进行产品研发。
在外延技术方面,GaN材料应用范围仍在不断扩展,从LED向射频、功率器件扩展。
在射频器件方面,GaN受到5G推动,主要采用SiC衬底,Cree公司在射频应用的GaN HEMT、尤其是GaN-on-SiC技术方面处于领先地位。
在功率器件方面,快充将成为最大推动力,2019年OPPO、小米在新机型中采用了GaN 快充器件,随着终端客户积极推进,消费级GaN手机电源市场起量。
除消费电子领域外,欧洲车企积极采纳,车规级GaN充电市场迎来需求增长。