小角x射线散射原理与应用
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一、什么是X射线小角散射一种区别于X射线大角(2θ从5 ~165 )衍射的结构分析方法。
利用X射线照射样品,相应的散射角2θ小(5 ~7 ),即为X射线小角散射。
二、X射线小角散射的用途用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体物质中的超细空穴)的大小、形状及分布。
对于高分子材料,可测量高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度的测量。
三、X射线小角散射的原理小角散射效益来自物质内部1~l00nm量级范围内电子密度的起伏,当一束极细的x射线穿过一超细粉末层时,经粉末颗粒内电子的散射,X射线在原光束附近的极小角域内分散开来,其散射强度分布与粉末粒度及分布密切相关。
20世纪初,伦琴发现了比可见光波长小的辐射。
由于对该射线性质一无所知,伦琴将其命名为X射线(X-ray)。
到20世纪30年代,人们以固态纤维和胶态粉末为研究物质发现了小角度X射线散射现象。
当X射线照射到试样上时,如果试样内部存在纳米尺度的电子密度不均匀区,则会在入射光束周围的小角度范围内(一般2=<6º)出现散射X射线,这种现象称为X射线小角散射或小角X 射线散射(Small Angle X-ray Scattering),简写为SAXS 。
其物理实质在于散射体和周围介质的电子云密度的差异。
SAXS已成为研究亚微米级固态或液态结构的有力工具。
横坐标是散射峰的位置,纵坐标是散射峰的强度,这一点与XRD是类似的。
纵坐标的绝对数值没有意义,只是表示相对的强度。
而对于横坐标,XRD的位置通常用角度ө或2ө标示,而SAXS的位置是用q 标示的,q一般叫做散射矢量或者散射因子,q与ө有简单的换算关系q = 4πsinө/λ。
在SAXS中由于ө的数值变化范围很小,所以用q标示更方便。
在XRD中,衍射峰对应的ө可以换算出对应的晶面间距,实际上就是样品中一定范围内的周期性长度。
x射线小角度散射法原理引言:x射线小角度散射法是一种常用的材料表面结构分析方法。
它通过测量材料中x射线的散射角度和强度,来推断出材料中原子的分布和排列方式。
这种技术在材料科学、物理学、生物学等领域中有着广泛的应用,为我们深入了解物质的微观结构提供了重要手段。
一、x射线的基本原理x射线是一种能量很高、波长很短的电磁波,它具有穿透力强的特点。
当x射线入射到物质表面时,一部分射线会被物质散射出去,这就是散射现象。
散射的射线会带走一部分能量,从而使得入射射线的强度减弱。
二、小角度散射的原理x射线小角度散射是指入射射线与散射射线之间的夹角较小的散射现象。
当入射射线与散射射线的夹角较小时,散射角度也较小,因此散射射线的强度会随着散射角度的增大而减小。
三、分析原子分布的方法通过测量入射射线和散射射线的强度以及夹角,可以推断出材料中原子的分布和排列方式。
当原子具有有序排列时,散射射线会出现明显的干涉现象,形成衍射图样。
通过衍射图样的分析,可以确定原子的间距和排列方式。
四、应用领域x射线小角度散射法在材料科学中有着广泛的应用。
例如,它可以用来研究材料的晶体结构、表面形貌以及孔隙结构等。
在生物学领域,它可以用来研究生物大分子的结构和功能。
此外,x射线小角度散射法还可以用来研究液体中的微观结构以及胶体颗粒的分散状态等。
结论:x射线小角度散射法是一种非常重要的材料表面结构分析方法,它通过测量散射射线的强度和角度来推断出材料中原子的分布和排列方式。
这种方法在材料科学、物理学、生物学等领域中有着广泛的应用,为我们深入了解物质的微观结构提供了重要手段。
通过不断的研究和发展,相信x射线小角度散射法将为我们揭示更多未知的奥秘。
1:小角X射线散射(Small Angle X-Ray Scattering, SAXS)是研究纳米尺度微结构的重要手段。
根据SAXS理论,只要体系内存在电子密度不均匀(微结构,或散射体),就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射,通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、大小、分布及含量等信息。
这些微结构可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子结构等。
适用的样品可以是气体、液体、固体。
由于X射线具有穿透性,SAXS信号是样品表面和内部众多散射体的统计结果。
相对于其它纳米尺度分析表征手段,如SEM、TEM、AFM而言,SAXS具有结果有统计性、测试快速、无损分析、制样简单、适用范围广等优点。
对于各向同性体系分析起来没多大困难,但是需要进行各种校正,不校正结果会较差。
对于择优取向体系SAXS分析起来还是一个世界性难题。
两千零几年本.zhu有一篇文章就专门提到这个问题,说择优取向体系计算得到的结果非常不可靠,所以他干脆不分析,stribeck也提出同样的问题,他说:“在面对各向异性体系的时候我们就像科学家在1931年面对各向同性体系时一样。
”现在很多人在做SAXS都只是在做小角度的衍射分析,也就是低角度衍射峰位置的分析,而不是真正的散射分析。
可以这么说,散射普遍存在,衍射只在满足布拉格方程时才出现。
可以参考以下书籍孟昭富. 小角X射线散射理论及应用. 1995.O Glatter OK. Small angle x-ray scattering. 1982.小角X射线散射——理论、测试、计算及应用,朱育平,2008Small angle scattering of X-ray, A.Guinier G.Fournet,1955Methods of X-ray and Neutron Scattering in Polymer Sciencestructure analysis by small angle x-ray and neutron scattering,19872:个人观点,不确切一:1)广角X射线衍射(Wide Angle X-ray Diffraction,简称WAXD)测试范围(2θ):5~100O以上。
小角x射线散射技术在高分子表征中的应用在高分子领域中,准确地表征材料的结构和性能是至关重要的。
其中,小角X射线散射技术因其非侵入性和高灵敏度而成为了一种重要的手段。
小角X射线散射技术可以通过分析样品对于低角度散射光的强度和角度分布,来确定材料的分子结构和形貌等信息。
本文将介绍小角X射线散射技术的基本原理及其在高分子表征中的应用。
一、小角X射线散射技术的基本原理小角X射线散射技术是一种通过照射样品并分析其对射入的X射线的散射光进行分析的技术。
它可以用来探究材料的分子结构和形貌等信息,比如分子尺寸、分子间距、排列方式和分子取向等。
当X射线进入样品后,一部分会被样品中的原子和分子吸收,而另一部分则会散射回来。
在小角X射线散射技术中,我们关注的是低角度散射光,它的强度和散射角度与样品的分子结构和形貌等有关。
经过适当的数学处理,我们可以提取出这些信息并进行分析和解释。
二、小角X射线散射技术在高分子表征中的应用由于高分子样品的结构和形貌较为复杂,传统的表征手段难以得到完整的信息。
而小角X射线散射技术可以准确地反映高分子分子链的空间排列方式,因此被广泛应用于高分子材料的性能和结构表征。
下面列举了小角X射线散射技术在高分子领域中的一些应用:1. 确定高分子分子链的尺寸和排列方式通过小角X射线散射技术可以测量高分子分子链在溶液中的径向分布函数,从而确定分子链的“半径”。
这个“半径”可以用来推算出高分子的分子量、分子量分布、分子量平均跨度等信息。
同时,小角X射线散射技术还可以分析高分子分子链之间的间距和排列方式,进一步了解高分子在空间上的排布。
2. 研究高分子结晶行为小角X射线散射技术可以用来研究高分子在结晶过程中的行为。
通过对样品在不同温度、时间等条件下的散射光进行分析,可以确定高分子结晶温度、结晶速率、晶体大小和晶体取向等信息。
3. 表征薄膜结构和性质小角X射线散射技术还可以用来表征高分子薄膜的结构和性质。
通过研究薄膜表面的分子排布方式以及内部的分子取向和空间排列等信息,可以更好地了解薄膜的性质和应用潜力。
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