小角X射线散射
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掠入射小角X射线散射(GISAXS)是一种材料表征技术,主要用于研究薄膜、纳米粒子、表面和界面等材料的形状、尺寸、取向和粗糙度等特性。
GISAXS属于散射技术的一种,与常规X射线衍射(XRD)相比,它采用了非常小的入射角度,通常小于1度。
原理上,GISAXS利用了X射线与样品相互作用时发生的散射现象。
当X射线以极小的角度入射到样品表面时,散射强度与样品的微观结构有关。
由于入射角度很小,X射线主要与样品表面的层或近表面区域相互作用,因此可以获得表面或界面附近区域的信息。
具体来说,GISAXS实验中,X射线源发出的X射线经样品散射后,由探测器接收散射信号。
由于X射线的入射角度很小,散射信号主要来自于样品表面附近的区域。
通过测量不同散射角度的散射强度,可以得到样品微观结构的详细信息。
GISAXS技术具有以下特点:
1. 贯穿深度小:X射线以极小角度入射,主要与样品表面或近表面区域相互作用,因此可以获得表面附近的结构信息。
2. 信噪比高:由于入射角度小,散射信号主要来自样品表面附近,背景噪声较低,从而提高了信噪比。
3. 分析深度可控:通过调整X射线的入射角度,可以控制X射线在样品中的穿透深度,从而实现对分析深度的调控。
4. 适用于多种样品:GISAXS可以用于薄膜、镀层、粉末类样品的研究,但对于液体类样品无法进行测试。
总之,掠入射小角X射线散射(GISAXS)是一种有效的表面和界面分析技术,通过测量X射线在极小角度入射下的散射信号,可以获得样品微观结构的详细信息。
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