XRD结构解析基础解析
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一文看懂XRD基本原理(必收藏)展开全文XRD全称X射线衍射(X-RayDiffraction),利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。
利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相,并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷(位错)和晶格缺陷等,下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方法,下面先从XRD原理学习开始。
1X射线衍射仪的基本构造XRD衍射仪的适用性很广,通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料,并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点,是一个标标准准的“良心产品”。
在X射线衍射仪的世界里,X射线发生系统(产生X射线)是“太阳”,测角及探测系统(测量2θ和获得衍射信息)是其“眼睛”,记录和数据处理系统是其“大脑”,三者协同工作,输出衍射图谱。
在三者中测角仪是核心部件,其制作较为复杂,直接影响实验数据的精度,毕竟眼睛是心灵的窗户嘛!下面是X射线衍射仪和测角仪的结构简图。
XRD结构简图XRD立式测角仪2X射线产生原理X射线是一种频率很高的电磁波,其波长为10-8-10-12m远比可见光短得多,因为其穿透力很强,并且其在磁场中的传播方向不受影响。
小提示:X射线具有一定的辐射,对人体有一定的副作用,目前主要铅玻璃来进行屏蔽。
X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流(γ射线、中子流等)流与其他物质发生碰撞时骤然减速,且与该物质中的内层原子相互作用而产生的。
X射线管的结构不同的靶材,因为其原子序数不同,外层的电子排布也不一样,所以产生的特征X射线波长不同。
使用波长较长的靶材的XRD所得的衍射图峰位沿2θ轴有规律拉伸;使用短波长靶材的XRD谱沿2θ轴有规律地被压缩。
但需要注意的是,不管使用何种靶材的X射线管,从所得到的衍射谱中获得样品面间距d值是一致的,与靶材无关。
辐射波长对衍射峰强的关系是:衍射峰强主要取决于晶体结构,但是样品的质量吸收系数(MAC)与入射线的波长有关,因此同一样品用不同耙获得的图谱上的衍射峰强度会有稍微的差别。
XRD,以及晶体结构的相关基础知识(ZZ)Theory 2009-10-25 17:55:42 阅读355 评论0 字号:大中小做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
XRD,以及晶体结构的相关基础知识(ZZ)Theory 2009-10-25 17:55:42 阅读355 评论0 字号:大中小做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
XRD基本原理学习资料X射线衍射(XRD)是一种广泛应用于材料科学研究中的非常重要的技术。
它利用了X射线与晶体中的原子相互作用形成的衍射图样,通过分析这些衍射图样来获取有关晶体的结构和性质的信息。
下面是一份关于XRD基本原理的学习资料,为了达到1200字以上的要求,本文将详细介绍XRD的原理、仪器和应用。
1.原理XRD的原理基于布拉格公式,该公式描述了X射线在晶体中衍射的几何条件。
布拉格公式可表示为:nλ = 2dsinθ其中,n是整数,λ是X射线的波长,d是晶面间距,θ是入射角。
根据布拉格公式,当入射角θ满足特定条件时,X射线会通过晶体中的晶面间距并发生衍射。
通过测量衍射角度和X射线波长,可以计算晶格常数和晶体结构。
2.XRD仪器XRD仪器主要由四部分组成:X射线源、样品支撑和定位装置、衍射仪和探测器。
(1)X射线源:常见的X射线源包括钼(Mo)和铜(Cu)靶管。
它们产生高能量的X射线,用于照射样品。
(2)样品支撑和定位装置:用于保持样品的位置和方向,确保X射线能够正确地照射样品并收集衍射信号。
(3)衍射仪:用于收集经过样品衍射的X射线,通常是根据布拉格的几何关系设计的。
(4)探测器:可以将衍射信号转换为电信号的装置,常见的探测器包括点状探测器和线扫描探测器。
3.应用XRD技术在各个领域都有广泛的应用,以下是一些常见领域的应用示例:(1)材料科学:XRD可以用于研究晶体结构、物相组成、畴尺寸等信息。
它常用于材料的相变研究、晶格缺陷分析和晶体生长研究。
(2)化学分析:XRD可以用于确定化合物的晶体结构,配位键长度和角度,有机化合物的晶型等。
它对于分析无机和有机样品的结构非常有用。
(3)矿物学:XRD在矿物鉴定、矿物相变和矿物组成分析方面有着广泛的应用。
它可以用来确定矿石中的矿物种类和含量,分析矿石的成因和变质程度。
(4)药物研发:XRD可以用于药物晶型的表征和鉴定。
晶型对于药物的溶解度和生物利用度有重要影响,因此准确预测和控制药物的晶型对于药物研发至关重要。