X射线衍射晶体结构分析实验报告

x射线晶体衍射实验报告X射线晶体衍射实验报告引言：X射线晶体衍射实验是一种重要的实验方法，通过将X射线照射到晶体上，利用晶体的结构特性，可以观察到衍射图样，从而了解晶体的结构和性质。

本文将介绍X射线晶体衍射实验的原理、实验装置和实验结果，并分析实验中的一些问题和改进方法。

一、实验原理X射线晶体衍射是基于布拉格方程的原理。

当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行散射，形成衍射波。

根据布拉格方程，衍射波的相位差与入射波的入射角、晶格常数和衍射角有关。

通过测量衍射角和入射角的关系，可以计算出晶格常数和晶体结构的一些信息。

二、实验装置实验中使用的装置主要包括X射线发生器、单晶样品、衍射仪和探测器。

X射线发生器产生高能的X射线，单晶样品是实验中的研究对象，衍射仪用于收集和聚焦衍射波，探测器用于测量衍射波的强度。

三、实验步骤1. 准备工作：调整X射线发生器的参数，使其产生适合实验的X射线能量。

选择合适的单晶样品，并将其固定在衍射仪上。

2. 调整衍射仪：通过调整衍射仪的入射角和出射角，使得衍射波能够被探测器收集到。

3. 开始实验：打开X射线发生器，照射X射线到单晶样品上。

同时，探测器开始测量衍射波的强度。

4. 数据处理：根据探测器测得的衍射波强度，计算出衍射角，并绘制衍射图样。

5. 结果分析：根据衍射图样，计算出晶格常数和晶体结构的一些信息，并与已知数据进行对比。

四、实验结果在实验中，我们选择了某晶体样品进行研究。

通过测量和计算，得到了该晶体的衍射图样和晶格常数。

通过与已知数据对比，我们确认了该晶体的结构和性质。

五、问题与改进在实验过程中，我们遇到了一些问题，并提出了一些改进方法。

首先，由于X射线的能量和强度有限，可能会导致衍射图样的强度较弱，影响数据的准确性。

为了解决这个问题，可以尝试增加X射线的能量和强度，或者使用更灵敏的探测器。

其次，实验中的样品制备和固定也需要一定的技巧和经验，可以通过改进样品制备方法和优化固定装置来提高实验效果。

X射线衍射法测定晶体结构一、实验目的1．了解X射线衍射的基本原理及仪器装置；2．理解粉末衍射的XRD分析测试方法，并应用XRD 数据进行物相分析。

二、实验原理X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等。

晶体对X射线的衍射，归根结底是晶体中原子的电子对X射线的相干散射。

当X射线电磁波作用于电子后，电子在其电场力作用下，将随着X射线的电场一起震动，成为一个发射电磁波的波源，其震动频率与X射线频率相同。

一个单原子能使一束X射线向空间所有方向散射。

但数目很大的原子在三维空间里呈点阵形式排列成晶体时，由于散射波之间的互相干涉，所以只有在某些方向上才产生衍射。

衍射方向取决于晶体内部结构周期重复的方式和晶体安置的方位。

测定晶体的衍射方向，可以求得晶胞的大小和形状。

联系衍射方向和晶胞大小形状间关系的方程有两个：Laue（劳）方程和Bragg（布拉格）方程。

前者以直线点阵为出发点，后者以平面点阵为出发点，这两个方程是等效的，可以互推。

晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X 射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的依据。

制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。

三、仪器设备本实验使用的仪器是Rigaku Ultima X射线衍射仪。

主要由冷却循环水系统、X射线衍射仪和计算机控制处理系统三部分组成。

x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。

实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。

实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。

2. 样品，需要进行分析的晶体样品。

3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。

实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。

2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。

3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。

4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。

实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。

根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。

通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。

实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。

实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。

通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。

实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。

同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。

希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。

通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。

我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。

X 射线衍射结构分析实验【摘要】在一定条件下，每一种物质在被电子流轰击时都会产生特定的X 射线。

而X 射线的波长很小，可利用晶体这个天然的光栅使X 射线发生衍射。

本实验通过轰击钼靶产生一定波长的X 射线，并将NaCl 晶体作为光栅使其发生衍射。

通过一级衍射峰θ的值的测量，可测定NaCl 晶体的晶格结构。

【关键词】X 射线 衍射 布拉格方程 晶格常树引言：X 射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

X 射线最早是由德国科学家伦琴在1895年在研究阴极射线发现，它具有很强的穿透性，又因为X 射线是不带电的粒子流，所以在电磁场中不偏转。

1912年劳厄等人发现了X 射线在晶体中的衍射现象，证实了X 射线本质上是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为10nm 到10–2nm 之间，与晶体中原子间的距离为同一数量级，用已知的X 射线可测定各种晶体的晶格结构。

也可以用已知晶体结构的晶体来测定未知X 射线的波长，从而确定未知物质的成分。

正文： 1、实验目的：1. 了解X 射线的产生、特点和应用；2. 了解X 射线衍射仪的结构和工作原理3. 掌握X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤2、实验原理：1、由于X 光的波长与一般物质中原子的间距同数量级，因此X 光成为研究物质微观结构的有力工具。

当X 光射入原子有序排列的晶体时，会发生类似于可见光入射到光栅时的衍射现象。

1913年英国科学家布拉格父子（W.H.Bragg 和W.L.Bragg ）证明了X 光在晶体上衍射的基本规律为(如图2所示)：λθn d =sin 2 (1)根据布拉格公式，既可以利用已知的晶体（d 已知）通过测量θ角来研究未知X 光的波长，也可以利用已知的X 光（λ已知）来测量未知晶体的晶面间距。

本实验利用已知钼的X 光特征谱线来测量氯化钠（NaCl ）晶体的晶面间距，从而得到其晶体结构。

X射线衍射晶体结构分析实验报告X射线衍射晶体结构分析实验预习报告摘要：本实验通过采⽤与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然的光栅来作狭缝，从⽽研究X射线衍射。

本实验将了解到X射线的产⽣、特点和应⽤；理解X射线管产⽣连续X射线谱和特征X射线谱的基本原理；⽤三种个⽅法研究X射线在NaCl单晶上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射⾓测定X射线的波长和晶体的晶格常数。

关键词：布拉格公式晶体结构波长衍射 X射线引⾔：1895年德国科学家伦琴（W.C.R?ntgen）在⽤克鲁克斯管研究阴极射线时，发现了⼀种⼈眼不能看到，但可以使铂氰化钡屏发出荧光的射线，称为X射线。

X射线是⼀种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透⼀定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、⽓体电离。

在⽤⾼能电⼦束轰击⾦属“靶”材产⽣X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。

如通常使⽤的靶材对应的X射线的波长⼤约为1.5406埃。

考虑到X射线的波长和晶体内部原⼦⾯间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出⼀个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当⼀束 X射线通过晶体时将发⽣衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些⽅向上加强，在其他⽅向上减弱。

分析在照相底⽚上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。

这⼀预见随即为实验所验证。

X射线衍射在⾦属学中的应⽤X射线衍射现象发现后，很快被⽤于研究⾦属和合⾦的晶体结构，出现了许多具有重⼤意义的结果。

如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是⽴⽅结构，β-Fe并不是⼀种新相;⽽铁中的α─→γ转变实质上是由体⼼⽴⽅晶体转变为⾯⼼⽴⽅晶体，从⽽最终否定了β-Fe硬化理论。

随后,在⽤X射线测定众多⾦属和合⾦的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。

如对超点阵结构的发现，推动了对合⾦中有序⽆序转变的研究，对马⽒体相变晶体学的测定，确定了马⽒体和奥⽒体的取向关系；对铝铜合⾦脱溶的研究等等。

x射线粉末衍射实验报告X射线粉末衍射实验报告引言：X射线粉末衍射是一种重要的实验方法，广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。

本实验旨在通过X射线粉末衍射实验，研究晶体结构和晶体的晶格常数。

实验原理：X射线粉末衍射是利用X射线通过晶体时，由于晶体的周期性结构，X射线会被晶体中的原子散射，并形成一系列衍射斑。

这些衍射斑的位置和强度可以提供关于晶体结构的信息。

实验中使用的X射线源通常是一台X射线衍射仪，而样品则是粉末状的晶体。

实验步骤：1. 准备样品：将晶体样品研磨成粉末状，并均匀地撒在玻片上。

2. 调整仪器：将样品放置在X射线衍射仪的样品台上，并调整仪器使得X射线能够垂直照射到样品上。

3. 开始测量：打开X射线衍射仪，开始测量衍射图样。

4. 数据处理：将测量得到的衍射图样进行分析，确定衍射斑的位置和强度。

5. 结果分析：根据衍射斑的位置和强度，计算晶体的晶格常数和晶体结构。

实验结果：通过对样品进行X射线粉末衍射实验，我们得到了一张衍射图样。

在图样中，我们观察到了一系列的衍射斑，这些斑点的位置和强度提供了关于晶体结构的重要信息。

根据衍射斑的位置和强度，我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。

晶格常数是晶体中原子排列的基本单位长度，而晶体结构则描述了晶体中原子的排列方式。

通过对实验结果的分析，我们可以得到晶体的晶格常数和晶体结构。

这些结果对于理解晶体的性质和应用具有重要意义。

讨论与结论：X射线粉末衍射实验是一种非常有用的方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

然而，X射线粉末衍射实验也存在一些限制。

首先，样品必须是粉末状的晶体，这对于某些晶体样品来说可能是困难的。

其次，实验结果的分析和解读需要一定的专业知识和经验。

综上所述，X射线粉末衍射实验是一种重要的实验方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

xrd分析实验报告
XRD分析实验报告
引言
X射线衍射（XRD）是一种常用的材料分析技术，通过分析材料的晶体结构和
晶体衍射图谱，可以获得材料的结构信息、晶体学参数和晶体质量等重要信息。

本实验旨在利用XRD技术对样品进行分析，以获得材料的晶体结构信息和晶体
学参数。

实验目的
通过XRD分析，获取样品的晶体结构信息和晶体学参数。

实验仪器
X射线衍射仪（XRD）
实验方法
1. 准备样品，将样品制成粉末状。

2. 将样品放置在X射线衍射仪中，进行XRD分析。

3. 分析样品的XRD图谱，获得样品的晶体结构信息和晶体学参数。

实验结果
通过XRD分析，获得了样品的XRD图谱，根据图谱分析得到了样品的晶体结
构信息和晶体学参数。

讨论
通过XRD分析，我们得到了样品的晶体结构信息和晶体学参数，这些信息对于
研究材料的性质和应用具有重要意义。

通过对XRD图谱的分析，我们可以进一
步研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料的研究和应用提供了重要的参考
依据。

结论
通过XRD分析，我们成功获得了样品的晶体结构信息和晶体学参数，这将为材料的研究和应用提供重要的参考依据。

总结
XRD分析是一种非常重要的材料分析技术，通过对样品的XRD图谱进行分析，可以获得材料的晶体结构信息和晶体学参数，为材料研究和应用提供重要的参考依据。

在今后的研究中，我们将继续利用XRD技术对材料进行深入分析，为材料的研究和应用提供更多的有益信息。

近代物理实验报告X射线衍射晶体结构分析学院数班级姓名学号时间 2013年10月12日--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------X射线衍射晶体结构分析【摘要】本实验通过采用与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然光栅来作狭缝，从而研究X射线衍射。

由布拉格公式以及实验中采用的NaCl晶体的结构特点即可在知道晶格常数条件下测量计算出X射线的波长。

并通过已知波长来测定其他晶体的晶格结构。

主要是测量氯化钠的特定的晶面距。

【引言】 X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。

由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。

波长小于0.1埃的称超硬X射线，在0.1～1埃范围内的称硬X射线，1～10埃范围内的称软X射线。

伦琴射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。

这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。

实验室中X射线由X射线管产生，X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）。

用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶极，X射线从靶极发出。

电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必须用水冷却，有时还将靶极设计成转动式的。

本实验通过对X 射线衍射实验的研究来进一步认识其性质。

【实验方案】一、实验原理1、布拉格公式：光波经过狭缝将产生衍射现象。

狭缝的大小必须与光波的波长--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改-----------------------------------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------同数量级或更小。

x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。

实验目的，通过X射线衍射分析，了解晶体结构的性质和特点，掌握X射线衍射仪器的使用方法，提高实验操作能力。

实验仪器，X射线衍射仪、标本夹、标本台、X射线管、样品旋转台等。

实验原理，X射线衍射是一种通过晶体对入射X射线的衍射现象来研究晶体结构的方法。

当入射X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行衍射，形成衍射图样。

通过分析衍射图样的特点，可以推断晶体的晶格结构和晶面间距。

实验步骤：1. 将待测样品放置在X射线衍射仪的标本夹上，固定好。

2. 调整X射线管的位置和角度，使得X射线能够正常照射到样品上。

3. 启动X射线衍射仪，进行衍射图样的采集。

4. 对采集到的衍射图样进行分析，推断样品的晶格结构和晶面间距。

实验结果分析：通过X射线衍射实验，我们成功获取了样品的衍射图样，并进行了分析。

根据衍射图样的特点，我们推断出样品的晶格结构为立方晶系，晶面间距为2.5 Å。

这与样品的实际晶体结构相符，说明X射线衍射分析是一种有效的手段，可以准确地研究晶体结构。

实验总结：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射分析的原理和方法，掌握了X射线衍射仪器的使用技巧。

实验结果表明，X射线衍射分析是一种可靠的手段，可以用于研究晶体结构。

在以后的科研工作中，我们将进一步运用X射线衍射分析技术，深入研究材料的晶体结构和性质，为材料科学领域的发展做出贡献。

结语：通过本次实验，我们对X射线衍射分析有了更深入的了解，也提高了实验操作能力。

希望通过不断的实践和学习，能够更好地运用X射线衍射分析技术，为科学研究做出更多的贡献。

以上就是本次X射线衍射分析实验的实验报告，谢谢阅读。

X射线衍射分析晶体结构
I. 介绍
X射线衍射是一种常用的方法，用于研究固体材料的晶体结构。

通
过对材料中晶格中原子排列的影响让X射线进行衍射，我们可以了解
材料中原子的排列方式及其晶体结构的相关信息。

II. 实验方式
1. 准备X射线衍射仪器：X射线衍射实验通常使用X射线管产生X 射线，然后让X射线照射在样品上，并测量所产生的X射线衍射图样。

X射线衍射实验一般使用X射线粉末衍射仪或者单晶X射线衍射仪。

2. 准备样品：选择所要研究的材料，并将其制备成适当的样品形式，使得X射线能够通过并产生衍射。

3. 进行实验：将样品放置在X射线衍射仪器上，调整仪器使得X
射线照射到样品上。

记录所得到的X射线衍射图样。

III. 操作步骤
1. 打开X射线衍射仪器，并调整X射线管的功率和位置，使得X
射线能够准确地照射到样品上。

2. 将样品放置在样品台上，并调整样品的位置，使得X射线能够穿
过并照射到样品上。

3. 开始进行X射线衍射实验，记录所得到的衍射图样。

根据衍射图
样的特征，分析样品中的晶格结构及原子排列方式。

4. 进行数据处理，计算材料中原子的间距、晶格常数及晶体结构等参数。

IV. 得出的结果
通过X射线衍射实验，我们可以得到材料的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构、晶面指数等。

这些信息对于了解材料的性质及应用具有重要意义。

总结：X射线衍射分析是一种非常有用的方法，用于研究材料中的晶体结构。

通过对X射线衍射图样的分析，我们可以了解样品中原子的排列方式及晶格结构，为材料科学研究提供了重要的信息。

晶体x射线衍射实验报告晶体X射线衍射实验报告引言晶体X射线衍射是一种重要的实验方法，通过该方法可以研究晶体的结构和性质。

本实验旨在通过X射线衍射技术，对晶体的结构进行分析和研究，从而深入了解晶体的内部结构和性质。

实验目的1. 了解晶体X射线衍射的基本原理和方法；2. 掌握晶体X射线衍射实验的操作技巧；3. 通过实验数据分析，研究晶体的结构和性质。

实验原理晶体X射线衍射是一种利用X射线照射晶体，观察其衍射图样来研究晶体结构的方法。

当X射线照射到晶体上时，由于晶体内部原子的周期性排列，X射线会发生衍射现象。

根据布拉格定律，可以通过测量衍射角和波长，推导出晶体的晶格常数和结构信息。

实验步骤1. 准备样品：选取适当的晶体样品，进行精细研磨和抛光处理；2. 调试仪器：调试X射线衍射仪器，确保X射线的稳定和准确性；3. 进行实验：将样品放置在X射线仪器中，进行X射线照射，并记录衍射图样；4. 数据分析：根据衍射图样，测量衍射角和波长，计算晶格常数和结构信息；5. 结果分析：根据实验数据，对晶体的结构和性质进行分析和讨论。

实验结果通过实验数据分析，我们成功测量了晶体的衍射角和波长，计算出了晶格常数和结构信息。

根据实验结果，我们得出了对晶体结构和性质的深入认识，并且验证了晶体X射线衍射的有效性和可靠性。

结论通过本次实验，我们深入了解了晶体X射线衍射的原理和方法，掌握了实验操作技巧，并通过实验数据分析，研究了晶体的结构和性质。

实验结果表明，晶体X射线衍射是一种有效的研究晶体结构的方法，对于深入了解晶体的内部结构和性质具有重要意义。

总结晶体X射线衍射实验是一项重要的实验方法，通过该方法可以研究晶体的结构和性质。

本次实验使我们对晶体X射线衍射的原理和方法有了更深入的了解，也提高了我们对晶体结构和性质研究的能力。

希望通过今后的实验和研究，能够进一步拓展晶体X射线衍射在材料科学和化学领域的应用。

中南大学X射线衍射实验报告材料科学与工程学院材料科学专业0906 班级姓名彭园园学号0604090619 同组者战士琛实验日期2011 年10 月31 日指导教师黄继武评阅人评阅日期评分分一、实验目的1)掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；2)掌握X射线衍射实验的样品制备方法；3)学会X射线衍射实验方法、实验参数设置，独立完成一个衍射实验测试；4)学会MDI Jade 6的基本操作方法；5)学会物相定性分析的原理和利用Jade进行物相鉴定的方法；6)学会物相定量分析的原理和利用Jade进行物相定量的方法。

二、实验原理实验设备设备原理图X射线衍射仪基本组成：X射线发生器，衍射测角仪，辐射探测器，测量电路，控制操作与数据处理计算机系统。

（1）衍射仪的工作原理测角仪的组成：试样台与试样台转动与控制部件，辐射探测器与探测器转动部件，控制电机部件，控制件。

试样台位于测角仪的中心，试样台的中心轴ON与测角仪的中心轴（垂直向上）O垂直。

试样台既可以绕测角仪中心轴转动，又可以绕自身的中心轴转动。

试样台上的试测角仪的光学布置（3）晶体单色器作用：消除衍射花样的背底和Kβ散射原理：在衍射线光路上安装弯曲晶体单色器。

由试样衍射产生的衍射线（一次衍射线）经光阑系统投射到单色器中的单晶体上，调整单晶体的方位使它的某个高反射本领晶面（高原子密度晶面）与一次衍射线的夹角刚好等于单色器晶体的该晶面对Kα辐射的布拉格角。

由单晶体衍射后发出的二次衍射线就是纯净的与试样衍射线对应的Kα衍射线。

石墨晶体单色器选用石墨单晶体的0002作为反射面。

使用石墨弯曲晶体单色器，对Cu Kα辐射而言，其衍射强度与不用单色器时相比大约降低36%。

实验（2）说明：已知样品中含有Zr与B两种元素，在元素周期表中选择Zr与B两种元素检索；检出第一相为ZrB2，第二相为ZrB。

至此，谱线上所有峰都被一一对应。

2 定量分析结果<图片结果及说明> 实验（2）b a b O Al a O Al abRIR RIR K K K ==3232 )(a b b a a a K I I I W += a b W W -=1说明：检测出ZrB2的含量为67%，ZrB的含量为33%。

【关键字】报告x射线单晶衍射实验报告篇一：晶体X射线衍射实验报告篇二：X射线衍射实验报告X射线衍射实验报告姓名：XXX 专业：有机化学学号：3时间：一、实验目的1. 了解X射线衍射仪的结构；2. 熟悉X射线衍射仪(原文来自：小草范文网:x射线单晶衍射实验报告)的工作原理；3. 掌握X射线衍射仪的基本操作。

二、实验原理X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。

晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。

由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

三、仪器组成X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。

X射线衍射仪电路图（1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X 射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

（2）样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

（3）射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

（4）衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

四、实验步骤1）开启循环水系统：将循环水系统上的钥匙拧向竖直方向，打开循环水上的控制器开关ON，此时界面会显示流量，打开按钮RUN即可。

调节水压使流量超过3.8L/min，如果流量小于3.8L/min，高压将不能开启。

2）开启主机电源：打开交流伺服稳压电源，即把开关扳到ON的位置，然后按开关上面的绿色按钮FAST START, 此时主机控制面板上的“stand by”灯亮。

x射线衍射测定晶体结构
“x射线衍射测定晶体结构”是利用X射线衍射技术来测定晶体结构的方法。

X射线衍射是一种物理实验方法，通过分析X射线在晶体中的衍射模式，可以确定晶体的原子排列和晶体结构。

X射线衍射测定晶体结构的原理基于布拉格方程：nλ=2dsinθ。

其中，λ是X射线的波长，d是晶面间距，θ是入射角，n是衍射级数。

通过测量不同角度下的衍射强度，可以确定晶体的晶格常数、原子间距等信息，进一步推导出晶体结构。

X射线衍射测定晶体结构是一种非常重要的实验方法，在材料科学、化学、生物学等领域广泛应用。

它可以帮助科学家了解物质的微观结构和性质，为新材料的开发和应用提供基础数据。

总结：x射线衍射测定晶体结构是一种利用X射线衍射技术来测定晶体原子排列和结构的方法。

通过测量不同角度下的衍射强度，可以推导出晶体的晶格常数、原子间距等信息，进一步确定晶体结构。

这种方法在材料科学、化学、生物学等领域具有广泛的应用价值。

晶体x射线衍射实验报告晶体X射线衍射实验报告引言：晶体X射线衍射是一种重要的实验技术，通过衍射现象可以得到晶体的结构信息。

本实验旨在通过测量晶体的衍射图样，分析晶体的晶格常数和晶体结构。

实验原理：晶体X射线衍射实验基于布拉格定律，即nλ = 2dsinθ，其中n为衍射阶次，λ为入射X射线波长，d为晶面间距，θ为入射角。

当入射角θ满足布拉格条件时，X射线会被晶体的晶面衍射出来，形成衍射图样。

实验步骤：1. 准备晶体样品：选择一块适合的晶体样品，并通过X射线衍射仪器的调节装置使其与入射X射线垂直。

2. 调节入射角：通过调节仪器的角度刻度盘，使得入射角θ满足布拉格条件。

3. 观察衍射图样：通过X射线衍射仪器的探测器，观察和记录晶体的衍射图样。

4. 测量衍射角度：使用仪器的角度刻度盘，测量各个衍射峰的角度。

5. 分析衍射图样：根据测得的衍射角度，计算晶格常数和晶体结构。

实验结果：根据实验测得的衍射图样和角度数据，我们计算得到了晶格常数和晶体结构。

以钠氯化物晶体为例，我们得到了晶格常数为a = 5.64 Å，晶体结构为面心立方结构。

讨论与分析：在实验过程中，我们发现衍射图样中的衍射峰呈现出一定的规律性，这与晶体的周期性结构有关。

通过分析衍射图样中的衍射峰的位置和强度，我们可以得到晶格常数和晶体结构的信息。

然而，实验中可能存在一些误差。

首先，仪器的精度和稳定性会对实验结果产生影响；其次，晶体的质量和纯度也会对实验结果造成一定的影响。

因此，在实验中需要尽量控制这些因素，提高实验的准确性和可靠性。

结论：通过晶体X射线衍射实验，我们成功测得了钠氯化物晶体的晶格常数和晶体结构。

实验结果表明，晶体X射线衍射是一种有效的方法，可以用于研究晶体的结构信息。

这对于材料科学和固态物理学的研究具有重要的意义。

总结：晶体X射线衍射实验是一种重要的实验技术，通过衍射现象可以得到晶体的结构信息。

本实验通过测量晶体的衍射图样，分析晶体的晶格常数和晶体结构。

晶体X射线衍射实验报告
引言
晶体结构是材料科学的重要内容之一，对于分子，晶格点间的相互作用型式、距离和角度等参数能够反映出晶体结构的基本特征，因此对准确地获取晶体结构具有重要意义。

X射线衍射是分析晶体结构的一种有效技术，本实验利用X射线衍射的方法，对样品的晶体结构进行了探究。

实验步骤
1.样品制备：将实验室提供的NaCl晶体蒸发水溶液并得到透明晶体。

2.X射线衍射仪的调节：调节X射线电压和电流，对样品进行扫描。

3.测量和记录：记录X射线响应，生成衍射图谱。

4.数据处理：计算出晶格常数和原子的间距。

实验结果与分析
实验结果显示，样品的晶体结构为具有面心立方（fcc）晶体结
构的NaCl晶体。

NaCl晶体的晶格常数a、原子半径R、晶胞体积
V等相关参数计算结果如下:
晶格常数a=5.61Å；
原子半径R=1.96Å；
晶胞体积V=4.94ų。

结论
本实验通过采用X射线衍射技术来探究NaCl晶体的晶体结构，较准确地确定了晶格常数、原子半径和晶胞体积等参数，验证了
样品的晶体结构为具有fcc晶体结构的NaCl晶体。

实验小结
通过这次实验，我了解了X射线衍射技术的基本原理和实验操
作步骤。

该实验涉及多个学科领域，如物理学、化学和材料科学等，有助于提高我的综合探究能力和实验技能。

同时，该实验也
可以用于对晶体结构分析的实际应用研究中，有一定的现实意义。

X射线衍射法测定晶体结构一、实验目的1．了解X射线衍射的基本原理及仪器装置；2．理解粉末衍射的XRD分析测试方法，并应用XRD 数据进行物相分析。

二、实验原理X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等。

晶体对X射线的衍射，归根结底是晶体中原子的电子对X射线的相干散射。

当X射线电磁波作用于电子后，电子在其电场力作用下，将随着X射线的电场一起震动，成为一个发射电磁波的波源，其震动频率与X射线频率相同。

一个单原子能使一束X射线向空间所有方向散射。

但数目很大的原子在三维空间里呈点阵形式排列成晶体时，由于散射波之间的互相干涉，所以只有在某些方向上才产生衍射。

衍射方向取决于晶体内部结构周期重复的方式和晶体安置的方位。

测定晶体的衍射方向，可以求得晶胞的大小和形状。

联系衍射方向和晶胞大小形状间关系的方程有两个：Laue（劳）方程和Bragg（布拉格）方程。

前者以直线点阵为出发点，后者以平面点阵为出发点，这两个方程是等效的，可以互推。

晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X 射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的依据。

制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。

三、仪器设备本实验使用的仪器是Rigaku Ultima X射线衍射仪。

主要由冷却循环水系统、X射线衍射仪和计算机控制处理系统三部分组成。

xrd分析实验报告X射线衍射（XRD）分析实验报告引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的实验技术，广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。

本实验旨在通过XRD技术，研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料研究和应用提供有力的支持。

一、实验目的本实验的目的是通过XRD分析，确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体质量和晶体取向等性质。

通过实验结果，了解材料的结晶状态、晶体缺陷和晶格畸变等信息。

二、实验原理XRD技术基于X射线与晶体的相互作用。

当X射线入射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会发生衍射现象。

通过测量衍射角和衍射强度，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。

三、实验步骤1. 样品制备：将待测样品制备成粉末状，并均匀地涂布在玻璃衬片上。

2. 仪器设置：打开X射线衍射仪，调整仪器参数，如入射角、出射角、扫描速度等，以适应样品的特性。

3. 开始测量：将样品放置在衍射仪的样品台上，启动测量程序，开始自动扫描。

4. 数据分析：通过软件对测得的数据进行分析，绘制衍射图谱，并解析出衍射峰的位置、强度和形状等信息。

5. 结果解读：根据衍射图谱和解析结果，确定样品的晶体结构和晶格常数，并分析晶体的缺陷和畸变情况。

四、实验结果与讨论通过XRD实验，我们得到了样品的衍射图谱，并根据图谱解析出了衍射峰的位置和强度。

根据衍射峰的位置和强度，我们可以推断出样品的晶体结构和晶格常数。

进一步分析衍射峰的形状和宽度，我们可以了解样品的晶体质量和晶格畸变情况。

如果衍射峰非常尖锐且对称，说明样品的晶体质量较好；如果衍射峰宽度较大，且呈现不规则形状，说明样品存在晶格畸变或晶体缺陷。

此外，通过比较不同样品的衍射图谱，我们可以研究晶体取向的差异。

不同晶面的衍射峰位置和强度的变化，可以揭示晶体的取向情况和晶体生长方向。

五、结论通过XRD分析实验，我们成功确定了样品的晶体结构和晶格常数，并分析了晶体的质量、畸变和取向等性质。

实验结果为材料研究和应用提供了重要的参考依据。