XRD结构解析基础资料讲解
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一文看懂XRD基本原理(必收藏)展开全文XRD全称X射线衍射(X-RayDiffraction),利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。
利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相,并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷(位错)和晶格缺陷等,下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方法,下面先从XRD原理学习开始。
1X射线衍射仪的基本构造XRD衍射仪的适用性很广,通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料,并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点,是一个标标准准的“良心产品”。
在X射线衍射仪的世界里,X射线发生系统(产生X射线)是“太阳”,测角及探测系统(测量2θ和获得衍射信息)是其“眼睛”,记录和数据处理系统是其“大脑”,三者协同工作,输出衍射图谱。
在三者中测角仪是核心部件,其制作较为复杂,直接影响实验数据的精度,毕竟眼睛是心灵的窗户嘛!下面是X射线衍射仪和测角仪的结构简图。
XRD结构简图XRD立式测角仪2X射线产生原理X射线是一种频率很高的电磁波,其波长为10-8-10-12m远比可见光短得多,因为其穿透力很强,并且其在磁场中的传播方向不受影响。
小提示:X射线具有一定的辐射,对人体有一定的副作用,目前主要铅玻璃来进行屏蔽。
X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流(γ射线、中子流等)流与其他物质发生碰撞时骤然减速,且与该物质中的内层原子相互作用而产生的。
X射线管的结构不同的靶材,因为其原子序数不同,外层的电子排布也不一样,所以产生的特征X射线波长不同。
使用波长较长的靶材的XRD所得的衍射图峰位沿2θ轴有规律拉伸;使用短波长靶材的XRD谱沿2θ轴有规律地被压缩。
但需要注意的是,不管使用何种靶材的X射线管,从所得到的衍射谱中获得样品面间距d值是一致的,与靶材无关。
辐射波长对衍射峰强的关系是:衍射峰强主要取决于晶体结构,但是样品的质量吸收系数(MAC)与入射线的波长有关,因此同一样品用不同耙获得的图谱上的衍射峰强度会有稍微的差别。
XRD及其晶体结构的相关知识X射线荧光衍射:利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。
按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。
较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的。
根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。
激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和X光管组成。
后者功率较大,用水和油同时冷却。
色散单元的作用是分出想要波长的X射线。
它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。
探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。
记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。
通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。
X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。
X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。
能量色散用脉冲幅度分析器。
探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。
前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。
对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。
后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。
可以对能量范围很宽的X 射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
An investigation of CuInGaSe2 thin film solar cells by usingCuInGa precursorXRD及晶体结构的相关基础知识做XRD有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?X射线照射到物质上将产生散射。
晶态物质对X射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生X射线衍射。
晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。
晶体的X射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。
用少量固体粉末或小块样品便可得到其X射线衍射图。
XRD(X射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞形状和大小等)最有力的方法。
XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。
晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。
因此,通过样品的X射线衍射图与已知的晶态物质的X射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用面十分普遍、广泛。
目前XRD主要适用于无机物,对于有机物应用较少。
关于XRD的应用,在[技术资料]栏目下有介绍更详细的文章,不妨再深入看看。
如何由XRD图谱确定所做的样品是准晶结构?XRD图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的2θ宽度在0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"最小宽度")。
XRD晶体结构分析X射线衍射(XRD)是一种常用的晶体结构分析技术,通过测量固体样品对入射X射线的散射模式,可以获得样品的晶体结构信息。
本文将详细介绍XRD晶体结构分析的原理、仪器以及应用。
首先,我们来看一下XRD晶体结构分析的原理。
当入射X射线遇到晶体样品时,它们会与晶体中的原子发生相互作用,散射出来。
这个散射过程可以分为布拉格衍射和多普勒散射两个部分。
布拉格衍射是由于入射X射线与晶体中的原子发生相互作用后,形成反射或折射。
根据布拉格衍射定律,n\lambda=2dsinθ,其中n是整数,λ是入射X射线的波长,d是晶体的晶面间距,θ是衍射角。
通过测量衍射角,我们可以计算出晶面间距,从而了解晶体的结构。
多普勒散射是由于入射X射线与晶体中电子的相互作用而发生的。
相比于布拉格衍射,多普勒散射更加复杂,并且难以精确计算。
因此,在XRD晶体结构分析中,我们通常只考虑布拉格衍射。
为了实现XRD晶体结构分析,我们需要使用X射线衍射仪器。
X射线衍射仪器主要包括X射线发生器、样品支撑装置、X射线探测器以及数据处理系统。
X射线发生器是产生入射X射线的设备。
常见的X射线发生器包括X 射线管和同步辐射装置。
X射线管通过加热阴极来产生电子,这些电子在阳极上产生高速冲击,从而产生X射线。
同步辐射装置则利用高能电子加速器,使电子在加速过程中释放出X射线。
样品支撑装置用于将晶体样品放置在入射X射线路径上。
在XRD晶体结构分析中,我们通常使用平行面支撑法来固定样品,以确保样品的位置稳定和精确。
X射线探测器用于测量样品对入射X射线的散射情况。
常用的X射线探测器有点式探测器和面阵探测器。
点式探测器将散射X射线聚焦到一个小面积上,以获得高空间分辨率的数据。
而面阵探测器则可以同时收集多个数据点,加快数据采集速度。
数据处理系统是将X射线衍射的散射数据转换为晶体结构信息的关键部分。
一般来说,我们会使用计算机软件对数据进行处理和分析。
常见的软件包括XDS、CCP4、PHENIX等。