Cmk与CPK区别

.1、Cmk(The capability Index for a stable machine):机器能力指数，稳定过程研究用。

它的目的是在短期内，尽可能排除对过程有影响而非机器的因素。

采用数理统计的方法进行测算和证明，它考虑的是短期离散，强调的是设备本身因素的影响。

在能力调查时，机器应该同模具、必要时同一体化的检具和调整装置一起被视为一个实体。

2、Cpk(The capability Index for a stable process)，稳定过程研究用。

是在考虑影响过程的参数的情况下考察长期离散，考虑参数的正常波动对过程离散程度的影响，强调的是过程固有变差和实际固有的能力(能力，英文CaPability也有实际能力、性能之意)，相对于PPk，也把它叫做短期过程能力指数。

进行Cmk、Cpk分析的前提是数据服从正态分布，且已通过控制图分析等方法证明过程是稳定受控的。

3、PPk(Process Performance Index):性能指数，不考虑过程服从何种分布及是否稳定的情况下研究用。

考虑的是过程的总变差，其中包含着超过界限的点。

因为在很长一段时间内很难保证过程的正态分布，所以PPk也叫作长期过程能力指数，一般只用作与CPk值进行对比参考。

CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同。

CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；CPK：至少1.33CMK：至少1.67ＣＭＫ一般在机器生产稳定后约一小时内抽样１０组５０样本ＣＰＫ在过程稳定受控情况下适当频率抽２５组至少１００个样本一旦上限(USL, upper specification limit)与下限(LSL, lowe r specification limit)已经定义，cmk可用来计算贴装精度。

由于极限值一般是对称的，我们可以用简化的规格极限SL=US L=-LSL进行计算，如图一所示。

cmk= 规格极限-贴装偏移3x标准偏差= 3SL-&micr o; 3σ以下的cmk结果是针对图一所提出的条件和客户所定义的50& micro;m规格极限。

cmk= SL-µ 3σ= (50-6)µm 24µ m =1.83Cmk (machine capability index)机器能力指数机器能力指数,是最适合评估机器对于一个特殊要求的可适用性。

cmk与cpk的区别
1、定义不同：
CMK：临界机器能力指数。

CPK：意思是过程能力指数。

2、内容不同：
CMK：由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰。

CPK：指工序在一定时间里，处于控制状态下的实际加工能力。

Cmk是德国汽车行业常采用的参数，是“MachineCapabilityIndex”的缩写，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同。

1。

Ppk 、Cpk ，还有Cmk 三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp 、Cp 两者的定义及公式 Cp （Capability Indies of Process ）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：2^6d R LSL USL Cp σ-=Pp （Performance Indies of Process ）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：^6SLSL USL Pp σ-=（该指数仅用来与Cp 及Cpk 对比，或/和Cp 、Cpk 一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序） CPU ：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：^23d R X USL CPU σ-=CPL ：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：^23d R LSL X CPL σ-=2、现在我们来阐述Cpk 、Ppk 的含义Cpk ：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU 与CPL 的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即：）（CPL CPU Min Cpk ,=Ppk ：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：^3SX USL σ-或^3SLSL X σ-的最小值。

即：）σ，σ（^^33SS LSLX X USL Min Ppk --= 其实，公式中的K 是定义分布中心μ与公差中心M 的偏离度，μ与M 的偏离为ε=| M-μ| ，则：2/T K ε=于是，Cp K Cpk ）（-=1 ， Pp K Ppk ）（-=1 3、公式中标准差的不同含义①在Cp 、Cpk 中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差R 估计得出：22^d Rd R =σ因此，Cp 、Cpk 一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。

CMK与CPK的算法1. 什么是CMK和CPKCMK和CPK是用于评估过程能力的两个指标，常用于统计质量控制。

CMK是过程能力指数，用于评估一个过程的能力是否达到规定的要求；CPK是过程潜在能力指数，用于评估一个过程的潜在能力，即过程的稳定性和可控性。

2. CMK的计算公式CMK的计算公式如下：CMK = (USL - X̄) / (3 * σ)其中，USL是上限规格限制，X̄是样本平均值，σ是样本标准差。

CMK的取值范围是0到1，当CMK大于等于1时，表示过程能力达到规定要求。

3. CPK的计算公式CPK的计算公式如下：CPK = min((USL - X̄) / (3 * σ), (X̄ - LSL) / (3 * σ))其中，USL是上限规格限制，LSL是下限规格限制，X̄是样本平均值，σ是样本标准差。

CPK的取值范围是0到1，当CPK大于等于1时，表示过程潜在能力达到规定要求。

4. CMK和CPK的应用场景CMK和CPK主要应用于制造业中的质量控制过程，用于评估生产过程的稳定性和可控性。

通过计算CMK和CPK指标，可以判断生产过程是否达到规定的质量标准，并采取相应的改进措施。

例如，在汽车零部件制造过程中，需要对关键尺寸进行控制，以确保零部件的质量符合设计要求。

通过对样本数据进行测量，计算CMK和CPK指标，可以评估制造过程的能力和稳定性，及时发现并解决潜在的质量问题。

5. CMK和CPK的解读CMK和CPK的取值范围是0到1，取值越接近1，表示过程能力或潜在能力越高，质量控制越好。

当CMK或CPK小于1时，表示过程能力或潜在能力不足，需要采取措施改进生产过程。

CMK和CPK的计算结果还可以通过直方图和正态分布曲线进行可视化展示。

如果直方图和正态分布曲线基本重合，表示数据分布符合正态分布，过程能力或潜在能力较高；如果直方图和正态分布曲线有明显偏离，表示数据分布不符合正态分布，过程能力或潜在能力较低，需要进行改进。

Ppk,Cpk,Cmk三者的区别及计算Ppk、Cpk，还有Cmk三者的区别及计算1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。

即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| ，则：于是，，3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出：因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。

确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。

②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S 来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。

即：4、几个指数的比较与说明①无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。

C P K,P P K,C M K三者含义及区别什么是CPK？什么是PPK？什么是CMK？Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算什么是CPK？什么是PPK？什么是CMK？Ppk,Cpk,Cmk三者区别是什么？如何计算呢？CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。

制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。

制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。

当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。

CPK值越大表示品质越佳。

Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2；8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ，计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值)9. 依据公式：Cp =T/6σ ，计算出制程精密度：Cp值10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ，计算出制程能力指数：Cpk值11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级 2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级 1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级 1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

Ppk 、Cpk ，还有Cmk 三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp 、Cp 两者的定义及公式 Cp （Capability Indies of Process ）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：2^6d R LSL USL Cp σ-=Pp （Performance Indies of Process ）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：^6SLSL USL Pp σ-=（该指数仅用来与Cp 及Cpk 对比，或/和Cp 、Cpk 一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU ：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：^23d R X USL CPU σ-=CPL ：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：^23d R LSL X CPL σ-=2、现在我们来阐述Cpk 、Ppk 的含义Cpk ：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU 与CPL 的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即：）（CPL CPU Min Cpk ,= Ppk ：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：^3SX USL σ-或^3SLSL X σ-的最小值。

即：）σ，σ（^^33SS LSLX X USL Min Ppk --= 其实，公式中的K 是定义分布中心μ与公差中心M 的偏离度，μ与M 的偏离为ε=| M-μ| ，则：2/T K ε=于是，Cp K Cpk ）（-=1 ， Pp K Ppk ）（-=1 3、公式中标准差的不同含义①在Cp 、Cpk 中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差R 估计得出：22^d R d R =σ因此，Cp 、Cpk 一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。