RPN=OPR×ESR×DDR
表6-9 检验难度评分准则
结论
1.故障发生可能性高、故障严重程度高,又难以检出的故障模式,其RPN值较高,从 而危害性较大。
2.对于危害性高的故障模式,应从降低故障发生可能性和故障严重程度及提高该故障 检出可能性三方面提出改进措施。
3.在利用RPN对故障模式进行评定时,可制定一个RPN的门限值,超过此门限值的故 障模式均应采取改进措施。
2.定量分析法
(1)故障模式频数比 故障模式频数比α:是产品故障表现为确定故障模式的比率。即产品的某一故障 模式占其全部故障模式的百分比率。如果考虑某产品所有可能的故障模式,则其 故障模式频数比之和将为1。
模式故障率λm:是指产品总故障率λp与某故障模式频数比α的乘积。
λm=α×λp
表6-10 双极型晶体管故障模式、频数比及其模式故障率
6.3.2 危害性矩阵法
定性分析法:不能获得准确的产品故障 定量分析法:可以获得产品的较为准确的故障数据
数据
1.定性分析法
GJB1391给出的一种定义:
A级:经常发生 >20% B级:有时发生 10% ~20% C级:偶然发生 1% ~10% D级:很少发生 0.1% ~1% E级:极少发生 <0.1%
图6-5中,故障模式M1比故障模式M2的危害性大。
6.3.3 危害性分析的实施 表6-12 危害性分析表
(3)故障模式危害度与产品危害度
1.故障模式危害度:评价单一故障模式危害性 Cm(j)=α×β×λp×t, j=Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ,Ⅳ Cm(次j)代数表。了产品在工作时间t内以第i种故障模式发生第j类严酷度类别的故障
2.产品危害度:评价产品的危害性 Cr(j)= ∑Cmi(j) 式中:i=1,2,…,n; n为该产品在第j类严酷度类别下的故障模式总数; j=Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ,Ⅳ Cr(j)代表了某一产品在工作时间t内产生的第j类严酷度类别的故障次数。