05 X射线衍射原理

X射线衍射的原理和应用1. 原理介绍X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射特性来研究物质结构的方法。

其基本原理是将X射线通过待测物质后，通过衍射现象得到衍射图样，进而分析衍射图样来揭示物质的结构和性质。

2. X射线衍射的基本过程X射线衍射的基本过程可以分为三个步骤：2.1 射线入射与散射X射线通过射线源产生，并经过准直装置使射线束成为平行束。

当平行束的X射线照射到待测物质上时，部分X射线会被物质原子散射出去。

2.2 衍射现象的产生散射出来的X射线在绕过物质颗粒或晶体的过程中，会产生衍射现象。

衍射是X射线通过物质后在特定方向上的干涉效应，产生了特定的衍射图样。

2.3 衍射图样的分析通过对衍射图样的分析，可以得到有关物质结构和性质的信息。

衍射图样可以通过半衍射球法、白色衍射法等方法进行分析。

3. X射线衍射的应用领域3.1 材料科学X射线衍射在材料科学领域中广泛应用。

通过衍射图样的分析，可以确定材料中的结晶度、晶格参数、晶体相对定位等信息，从而帮助研究人员了解材料的结构和性质。

3.2 生物学X射线衍射在生物学研究中也有重要应用。

例如，通过对蛋白质晶体的X射线衍射图样进行分析，可以确定蛋白质的三维结构，进而揭示蛋白质的功能与活性。

3.3 矿物学和地球科学X射线衍射可以帮助矿物学家确定矿物的组成和结构，从而了解地球内部的物质组成和地壳运动等过程。

此外，X射线衍射还可用于地质样品中晶体的定量分析。

3.4 药物研究X射线衍射在药物研究中的应用主要涉及药物晶体结构的分析。

通过分析药物晶体的结构，可以了解药物的药性、晶体稳定性等信息，为药物开发提供依据。

3.5 粉末衍射技术在工业中的应用粉末衍射技术是X射线衍射中的一种重要方法。

在工业生产中，粉末衍射可以应用于合金的成分分析、材料的相变研究、材料的质量控制等领域。

4. 结论X射线衍射是一种非常重要且广泛应用的研究方法。

在材料科学、生物学、矿物学和地球科学、药物研究以及工业应用中都有其独特的价值。

X射线衍射分析X射线衍射分析是一种重要的材料表征方法，它能够帮助科学家研究物质的结构和性质。

X射线衍射分析技术被广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。

本文将介绍X射线衍射分析的原理、仪器设备，以及在实际应用中的一些案例。

X射线衍射分析的原理基于X射线与物质相互作用的规律。

当X射线照射到物质上时，X射线与物质中的原子发生散射，形成衍射图样。

这些衍射图样包含了物质的晶体结构信息。

通过分析这些衍射图样，我们可以了解物质的晶体结构、晶格参数以及晶体中的原子位置。

X射线衍射实验通常使用X射线衍射仪进行。

X射线衍射仪由X射线源、试样台和衍射检测器组成。

X射线源产生高能量的X射线束，试样台用于放置待测样品，而衍射检测器则用于检测经过试样台衍射的X射线。

在实验中，我们需要调整X射线源和试样台的相对位置，使得试样台上的样品能够受到均匀的X射线照射，并且衍射信号能够被检测器准确地记录下来。

X射线衍射实验的结果通常以X射线衍射图样的形式呈现出来。

X射线衍射图样是一系列强度和角度的关系曲线。

通过对衍射图样的分析，我们可以确定材料的晶体结构。

根据布拉格方程，我们可以计算出晶面的间距，从而推导出晶体中原子的位置和晶格参数。

X射线衍射分析可以应用于各种各样的材料。

例如，材料科学家可以通过X射线衍射分析来研究金属的晶体结构和晶格缺陷。

化学家可以使用X射线衍射分析来确定化合物的晶体结构，从而帮助他们理解化学反应的机理。

生物学家可以利用X射线衍射分析来研究蛋白质的三维结构，从而揭示生物分子的功能和活动机制。

除了单晶衍射分析，还有一种称为粉末衍射分析的技术。

粉末衍射分析可以用于不规则形状的晶体或非晶体材料的结构分析。

在粉末衍射分析中，试样通常是细粉末状的物质。

通过对粉末衍射图样的分析，我们可以推导出材料的平均晶体结构。

总之，X射线衍射分析是一种重要而强大的材料表征技术。

它可以帮助科学家研究物质的结构和性质，并为材料科学、化学、生物学等领域的研究提供有效的工具和方法。

X射线衍射原理及应用X射线衍射是一种利用X射线与晶体相互作用产生的衍射现象研究物质结构的方法。

它是在19世纪末和20世纪初逐渐发展起来的。

在这个过程中，麦克斯·冯·劳厄和威廉·康拉德·伦琴分别做出了重要贡献。

X射线衍射的原理是基于能量很高、波长很短的X射线通过物质时，与物质中的原子或晶体晶格相互作用，形成一些衍射现象。

这些衍射现象可以由晶体的结构参数推导出来，从而获得物质结构的信息。

1.X射线的产生：通过射线管向靶发射高速电子，产生了能量很高的X射线。

2. X射线的散射：经过Fermi–Dirac分布后，X射线通过物质时，与物质中的电子和原子核相互作用。

3.X射线的衍射：在特定的角度下，经过物质散射后的X射线互相干涉，形成衍射图样。

4.衍射图样的测量：通过衍射图样的测量，可以获得物质结构的信息，如晶格常数、晶胞参数、晶体结构等。

1.确定晶体结构：X射线衍射可以确定晶体结构的各种参数，如晶胞参数、晶格常数、原子位置等，从而帮助人们了解晶体的组成和结构。

2.分析材料成分：X射线衍射可以通过衍射图样的特征峰值，来分析物质的成分和组成。

3.研究晶体缺陷：X射线衍射可以研究晶体中的缺陷，如晶体的位错和断裂等。

通过衍射图样的变化，可以推断出晶体的缺陷类型和密度。

4.相变和晶体生长研究：X射线衍射可以研究物质的相变过程和晶体的生长机制。

通过衍射图样的变化，可以观察到相变的相应信号，并得到相变的温度和压力等参数。

5.X射线衍射也可以应用于地球科学领域，如矿石的开采、火山活动的研究等。

总之，X射线衍射是一种非常重要的物质结构研究方法，通过测量衍射图样，可以了解物质的组成和结构。

在材料科学、结晶学、地球科学等领域都有广泛的应用前景，对于人类的科学研究和工业生产都具有重要的意义。

x射线衍射的工作原理x射线衍射是一种用于研究晶体结构的技术。

它利用x射线穿过物质时的散射特性来确定晶体的结构。

这种技术在物理、化学和材料科学等领域得到了广泛应用。

x射线衍射的基本原理是利用x射线在经过晶体时的衍射现象。

当x射线通过晶体时，它会与晶体中的原子发生作用。

这些原子会对射线产生干涉作用，使射线在晶体中形成一些特殊的相位关系，从而使射线在出射时发生衍射。

晶体中的各个原子之间具有特定的空间排列方式，形成了一个有规律的晶体结构。

每个晶体结构都有一个特定的晶胞，其中包含若干个原子。

当入射的x射线穿过晶胞时，它会与其中的原子相互作用，引起干涉和散射，从而在出射方向上形成一系列特定的衍射点。

这些衍射点的位置和强度与晶体结构以及入射x射线的波长有关。

由此可以通过对衍射图样的分析来确定晶体的结构。

因此可以使用x射线衍射来确定几乎所有晶体的结构。

在实际应用中，使用的x射线波长通常为0.1纳米至1纳米范围内的水平。

使用薄晶片制备样品，这可以使x射线穿过晶体的路程尽可能短，从而增加衍射的强度。

此外，通常要使用高分辨率的探测器来捕捉衍射图样中的弱信号。

由于x射线衍射技术具有许多优点，如非破坏性、精度高、可靠性强等，因此在多个领域得到了广泛应用。

在材料科学中，它可以用于研究纳米晶、薄膜等材料的结构。

在药物研究中，它可以用于确定药物的晶体结构，从而为药物设计提供重要信息。

在工业中，它可以用于研究金属、合金等材料的结构和相变行为，从而为材料的开发和制造提供帮助。

总之，x射线衍射是一种非常重要的材料研究技术，在多个领域得到了广泛应用。

X射线衍射分析原理及应用一、X射线衍射分析的原理X射线衍射的基本原理是当X射线入射到晶体表面时，由于晶体具有定向排列的原子或离子，X射线与晶体中的电子发生相互作用并散射，形成不同方向上的干涉条纹，通过测量和分析这些干涉条纹的位置和强度可以推断出晶体的结构特征。

具体来说，X射线衍射分析的原理可以归纳为以下几个方面：1. 布拉格法则：当入射角θ和出射角θ'满足布拉格方程nλ = 2d·sinθ，即入射的X射线与晶体晶面的倾角和衍射角满足特定的关系时，会发生衍射。

2.动态散射：在晶体中，入射的X射线会与晶格中的电子发生相互作用，散射成各个方向上的次级波，波的振动方向垂直于入射方向。

3.干涉：次级波在不同晶面的散射电子之间发生干涉，产生特定的干涉条纹。

4.衍射图样：干涉条纹的位置和形状与晶体的晶胞结构、晶面间距以及晶体取向有关，通过测量和分析衍射图样可以确定这些信息。

二、X射线衍射分析的应用1.晶体结构分析：通过在不同角度下测量样品的X射线衍射图样，可以推断出材料的晶体结构，包括晶胞参数、晶面间距、原子位置等信息。

这对于理解材料的物理、化学以及电子结构等性质非常重要。

2.晶体取向分析：X射线衍射分析可以用来确定晶体中不同晶向的取向分布，即晶体中晶面的取向。

这对于材料工艺和性能的控制具有重要意义，例如金属的冷轧、挤压等过程中，晶体的取向对材料的力学性能有很大影响。

3.晶体缺陷分析：晶体中存在着各种缺陷，如位错、晶界、析出相等。

通过观察和分析X射线衍射图样中的峰形和峰宽等信息，可以确定晶体的缺陷类型和含量，进而了解材料的机械、电学以及热学性质。

4.应力分析：在材料的变形过程中，晶体中会引入应力场。

应力会引起晶格的畸变，从而导致X射线衍射图样的形状和位置发生变化。

通过分析这些变化可以得到材料中的应力分布和大小，对于材料的力学性能的评估和优化具有重要意义。

总之，X射线衍射分析是一种非常重要的材料表征方法，可以提供丰富的关于晶体结构、晶胞参数、晶体取向以及晶体缺陷等信息。

论述x射线衍射的原理及应用
X射线衍射是一种利用X射线与晶体相互作用而产生的衍射现象来研究晶体结构的方法。

其原理可以归纳为以下几点：
1. X射线的波长与晶格常数的数量级相近，因此X射线与晶体的原子相互作用较强。

当X射线入射到晶体上时，会被晶体中的原子散射，并且由于晶体的周期性排列，散射光的干涉效应会形成衍射图样。

2. 晶体中的各个晶面对X射线的散射光具有相干性，且满足布拉格衍射条件。

根据布拉格方程，当入射角、散射角和晶面间距之间满足一定关系时，会出现衍射峰，即特定方向的散射光强度增强。

3. 通过测量衍射峰的位置和强度，可以推断出晶体中的原子排列方式、晶胞尺寸和晶格常数等结构信息。

X射线衍射在材料科学、物理学和化学等领域有广泛应用：
1. 确定晶体结构：X射线衍射是确定晶体结构的重要方法，可以用于研究晶体的晶胞参数、晶格对称性和原子排列方式等信息。

2. 相变研究：X射线衍射可以用于研究材料的相变行为，例如晶体的相变温度、相变机制和相变过程等。

3. 晶体缺陷分析：通过分析衍射峰的形状和位置变化，可以研究晶体中的缺陷、畸变和应力等信息。

4. 晶体取向分析：通过测量衍射图样的方向和强度，可以确定晶体的取向信息，用于材料的定向生长和晶体学研究等。

5. 薄膜和多层结构研究：X射线衍射可以用于研究薄膜和多层结构的晶体学性质，包括晶格常数、晶面取向和晶体品质等。

总之，X射线衍射是一种重要的研究晶体结构和材料性质的方法，具有广泛的应用价值。

x射线衍射工作原理X射线衍射是一种广泛应用于材料结构分析和晶体学研究的技术。

其工作原理基于X射线穿过晶体后的散射现象。

X射线通过晶体时，会与晶体内的原子发生作用，导致X射线的散射方向和强度发生改变。

通过测量和分析散射X射线的特性，我们可以得到关于晶体的结构信息。

X射线衍射的工作原理可以用布拉格定律来解释。

根据布拉格定律，当入射X射线的波长和晶体的晶格常数满足特定条件时，散射的X射线波面会叠加形成衍射图样。

这些衍射图样呈现出明亮的衍射斑点，每个斑点对应着晶体中特定的晶面。

为了进行X射线衍射实验，首先需要一台X射线发生器。

X射线发生器会产生高能的X射线束，该束通过使用称为X射线管的装置产生。

X射线管由阴极和阳极组成，当阴极发射电子时，经过加速和碰撞作用，产生X射线。

产生的X射线束通过调节的光学元件来聚焦，并进一步通过样品。

样品是一个晶体，在X射线束的作用下，产生散射。

散射的X射线被称为衍射光，其角度和强度可以通过衍射图样来确定。

接下来，衍射光会被收集并聚焦到一个光学探测器上，比如一个镜子或一个光电二极管。

探测器会记录下衍射光的特性，并通过电信号转换为可见的图像或者其他数据。

最后，通过分析衍射图样和探测器记录的数据，我们可以推断出晶体的结构信息，比如晶胞参数、晶面排列等。

这些结构信息对于研究材料性质和开发新材料具有重要意义。

总之，X射线衍射通过测量和分析散射的X射线来研究晶体结构。

它的工作原理基于X射线的穿透和散射现象，通过衍射图样和探测器记录的数据可以获得晶体的结构信息。

这种技术在材料科学和晶体学研究中发挥着重要作用。

x射线衍射原理x射线衍射是一种重要的物理现象，它在材料科学、结构分析和晶体学等领域具有广泛的应用。

本文将介绍x射线衍射的原理及其在科学研究和工程应用中的重要性。

一、x射线衍射的原理x射线衍射是指当x射线通过物质时，由于物质中的原子或分子对x 射线的散射作用，使得x射线在特定角度下发生衍射现象。

这种衍射现象是由于x射线与物质中的电子发生相互作用而产生的。

具体来说，当x射线通过物质时，它会与物质中的电子发生相互作用。

这种相互作用导致x射线的波长发生改变，从而使得x射线在特定角度下发生衍射。

根据衍射的特点，我们可以通过测量衍射角度和衍射强度来研究物质的结构和性质。

二、x射线衍射的应用1. 材料科学：x射线衍射在材料科学中具有重要的应用。

通过测量材料的衍射图样，可以确定材料的晶体结构、晶格常数和晶体缺陷等信息。

这对于材料的设计和性能优化非常关键。

2. 结构分析：x射线衍射在结构分析中也起着重要的作用。

通过测量物质的衍射图样，可以确定物质的分子结构、晶体结构和晶体取向等信息。

这对于研究分子和晶体的性质以及化学反应机理具有重要意义。

3. 晶体学：x射线衍射是研究晶体学的重要工具。

通过测量晶体的衍射图样，可以确定晶体的空间群、晶胞参数和晶体结构等信息。

这对于研究晶体的对称性和性质具有重要意义。

4. 工程应用：x射线衍射在工程领域也有广泛的应用。

例如，在材料加工过程中，通过测量材料的衍射图样，可以评估材料的晶粒尺寸和应力状态，从而指导工艺优化和质量控制。

三、x射线衍射的发展和挑战随着科学技术的不断发展，x射线衍射技术也在不断进步。

例如，近年来，高分辨率x射线衍射技术的发展使得我们能够更加准确地研究物质的微观结构和性质。

此外，结合计算模拟和数据处理技术，可以进一步提高衍射数据的分析和解释能力。

然而，x射线衍射技术也面临一些挑战。

例如，对于非晶态材料和纳米材料等复杂体系，衍射图样的解析和解释更加困难。

此外，x 射线衍射技术在实际应用中还存在成本高、设备复杂等问题，限制了其在一些领域的推广和应用。

X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射和干涉现象来研究晶体结构的技术。

其工作原理可以描述如下：
1.X射线源：首先需要一个产生高能X射线的源，通常使用X射线管或放射性同位素。

这
些X射线源会产生一束高能X射线。

2.射线入射：产生的X射线束被定向照射到待测物质（通常是晶体）上。

X射线的波长与
晶格间距的数量级相当，所以它们可以与晶体中的原子发生散射现象。

3.散射过程：当X射线束穿过晶体时，它们会与晶体中的原子发生散射。

根据布拉格法则，
当入射X射线的波长与晶格间距匹配时，会发生构造性干涉，形成衍射图样。

4.衍射图样：被散射的X射线会以不同的角度和强度散射出去，形成特定的衍射图样，可
以通过探测器捕捉到。

5.分析和解读：通过分析衍射图样，可以确定晶体中的原子排列和晶格结构。

根据衍射图
样中出现的衍射点的位置和强度，使用数学方法进行解析，推断晶体的结构和晶胞参数。

总之，X射线衍射利用X射线与晶体中原子的相互作用，通过测量和分析产生的衍射图样来研究晶体的结构。

这种技术在材料科学、固态物理、化学等领域有广泛应用，并为了解晶体的性质和结构提供了重要手段。

X射线衍射仪工作原理操作及其应用（一）工作原理X射线是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力。

对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。

广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。

特征X射线是一种波长很短(约为20～0.06nm)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中，包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。

考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光，即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。

分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。

这一预见随即为实验所验证。

1913年英国物理学家布拉格父子在劳厄发现的基础上，不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构，并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律：式中λ为X射线的波长，n为任何正整数。

当X射线以掠角θ（入射角的余角，又称为布拉格角）入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时，在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。

（二）操作步骤2.1开机前的准备打开循环水，检查水温是否在20摄氏度左右，上下波动范围不超过3度；室内温度在20摄氏度左右，上下波动范围不超过3度；湿度小于80%；样品放置在样品台正中间；2.2开机检查记录检查情况，填写《仪器设备使用记录》；预热30分钟，加载高压；启动电脑，打开commander软件，点击init drives按钮进行初始化，然后点击Move drives按钮驱动各个轴转动到设定的角度处；在commander软件中将设备功率设定到额定功率，铜靶40KV，40mA；钴靶35KV，40mA；设定2thet角的范围（通常范围在20°到80°）。

三．X 射线衍射的基本原理3.1 Bragg 公式晶体的空间点阵可划分为一族平行而等间距的平面点阵，两相邻点阵平面的间距为d hkl 。

晶体的外形中每个晶面都和一族平面点阵平行。

当X 射线照射到晶体上时，每个平面点阵都对X 射线射产生散射。

取晶体中任一相邻晶面P 1和P 2，如图3.1所示。

两晶面的间距为d ，当入射X 射线照射到此晶面上时，入射角为θ，散射X 射线的散射角也同样是θ。

这两个晶面产生的光程差是：θsin 2d OB AO =+=∆ 3.1当光程差为波长λ 的整数倍时，散射的X 射线将相互加强，即衍射：λθn d hkl =sin 2 3.2上式就是著名的Bragg 公式。

也就是说，X 射线照射到晶体上，当满足Bragg 公式就产生衍射。

式中：n 为任意正整数，称为衍射级数。

入射X 射线的延长线与衍射X 射线的夹角为2θ（衍射角）。

为此，在X 射线衍射的谱图上，横坐标都用2θ 表示。

图3.1 晶体对X 射线的衍射由Bragg 公式表明：d hkl 与θ 成反比关系，晶面间距越大，衍射角越小。

晶面间距的变化直接反映了晶胞的尺寸和形状。

每一种结晶物质，都有其特定的结构参数，包括点阵类型、晶胞大小等。

晶体的衍射峰的数目、位置和强度，如同人的指纹一样，是每种物质的特征。

尽管物质的种类有成千上万，但几乎没有两种衍射谱图完全相同的物质，由此可以对物质进行物相的定性分析。

3.2 物相分析物相的定义是物质存在的状态，如同素异构体SiO2、TiO2分别有22种和5种晶体结构。

除了单质元素构成的物质如铜、银等以外，X射线衍射分析的是物相（或化合物），而不是元素成分。

对于未知试样，为了了解和确定哪些物相时，需要定性的物相分析。

正如前述，晶体粉末衍射谱图，如人的指纹一样，有它本身晶体结构特征所决定。

因而，国际上有一个组织——粉末衍射标准联合会（JCPDS）后改名为JCPDS－衍射数据国际中心专门负责收集、校订、编辑和发行粉末衍射卡片（PDF）的工作。

X射线衍射分析X射线衍射是一种广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域的分析技术，它通过衍射现象来研究晶体结构和晶体取向。

本文将介绍X 射线衍射分析的原理、方法以及在不同领域中的应用。

一、X射线衍射原理X射线衍射是指X射线入射到晶体上，由于晶体的周期性结构，X 射线在晶胞中遇到原子核或电子时会发生衍射。

根据布拉格定律，衍射角度与晶格常数、入射波长之间存在特定的关系，通过观察衍射角度和强度可以推断出晶体结构的信息。

二、X射线衍射方法1. 粉末衍射：将样品粉碎成粉末状，通过X射线衍射仪器进行衍射分析，可以获得材料的晶体结构信息。

2. 单晶衍射：用单一晶体进行X射线衍射分析，可以得到更为详细的结构信息，包括原子间的位置和取向。

三、X射线衍射在材料科学中的应用1. 晶体学研究：通过X射线衍射可以确定晶体结构和晶体学参数，揭示材料的性质和相态变化。

2. 晶体生长：X射线衍射可以监测晶体的生长过程，帮助调控晶体的形貌和性能。

四、X射线衍射在生物学中的应用1. 蛋白质结构：X射线衍射被广泛用于解析蛋白质的晶体结构，揭示蛋白质的功能和作用机制。

2. 细胞成像：通过X射线衍射可以对细胞结构进行高分辨率成像，为细胞生物学研究提供重要依据。

五、X射线衍射在化学分析中的应用1. 晶体化学：X射线衍射可以确定晶体中元素的位置和化学键的性质，为化学合成提供参考。

2. 晶体衍射敏感性分析：X射线衍射可以用于检测材料中微观结构的变化，分析化学反应的过程和机制。

总结：X射线衍射作为一种强大的分析技术，不仅在材料科学、生物学和化学领域有着重要的应用，还在许多其他领域有着广泛的应用前景。

随着仪器技术的不断进步，X射线衍射分析将在更多研究领域展现其重要作用。

x射线衍射原理
X射线衍射原理，简称XRD（X-ray diffraction），是利用物
质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的一种实验方法。

X射线是一种电磁波，在物质中传播时会受到物质的排列方式和晶胞结构的影响，发生衍射现象。

由于晶体具有高度有序的排列，因此在晶体中衍射现象尤为明显。

X射线衍射原理主要包括布拉格定律和费尔南多原理。

布拉格定律是描述X射线衍射的基本定律，它是由马克斯·冯·拉格（Max von Laue）和布拉格父子共同提出的。

根据布拉格定律，衍射峰的出现是由于X射线与晶体中的晶面发生干涉所导致的。

布拉格定律的数学表达式为：
nλ = 2d sinθ
其中，n为衍射阶数，λ为X射线的波长，d为晶面间距，θ为衍射角。

费尔南多原理则描述了X射线在晶体中的衍射方式。

根据费
尔南多原理，晶体中的每个晶面都可以看作是由一系列原子或离子组成的平行于该晶面的晶胞构成。

当入射X射线照射到
晶胞上时，不同晶胞上的X射线波将起到干涉作用，形成衍
射峰。

通过X射线衍射实验，可以得到一些重要的信息，如晶体的
晶格常数、晶胞形状和大小、晶胞中原子的排列方式等。

这些信息对于理解物质的结构和性质具有重要意义。

X射线衍射方
法已被广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域，成为了研究物质微观结构的重要手段。

第五章 X 射线衍射分析原理一、名词、术语、概念选择反射、掠射角（布拉格角）、散射角、衍射角、结构因子（或叫结构因素）、系统消光、点阵消光、结构消光。

二、填空1、X 射线衍射波的两个基本特征是（ ）和（ ）。

2、X 射线照射晶体，设入射线与反射面之夹角为θ，称为（ ）或（ ），则按反射定律，反射线与反射面之夹角也应为θ；入射线延长方向与反射方向之间的夹角2θ叫（ ）。

3、产生衍射的必要条件是（ ），充分条件是（ ）。

三、判断1、一束X 射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。

2、衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小，而与晶胞中的原子位置无关；衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置，而与晶胞形状及大小无关。

3、当一束波长为λ的X 射线以一定方向照射晶体时，可能产生反射（衍射）的晶面，其倒易点必定落在反射球（厄瓦尔德球）上。

4、布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和劳埃方程均表达了衍射方向与晶体结构和入射线波长及方位的关系。

5、作为衍射必要条件，衍射矢量方程、布拉格方程+反射定律及厄瓦尔德图解三者之间是等效的。

6、“劳埃方程+协调性方程”等效于“布拉格方程+反射定律”。

7、只要满足布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解和劳埃方程，就一定可以观察到衍射线（或衍射斑点，衍射花样）。

五、选择题1、面心立方晶体{100}晶面族的多重性因子是（ ）。

A 、4；B 、6；C 、8；D 、12。

2、面心四方晶体{100}晶面族的多重性因子是（ ）。

A 、4；B 、6；C 、8；D 、12。

3、面心四方晶体{001}晶面族的多重性因子是（ ）。

A 、4；B 、6；C 、8；D 、2。

六、简答及思考题1、试述由布拉格方程与反射定律导出衍射矢量方程的思路。

2、辨析概念：X 射线散射、衍射与反射。

3、某斜方晶体晶胞含有两个同类原子，坐标位置分别为：(43，43，1)和（41，41，21），该晶体属何种布拉菲点阵？写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线的F 2值。