AECQ102认证是什么

AECQ104认证解读车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准。

电子控制零部件、导航、娱乐、无线多媒体电子部件等越来越多，汽车的系统也变得越来越复杂，芯片模块可靠性的重要性也随之凸显，这直接决定了整车的行驶安全性和产品的可靠性。

AEC-Q104的检测标准依据汽车在实际使用过程中的环境，多样化的复杂环境，因此增加了试验的顺序，检测通过的难度随之增加，同时增加了模组特殊测试。

AEC-Q104认证规范中，共分为A-H八大系列。

其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、Low Temperature Storage Life(LTSL)、Start Up & Temperature Steps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。

AEC-Q104上，为了依据MCM在汽车上实际使用环境，为复合式的环境，因此增加顺序试验，验证通过的难度变高。

例如，必须先执行完High Temp Operating Life(HTOL)，才能做Thermal Shock(TS)，颠倒过来就不行。

AEC-Q104中针对MCM，增加H系列的测项；此外，针对零件本身的可靠性测试(Component Level Reliability)，也增加了Thermal Shock(TS)及外观检视离子迁移(VISM)。

aec q102标准
AEC-Q102标准是由AEC委员会制定发表的，是车用光电器件基于失效机
制的应力测试资格，适用于车用光电器件的综合可靠性测试认证标准，是光电器件应用于汽车领域的基本门槛。

AEC-Q102标准定义了汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件（目前主要是LED）的最低应力测试要求和测试条件，其每项测试都是针对车用光电器件所可能遭受的严酷环境来设计的，以保护行车时的安全性。

AEC-Q102标准主要适用于以下产品：LED、激光组件、激光元件、光电二极管、光电晶体管、发光二极管、光导管、光电池、光电三极管、热敏电阳、温差发电器、温差电致冷器、光敏电阻、红外光源、光电耦合器、发光数字管、使用光电功能和其他组件（例如带集成电路的LED、带光电二极管的激光组件、光耦）的多芯片模块。

AEC-Q102 REV A标准是AEC-Q102标准的最新版本，由AEC在2020年4月正式发布。

此规范主要为离散光电组件产品进入车用市场制定的判断标准，同时也是目前最新针对车用LED通用的国际标准。

以上内容仅供参考，如需获取更多信息，建议查阅AEC-Q102标准的官方
文件或咨询专业技术人员。

2020年AECQ100详解：起源、包含项⽬及⽬的作⽤AECQ100的起源AEC全称：Automotive Electronics Council ，中⽂名：汽车电⼦协会。

由Chrysler（克莱斯勒）、Ford（福特）、GM（通⽤）发起并于1994年创⽴。

AEC⽬的：针对车载应⽤，汽车零部件，汽车车载电⼦实施标准规范，建⽴车载电⼦部件的可靠性及认定标准规格化质量控制标准，提⾼车载电⼦的稳定性和标准化。

AECQ即国际汽车电⼦协会车规验证标准。

包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯⽚组件)、AEC-Q200(被动组件)。

进⼊汽车领域，则必须取得汽车电⼦协会的AECQ可靠度标准，以及零失效（Zero Defect）的供应链质量管理标准IATF16949规范。

AEC-Q100包含项⽬对汽车车载电⼦零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。

其中AEC-Q100是AEC的第⼀个标准，于1994年6⽉⾸次发表，现经过了⼗多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电⼦系统的通⽤标准。

对于车⽤芯⽚来说AEC-Q100也是最常见的应⼒测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100详细规定了⼀系列的测试，同时定义了应⼒测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。

这些测试包括7个测试群组：测试群组A(环境压⼒加速测试，Accelerated Environment Stress)测试群组B(使⽤寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)测试群组D(芯⽚晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)测试群组E(电⽓特性确认测试，Electrical Verification)测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)此外，为了达到汽车电⼦产品对⼯作温度、耐久性与可靠度的⾼标准要求，组件供货商必须采⽤更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计⽅法。

AEC-Q 认证测试方法（1）加速环境应力测试：偏高湿度、温度循环、功率温度循环、高温储存寿命（2）加速寿命模拟测试：高温工作寿命、早期失效率（3）可靠性测试：振动、冲击、恒加速应力、跌落、扭力、切应力、拉力、（4）电气特性确认测试：静电放电、电分配、电磁兼容（5）密封性测试：粗细漏检、内部水汽含量（6）筛选监控测试：部件平均测试、统计良率分析（7）破坏性物理分析：AEC-Q102认证测试项目如下：测试项目简称测试条件Pre- and Post-Stress Electrical andPhotometric TestTESTLED测试相关光电参数Pre-conditioning PCSMD产品在高温高湿、TC、PTC试验前预处理，条件参数MSL等级External Visual EV 产品外观检查（结构，标记，工艺）1、试验周期=1000H,(可参照附录Appendix 7a延长至4000H、10000H）；2、温度=TJmax；3、电流=参照规格书电流与Tj关系选择，使Tj=Tjmax；1、试验周期=1000H,(可参照附录Appendix 7a延长至4000H、10000H）；2、温度=参照规格书电流与Tj关系选择，使Tj=Tjmax；3、电流=IFmax；High Temperature Reverse Bias HTRB 不适用于LED 1、试验前预处理；2、试验周期=1000H；3、温度/湿度=85/85%RH；4、电流=参照规格书电流与Tj关系选择，使Tj=Tjmax，30min on/30min off；High Temperature Operating Life HTOL2Parametric VerificationPV测试产品不同温度下的光电参数High Temperature Operating Life HTOL1Wet High Temperature Operating Life WHTOL11、试验前预处理；2、试验周期=1000H；3、温度/湿度=85/85%RH；4、电流=规格书最低电流，If no minimum rated drive current is specified, a drive current shall bechosen not to exceed a rise of 3 K for Tjunction；Wet High Temperature Operating LifeH3TRB不适用于LED 1、试验前预处理；2、试验周期=1000cycles ，最低停留时间为15min；3、温度范围=低温选择规格书定义的最低使用温度，高温TC选择不低于最高使用温度，TC condition 1：max Ts=85TC condition 2：max Ts=100TC condition 3：max Ts=110TC condition 4：max Ts=1254、冷热冲击后DPA，并提供制造时金线拉力数据，试验报告标明冷热冲击条件及转换时间。

aecq100标准
AECQ100标准是汽车电子部件的质量要求标准，它是由美国汽车工程师协会（SAE）制定的。

AECQ100标准的主要目的是确保汽车电子部件的可靠性和可用性，以满足汽车制造商的需求。

它要求汽车电子部件的质量必须达到一定的标准，以确保它们能够在汽车中正常工作。

AECQ100标准要求汽车电子部件必须经过严格的测试，以确保它们能够在汽车中正常工作。

这些测试包括热老化测试、振动测试、湿热测试、抗湿度测试、抗污染测试、抗振动测试、抗温度测试等。

此外，AECQ100标准还要求汽车电子部件必须经过严格的质量控制，以确保它们能够在汽车中正常工作。

这些质量控制包括材料检查、尺寸检查、电气性能检查、绝缘检查、热老化检查、湿热检查等。

总之，AECQ100标准是汽车电子部件的质量要求标准，它要求汽车电子部件必须经过严格的测试和质量控制，以确保它们能够在汽车中正常工作。

aecq100标准适用范围**1. 汽车电子控制单元**aecq100标准适用于汽车电子控制单元的设计、开发和测试。

这些控制单元负责管理车辆的各种功能，如引擎控制、制动系统、转向等。

aecq100标准确保这些控制单元在复杂和严苛的汽车环境中能够正常、安全地运行。

**2. 汽车传感器和执行器**汽车传感器和执行器是车辆感知外部环境和执行控制指令的重要部件。

aecq100标准涵盖了这些传感器的设计和性能要求，以确保它们能够在各种温度、湿度和其他环境条件下正常工作。

**3. 汽车微控制器**微控制器是现代汽车中的关键组件，用于处理复杂的控制算法和数据传输。

aecq100标准规定了微控制器的设计和功能要求，以确保它们能够满足汽车应用的高可靠性和安全性需求。

**4. 汽车半导体分立器件**半导体分立器件，如二极管、晶体管等，在汽车电子系统中发挥着重要作用。

aecq100标准涵盖了这些器件的设计、性能和可靠性要求，以确保它们能够在汽车环境中稳定运行。

**5. 汽车电力电子模块**电力电子模块负责管理汽车的电源和电流，对于确保车辆的能源效率和安全性至关重要。

aecq100标准适用于这些模块的设计和开发，确保它们能够在严苛的工作条件下保持稳定和可靠。

**6. 汽车通信接口**汽车通信接口是实现车辆内部和外部通信的关键。

aecq100标准规定了这些接口的设计和性能要求，以确保数据的准确传输和通信的稳定性。

**7. 汽车集成电路封装**集成电路封装是保护和连接集成电路的重要部分。

aecq100标准适用于这些封装的设计和制造，以确保它们能够满足汽车环境的严格要求。

**8. 汽车PCB设计**印刷电路板（PCB）是汽车电子系统的基础。

aecq100标准涵盖了PCB的设计和制造要求，以确保它们能够在复杂和严苛的汽车环境中正常工作。

**9. 汽车EMC设计**电磁兼容性（EMC）是确保汽车电子系统在电磁环境中正常工作的关键。

标签：AECQAECQ信息汇总最近在整理元器件方面的资料，涉及ROSH与AECQ的信息，下面整理了AE CQ的信息。

克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，AEC 是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”之略，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC建立了质量控制的标准。

同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下基础。

主要的汽车电子成员有：Autoliv, Co ntinental, Delphi, Johnson Controls 和Visteon。

AEC-Q100：主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态，引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。

AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认，确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能，以及在连续使用后个功能与性能是否能始终如一。

A EC-Q100标准的目标是提高产品的良品率，这对芯片供货商来说，不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。

AEC-Q100又分为不同的产品等级，其中第１级标准的工作温度范围在-40℃-1 25℃之间，最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃-150℃。

0 等级：环境工作温度范围-40℃-150℃1 等级：环境工作温度范围-40℃-125℃2 等级：环境工作温度范围-40℃-105℃3 等级：环境工作温度范围-40℃-85℃4 等级：环境工作温度范围0℃-70℃AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准（不包含测试方法）AEC-Q100-001 邦线切应力测试AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）AEC-Q100-009 电分配的评估AEC-Q100-010 锡球剪切测试AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准（包含测试方法）* AEC - Q101-001 - Rev-A: 人体模式静电放电测试* AEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试* AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应力测试* AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试方法* AEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试* AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述AEC - Q200 Rev - C: 半导体被动元件的应力测试标准（包含测试方法）* AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能测试* AEC - Q200-002 - Rev-A: 人体模式静电放电测试* AEC - Q200-003 - Rev-A: 断裂强度测试* AEC - Q200-004 - Rev-: 自恢复保险丝测量程序* AEC - Q200-005 - Rev-: PCB板弯曲/端子邦线应力测试* AEC - Q200-006 - Rev-: 端子应力（贴片元件）/切应力测试* AEC - Q200-007 - Rev-: 电压浪涌测试AEC-Q001 零件平均测试指导原则提出了所谓的参数零件平均测试(PPAT)方法。

AECQ-100车规级认证转载定义：主要是针对车载应⽤，汽车零部件，汽车车载电⼦实施标准规范，建⽴质量管理控制标准，提⾼车载电⼦的稳定性和标准化。

预防可能发⽣各种状况或潜在的故障状态，对每⼀个芯⽚进⾏严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进⾏标准规范测试。

在AEC-Q100⽂件中,定义出以下⼏类不同任务的测试群组:： 测试组 A: 加速环境应⼒测试(针对芯⽚产品)Accelerated Environment Stress Tests; 测试组 B: 寿命加速模拟测试 (针对芯⽚产品/IP/⼯艺库) Accelerated Lifetime Simulation Tests; 测试组 C: 封装完整性测试(针对芯⽚产品)Package Assembly Integrity Tests; 测试组 D: ⼯艺可靠性测试(针对Foundry⼚) Die Fabrication Reliability Tests; 测试组 E: 电⽓可靠性测试(针对芯⽚产品/IO库) Electrical Verification Tests; 测试组 F: 缺陷筛选测试(针对芯⽚产品)Defect Screening Tests; 测试组 G: 封装过程后的封装完整性测试(针对芯⽚产品)Cavity Package Integrity。

每⼀个测试群组会再细化定义出⼏项测试项⽬,并说明这些测试项⽬的测试理论参考何项半导体业界所使⽤的认证规范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本⾝所定义并且于附件⾥所定义的规则);每⼀个测试项⽬也同时会定义测试样品单⼀批次数量、测试批次量以及判断合格标准,若有额外的规范也会定义在每⼀项测试规范当中。

⾸先ACE-Q100对汽车零件⼯作温度等级定义如下： 0等级：环境⼯作温度范围-40℃-150℃ 1等级：环境⼯作温度范围-40℃-125℃ 2等级：环境⼯作温度范围-40℃-105℃ 3等级：环境⼯作温度范围-40℃-85℃ 4等级：环境⼯作温度范围0℃-70℃。

aecq 推拉力测试标准
AEC-Q100推拉力测试标准主要涉及半导体、被动元件及显示器模块在恶劣环境条件下对汽车电子组件的要求。

AEC-Q100标准是汽车电子元件可靠性测试的基准，其中包含了推拉力测试的要求。

推拉力测试主要测试元件在恶劣环境条件下，例如高温、低温、湿度等条件下的推拉力稳定性。

通过这个测试，可以确定元件在恶劣环境条件下的可靠性，以确保元件在汽车电子系统中的稳定性和安全性。

具体来说，AEC-Q100标准对推拉力测试的要求包括以下几个方面：
1. 测试温度范围：需要在不同的温度条件下进行推拉力测试，例如高温、低温等。

2. 测试频率：需要在不同的频率下进行推拉力测试，例如高频、低频等。

3. 测试样品：需要选取符合要求的样品进行测试，以确保测试结果的准确性和可靠性。

4. 测试设备：需要使用符合要求的测试设备进行推拉力测试，以确保测试结果的准确性和可靠性。

5. 测试结果分析：需要对测试结果进行分析，以确定元件在恶劣环境条件下的可靠性。

总之，AEC-Q100推拉力测试标准是汽车电子元件可靠性测试的重要环节，对于保证汽车电子系统的稳定性和安全性具有重要意义。

汽车芯片车规级认证：AEC-Q100AEC-Q100认证是什么AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。

需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q100的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。

广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q100认证。

供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q100认证。

Tier1:OEM车用模块/系统厂,车用电子组件的End-User.Continental/Delphi/Johnson Con/Autoliv/Visteon…Tier2:使用/制造车用电子组件的厂商,车用电子组件的Supplier.Altera/Analog Devices/Fairchild/Freescale/Infineon/ NXP/ON semi./NS/Maxim/TI/Xilinx…Tier3:提供支持与服务给予电子行业,车用电子的外包商.TSMC/GSMC…Q100:主动组件包含Single/Multi/Hybrid/Package/ Un-Package/Mount on substrate…Q101:离散组件包含MOSFET/Diode/LED…Q200:被动组件包括Capacitor/Resistor/Crystal…Q001~Q005生产支持 设计/制造/测试以上组件的H/W&S/W生产系统的参考.AECQ100认证测试周期：3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

AECQ200认证AECQ200认证项目详解AECQ200被动元件认证项目有哪些？汽车电子化率的超高速增长不断提升拉动了被动元件的需求，而每台汽车所需要被动元件往往超过数万只，这些被动元件虽然小，但是全部都和汽车驾驶的生命安全息息相关。

为了达到对质量要求的提升，就得靠严格管控程序来把关，AEC针对被动元件所设计出的标准为AECQ200，其规范了被动元件所必须达到的产品质量和可靠度。

华碧实验室在半导体被动组件领域拥有广泛的能力和资质，众多的被动元件测试专家和丰富实验设备致力于使您的产品满足AECQ200的标准要求，我们以差异性的高附加值服务，最短的项目交付时间满足您与被动组件产品相关的各类测试、检验、认证和保障的需求。

那么又有哪些被动元器件需要通过AECQ200的标准呢？华碧实验室带您了解详情。

要求通过AECQ200标准的被动组件石英振荡器：应用范围“胎压监测系统（TPMS）、导航、防死锁刹车系统（ABS）、安全气囊和接近传感器、车载多媒体，车用娱乐系统、备份摄像镜头”车用厚膜芯片电阻：应用范围“汽车冷暖系统、空气调节、信息娱乐系统、自动导航、照明、车门及车窗遥控装置”车用夹层金属氧化物压敏电阻：应用范围“电机组件的浪涌保护、组件的浪涌吸收、半导体过压保护”耐低高温表面贴装固态模压片式钽电容器：应用范围“燃油质量传感器、变速器、节流阀、传动控制系统”电阻：SMD电阻、薄膜电阻、热敏电阻、压敏电阻、车用抗硫化电阻、车用精密薄膜芯片电阻数组、可变电阻电容：SMD电容、陶瓷电容、铝电解电容、薄膜电容、可变电容电感：加固电感、电感器其他：LED薄膜氧化铝陶瓷散热基板、超音波组件、过电流保护SMD、过温保护SMD、陶瓷共鸣器、车用PolyDiode半导体陶瓷电子保护组件、网络芯片、变压器、网络组件、EMI 干扰过滤器、自恢复保险丝了解更多AECQ相关内容，可以和华碧实验室交流沟通。

部分产品及其测试项目和检测方式：。

基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理内容列表AEC-Q101基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理附录1: 认证家族的定义附录2: Q101 设计、构架及认证的证明附录3: 认证计划附录4: 数据表示格式附录5: 最小参数测试要求附录6: 邦线测试的塑封开启附录7: AEC-Q101与健壮性验证关系指南附件AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 <废止>AEC-Q101-003: 邦线切应力测试AEC-Q101-004: 同步性测试方法AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型AEC-Q101-006:12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述感谢任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。

为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人：固定会员:Rick Forster Continental CorporationMark A. Kelly Delphi CorporationDrew Hoffman Gentex CorporationSteve Sibrel HarmanGary Fisher Johnson ControlsEric Honosowetz Lear Corporation技术成员:James Molyneaux Analog DevicesJoe Fazio Fairchild SemiconductorNick Lycoudes FreescaleWernerKanert InfineonScott Daniels International RectifierMike Buzinski MicrochipBobKnoell NXP SemiconductorsZhongning Liang NXP SemiconductorsMark Gabrielle ON SemiconductorTom Siegel Renesas TechnologyTony Walsh Renesas TechnologyBassel Atallah STMicroelectronicsArthur Chiang VishayTed Krueger [Q101 Team Leader]Vishay其他支持者:John Schlais Continental CorporationJohn Timms Continental CorporationDennis L. Cerney International RectifierRene Rongen NXP SemiconductorsThomas Hough Renesas TechnologyThomas Stich Renesas Technology本文件是专门的纪念：Ted Krueger <1955-2013>Mark Gabrielle <1957-2013>注意事项AEC文件中的材料都是经过AEC技术委员会准备、评估和批准的。

【转】汽车电⼦设备标准AEC-Q100AEC-Q100 ⾸先定义了⽤来规范给定器件环境⼯作温度范围的五个不同温度等级。

例如，1 级是车载应⽤⾮常普遍的标准，规定器件可以在-40°C ⾄ +125°C (零下 -40°F ⾄ +257°F)的环境温度下⼯作。

此外，器件电⽓规范通常可在该⼯作范围内确保。

但对于⼀些⾮汽车器件来说则不是这样，因为它们的规范只需在室内温度下即可确保。

查看⼀下 DRV8801-Q1 有刷 DC 电机驱动器产品说明书,就会发现电⽓特性表的顶部有⼀条注释说明了该规范可在整个 1 级⼯作范围内确保。

另⼀个重要的是，AEC-Q100 合规性要求与器件的⽣产验证有关。

任何IC在进⼊⽣产阶段之前，都必须通过⼀系列电⽓、使⽤寿命以及可靠性应⼒测试。

对于汽车级 IC ⽽⾔，产品测试⽐⼯业或商业 IC 要严格得多。

这⾥⼜会涉及温度级，因为不同温度级具有不同质量要求，其中0 级(-40°C ⾄ +150°C)最为严格并适⽤于传动系统或引擎盖下的应⽤。

这些严格的认证测试可确保在恶劣汽车环境中设备⼯作的⾼可靠性与长时间的使⽤寿命。

Q100 应⽤已不仅仅局限于汽车市场，因为由于测试更加严格，越来越多的⼯业客户放弃标准⼯业级产品，转⽽选⽤Q100 认证部件。

ACE-Q100对汽车零件⼯作温度等级定义如下： 0等级：环境⼯作温度范围-40℃-150℃ 1等级：环境⼯作温度范围-40℃-125℃ 2等级：环境⼯作温度范围-40℃-105℃ 3等级：环境⼯作温度范围-40℃-85℃ 4等级：环境⼯作温度范围0℃-70℃ AEC-Q100是由美国汽车电⼦协会AEC所制定的规范,主要是针对车载应⽤的集成电路产品所设计出的⼀套应⼒测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。

此外，器件制造与设计变更通知的处理⽅法也存在不同。

对于汽车级器件⽽⾔，重新认证与变更通知要求⽐⼯业或商业器件要严格得多。

汽车IC测试认证AEC-Q100解析汽车电子的品质标准一直以来都比一般消费型电子产品要严格。

试想一下,一辆汽车要使用到一万多个零件,假如任何一个零件出现问题,对于消费者而言都有可能造成极大的困扰,甚至有可能危及到生命安全。

AEC-Q100是由美国汽车电子协会(automotive electronics council,AEC)所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。

AEC-Q100规范一辆汽车在使用过程中可能会面临严苛的使用环境,例如一辆汽车可能销售到沙漠气候的高温环境中使用,也可能卖给北欧冰天雪地的极地气候客户,严苛的高温、低温、高湿度环境将对汽车甚至汽车内部的集成电路组件造成冲击。

因此,有必要定义出一系列应力测试流程来评估汽车电子集成电路组件的寿命以及潜在的失误风险。

在AEC-Q100文件中,定义出以下几类不同任务的测试群组:Test Group A:Accelerated Environment Stress Tests;Test Group B:Accelerated Lifetime Simulation Tests;Test Group C:Package Assembly Integrity Tests;Test Group D:Die Fabrication Reliability Tests;Test Group E:Electrical Verification Tests;Test Group F:Defect Screening Tests;Test Group G:Cavity Package Integrity。

每一个测试群组会再细化定义出几项测试项目,并说明这些测试项目的测试理论参考何项半导体业界所使用的认证规范(例如:JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本身所定义并且于附件里所定义的规则);每一个测试项目也同时会定义测试样品单一批次数量、测试批次量以及判断合格标准,若有额外的规范也会定义在每一项测试规范当中。

电磁兼容re102评估电磁兼容（EMC）是指设备或系统在其电磁环境中能正常工作，并不对环境产生不能接受的电磁干扰。

在现代电子产品的开发和生产中，EMC合规性已成为一项关键指标。

而在EMC评估中，RE102是一项重要的测试项目，旨在确保设备在辐射电磁场下的性能和安全性。

【提纲2】RE102评估标准是由国际电工委员会（IEC）制定的，针对电子产品在不同频率、不同场强下的辐射干扰特性。

该评估标准涵盖了广泛的应用领域，包括信息技术设备、通讯设备、家电产品等。

通过对设备进行RE102评估，可以确保其在实际使用过程中不会因为电磁辐射问题而对其他设备或人体造成损害。

【提纲3】进行RE102评估的过程主要包括以下几个步骤：1.预测试：通过对设备的电磁辐射特性进行初步了解，确定测试频率、场强等参数。

2.正式测试：在预测试的基础上，按照IEC标准规定的测试方法对设备进行辐射发射和抗干扰能力测试。

3.数据分析：对测试数据进行处理，判断设备是否符合RE102标准要求。

4.报告撰写：根据测试结果，编写符合规范的RE102测试报告。

【提纲4】应对RE102评估的方法主要包括以下几点：1.设计优化：在产品设计阶段，充分考虑电磁兼容性，采用屏蔽、滤波等技术降低电磁辐射。

2.生产工艺：在生产过程中，严格把控工艺质量，确保产品在实际使用过程中不会出现电磁干扰问题。

3.测试验证：对产品进行RE102评估，及时发现并解决不符合标准的问题。

4.培训与宣贯：加强员工的EMC知识培训，提高整个团队的电磁兼容意识。

【提纲5】RE102评估结果对企业的产品研发、生产、销售及售后服务具有重要意义。

通过评估，企业可以确保产品在实际使用过程中具有良好的电磁兼容性，降低产品召回风险，提高客户满意度。

同时，符合RE102标准的产品还能为企业带来更高的市场竞争力。

【提纲6】总之，电磁兼容性是电子产品不可或缺的一项性能指标。

通过对RE102评估标准的深入了解和严格遵循，企业可以确保产品在辐射电磁场下的性能和安全性，为用户提供高质量的产品。

以下资料由华碧实验室收集整理汽车电子元器件AEC-Q系列认证AEC的历史AEC是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”的简称。

1992年，GeraldServais会见了Jerry Jennings(克莱斯勒)，谈话内容包括在电子零件资格认证领域遇到的一些共同困难，提到了共同资格规格的概念，认为这是改善这种情况的一种可能办法。

在随后的JEDEC会议上，Servais讨论了与Robert Knoell(福特)的这种可能的合作。

这些初步讨论表明，这一概念可能是可行的。

Knoell先生和他的老板EarlFischer讨论了这个想法，并于1993年1月在DelcoElectronics召开了一次会议。

在这次会议上，讨论了各公司采用的各种资格认证办法。

它决定，共同资格规格的想法是可行的，并开始工作的Q100(集成电路的压力测试资格)不久。

在开发Q100期间，主要的IC供应商有机会对该文件进行评论。

在1994年6月于丹佛举行的一次会议上，向我们所有的IC供应商提交了最初的版本AECQ100。

AEC Founders from L-R Earl Fischer(Ford)，Gerald Servais(Delco Electronics-GM)，Jerry Jennings (Chrysler)，Robert Knoell(Ford)AEC-Q认证的概念克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC 建立了质量控制的标准。

同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下基础。

主要的汽车电子成员有：Autoliv（奥托立夫）,Continental（大陆）,Delphi（德尔福）,Johnson Controls （江森自控）和Visteon（伟世通）。

基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理内容列表AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理附录1: 认证家族的定义附录2: Q101 设计、构架及认证的证明附录3: 认证计划附录4: 数据表示格式附录5: 最小参数测试要求附录6: 邦线测试的塑封开启附录7: AEC-Q101与健壮性验证关系指南附件AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (废止)AEC-Q101-003: 邦线切应力测试AEC-Q101-004: 同步性测试方法AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型AEC-Q101-006: 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述感谢任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。

为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人：固定会员:Rick Forster Continental CorporationMark A. Kelly Delphi CorporationDrew Hoffman Gentex CorporationSteve Sibrel HarmanGary Fisher Johnson ControlsEric Honosowetz Lear Corporation技术成员:James Molyneaux Analog DevicesJoe Fazio Fairchild SemiconductorNick Lycoudes FreescaleWerner Kanert InfineonScott Daniels International RectifierMike Buzinski MicrochipBob Knoell NXP SemiconductorsZhongning Liang NXP SemiconductorsMark Gabrielle ON SemiconductorTom Siegel Renesas TechnologyTony Walsh Renesas TechnologyBassel Atallah STMicroelectronicsArthur Chiang VishayTed Krueger [Q101 Team Leader]Vishay其他支持者:John Schlais Continental CorporationJohn Timms Continental CorporationDennis L. Cerney International RectifierRene Rongen NXP SemiconductorsThomas Hough Renesas TechnologyThomas Stich Renesas Technology本文件是专门的纪念：Ted Krueger (1955-2013)Mark Gabrielle (1957-2013)注意事项AEC文件中的材料都是经过AEC技术委员会准备、评估和批准的。