光学元件表面光洁度标准.

光学元件表面光洁度标准.

2024-02-07
光学零件表面疵病标准

学零件表面疵病标准擦痕、麻点说明(美国军用标准:MIL-O-13830A/)1.目的:光学零件表面质量说明及可接受缺陷(defects)规定,陆军用擦痕、麻点说明,MIL-13830A为了在实际检验中领会,执行此标准,特做以下文字规定。擦痕(scratch)和麻点(dig)用两个代表其限制尺寸的号数来标记。第二个号为麻点号。擦痕指相对较长的缺陷,一般长比宽在

2024-02-07
American 光学元件表面光洁度标准

American 光学元件表面光洁度标准

2024-02-07
光学元件技术要求与检验国际新标准

4.2.1 被测表面偏差分解与A、B、CSagitta/APV/B(RMSt)PV/C(RMSi)-b-d=e (RMSa)wk.baidu.com4.2.2 3/…与USA用法的

2024-02-07
光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究

郑芳兰,于德强*,姜宏振,李 东,刘 旭,刘 勇,杨晓瑜,陈 波中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川 绵阳 Email: *yudeqiang2492927@163.com*通

2024-02-07
光学元件表面光洁度标准

光学元件表面光洁度标准

2024-02-07
光学元件表面缺陷检测方法研究现状

第4"卷第1期 2018年2月光学仪器O P T I C A L I N S T R U M E N T SVol. 40,N〇.1February, 2018文章编号:1005-5630(2018)01-0078-10光学元件表面缺陷检测方法研究现状向弋川,林有希,任志英(福州大学机械工程及自动化学院,福建福州350108)摘要:随着科学技术的发展,人们对

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