光电探测器光谱响应度和响应时间的测量(刘1)
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实验一 光电探测器特性测试实验一、实验目的1、学习光电探测器响应度及量子效率的概念2、掌握光电探测器响应度的测试方法3、了解光电探测器响应度对光纤通信系统的影响二、实验内容1、测试1310nm 检测器I-P 特性2、根据I-P 特性曲线,得出检测器的响应度并计算其量子效率三、实验仪器1、ZY12OFCom23BH1型光纤通信原理实验箱 1台2、光功率计 1台3、FC-FC 单模光跳线 1根4、万用表 1台5、连接导线1根四、实验原理在光纤通信工程中,光检测器(photodetector ),又称光电探测器或光检波器。
按其作用原理可分为热器件和光子器件两大类。
前者是吸收光子使器件升温,从而探知入射光能的大小,后者则将入射光转化为电流或电压,是以光子-电子的能量转换形式完成光的检测目的。
最简单的光检测器就是p-n 结,但它存在许多缺点,光纤通信系统中,较多采用p-i-n 光电二极管(简称PIN 管)及雪崩光电二极管(APD 管),都是实现光电转换的半导体器件。
在给定波长的光照射下,光检测器的输出平均电流与入射的光功率平均值之比称响应率或响应度。
简言之,即输入单位的光功率产生的平均输出电流,R 的单位为A/W 或uA/uW 。
其表达式为:P I R p = (1-1)响应率是器件外部电路中呈现的宏观灵敏特性,而量子效率是内部呈现的微观灵敏特性。
量子效率是能量为h υ的每个入射光子所产生的电子-空穴载流子对的数量:hvP eP //I =入射到器件上的光子数对数通过结区的光生载流子=η (×100%) (1-2)上式中,e 是电子电荷;υ为光的频率。
通过测试I P 与P 的关系,即可计算获得检测器的量子效率,其中光电检测器的量子效率与响应度的关系为:24.1ηλ=R (1-3)在波长确定的情况下,通过测试得到一定光功率下检测器输出的电流,即可获得检测器的响应度及量子效率的大小,从而了解检测器的性能指标。
光电探测器的动态响应分析嘿,咱们今天来好好聊聊光电探测器的动态响应这回事儿!你知道吗,光电探测器就像是我们眼睛的超级加强版。
它能感知到光的微小变化,然后把这些信息传递给我们。
但这其中的动态响应,可有着不少的门道。
我想起之前有一次参加一个科研小项目,我们团队就遇到了和光电探测器动态响应相关的难题。
那时候,我们正在研究一种新型的光学通信系统,其中光电探测器的性能至关重要。
我们用的那个光电探测器,一开始表现还不错,可在进行高速数据传输的时候,就出了岔子。
数据老是出现错误,就像是一个调皮的孩子,总是不听指挥。
我们那叫一个着急啊!后来经过仔细的排查,发现问题就出在动态响应上。
原来,这个探测器在快速响应光信号变化的时候,跟不上节奏,产生了延迟和误差。
这就好比你在跑步比赛中,别人都已经冲出去老远了,你还在原地磨蹭,那能行吗?那到底什么是光电探测器的动态响应呢?简单来说,就是它对光信号变化的反应速度和准确性。
就像我们的眼睛,看到快速移动的物体能迅速跟上,这就是好的动态响应。
动态响应包括上升时间、下降时间、带宽等参数。
上升时间就是探测器从接收到光信号到输出达到最大值的时间。
下降时间则相反,是从最大值回到初始值的时间。
带宽呢,就像是探测器能接收信号的“频道宽度”,带宽越大,能处理的信号频率就越高。
比如说,在一些高速光通信系统中,需要光电探测器有极短的上升和下降时间,这样才能准确无误地传输大量的数据。
要是探测器反应慢了,那信息就会丢失或者出错,就像我们前面说的那个项目一样。
而影响光电探测器动态响应的因素也有很多。
材料的性质就是一个关键因素。
不同的材料,对光的吸收和转换效率不一样,这直接影响了探测器的响应速度。
还有探测器的结构和制造工艺。
比如说,探测器的面积大小、电极的设计等等,都会对动态响应产生影响。
另外,工作环境的温度、光照强度等也不能忽视。
温度太高或者太低,都可能让探测器“发脾气”,不好好工作。
为了提高光电探测器的动态响应性能,科学家们可是绞尽了脑汁。
光电探测器关键性能参数测试研究共3篇光电探测器关键性能参数测试研究1光电探测器关键性能参数测试研究光电探测器是现代光学系统及通信系统中重要的组成部分,如光电转换、信号检测等,而其性能参数如灵敏度、响应时间等则对整个系统的效能和性能产生非常重要的影响。
因此,对光电探测器关键性能参数进行测试研究是非常必要的。
1. 灵敏度测试灵敏度是光电探测器的重要性能参数之一,是指光电探测器吸收到的光功率与光电转化电流之比。
具有高灵敏度的光电探测器能够更加灵敏地检测到光信号。
光电探测器的灵敏度测试需要利用光源和光功率计将光信号输入光电探测器,同时修改光源的光功率,测量光电转化电流和光功率之比,以得到光电探测器的灵敏度。
2. 响应时间测试响应时间是光电探测器的另一重要性能参数,指的是光电转换电流上升到其最大值时所需的时间。
具有高响应时间的光电探测器能够更快地响应到光信号。
光电探测器的响应时间测试需要利用激光光源和光脉冲发生器将光信号输入光电探测器,同时利用示波器记录光电转化电流的波形,以得到光电探测器的响应时间。
3. 噪声测试噪声是光电探测器的另一个重要性能参数,指的是光电探测器未受到光信号时产生的电流和电压波动。
噪声影响了光电探测器的信噪比和灵敏度。
光电探测器的噪声测试需要利用示波器和功率谱仪来对光电探测器的电流和电压进行测试。
4. 阈值电流测试阈值电流是光电探测器另一个重要性能参数,是指光电探测器开始进行光电转换时所需的最小电流。
阈值电流直接影响光电探测器的检测能力。
光电探测器的阈值电流测试需要利用实验仪器来检测光电转换电流和光功率计之间的关系,以此得到阈值电流。
总的来说,光电探测器关键性能参数测试是一项非常重要的工作,它能够为光学系统和通信系统中光电探测器的适当选择和性能提升提供可靠的理论和实践基础。
伴随着科技的迅速发展和社会的不断进步,光电探测器在各个领域的应用越来越广泛,不断地推动着光学技术的进步和创新综上所述,光电探测器的关键性能参数测试是非常重要的,能够为光学系统和通信系统的性能提升提供有力的支撑。
光电探测器性能测试方法研究光电探测器是一种将光信号转换为电信号的器件,广泛应用于光通信、光电子技术、无线通信等领域。
为了确保光电探测器的性能符合要求,需要进行一系列的性能测试。
本文将对光电探测器的性能测试方法进行研究,以提供有关如何测试光电探测器性能的指导。
首先,响应频率是指光电探测器对光信号频率的响应能力。
常见的测试方法包括调制光源法和频率响应曲线法。
调制光源法是通过改变光源的频率,测量光电探测器对不同频率光信号的响应,从而得到光电探测器的响应频率范围。
频率响应曲线法是通过输入不同频率的正弦信号,测量光电探测器输出信号的大小,得到光电探测器对不同频率光信号的响应特性曲线。
其次,响应速度是指光电探测器对光信号响应的时间。
常见的测试方法包括脉冲光源法和步进信号法。
脉冲光源法是通过控制一个脉冲光源产生一个短脉冲光信号,测量光电探测器的输出信号的上升时间和下降时间,从而得到光电探测器的响应速度。
步进信号法是通过逐步增加或减小输入光信号的强度,记录光电探测器输出信号的变化情况,从而得到光电探测器的响应时间。
此外,量子效率是指光电探测器将输入光信号转化为输出电信号的效率。
常见的测试方法包括相对法和绝对法。
相对法是通过比较待测光电探测器和标准光电探测器对同一光源的响应信号大小,从而得到待测光电探测器的量子效率。
绝对法是通过使用一个已知辐射强度的标准光源,测量光电探测器的输出信号的大小,从而计算出光电探测器的量子效率。
最后,噪声是指光电探测器输出信号中的随机波动。
常见的测试方法包括功率谱法和等效输入噪声温度法。
功率谱法是通过将光电探测器输出信号转换到频域中,测量其功率谱密度,从而得到光电探测器的噪声特性。
等效输入噪声温度法是通过将光电探测器与一个标准电阻进行连接,测量在特定频率下电阻的噪声功率,从而计算出光电探测器的等效输入噪声温度。
综上所述,光电探测器的性能测试方法研究包括响应频率、响应速度、量子效率和噪声等测试。
大恒实验产品-3光电器件与检测系列实验3-1 GCS-GDTC 光电探测器特性测量实验光电探测器是光电系统的核心组成部分,其性能直接影响着光电系统的性能。
因此,无论是设计还是使用光电系统,深入了解光电探测器的性能参数都是很重要的。
本实验研究光电二极管、热释电探测器、光敏电阻三种常用探测器的频率响应与时间响应特性。
主要实验内容如下:(1) 深入理解光电探测器的响应度、光谱响应等概念(2) 光电二极管光谱响应测量实验(3) 了解热释电探测器和硅光电二极管的原理和使用方法。
(4) 了解光电探测器的响应度与信号光的调制频率的关系。
(5) 脉冲响应法测量光电二极管的响应时间。
(6) 幅频响应法测量光敏电阻的响应时间。
(7) 偏置电压与负载电阻对光电二极管响应时间的影响。
3-2 GCS-LD/LED-I/II LD/LED 参数测量综合实验实验通过从LD/LED的光学特性(发射光谱、发射角、发散角)、电学特性(P-I特性和V-I 特性)、热学特性(温度对阈值电流和输出照度的影响)和色度学特性(发光体的单色性及颜色分布)5大特性进行描述,并通过对其工作原理的讲解,让学生对LD/LED有一个清晰认识。
主要实验内容如下:1.发光二极管光谱特性的研2.发光二极管响应时间的测试3.发光二极管发光亮度与电流关系4.LED发光法向光强及其角分布5.LED/LD光谱分析和色坐标测试实验(GCS-LED/LD-II可完成)3-3 GCS- BZG 光电倍增管特性及微弱光信号探测实验光电倍增管是基于外光电效应和二次电子发射效应的电子真空器件。
它利用二次电子发射使逸出的光电子倍增,获得远高于光电管的灵敏度,可以测量微弱的光信号。
主要实验内容如下:1.熟悉光电倍增管的基本构成和工作原理,掌握光电倍增管参数的测量方法2.学习光电倍增管输出信号的检测和变换处理方法3.验证光电倍增管的光照灵敏度4.测量光电倍增管在无光照射情况下的暗电流5.作出光电倍增管工作的光电特性曲线6.作出光电倍增管工作的伏安特性曲线7.作出光电倍增管在不同直接负载和I/V变换下的关系曲线8.了解光电倍增管在脉冲光时,经过运算放大器输出的电压波形变化3-4 GCS- RTC 热探测器参数测量实验热探测器是基于光辐射与物质相互作用的热效应制成的器件。
光谱响应带宽测量
光谱响应带宽是指光电探测器对于不同波长的光信号的响应范围。
测量光谱响应带宽的方法包括以下几种:
1. 半功率点法:通过测量光电探测器对于不同波长的光信号的输出功率,找到输出功率下降到峰值一半时对应的波长点,这个波长点即为光谱响应带宽的上下边界。
2. 波长间隔法:通过在一定波长范围内,以固定的波长间隔改变光信号的波长,测量光电探测器的输出电流或输出功率,并根据输出电流或功率的变化来确定光谱响应带宽。
3. 波动法:通过在一个较小的波长范围内,以不同的波长测量多次光电探测器的输出电流或功率,并计算其标准差,从而得到光谱响应带宽。
在测量光谱响应带宽时,需要注意的是要使用精确的光源和准确的测量设备,以确保测量结果的准确性。
此外,测量时还需考虑光电探测器的非线性和温度对测量结果的影响,并进行相应的修正。
DOI:10.13878/j.cnki.jnuist.2020.03.008周雪1㊀周娣2㊀张会焱3基于二极管激光器的光电探测系统响应时间的测量摘要光电探测系统在光度测量及光谱检测领域应用广泛,是检测的核心部件.光电探测系统的响应时间反映了该系统能够探测的极限,对其进行准确的测量在实际应用中十分必要.本文展示了一种能够准确测量光电探测系统响应时间的方法,以常用的可调谐二极管激光器(波长为763nm)为光源,采用方波信号调谐光源输出,测量了系统的响应时间.结果显示,示波器内电阻对系统的响应时间存在影响,当电阻为50Ω时,探测系统的响应时间为4 5μs.降低电阻值,可以进一步缩短响应时间.关键词二极管激光器;光电探测;响应时间中图分类号TM923文献标志码A收稿日期2020⁃01⁃17资助项目重庆工商大学高层次人才科研启动项目(1956045)作者简介周雪,女,博士,讲师,研究方向为气体光谱检测技术.zhouxuehit@163.com1重庆工商大学计算机科学与信息工程学院,重庆,4000672黑龙江省伊春林业学校,伊春,1530003重庆工商大学国家智能制造服务国际科技合作基地,重庆,4000670 引言㊀㊀光电探测系统通常包含光源㊁控制器㊁光电探测器及示波器等组成部分.在检测系统中,光电探测器可以将接收到的光信号转换为电流信号,而后经过示波器内部的RC电路或外接电路将电流信号转换为电压信号进行显示和记录.光电探测系统在光度测量及光谱检测等许多领域有着广泛应用[1⁃4].随着二极管激光器的迅速发展,以二极管激光器为光源的光电探测系统已广泛应用在各探测领域.然而探测系统中的二极管激光器㊁光电探测器㊁电路等都存在响应时间,因此,光电探测系统对瞬态的控制信号不是即时响应,而是存在一定延迟的,这一延迟的时间通常被称为光电探测系统的响应时间.在连续性测量中,通常响应时间远小于测试时间,可以忽略不计.然而,当采用光电探测系统测量瞬态过程时,则需考虑响应时间的影响,如果待测瞬态过程的时间小于探测系统的响应时间,会导致瞬态过程难以被观测.因此,在瞬态测量中,通常首先估计瞬态过程的时间,与光电探测系统的响应时间进行对比,进而选择能够满足测量要求的探测系统.近年来,随着超快光学㊁动态显示等科技的发展,对光电探测系统的响应时间的要求也越来越高,这也对系统响应时间的测量精度提出了较高的要求[5⁃8].因此,对光电探测系统的响应时间进行准确的测量十分重要.测量光电探测系统响应时间的基本方法为脉冲响应法,通常以方波信号调制光源.光源输出的光信号会滞后于方波信号,对于信号的下降沿,光强衰减呈e指数形式[9].因此,可以通过对测量的响应曲线进行e指数拟合获得光电探测系统的响应时间.值得注意的是,由于光电探测系统中的光电探测器对不同波长的光的响应不同,因此,对于同一探测系统,在光源波长不同时,系统的响应时间不同,所以,需要对所需的波长分别进行测量.本文采用脉冲响应法,对以波长763nm的二极管激光器为光源的光电探测系统的响应时间进行了测量,结果显示,示波器内部RC电路的电阻对系统的响应时间存在较大影响,电阻越小,响应越迅速.当电阻值为1MΩ时,探测系统的响应时间为130μs,而当电阻值为50Ω时,响应时间为4 5μs.进一步降低电阻值,则系统的响应更迅速.然而由于电阻过小,导致电流信号转化的电压信号也会随之减小,信号的信噪比会下降.因此在测量过程中应对响应时间的信号强度进㊀㊀㊀㊀行综合考量,选择合适的电阻值.1㊀实验原理脉冲响应法测量光电探测系统的响应时间,通常是采用方波信号对激光输出的光信号进行调节.由于系统的响应存在延迟,因此,探测到的信号并不是完美的方波信号,而是在方波上下沿的瞬变时有一定的滞后,利用这一特点,即可对系统的响应时间进行测量.光电系统检测到的方波的上升沿和下降沿的变化满足e指数规律,通常习惯以下降沿进行研究,其光强的衰减规律为I(λ)=I0(λ)exp(-t/τ),(1)其中,I(λ)为t时刻光源输出的光强,I0(λ)为零时刻(未衰减时)的输出光强,τ为系统的响应时间.因此,通过对检测到的信号进行e指数拟合即可获得系统的准确的响应时间.2㊀测量装置探测系统的响应时间测量装置如图1所示,二极管激光器的温度和电流由激光控制器进行控制,其中,在电流控制器上加入方波对电流进行调节,使得激光器输出的光强按照方波的形式随时间变化.由激光器输出的激光被光电探测器接收,光信号被转换为电信号,而后由示波器进行显示和记录.实验装置的型号与条件如下:激光器采用垂直腔面发射单模二极管激光器(LaserComponents,SingleModeVCSEL763nmTO46),其额定输出功率为0 3mW,发射激光的中心波长为763nm,随着输入电流与温度的变化,其输出波长可在中心波长附近小范围调谐.温度控制器型号为ThorlabsTED200C,TemperatureController,本实验中激光器温度控制在22 4ħ.电流控制器型号为ThorlabsLDC200,VCSELLaserDiodeController,本实验中将激光器注入电流设置为1 27mA.此外,在电流控制器上采用信号发生器加入一偏置的方波信号,信号电压全部为正值,信号幅度为500mV,设置了不同的频率值进行测试.光电探测器为Thorlabs公司生产的D210型探测器,示波器为Tektronix生产的DPO5054型示波器.3㊀测试结果与分析在测量光电探测系统的响应时间时,控制激光器的方波信号的频率是十分重要的.若系统的响应图1㊀光电探测系统响应时间的测量实验装置示意图Fig 1㊀Experimentalsetupforresponsetimemeasurementofphotoelectricdetectionsystem十分迅速,而方波信号的设置频率较大,则探测到的方波信号比较完美,观察不到探测系统的延迟现象,无法测量响应时间;若系统的响应时间较长,而设置的方波信号频率过快,则探测到的信号无法到达平衡位置,响应时间同样无法测量.因此,选择合适的防波频率十分重要.此外,光电探测器将光信号转换为电流信号,再经过电阻后变为电压信号进行测量.因此,示波器内部的RC电路的电阻值会对测量的系统响应时间产生直接影响,电阻值越大,信号越大,但系统的响应时间也越长,反之,电阻越小,系统响应更迅速,但探测到的信号值较小,信噪比差.在具体的实验中,应根据实际需要合理取舍,选择合适的探测条件.本文分别测试了较大和较小的两个电阻值下系统的响应时间,比较电阻对系统响应时间的影响,展示了系统响应时间测量的方法.3 1㊀示波器内RC电路电阻值为1MΩ时系统的响应时间㊀㊀首先,测量了示波器内RC电路电阻值较大时系统的响应时间,电阻值设置为1MΩ.图2给出了不同的方波频率下探测系统的响应曲线.可以看出,当方波的频率为1kHz时,上升沿和下降沿均未到达平衡位置,说明系统的响应时间较长,该频率过大.当方波的频率为200Hz时,能清楚地看到方波信号在上升沿和下降沿的延迟现象,且整个周期内,达到平衡位置的时间约为响应滞后时间的4 5倍,为最佳的拟合频率,因此,我们采用频率为200Hz时的响应曲线进行拟合.如图3所示,对下降沿进行e指数拟合,拟合公式如图中所示,拟合结果表明,当示波器内RC电路电阻值为1MΩ时,系统的响应时间为130μs.图3中右上角插图给出的是下降沿曲线纵坐标取ln的213周雪,等.基于二极管激光器的光电探测系统响应时间的测量.ZHOUXue,etal.Responsetimemeasurementofphotoelectricdetectionsystembasedondiodelaser.图2㊀示波器电阻为1MΩ时不同方波频率下探测系统的响应曲线Fig 2㊀Responsecurvesofthephotoelectricdetectionsystemunderdifferentfrequencywith1MΩoscilloscoperesistance图3㊀示波器电阻为1MΩ时系统响应曲线下降沿的拟合结果Fig 3㊀Fittingresultforfallingedgeoftheresponsecurvewith1MΩoscilloscoperesistance结果,由于下降沿按e指数衰减,其纵坐标取ln后曲线应为线性变化规律.由图3可见,插图中数据的前段较好地符合线性规律,说明其为e指数形式,而后段由于信号强度逐渐减小,信噪比逐渐增大,导致插图中后端数据呈发散状.通过对线性区间进行拟合,可得其斜率及时间常数τ,结果与e指数拟合结果相符.3 2㊀示波器内RC电路电阻值为50Ω时系统的响应时间㊀㊀同样,测量了示波器内RC电路电阻为50Ω时不同频率下探测系统的响应曲线,如图4所示.可以看出,相比于电阻较大时的情况,电阻减小图4㊀示波器电阻为50Ω时不同方波频率下探测系统的响应曲线Fig 4㊀Responsecurvesofthephotoelectricdetectionsystemunderdifferentfrequencywith50Ωoscilloscoperesistance后,探测系统的响应时间明显减小,然而,信号的信噪比也明显下降,图4中不同频率的响应曲线测量结果都出现了不同程度的毛刺现象,尤其是信号的瞬态变化位置.在实际测量时,信噪比过差会对结果产生不利影响,因此,通常要重点考虑信噪比.这里,重点观察电阻对系统响应时间的影响,因此,不考虑信噪比的问题.此外,对于探测系统的响应曲线来说,光电的转换效率主要由光电探测器决定,光的接收率与环境㊁接收角㊁探测器窗口等多种因素有关,因此,响应曲线的纵坐标只是相对强度,改变探测器的接收位置㊁角度均会对曲线强度产生影响.由图4可知,10kHz的方波频率下系统的响应曲线是最佳拟合曲线,我们对该曲线进行拟合,拟合结果如图5所示.从拟合结果可以看出,当示波器内部RC电路的电阻为50Ω时,探测系统的响应时间约为4 5μs,相较于电阻值为1MΩ时的测量结果,探测系统的响应时间大大缩短了.由此可见,降低电路电阻值,可以直接缩短系统的响应时间.然而这一结果是以牺牲信噪比为代价的,而实际测量中,信噪比对结果的影响也至关重要,因此,需要综合考虑.4㊀结束语本文针对光电探测系统的响应时间问题,展示了采用脉冲响应法准确测量探测系统响应时间的方法.在测量过程中,比较了示波器内RC电路电阻对探测系统响应时间的影响,分别对不同的电阻下的系统响应时间进行了测量.测量结果表明,降低电阻值可以明显缩短系统的响应时间,然而信号的信噪313学报(自然科学版),2020,12(3):311⁃315JournalofNanjingUniversityofInformationScienceandTechnology(NaturalScienceEdition),2020,12(3):311⁃315图5㊀示波器电阻为50Ω时系统响应曲线下降沿的拟合结果Fig 5㊀Fittingresultforfallingedgeoftheresponsecurvewith50Ωoscilloscoperesistance比会受到影响.因此,在实际测量中,需要综合考虑响应时间与信噪比的影响,选取合适的测量条件.参考文献References[1]㊀裴世鑫,崔芬萍,宋标,等.基于腔增强吸收光谱技术的气体探测研究[J].南京信息工程大学学报(自然科学版),2009,1(3):193⁃198PEIShixin,CUIFenping,SONGBiao,etal.Thestudyofgasdetectionbasedonthecavityenhancedabsorptionspectroscopytechnology[J].JournalofNanjingUniversityofInformationScience&Technology(NaturalScienceEdition),2009,1(3):193⁃198[2]㊀武魁军,何微微,于光保,等.分子滤光红外成像技术及其在光电探测中的应用[J].红外与激光工程,2019,48(4):22⁃30WUKuijun,HEWeiwei,YUGuangbao,etal.Molecularfilterinfraredimagingtechnologyanditsapplicationinphotoelectricdetection[J].InfraredandLaserEngineering,2019,48(4):22⁃30[3]㊀孙德贝,李志刚,李福田.用于太阳光谱仪的光电探测系统线性度测试装置[J].中国光学,2019,12(2):294⁃301SUNDebei,LIZhigang,LIFutian.Linearitytestingdeviceforthephotoelectricdetectingsystemofsolarspectrometers[J].ChineseOptics,2019,12(2):294⁃301[4]㊀郑晟,王中晔,徐磊.光电探测信息在防空导弹武器系统中的应用研究[J].航天控制,2019,37(2):15⁃18ZHENGSheng,WANGZhongye,XULei.Researchontheapplicationofphotoelectricdetectioninformationinairdefensemissileweaponsystem[J].AerospaceControl,2019,37(2):15⁃18[5]㊀罗琦,王伟,陆振宇,等.多旋翼无人机群自主探测大气边界层气象要素的模式分析[J].南京信息工程大学学报(自然科学版),2014,6(2):121⁃128LUOQi,WANGWei,LUZhenyu,etal.Analysisonthedetectionmodeofautonomouslydetectingthemeteoro⁃logicalelementsofatmosphericboundarylayerbymulti⁃rotorUAVs[J].JournalofNanjingUniversityofInforma⁃tionScience&Technology(NaturalScienceEdition),2014,6(2):121⁃128[6]㊀韩强盛,张保洲,卢利根,等.快速光电探测系统响应时间精密测量装置[J].照明工程学报,2015,26(2):1⁃5HANQiangsheng,ZHANGBaozhou,LULigen,etal.Theprecisionmeasuringdeviceofresponsetimeofhigh⁃speedphotoelectricdetectionsystem[J].ChinaIlluminatingEngineeringJournal,2015,26(2):1⁃5[7]㊀温宏愿,刘小军,张朋.光电信息探测方法的改进研究[J].激光杂志,2018,39(12):23⁃27.WENHongyuan,LIUXiaojun,ZHANGPeng.Researchonimprovementofphotoelectricinformationdetectionmethod[J].LaserJournal,2018,39(12):23⁃27[8]㊀时成文,隋强强,石碧艳.一种新型光电设备响应时间与探测概率自动测试系统[J].光电技术应用,2008,23(1):38⁃41SHIChengwen,SUIQiangqiang,SHIBiyan.Anewauto⁃matictestsystemofreactiontimeanddetectionprobabilityforelectro⁃opticequipments[J].Electro⁃OpticTechnologyApplication,2008,23(1):38⁃41[9]㊀邓杨,赵跃进.光电探测器响应时间的测试[J].科技创新导报,2013,10(2):1DENGYang,ZHAOYuejin.Measurementofresponsetimeforthephotoelectricdetector[J].ScienceandTech⁃nologyInnovationHerald,2013,10(2):1ResponsetimemeasurementofphotoelectricdetectionsystembasedondiodelaserZHOUXue1㊀ZHOUDi2㊀ZHANGHuiyan31SchoolofComputerScienceandInformationEngineering,ChongqingTechnologyandBusinessUniversity,Chongqing㊀4000672HeilongjiangYichunForestrySchool,Yichun㊀1530003NationalResearchBaseofIntelligentManufacturingService,ChongqingTechnologyandBusinessUniversity,Chongqing㊀400067Abstract㊀Photoelectricdetectionsystemisthecorecomponentofadetector,andiswidelyusedinphoto⁃metricmeasurementandspectroscopymonitoring.Responsetimeofaphotoelectricdetectionsystemreflectsthefastestre⁃413周雪,等.基于二极管激光器的光电探测系统响应时间的测量.ZHOUXue,etal.Responsetimemeasurementofphotoelectricdetectionsystembasedondiodelaser.sponselimitofthesystemindetection.Thus,anaccuratemeasurementoftheresponsetimeisveryimportantforap⁃plication.Thisworkshowsamethodforaccurateresponsetimemeasurementofaphotoelectricdetectionsystem.Here,atunablediodelaserwithawavelengthof763nm,usuallyusedinspectroscopy,isusedasthelightsourceandistunedwithasquarewave.Theresponsetimeismeasured.Theresultsindicatesthattheresistanceoftheoscil⁃loscopecaninfluencetheresponsetimeofthesystem.Theresponsetimeofthephotoelectricdetectionsystemismeasuredas4 5μswhentheresistancevalueis50Ω.Theresponsetimecanbeshortenediftheresistancevaluereduces.Thisworkprovidesaresponsetimemeasurementmethodofaphotoelectricdetectionsystem,whichisabasisforthechoiceofdetectionsysteminapplication.Keywords㊀diodelaser;photoelectricdetection;responsetime513学报(自然科学版),2020,12(3):311⁃315JournalofNanjingUniversityofInformationScienceandTechnology(NaturalScienceEdition),2020,12(3):311⁃315。
光电探测器光谱响应度的测量 光谱响应度是光电探测器的基本性能之一,它表征了光电探测器对不同波长入射辐射的响应。通常热探测器的光谱响应比较平坦,而光子探测器的光谱响应却具有明显的选择性。一般情况下,以波长为横坐标,以探测器接受到的等能量单色辐射所产生的电信号的相对大小为纵坐标,绘出光电探测器的相对光谱响应曲线。典型的光子探测器和热探测器的光谱响应曲线如图1-1所示。 一、实验目的 (1)加深对光谱响应概念的理解; (2)掌握光谱响应的测试方法; (3)熟悉热释电探测器和硅光电二极管的使用。 二、实验内容 (1)用热释电探测器测量钨丝灯的光谱辐射特性曲线; (2)用比较法测量硅光电二极管的光谱响应曲线。 三、基本原理
光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。电压光谱响应度V定义为在波长为λ的单位入射辐射功率的照射下,光电探测器输出的信号电压,用公式表示,则为
P
V
V (1-1)
而光电探测器在波长为λ的单位入射辐射功率的作用下,其所输出的光电流叫做探测器的电流光谱响应度,用下式表示
P
I
i (1-2)
式中, P(λ)为波长为λ时的入射光功率;V(λ)为光电探测器在入射光功率P(λ)作用下的输出信号电压;I(λ)则为输出用电流表示的输出信号电流。为简写起见,V和i均可以用表示。但在具体计算时应区分V和i,显然,二者具有不同的单位。 通常,测量光电探测器的光谱响应多用单色仪对辐射源的辐射功率进行分光来得到不同波长的单色辐射,然后测量在各种波长辐射照射下光电探测器输出的电信号V(λ)。然而由于实际光源的辐射功率是波长的函数,因此在相对测量中要确定单色辐射功率P(λ)需要利用参考探测器(基准探测器)。即使用一个光
谱响应度为f的探测器为基准,用同一波长的单色辐射分别照射待测探测器和基准探测器。由参考探
测器的电信号输出(例如为电压信号)fV可得单色辐射功率fVP,再通过(1-1)式计算即可得到待测探测器的光谱响应度。 本实验采用图1-2所示的实验装置。用单色仪对钨丝灯辐射进行分光,得到单色光功率P(λ)。
图1-2 光谱响应测试装置图 这里用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器,测得P(λ)入射时的输出电压为fV。若用
f表示热释电探测器的响应度,则显然有 fff
KVP
(1-3)
这里Kf为热释电探测器前放和主放放大倍数的乘积,即总的放大倍数。在本实验中,300100fK,f
为热释电探测器的响应度,实验中在所用的25Hz调制频率下,WVf/900。 然后在相同的光功率P(λ)下,用硅光电二极管测量相应的单色光,得到输出电压bV,从而得到光电二极管的光谱响应度 fff
bb
KVKVPV/
/
式中Kb为硅光电二极管测量时总的放大倍数,这里Kb=150×300。 四、实验装置 实验装置示于图1-2。用钨丝灯作光源,用直流稳压电源对钨丝灯供电,光源发出的光由聚光镜会聚于单色仪的入射狭缝上,并在狭缝前用同步电机带动的调制盘对入射光束进行调制。光栅单色仪把入射光分解成单色光并从出射狭缝射出。转动单色仪的波长手轮可以改变出射光的波长(参见图1-3)。在出射狭缝后分别用热释电探测器和硅光电二极管进行测量,所得光电信号经放大后由毫伏表指示。下面简要介绍实验装置的各个部分。 1.WD30光栅单色仪的光学系统 图1-3是单色仪光学系统的示意图,聚光镜把光源发出的光会聚于单色仪入射狭缝S1上,光束经狭缝B1射向球面反射镜M1。由于S1位于M1的焦面上,因此,经球面镜M1反射后的光束为平行光束。平行光束经平面光栅G分光后,不同的波长以不同的入射角投向球面反射镜M2。球面反射镜M2把分光后的光聚在焦面上,形成波长不同的一系列光谱线。出射狭缝S2位于球面镜M2的聚焦面上。把狭缝S1和S2开得很窄,测量时转动手轮使光栅转动,在出射狭缝S2处就会得到各个光谱分量得输出。输出光的波长可在手轮计数器上读出。仪器备有四块光栅,分别对应着可见光和红外区四个光谱段。本实验采用第二块光栅(1200线⁄mm),此时的输出波长为手轮计数器读数的二倍(单位:Å,1 Å=0.1nm)。 2.热释电探测器 本实验所用的热释电探测器是钽酸锂热释电器件,前置放大器与探测器装在同一屏蔽壳里。前放工作时需要正12V电压。为减小噪声,用干电池供电。图1-4示出了热释电探测器的典型调制特性。 3.硅光电二极管 硅光电二极管为待测器件,它的前置放大器与它装在同一屏蔽壳中,所需正12V电压由选频放大器提供。前置放大器的放大倍数为200。
图1-4 热释电探测器的典型调制特性 图1-5 选频放大器的频率特性 4.选频放大器 由于分光后的光谱辐射功率很小,虽然热释电探测器和光电二极管都带有前置放大器,但仍需接选频放大器放大。选频放大器的频率特性如图1-5所示。其中心频率f0与调制频率一致(这里为25Hz),放大倍数为300。 5.钨丝灯的电源电压在0~6V可调 6.调制盘的电机使用220V电压。 五、实验步骤 (1)打开光源开关,调整光源位置,使灯丝通过聚光镜成像在单色仪入射狭缝S1上,S1的缝宽调整在0.2mm。把出射狭缝S2开到1mm左右,人眼通过S2能看到与波长读数相应的光,然后逐渐关小S2,最后开到S2=0.2mm。 注意:狭缝开大时不能超过3mm,关小时不能超过零位,否则将损坏仪器! (2)在光路中靠近S1的位置放入调制器,并接通电机电源。 (3)把热释电器件光敏面对准出射狭缝S2,并连接好放大器和毫伏表,然后为探测器加上电池电压+12V。 (4)转动光谱手轮,记下探测器的入射波长及毫伏表上相应波长的输出电压值,并填入表1-1。 (5)用光电二极管换下热释电器件,给光电二极管加上+12V电压,重复步骤4,将数据记入表1-1。 表1-1 光谱响应测试实验数据
入射光波长 m/ 用热释电时 毫伏表输出fV 硅光电二极管 经放大后输出bV 光谱功率 P(λ)
响应度
0. 5
1. 2 六、实验报告 (1)画出光源的光谱辐射分布曲线; (2)画出硅光电二极管的光谱响应曲线;
(3)分析实验结果,并确定硅光电二极管的峰值响应波长p和截止波长c。 七、思考题 (1)单色仪入射狭缝和出射狭缝的宽度分别控制着哪些物理量?测量时开大些好还是开小些好? (2)如果在测量过程中,用热释电器件和光电二极管测量时,二者光源光强度不一致是否仍能保证结果的正确性?如果二者的调制频率不同呢? (3)在测量光谱响应度时,如果实验室没有参考(基准)探测器,能否想办法测得? (4)如何改进实验装置?提高测量精度和速度?
光电探测器响应时间的测定 通常,光电探测器输出的电信号都要在时间上落后于作用在其上的光信号,即光电探测器的输出相对于输入的光信号要发生沿时间的扩展。扩展的程序可由响应时间来描述。光电探测器的这种响应落后于作用信号的特性称为惰性。由于惰性的存在,会使先后作用的信号在输出端相互交叠,从而降低了信号的调制度。如果探测器观测的是随时间快速变化的物理量,则由于惰性的影响会造成输出严重畸变。因此,深入了解探测器的时间响应特性是十分必要的。
一、实验目的 (1) 了解光电探测器的响应度不仅与信号光的波长有关,而且与信号光的调制频率有关; (2) 掌握发光二极管的电流调制法; (3) 熟悉测量探测器响应时间地方法。
二、实验内容 (1) 用探测器的脉冲响应特性测量响应时间; (2) 利用探测器的幅频特性确定期响应时间。 三、基本原理 表示时间特性的方法主要有两种,一种是脉冲响应特性法,另一种是幅频特性法。 1.脉冲响应 响应落后于作用信号的现象称为弛豫。对于信号开始作用时的弛豫称为上升弛豫和起始弛豫;信号停止作用时的弛豫称为衰减弛豫。弛豫时间的具体定义如下: 如用阶跃信号作用于器件,则起始弛豫定义为探测器的响应从零上升为稳定值得(1-1/e)(即63%)时所需的时间;衰减弛豫定义为信号撤去后,探测器的响应下降到稳定值得1/e(即37%)所需的时间。这类探测器有光电池、光min电阻及热电探测器等。另一种定义弛豫时间的方法是:起始弛豫为响应值从稳态值的10%上升到90%所用的时间。这种定义多用于响应速度很快的器件,如光电二极管、血崩发光二极管和光电倍增管等。 若光电探测器在单位阶跃信号作用下的起始阶跃响应函数为)/exp(11t,衰减响应函数为)/exp(2t,则根据第一种定义,起始弛豫时间为τ1,衰减弛豫时间为τ2。 此外,如果测出了光电探测器的单位冲激响应函数,则可直接用其半值宽度来表示时间特性。为了得到具有单位冲激函数形式的信号光源,即δ函数光源,可以采用脉冲式发光二极管、锁模激光器以及火花源等光源来近似。在通常测试中,更方便的是采用具有单位阶跃函数形式亮度分布的光源。从而得到单位阶跃响应函数,进而确定响应时间。 2.幅频特性 由于光电探测器惰性的存在,使得其响应度不仅与入射辐射的波长有关,而且还是入射辐射调制频率的函数。这种函数关系还与入射光强信号的波形有关。通常定义光电探测器对正弦光信号的响应幅值同调制频率间的关系为它的幅频特性。许多光电探测器的幅频特性具有如下形式。
2/122)1(1)(
A (2-1)
式中,)(A表示归一化后的幅频特性;f2为调制圆频率;f为调制频率;τ为响应时间。 在实验中可以测得探测器的输出电压)(V为
2/1220)1()(VV
(2-2)
式中为探测器在入射光调制频率为零时的输出电压。这样,如果测得调制频率为f1时的输出信号电压V1
和调制频率f2时的输出信号电压V2,就可由下式确定响应时间
2112
22
22212
1
fVfVVV
(2-3)
为减小误差,V1与V2的取值应相差10%以上。 由于许多光电探测器的幅频特性都可由式(2-1)描述,人们为了更方便地表示这种特性,引出截止频率cf。它的定义是当输出信号功率降至超低频一半时,即信号电压降至超低频信号电压的70.7%时的调制频率。故cf频率点又称为三分贝点或拐点。由式(2-1)可知
2
1cf (2-4)
实际上,用截止频率描述时间特性是由式(2-1)定义的τ参数的另一种形式。 在实际测量中,对入射辐射调制的方法可以是内调制,也可以是外调制。外调制是用机械调制盘在光源外进行调制,因这种方法在使用时需要采取稳频措施,而且很难达到很高的调制频率,因此不适用于响应速度很快的光子探测器,所以具有很大的局限性。内调制通常采用快速响应的电致发光元件作辐射源。采用电调制的方法可以克服机械调制的不足,得到稳定度高的快速调制。