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X-射线荧光光谱法分析锆刚玉耐火材料中Na2O和ZrO2条件探索。

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由表 ３可见 ， 四边形 高硼 硅 电熔炉 平插 电极 电阻 的计 算 ， 以采用 相对 放置棒 电极 的电阻计 算公 式 ， ： 可 即
Ｒ ＝ Ｋ ｐ
修 正系 数 Ｋ取值 在 １２～１５之 间 。 ． ． 依 据此 公式计 算 出来 的 电阻导 出实 际 电压 电压与设 计 电压 之间 的关 系 ：
１ 测 试 条 件 选 择 实验
１ １ 氧 化钠 和 氧化锆 标 准 曲线建 立 困难 ．
测试仪器为岛津 １０ 射线光谱仪。根据常规 的条 ８０Ｘ一 件选 择理 论 ， 选择 各元 素条 件 如表 １ 。
氧化 钠 为轻元 素 ， 照低 电压 、 电流 的原 则 确 定 电压 按 高 为 ２ Ｖ 、 ０ｋ 电流 为 １０ｍ 狭缝 选择 高 灵敏 度狭 缝 。氧化 锆 ０ Ａ， 为重 元 素 ， 择 了相对 低 的 电流 、 选 电压 。
测试 后进 行线 性 回归 ， 建立 系列 标 准 曲线 。氧化 钠 的线性 回 归标 准 曲线见 图 １线 性显 然 很 差 ， 法 使用 ； 化锆 的光 谱 ， 无 氧 强 度超 出范 围 ， 没有 建 成 标 准 曲线 ； 它 元 素 的标 准 曲线 都 其
很好。 图 ｌ 高灵敏度下氧化钠标准曲线
表 １ ｘ一射线 荧光光谱法分析锆 刚玉材料条件
１ ２ 原 因分 析 ．
（ ） 过氧 化钠 的 ２ １通 角测 试 ， 以看 出 ， 可 当使用 高灵 敏 度狭缝 时 ， 氧化 钠 的波峰 宽度 较大 ， 与氧 化锆 的 Ｌ 线 （６ １ ） ５ ．２ 有点 交叉 （ ２ ） 受 氧化 锆 干 扰较 大 。因此 更 改 为 高 分 辨率 狭 缝 ， 图 ａ， 氧化 钠 的波 峰 宽度 窄 了很 多
｝ 收 稿 日期 ：０ ２—０ ２１ １—１ ２
第４ ０卷 第 ２期
玻 璃与搪 瓷
・ ｌ・ ３
很差。只能另外利用火焰光谱法进行氧化钠的分析 ， 不仅速度慢 ， 还经常存在数据偏低的现象（ 笔者与国外 有 关实 验室 讨论 过此 问题 ， 实存 在 ） 确 。
作 者在 进行 ＺＯ ｒｚ的测试 时 ， 尝试 了 ｚ ｒ的 Ｋ。 的测试 ，。锆 刚玉 耐火 材料 中 Ｎ ａＯ和 ＺＯ ｒ 的质量 分数 是 重要 的质 量控 制 指 标 之一 。根 据 不 同型号 ，ｒ ｚ ＺＯ 质量 分数 一般 在 ３ ％ 一 ０ 之 间 ， ａＯ 的质 量分 数 一 般在 １０ ～１６ 范 围 内。在 用 ｘ一射 线 荧 光 光谱 ０ ５％ Ｎ： ．％ ．％ 法进 行化 学成 分分 析 时 ， 照一 般规 律选 择氧 化钠 的测 试 条件 ， 果 很 不理 想 ， 按 结 氧化 钠 标 准 曲线 的线 性 关 系
采用 Ｂ Ｓ３ ８ Ｂ Ｓ３ ８ Ｂ Ｓ３ ６ Ｇ Ｂ ４ ０ —９ 、 Ｂ Ｃ ８ 、 Ｃ ５ 、 Ｃ ７ 、 Ｓ Ｄ ４ ０ １ ２ 仅
刚玉标样等标准物质 ， 按不同比例 配制一组标样 ， 利用 四硼 酸锂 和偏 硼 酸 锂 的混合 溶 剂 ， 照 １ ： １的 比例 进 行 熔 片 ， 按 ０
ｘ一 线荧 光光 谱仪 用 于各类 材料 的化 学组 成 分 析 ， 有速 度 快 、 确 度 高 的特 点 ， 广 泛应 用 于大 专 射 具 准 被 院校 实验 室 、 研 院所及 企业 ， 多数 玻璃 、 泥 、 火材 料等 企业 ， 科 如 水 耐 用来 进行 生产 的监 控 。
电熔锆刚玉耐火材料具有优 良的抗玻璃液侵蚀的性能 ， 多用于玻璃熔 窑的关键部位 ， 是玻璃熔窑的主要
（ ２ ） 明显可与氧化锆 Ｌ 图 ｂ， 线分开 。然后选择合适的 Ｐ Ｏ Ｈ Ｌｗ和 Ｈｇ 值后 ， ｉ ｈ 基本可排除氧化锆的干扰。 （ ） 化锆 的质 量 分数 较高 ， 激发 后 ｘ一荧 光 强度 较 大 ， ２氧 受 即使 把 电 流 、 电压 设 置 很低 （０ｋ ／２ Ａ） ２ Ｖ ０ｍ 也不行。解决方法只有两种 ： 一是加 自动衰减器 ， 二是采用次级谱线。本文采用第 ２种方法 ， 选择锆的 Ｋ 谱 线 ， 收角 （ ０ 为 ２ ． ８ 、 接 ２ ） ０ ０ 。 电压 为 ２ Ｖ、 ０ｋ 电流 为 ４ ０ｍＡ。
Ｄｅ ｅ ｍ ｉ ｉ ｇ Ｎａ ａ ｄ Ｚｒ ｎ ＡＺＳ Ｒｅ ｒ ｃ ｏ ｙ ｔ ｒ ｎ ｎ ２Ｏ ｎ Ｏ２ ｉ ｆａ ｔ ｒ ｂ － Ｒａ ｕｏ ｅ ｃ ｎ ｅ Ｓ ｃ ｒ ｍ ｅ ｒ ｙ Ｘ － ｙ Ｆｌ ｒ ｓ ｅ ｃ ｐｅ ｔ ｏ ｔｙ
ＦＥＮＧ Ｘ池 一ｌ ｏ ａ
中图分 类号 ：Ｑ ７ ． １ Ｔ １ ５ ７ ５ 文献标 识码 ： Ａ 文章 编 号 ：０ ０—２ ７ （０ ２ ０ ０ ３ ０ １０ ８ １ ２ １ ） ２— ０ ０— ３
Ｔｈｅ Ｒｅ ｅ ｒ ｈ ｏ ｓ ａ ｃ ｎ Ａｎａ ｙ ｉａ ｎｄ ｔｏ ｓ ｆ ｒ ｌ ｔｃ ｌＣｏ ｉｉ ｎ ｏ
（ ） 射线荧光光谱法分析 ， ３ ｘ一 样品基体影响较大 ， 可根据样 品基体情况 ， 选择有效条件 ， 得到较好的准 确度 和精 密度 。
参 考文献 ：
［ ］ 郭红丽 ， １ 赵会峰． Ｘ射线荧光光谱法 测定锆 刚玉质耐火材料 中化学成分 ［ ］ 《 Ｊ ． 理化检测》 化学分册 ，０ ０ ４ ：８—９ ２ １ （６）８ ０
１ ３ 标 准 曲线建 立 ．
利用新的条件重新建立锆刚玉标准曲线 ， 氧化钠的回归曲线见 图 ３ 。按照设备提供的校正公式 ， 用氧化
・
３ ・ ６
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２１ ０ ２年 ４ 月
以 ２～ 四边形 对插 电极 高 硼硅 电熔 炉玻璃 液 电阻计 算 为例 ， ３ｔ 其工 作参 数见 表 ３ 。
［ ］ 宋霞 ， ２ 王静． 刚玉质 耐火材料 的 ｘ射线荧光光谱分析法 ［ ］ 光谱实验 室，０６ ６ ： ３ ４ １ ． 锆 Ｊ． ２ ０ （ ） １ １ —１ ７ ３ ［ ］ 陶光仪 ， ３ 张中义 ， 吉昂． 熔铸锆 刚玉耐火材料的 ｘ射线荧光光谱分析 ［］ 光谱学与光谱分析 ， ９ （ ） １３一 １． Ｊ． １ ４ ６ ：１ ｌ６ ９
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玻 璃 与搪 瓷
ＧＬＡＳ ＆ ＥＮＡＭＥＬ Ｓ
Ｖｏ ．４０ Ｎｏ ２ １ ． Ａｐｒ ２ ２ ． ０１
Ｘ一射 线 荧 光 光 谱 法 分 析 锆 刚玉 耐 火 材 料 中 Ｎａ 和 Ｚ Ｏ２条 件 探 索 ２ Ｏ ｒ
冯秀劳
（ 海南 中航 特玻 材料有限公司 ， 海南 海 口 ５ １２ ） ７ ９４
表 ３ 四边形对插 电极高硼硅 电熔 炉的工作参数
ｐ为玻璃液在 １ ０ ￣ 时的电阻率 ， 为炉的宽度 ， ０ ４ Ｃ 如图 ３ 所示 ， 为两支 电极 根部之 间的距 离， 为 常数 ， ％ Ｐ为设计功率 ， 月为计算 电
阻， ｕ为计算电压 ，， ￡ １为实际电压， 为实 际电压与计算 电压之 比值 ， Ｋ＝Ｕ１Ｕ。 ／
多 堂 尉 尘 旦 矗 乡 幺 ｅ ‘ ～ 、
（ 接第 ３ 上 ２页 ）
３ 结 论
（ ） 用 ｘ一 线荧 光光 谱法 分析 锆 刚玉耐 火 材料 中 的 Ｎ １采 射 ａ０和 ＺＯ ， 整 氧化 钠 的狭缝 ， ｒ 调 由高 灵 敏 度 更 换 为高分 辨率 ， 可避免 氧化 锆对 氧化 钠 的干扰 ， 得到 良好 的测试 结 果 。 （ ） 用锆 的 Ｋ ２采 线 ， 避免 光谱 强度 超范 围 的问题 ， 测试 结果 良好 。
［ Ｖ Ｃ （ ａ ａ ）Ｓ ｅｉ ｌ ｓＭａ ｒ ｌ ｏ ，Ｔ ． Ｈ ｉｏ ７ ９４，ｈｎ ］ Ａ Ｉ Ｈ ｉ ｎ ｐｃ ｌ ａ ｔ ｉ ．Ｌ Ｄ ， ａ ｕ５ １２ Ｃ ｉ ｎ ａＧ ｓ ｅａ Ｃ ｋ ａ
Ａｂｓｒ ｃ Ｔｈ ｆ ｃ ｆａ ａｙ ｉａ ｏ ｉ ｏ ｓ ｏ ｃ ｕ ａ ｙ ａ ｄ ｒ ｃｓｏ ｆ ｄ ｔ ｒ ｎ ｔ ｎ ｏ ２ ｔ ａ ｔ： ｅ ｅｆ ｔｏ ｎ ｌ ｔｃ ｌ ｃ ｎｄｔ ｎ ｎ ａ ｃ ｒ ｃ ｎ ｐ ｅ ｉｉｎ ｏ ｅｅ ｍｉ ａ ｉ ｆ Ｎａ ｎ ｅ ｉ ｏ Ｏ ｉ ＡＺ ｅｒ ｃ ｏ ｙ ｉ ｉｃ ｓ ｄ．Ｂｙ ｓ ｌ ｃｉ ｇ ｏ ｉ Ｓ ｒｆａ ｔｒ ｓｄ ｓ ｕｓｅ ｅｅ ｔｎ ｐｔ ｍｕｍ ｏ ｄ ｔ ｎ ｔ ｅ ａ ｃ ｒ ｃ ｆｄ ｔｒ ｉ ａｉ ｎ ｏ ２ ｃ ｎ ｃ ｎ ｉｉ ｈ ｃ ｕ ａ ｙ ｏ ｅ ｅ ｎ ｔｏ ｆＮａ ａ ｏ ｍ Ｏ ｂ ｎ ａ ｃ ｄ． Ｔｈ ｈ ｒ ｃ ｅ ｉｔｃ ｓ ｅ ｔａ ｉ ｅ ｆ Ｚｒ ｎ ｅｅｈ ｎ ｅ ｅ ｃ ａ ａ ｔｒｓｉ ｐ ｃｒ ｌ ｌｎ ｓ ｏ Ｏ２ ｉ ＡＺＳ ｒ ｆａ ｔｒ ａ ｅ ｌｏ ｂ ｅ ｓ ｕ ｓ ｄ． ｅｒ ｃｏ ｙ ｈ ｖ ａｓ ｅ ｎ ｄｉｃ ｓ ｅ Ｂｅ ｔｒｒ ｓ ｌｓ ｏ ｎａｙ ｉ ｒ ｂ ａｎｅ ｙ ｕｓｎ ｉ ｅ ｆＺｒ ｔｅ ｅ ｕ ｔ ｆａ ｌ ｓｓ ｗｅ ｅ ｏ ｔ ｉ ｄ ｂ ｉｇ ＫＢｌｎ ｓｏ ．
Ｕ１ ＝ Ｋ Ｕ
２ 结束 语
在大 多数情 况下 ， 电熔 炉 电阻 的设 计 值 和实 际值 有较 大 差 别 ， 时差 别 会 高 达 １０ 。 因此 ， 有 ０％ 电熔 炉用 的变 压器 的 电压 和 电流都 应有 较大 适应 范 围。尤 其针 对新 的炉 型 、 的料 方 、 的 电极 排 布方 式 等情 况 ， 新 新 这 就意 味着 变压 器容量 的扩大 。
摘要 ： 讨论 了用 ｘ一射 线荧光 光谱 法进 行化 学成分 分析 时常规条 件对 锆 刚玉耐 火材 料 中 Ｎ ２ ａ０测 试 的影 响。通 过 改变条 件提 高 了分 析 Ｎ 的 准确 度 和 精 密度 ； 论 了锆 刚玉 耐 火材 料 中 ＺＯ ａＯ 讨 ｒ： 的光谱谱 线 ， 采用 ｚ ｒ的 Ｋ 。线得 到 了较好 的测试 结果 。 关键 词 ： ｘ一射 线荧 光光谱 法 ； 刚玉 ； 化钠 ； 化锆 锆 氧 氧
Ｋｅ ｏ ｄ ： ｒｙｆ ｏｅｃｎ ｅｓｅ ｔ ｍｅ ；ｕ ｅ ｒｏ ｉ ａ ｍ ｎ Ａ Ｓ ； ｏｉｍ ｏｉｅ ｚ ｃ ｎ ｙ ｗ ｒ ｓＸ— ａ ｕ ｒｓｅ ｃ ｐ ｃ ｏ ｔ ｆｓｄｚ ｃｎａ ｌ ｉａ（ Ｚ ） ｓｄｕ ｘｄ ； ｉ ｏ ｉ ｌ ｒ ｙ ｒ ｉ ｕ ｒ ａ

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熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝铬质耐火材料中主次成分

熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝铬质耐火材料中主次成分


0.16
0.09
国标方法 71.4 7.64 7.52 0.27 1.81 4.68
0.17gYSBC13
7
803-94+ 2 0.03gGSBD33
本法
71.8 0 7.38 7.40 0.32 2.00 4.89
关键词：X 射线荧光光谱法；铝铬质耐火材料；灼烧减量； 主次成分
X 射线荧光光谱(XRF)分析法快速、简便、准确，分析元素 多，测定的含量范围宽，精度高，能同时测定样品中主次量元素 及微量杂质元素。同时 XRF 分析成本低，对环境污染小。因 此，广泛应用于冶金 、有色和建材等多个领域的元素成分分 析[1-5]。本文研究了用 X 射线荧光光谱仪分析铝铬质耐火材料 的方法，试样熔点较高，所以本文选用四硼酸锂和偏硼酸锂混 合熔剂，碳酸钠为助熔剂，高温熔融制备标准玻璃片。配合合 适的标准系列样品，用理论 α 系数和经验系数相结合校正元素 间的吸收-增强效应，元素的含量跨度较大，用标准样品和试样 验证，各组分定量分析结果满意。
2017 年 11 月
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。 使用理论 a 系数和经验系数相结合的方法进行方法校正， 有效地消除了基体效应和重叠谱线干扰。 2.5 准确度 由表 2 可见：本方法测定值与标准方法的测定值误差在标 准范围之内，准确度能够满足日常的分析要求。
表 2 准确度%
序 号
1 实验部分
1.1 主要仪器 PW4400 型 X 射线荧光光谱仪（荷兰帕纳科公司）；自动熔
融炉（成都多林电器）；铂-黄坩埚（95%Pt + 5%Au），氩-甲烷气 体（90%Ar，10%CH4）。 1.2 仪器分析条件的选择
表 1 仪器分析条件
元素
Al Si Ca Cr Fe Mg Br
X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分

X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分

X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分赵恩好;岳明新;周国兴;肖刚;张泉;刘新【摘要】采用熔融制样,建立了镁质耐火材料(制品镁砖等)及其原料(水镁石,原料镁砂等)中MgO、Al2O3、SiO2、CaO、P2O5、TiO2、TFe2 O3、Na2O、K2O、MnO的X射线荧光光谱分析方法.与以往方法相比,增加了Na2O、K2O的含量测试,为最终对于MgO的准确测试提供了依据.对高镁样品(MgO含量大于90％)的熔剂体系、样品与熔剂稀释比等方面进行了考察,同时对水镁石、菱镁矿等高烧失量样品的烧失量校正进行了探讨.采用国家标准样品GBW07105和高纯镁砂配制的系列校准样品来建立校准曲线,用经验系数法回归校正共存元素间的吸收增强效应.方法的检出限在0.031％～0.45％之间.对样品进行了精密度试验,各成分的相对标准偏差(RSD,n=10)在0.31％～3.4％之间.对人工合成样品及标准样品进行测试,结果与湿法测定结果吻合.%The sample was prepared by fusion method.The analysis of MgO,Al2O3,SiO2,CaO,P2O5,TiO2,TFe2O3,Na2O,K2O and MnO in magnesia refractory materials(magnesium brick products) and raw materials (brucite and raw magnesite etc.) by X-ray fluorescence spectrometry was pared with previous methods,the content test of Na2 O and K2O was added.It provided basis for the final accurate test of MgO.The flux system for high magnesium sample (the content of MgO was higher than 90 ％) as well as the dilution ratio between sample and flux were discussed.Meanwhile,the correction of loss on ignition for samples with high ignition loss (such as brucite and magnesite) was also investigated.The calibration curves of the method were established with series calibration samples prepared by nationalstandard sample GBW07105 and high-purity magnesia.The absorption enhancement effect among coexisting elements was regressed and corrected by empirical coefficient method.The detection limit of method was between 0.031 ％ and 0.45 ％.The precision test of sample was conducted.The relative standard deviation (RSD,n=10) of each components was 0.31 ％-3.4 ％.Synthetic samples and CRM were tested,and the results were consistent with those obtained by wet method.【期刊名称】《冶金分析》【年(卷),期】2013(033)007【总页数】6页(P62-67)【关键词】X射线荧光光谱法;熔融制样;镁质耐火材料及其原料;烧失量【作者】赵恩好;岳明新;周国兴;肖刚;张泉;刘新【作者单位】沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳110032;东煤地质局沈阳测试中心,辽宁沈阳110032【正文语种】中文【中图分类】O657.34镁质耐火材料广泛应用于氧气转炉、电炉、平炉、钢包、炉外精炼及有色熔炼等工艺过程中，其作为钢铁工业不可缺少的基础材料，对提高钢的质量和降低炼钢成本起着重要作用。

X荧光光谱法(XRF)解析(课堂PPT)

X荧光光谱法(XRF)解析(课堂PPT)

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检出限
对于固体和粉末样品,轻元素的检出 限为50µg/g,重元素为5µg/g.轻元素的灵 敏度低是因为它们的荧光产生率(变成X射 线的比率)小.
16
17
射
荧反
全
析
光 分
射 线
X
Total—Reflection X—Ray Fluorescence Analysis
X射线 荧光基础
光谱机理
用化学联(IUPAC)的
定义，TXRF是一种
微量分析
（Microanalysis）
方法，而且总是需要
将样品进行一定的预
处理制备成溶液、悬
浊液、细粉或 薄片，
而一般原样很少能直
接分析。
27
参考文献: «X射线荧光光谱分析 作者:吉昂 陶光仪 卓尚军 罗立 强 科学出版社
全反射X射线荧光分析 作者:(德)赖因霍尔德·克洛肯凯 帕 原子能出版社
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但应该指出，与现代的其他多元素分析技术，如电 感耦合等离子体光谱(ICP-AEC)、电感耦合等离子 体质谱(ICP-MS)和仪器中子活化分析(INAA)相比，
XRF最明显的缺点就是灵敏度低、取样量大。
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由于常规XRF的入
射束一般采用大于 40度的入射角，不
仅样品会产生二次 X射线，载体材料 也会受到激发从而 在记录谱上产生峰， 对测量形成干扰。
3)若存在 K或L谱线，则需进行强度比的计算以 确定该元素的存在．
4)微量元素，有时只存在 K 线.
12
定量分析
因为Ｘ射线荧光分析得到的是相对分 析值，所以进行定量分析时需要标样．选 定分光晶体和检测器，统计测量样品发出 的Ｘ射线荧光的强度，将已知含量的标准 样品和未知样品在同一条件下测定，确定 未知样品的含量．
X射线荧光光谱法测定煤灰中化学成分

X射线荧光光谱法测定煤灰中化学成分

X射线荧光光谱法测定煤灰中化学成分摘要：采用熔融制样法，用X射线荧光光谱法同时测定煤灰中的常量、少量和微量成分SiO2，Al2O3，Fe2O3，CaO，TiO2，K2O，Na2O，MgO等。

选用锂盐混合熔剂和脱模剂，利于钾、钠含量的准确测定。

同时通过选用煤灰标准样品和页岩等标样解决了煤灰成分标准样品不足的问题。

通过谱线选择和仪器基体效应校正，所得结果与化学法的分析结果相符合。

关键词：X射线荧光光谱法；煤灰；化学成分1前言煤灰分是煤在可燃物质完全燃烧并完成了所有变化之后，所残留下来的矿物质，而灰成分就是这种残留矿物质的化学组成，其主要成分为二氧化硅、氧化钙、氧化铝、三氧化二铁、氧化钾、氧化钠等。

由于在炼焦过程中，煤中的灰成分要全部转入焦炭中去，煤灰成分组成及含量影响灰熔点、碱金属量影响焦炭的热性能和易在高炉壁上富积，影响高炉寿命和顺行，因此准确测定煤灰成分非常重要。

煤灰中二氧化硅、氧化钙、氧化铝、三氧化二铁、氧化钾、氧化钠等元素均有相应的国家标准化学分析方法，这些经典的化学分析方法虽有较高准确度和精密度，但其分析周期更长，不适用于日常生产检测，而且效率低。

本课题采用四硼酸锂、碳酸锂作熔剂，溴化锂作脱模剂，高温熔融成玻璃熔片，用标准样品制作校准曲线，建立了煤灰成分的X荧光光谱法[1][2][3][4][5]，用于测定煤灰中氧化硅、氧化钙、氧化铝、三氧化二铁、氧化钾、氧化钠等成分，精密度、准确度较好，可以用于日常生产检验。

2实验部分2.1主要仪器和试剂2.1.1 X射线光谱仪ARL ADVANT XP（美国热电公司）。

测量条件见表1。

表1 测量条件分析线晶体管电压（kV）管电流（mA）探测器2θ测量时间（s）准直器（nm）PHD（mV）Al Kα1，2LiF2004070FPC144.6110s0.25400～1000Ca Kα1，2LiF2004070FPC113.0910s0.25400～1000Fe Kα1，2LiF2004070FPC57.5210s0.25400～1000K Kα1，2LiF2004070FPC136.6810s0.25400～1000Mg Kα1，AX4070F2010.400～206PC.190s601000Na Kα1，2AX064070FPC23.9510s0.25400～1000Si Kα1，2PET4070FPC108.9810s0.25400～1000Ti Kα1，2LiF2004070FPC86.1410s0.25400～1000VKα1，2GE4070FPC76.9310s0.25400～10002.1.2铂黄金坩埚（Pt95%+Au5%）：底部直径不小于34 mm，厚度不小于1 mm，底部内表面平整，定期抛光。