集成霍尔传感器的发展

  • 格式:pdf
  • 大小:447.93 KB
  • 文档页数:11

集成霍尔传感器的发展白韶红集成霍尔传感器的发展DevelopmentofIntegratedHallTmnsducer丁P2JA白稆住

(北京市城市建设工程研究院,北京100029)

摘要白先总结r100多年来檬尔效啦应用的三个阶段,然后介绍各种集成霍尔元件、集成霍尔传感器的原理、结构、特性和应用,最后论殷到当前新型的链子、等离予霍尔传感器。对霍尔传感器的发展趋势和特点进行了总结。关键词霍尔传感器集成传感器霍尔效应发展动向Al劬韶tFirstlv,thethreepha∞so『apglicationofHalleff州lin100yearsaresurr帅anzedThen,dieprintiple,stzuc.tum,featureandapplicationofv¥lr-

iousintegrat—Hallelel僻ntsaIldHallⅡⅢ1sducenareintroducedFinally,thelatestnewqumltumandplasma

Hallm那sdIlce玛areexpom埘edThedevel一

0P%trendandfeaturesof

Hall酬I—malsosuwnarlzed

KeywordsHallb邗1sdIlcerInt喇缸l也蚰j血M℃rHalleffec!Devel叩lIlgtrend

1概述100多年来,霍尔效应的应用经历r三个阶段:第阶段是从霍尔效应的发现到20世纪40年代前期。最初,由于金属材料中的电子浓度很人,而霍尔效应十分微弱,所以没有引起人们的重视。这段时期也有人利用霍尔效应制成磁场传感器,但实用价值不犬,到r19lO年有人用金属铋制成霍尔元件,作为磁场传感器。但是,由于当时未找到更合适的材料,研究处于停顿状态。第__阶段是从20世纪40年代中期半导体技术出现之后,随着半导体材料、制造工艺和技术的应用,出现了各种半导体霍尔元件,特别是锗的采用推动丁霍尔元件的发展,相继出现r采用分立霍尔元件制造的各种磁场传感器、磁罗盘、磁头、电流传感器、非接触开关、接近开关、位置、角度、速度、加速度传感器、压力变送器、无刷直流电机以及各种函数发生器、运算器等.应用十分广泛。第三阶段是自20世纪印年代开始,随着集成电路技术的发展,出现了将霍尔半导体元件和相关的信号凋节电路集成在一・起的霍尔传感器。进入20世纪80年代,随着犬规模超大规模集成电路和微机械加工技术的进展,霍尔元件从平面向三维方向发展,出现了三端口或四端门固态霍尔传感器,实现r产品的系列化、加工的批量化、体积的微型化。此外,20世纪70年代末,美国科学家发现丁量子霍尔效应并因此获得r1985年的诺贝尔物理学奖。最近,韩国科学家报告了等离子霍尔传感器u。j。2各种集成霉尔元件2.1霍尔效应简述如图1所示,如果将一块载流导电板放人垂直于它的磁场中,当有电流通过导电板时,将在它的上、下两侧产生一个电位差。实验发现,在磁场不太强的情况下,该电位差h与电流强渡,和磁感应B成正比,与导电板的厚度d成反比,即h=k(,・B/d)式中:h为霍尔电势或电压;&为霍尔(灵敏度)系数,V/AT。霍尔电势形成的机理是,带电粒子在磁场中运动时,将受到洛伦兹力的作用,使带电粒子发生偏

转,产生一个垂直于其运动方向的电动势,即霍尔电势。

图I霍尔效应原理2.2双极平行元件图2是采用标准双极(“polar)工艺制成的霍尔元件.由于电流在外延层内平行于芯片表面流动,因此又称为平行霍尔元件。它在P型硅芯片上分别外延生长出乎行于芯片表面的2个11型电流电极和霍尔电极,

 万方数据<自动化仪表)第24卷第3期2003年3月图2双极平行霍尔效应元件芯片垂直j’磁场B。当外延层内的末电流通过芯片表面时,它的灵敏度与垂直于它的磁场相关。同时.外延瞪的杂质浓度与厚度相关。这种霍尔元件的特点是灵敏度较高,一般为300V/AT且与双极集成电路兼容,因此广泛用于霍尔集成电路中。采』fl双极工艺还可以制成垂直霍尔(VH)元件,但其产生霍尔电压的电流路径长度受到约10tsm厚外延层的限制,服从“短”霍尔元件规律,即几何效应不能忽略,因此该霍尔元件的灵敏度较低,它与元件的长度f(外延层厚度)成正比,与电流路径b成反比。为了提高灵敏度而减少电流路径,又研制r扩散型(DVH)和沟道型(TvH)两种垂直霍尔元件。图3的DVH元件具有扁电流路径,受n型硅外延膜中P+扩散层的限制,灵敏度为47VIAr,与CMOS元件比较,h较低。图4

的TVH元件灵敏度较高,为缩短电流路径它的沟道围绕着电流路径定位、

图3扩散型垂直霍尔元件

沟道内的霍尔迁移率比体型霍尔元件低,但因元件厚度在01nm以内,因此可获得1000V/AT的灵敏

度。

《*自&\/滴巍o

L』1一

/——\。罔

’唾l,

\-11趔蚪

/。一“、\

图4沟道型垂直霍尔元件

P£H图5MOS垂直霍尔元件

2.4CMOS垂直元件图6是采用CMOS工艺制成的体型(bulk)垂直霍尔元件,它将霍尔元件熔融(merged)到n型硅芯片表面,包括存P型隔离环、2个n型电流电极和2个n型霍尔电压电极,磁场B垂直于芯片表面。这种传感器服从“长”霍尔元件规律,几何效应可忽略,电流从芯片表面流人芯片内部,灵敏度可达450V/AT。

23M0s垂直元件图6cMoS垂直霍尔元件图5是采用MOS工艺制成的另一种垂直霍尔元2.5

JFET垂直元件

件,它的薄MOS沟道作为霍尔元件的激励区,虽然该在上述TvH元件的基础上,增加离子反应刻蚀

2H∞汹AUTOMATIONINSTRUMENTATION,Vel.“,No.3,Mar..姗

至 万方数据集成霍尔传感器的发展白韶红(R/E)工艺,制成丁结型场效应管垂直霍尔元件,它的结构如图7所示。该霍尔元件的灵敏度与沟道电流相关,取决r沟道的宽度。实验发现,该霍尔元件的绝对灵敏度(V/T)在阚值电流下保持恒定,当电流达到阈值时,切断P+扩散与一n+阻挡层结,超过阈值的剩余电流通过P4扩散区,流出n沟道,这种霍尔元件灵敏度可达1243V/A。1“40】。图7JFET沟道型霍尔元件2.6非平板型霍尔元件图8a是ZRandjeLovic等人研制的一种非平板型霍尔元件的结构,它的n型激励区,仍然被P型环围绕着,但它的底边与乎板型结构不同是打开的,工作电流加在2块夫n+型电极之间,霍尔电压产生于2块小n+电极之间。该元件的主要特点是:霍尔板的偏置激励电流进入芯片体内使激励区受P型环横向而不是垂直方向限制。因此,激励区的厚度与电流的深度(即激励区的有效厚度d。tl-相关,所以它的灵敏度优于330V/AT。该霍尔元件与VH元件兼容,因此可将两个元件集成在起制成三维传感器。图8b是非平板霍尔传感器的示意同.P型环电极的长度与d赶及传感器的尺寸有关…。廓一℃图8非平板霍尔元件3各种集成霍尔传感器根据霍尔效应的基本公式,霍尔电势正比于电流和磁感应强度。当电流恒定时.霍尔电势正比于磁感应强度;如果改变磁场方向,霍尔电势的符号也随之改变。利用这些特性可以制成多种测量磁场夫小或方向的传感器,以及由此派生的角度、位置、位移等传感器。3.1三维VII磁场传感器VH传感器是最常见的磁场传感器,它的特点是将电极形成在芯片表面,对平行于芯片表面的磁场敏感,从不同的方向测量该磁场就形成r不同坐标的传感器。图9是一维传感器,中心为输入电流电极1,两侧为2个1/2的输出电流电极,其余2个为电势电极。将2个一维传感器放在一起就构成r图10所示的二维传感器,通过芯片中心的输入电流电极为21,4个输出电流电极1/2连接在一起。芯片的每一个分支上的敏感接点之间的电位差正比于z.Y方向上的磁场分量。采用这种传感器可以测量x—Y平面上磁场的大小与方向。图11的三维磁场传感器实际上是由1个_二维传感器和4块放在它的四角的霍尔板组成,以测量磁场的3个分量。这4块霍尔板对称放置、敏感接点并连,以此保证在元件的几何中心测量该磁场的x,Y及;三个分量”J。莎:蕊

图9一维磁场传感器图10二维磁场

传感器

闰Il一堆磁场传感嚣3.2单片硅指南针图12是采用TLC(tranlinearcircuit)工艺制成的模拟集成霍尔指南针,它由2个VH元件和信号转换处理电路组成。为使TIE输出的电流电平与霍尔元件相连,采用r简单的电流镜像差动放大器。整个传感器包括2个霍尔元件、190个晶体管和40个电阻。它们起调整TLC的工作点、V/I的增益、霍尔元件的失调电压和灵敏度等作用。传感器的体积为20nml×118mm×10nml,在B=0IT,日=0。一3600,电压为7~

15V的条件下,磁场的方向误差仅为±2%【引。图13a是最近由ChRoumenin等人研制的一种三维矢量传感器的俯视图,它的加工完全采用IC工艺。这种传感器包括C1,c2和c3三个电流欧姆接点。霍尔端T-H】,}16和H2,H5分别正交耦合,随着信号B:增加,将抵消输出通道内B与占,的影响。该传感器的

 万方数据