材料结构分析试题4（参考答案）
一、基本概念题（共8题，每题7分）
1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片
答：实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用
比样品中主元素的原子序数大2~6（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，
以滤掉K
β线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
以分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，同时选用Fe和Mn 为滤波片。
2．试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？
答：获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向；旋转晶体法主要用于研究晶体结构；粉末法主要用于物相分析。
3．原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？
答：原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。也称原子散射波振幅。它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。
原子散射因数与其原子序数有何关系，Z越大，f 越大。因此，重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。
4．用单色X射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？
答：用单色X 射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。
5．什么是缺陷不可见判据? 如何用不可见判据来确定位错的布氏矢量? 答：缺陷不可见判据是指：0=?R g
。确定位错的布氏矢量可按如下步骤：找到两个操作发射g1和g2，其成像时位错均不可见，则必有g1·b ＝0，g2·b ＝0。这就是说，b 应该在g 1和g 2所对应的晶面（h 1k 1l 1）he （h 2k 2l 2）内，即b 应该平行于这两个晶面的交线，b ＝g 1×g 2，再利用晶面定律可以求出b 的指数。至于b 的大小，通常可取这个方向上的最小点阵矢量。
6．二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 说明二次电子像衬度形成原理。
答：二次电子像:
1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE 产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
2）平面上的SE 产额较小，亮度较低。 3）在深的凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。 背散射电子像 1）用BE 进行形貌分析时，其分辨率远比SE 像低。
2）BE 能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因
检测器无法收集到BE 而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE 形貌分析效果远不及SE ，故一般不用BE 信号。
二次电子像衬度形成原理：
成像原理为：二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感。 如图所示，随入射束与试样表面法线夹角增大，二次电子产额增大。
5.5 表面形貌衬度原理及其应用
5.5.1 二次电子成像原理SE 信号主要用于分析样品表面形貌。（5－10 nm 范围）二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感，如图所示，随入射束与试样表面法线夹角增大，二次电子产额增大。成像原理
因为电子束穿入样品激发二次电子的有效深度增加了，使表面5-10 nm 作用体积内逸出表面的二次电子数量增多。
7．简要说明多晶（纳米晶体）、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。 答：单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网络的格点上。因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是(uvw)*0零层倒易截面的放大像。
多晶面的衍射花样为：各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线，为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d 的倒易球面，与Ewald 球的相惯线为园环，因此，样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2θ为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2θ不同，但各衍射圆锥共顶、共轴。
非晶的衍射花样为一个圆斑。
8．什么是双光束衍射？电子衍衬分析时，为什么要求在近似双光束条件下进行？
案答：双光束衍射:倾转样品，使晶体中只有一个晶面满足Bragg 条件，从而产生衍射，其它晶面均远离Bragg 位置，衍射花样中几乎只存在大的透射斑点和一个强衍射斑点。
原因：在近似双光束条件下，产生强衍射，有利于对样品的分析
二、综合及分析题（共4题，每题11分）
1．多晶体衍射的积分强度表示什么？今有一张用CuK α摄得的钨（体心立方）的德拜图相，试计算出头4根线的相对积分强度（不计算A （θ）和e -2M ，以最强线的强度为100）。头4根线的θ值如下：
线 条 θ
1 20.20
2 29.20
3 36.70
4 43.60
答：多晶体衍射的积分强度表示晶体结构与实验条件对衍射强度影响的总和。 即：M c
e A F P V V mc e R I I 22222230)()(32-???? ??=θθ?πλ 查附录F （P314），可知：
20.20 ??
? ??+=θθθcos sin 2cos 122F P I r = 14.12 29.20 ??
? ??+=θθθc o s s i n 2c o s 122F P I r = 6.135 36.70 ??? ??+=θ
θθc o s s i n 2c o s 122F P I r = 3.777 43.60 ??
? ??+=θθθc o s s i n 2c o s 122F P I r = 2.911 不考虑A （θ）、e -2M 、P 和2F
I 1=100
I 2=6.135/14.12=43.45
I 3=3.777/14.12=26.75
I 4=2.911/14.12=20.62
头4根线的相对积分强度分别为100、43.45、26.75、20.62。
2．试总结衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
答：（1）靶材的选用影响背底；
（2）滤波片的作用影响到背底；
（3）样品的制备对背底的影响。
措施：（1）选靶，靶材产生的特征X 射线（常用K α射线）尽可能小地激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样背底，使图像清晰。
（2）滤波，K 系特征辐射包括K α和K β射线，因两者波长不同，将使样品的产生两套方位不同的衍射花样；选择滤波片材料，使λ
k β靶＜λk 滤＜λk αafc ，K
α射线因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。
（3）样品，样品晶粒为5μm 左右，长时间研究，制样时尽量轻压，可减少背底。
3．什么是衍射衬度? 画图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。
答：衍射衬度:由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度。
衍射衬度成像原理如下图所示。
设薄膜有A 、B 两晶粒
B 内的某(hkl)晶面严格满足Bragg 条件，或B 晶粒内满足“双光束条件”，则通过(hkl)衍射使入射强度I0分解为I hkl 和IO-I hkl 两部分
A 晶粒内所有晶面与Bragg 角相差较大，不能产生衍射。
在物镜背焦面上的物镜光阑，将衍射束挡掉，只让透射束通过光阑孔进行成像（明场），此时，像平面上A 和B 晶粒的光强度或亮度不同，分别为
I A ≈ I 0
I B ≈ I 0 - I hkl
B 晶粒相对A 晶粒的像衬度为
)(I I I I I I I hkl A B A B ≈-=? 明场成像： 只让中心透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。 暗场成像： 只让某一衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像。 中心暗场像： 入射电子束相对衍射晶面倾斜角，此时衍射斑将移到透镜的中心位置，该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中心暗场成像。
4．（1）为什么f.c.c.和b.c.c.结构发生二次衍射时不产生额外的衍射斑点？
（2）当两相共存且具有对称取向关系时，其一幅衍射花样中常常出现许多斑点群，这时，可能怀疑其为二次衍射，请问应该如何鉴定其为二次衍射。 答：（1）Bcc 结构，F ≠0的条件：
h + k + l = 偶数
若（h 1k 1l 1）和（h 2k 2l 2）之间发生二次衍射，二次衍射斑点
（h 3k 3l 3）=（h 1k 1l 1）+（h 2k 2l 2）
h 3 + k 3 + l 3 = 偶数
（h 3k 3l 3）本身F h 3k 3l 3≠0，即应该出现的。
即不会出现多余的斑点，仅是斑点强度发生了变化。
fcc 结构，的条件是：h, k, l 全奇数或全偶数
（h 3k 3l 3）=（h 1k 1l 1）+（h 2k 2l 2）
显然h3、k3、l3 为全奇数或全偶数，本身是存在的。
因此，不会出现多余的斑点，仅是斑点强度发生了变化
第二章色谱选择题 1.色谱法分离混合物的可能性决定于试样混合物在固定相中（）的差别。 A. 沸点差， B. 温度差， C. 吸光度， D. 分配系数。 3、选择固定液时，一般根据（）原则。 A. 沸点高低， B. 熔点高低， C. 相似相溶， D. 化学稳定性。 2.一般气相色谱法适用于 ( ) (1) 任何气体的测定 (2) 任何有机和无机化合物的分离、测定 (3) 无腐蚀性气体与在气化温度下可以气化的液体的分离与测定 (4) 任何无腐蚀性气体与易挥发的液体、固体的分离与鉴定 3．在GC中, 程序升温适用于分离 ( ) (1)几何异构体 (2)沸点不同官能团相同的试样 (3)沸点相近官能团相似的试样 (4)沸点范围很宽的复杂试样 第三四章选择题 1. 催化氧化法测有机物中的碳和氢的含量时，CO2和H2O所采用的吸收剂为（）A、都是碱石棉B、都是高氯酸镁 C、CO2是碱石棉，H2O是高氯酸镁 D、CO2是高氯酸镁，H2O是碱石棉 2. 采用氧瓶燃烧法测定硫的含量，有机物中的硫转化为（） A、H2S B、SO2 C、SO3 D、SO2和SO3 3. 测定有机化合物中的硫，可用氧瓶法分解试样，使硫转化为硫的氧化物，并在过氧化氢溶液中转化为SO42-，然后用钍啉作指示剂，BaCl2标准溶液作滴定剂，在（）介质中直接滴定。A、水溶液B、80%乙醇溶液 C、三氯甲烷溶液 D、冰乙酸溶液 4. 有机物中硫含量的测定时，常加入（）做屏蔽剂，使终点颜色变化更敏锐。 A次甲基蓝B溴甲酚绿C百里酚蓝D孔雀石绿 5. 含氮有机物在催化剂作用下，用浓硫酸煮沸分解，有机物中的氮转变为氨气，
被浓硫酸吸收生成NH4HSO4的过程称为（）A催化B分解C消化D吸收 6. 凯达尔定氮法的关键步骤是消化，为加速分解过程，缩短消化时间，常加入 适量的（）。 A、无水碳酸钠B无水碳酸钾C、无水硫酸钾D、草酸钾 7. 克达尔法也称硫酸消化法，其分析全过程包括 A 消化、分解、吸收 B 消化、碱化蒸馏、吸收、滴定 C 溶解、中和、吸收、滴定 D 消化、酸化、吸收、滴定 8. 杜马法测定氮时，试样在装有氧化铜和还原铜的燃烧管中燃烧分解，有机含氮化合物中的氮转变为（）A．氮气 B.一氧化氮 C.氧化二氮 D.氨气 9. 燃烧分解法测定C、H元素时，若样品还含有N元素，产物CO2、H2O、NO2三个吸收管的顺序为（）A、CO2、H2O、NO2 B、H2O、CO2 、NO2 C、H2O、NO2 CO2 D、CO2、NO2 、H2O 10. 氧瓶燃烧法测定卤素含量时，常用（）标准滴定溶液测定卤离子的含量。 A、硝酸汞 B、二苯卡巴腙 C、氢氧化钠 D、盐酸 11.一般用（）裂解含氮有机物，释放氨。 A 浓硫酸B浓盐酸 C 苛性碱 D 熔融法 12. 韦氏法常用于测定油脂的碘值,韦氏液的主要成分是( )。A、氯化碘 B、碘化钾 C、氯化钾 D、碘单质 13. （）重氮化法可以测定：A、脂肪伯胺B、脂肪仲胺C、芳伯胺D、芳仲胺 14. 碘值是指A、100g样品相当于加碘的克数B、1g样品相当于加碘的克数C、100g样品相当于加碘的毫克数D、1g样品相当于加碘的毫克数15. 羟值是指A、100g样品中的羟基相当于氢氧化钾的克数B、1g 样品中的羟基相当于氢氧化钾的克数C、100g样品中的羟基相当于氢氧化钾的毫克数D、1g样品中的羟基相当于氢氧化钾的毫克数 16. 肟化法测定羰基化合物加入吡啶的目的是 A、催化剂B、调节溶液的酸度C、抑制逆反应发生D、加快反应速度 17. 高碘酸氧化法可测定（）A、伯醇B、仲醇C、叔醇 D、α-多羟基醇 18. 有机物的溴值是指（）。A、有机物的含溴量B、100g有机物需加成的溴的质量(g) C、100g有机物需加成的溴的物质的量D、与100g溴加成时消耗的有机物的质量(g) 19. 酯基的定量分析方法是( )。 A.皂化法 B.氧化法 C.中和法 D.沉淀法 质谱选择题
数值分析试题 一、 填空题（2 0×2′） 1. ?? ????-=? ?????-=32,1223X A 设x =是精确值x *=的近似值，则x 有 2 位 有效数字。 2. 若f (x )=x 7－x 3＋1，则f [20,21,22,23,24,25,26,27]= 1 ， f [20,21,22,23,24,25,26,27,28]= 0 。 3. 设，‖A ‖∞＝___5 ____，‖X ‖∞＝__ 3_____， ‖AX ‖∞≤_15_ __。 4. 非线性方程f (x )=0的迭代函数x =?(x )在有解区间满足 |?’(x )| <1 ，则使用该迭代 函数的迭代解法一定是局部收敛的。 5. 区间[a ,b ]上的三次样条插值函数S (x )在[a ,b ]上具有直到 2 阶的连续导数。 6. 当插值节点为等距分布时，若所求节点靠近首节点，应该选用等距节点下牛顿差商 公式的 前插公式 ，若所求节点靠近尾节点，应该选用等距节点下牛顿差商公式的 后插公式 ；如果要估计结果的舍入误差，应该选用插值公式中的 拉格朗日插值公式 。 7. 拉格朗日插值公式中f (x i )的系数a i (x )的特点是：=∑=n i i x a 0)( 1 ；所以当 系数a i (x )满足 a i (x )>1 ，计算时不会放大f (x i )的误差。 8. 要使 20的近似值的相对误差小于%，至少要取 4 位有效数字。 9. 对任意初始向量X (0)及任意向量g ，线性方程组的迭代公式x (k +1)=Bx (k )+g (k =0,1,…)收 敛于方程组的精确解x *的充分必要条件是 ?(B)<1 。 10. 由下列数据所确定的插值多项式的次数最高是 5 。 11. 牛顿下山法的下山条件为 |f(xn+1)|<|f(xn)| 。 12. 线性方程组的松弛迭代法是通过逐渐减少残差r i (i =0,1,…,n )来实现的，其中的残差 r i ＝ (b i -a i1x 1-a i2x 2-…-a in x n )/a ii ，(i =0,1,…,n )。 13. 在非线性方程f (x )=0使用各种切线法迭代求解时，若在迭代区间存在唯一解，且f (x )
《材料科学研究方法》考试试卷（第一套） 一、 1、基态 2、俄歇电子 3、物相分析 4、 色散 5、振动耦合 6、热重分析 一．填空题（每空1分，选做20空，共20分，多答不加分） 1. 对于X 射线管而言，在各种管电压下的连续X 射线谱都存在着一个最短的波长长值 ， 称为 ，当管电压增大时，此值 。 2. 由点阵常数测量精确度与θ角的关系可知，在相同条件下，θ角越大，测量的精确 度 。 3. 对称取代的S=S 、C ≡N 、C=S 等基团在红外光谱中只能产生很弱的吸收带（甚至无吸 收带），而在 光谱中往往产生很强的吸收带。 4. 根据底片圆孔位置和开口位置的不同，德拜照相法的底片安装方法可以分 为： 、 、 。 5. 两组相邻的不同基团上的H 核相互影响，使它们的共振峰产生了裂分，这种现象 叫 。 6. 德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于相机的半径误差、底片的伸缩误差、样品的 偏心误差和 。 7. 激发电压是指产生特征X 射线的最 电压。 8. 凡是与反射球面相交的倒易结点都满足衍射条件而产生衍射，这句话是对是 错？ 。 9. 对于电子探针，检测特征X 射线的波长和强度是由X 射线谱仪来完成的。常用的X 射 线谱仪有两种：一种 ，另一种是 。 10. 对于红外吸收光谱，可将中红外区光谱大致分为两个区： 和 。 区域的谱带有比较明确的基团和频率对应关系。 11. 衍射仪的测量方法分哪两种： 和 。 12. DTA 曲线描述了样品与参比物之间的 随温度或时间的变化关系。 13. 在几大透镜中，透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于 。 14. 紫外吸收光谱是由分子中 跃迁引起的。红外吸收光谱是由分子中 跃迁引起的。 15. 有机化合物的价电子主要有三种，即 、 和 。 16. 核磁共振氢谱规定，标准样品四甲基硅δ TMS ＝ 。 17. 红外吸收光谱又称振-转光谱，可以分析晶体的结构，对非晶体却无能为力。此种说法 正确与否？ 18. 透射电子显微镜以 为成像信号，扫描电子显微镜主要以 为成像信号。 0λ
试题 姓名：分数 一、填空题（每空5分，共25分） 1.粘贴、喷抹质量检验的取样，应符合下列规定：梁、柱类构件以同规格、同型号的构件为一个检验批。每批构件随机抽取的受检构件应按该批构件总数的 10%确定，但不得少于3根；以每根受检构件为一检验组；每组3个检验点。板、墙类构件应以同种类、同规格个构件为一个检验批，每批按实际粘贴、喷抹的加固材料表面积（不论粘贴的层数）均划分为若干区，每区 100m2，且每一楼层不得少于1区；以每区为一个检验组，每组 3个检验点。 2.植筋锚固件质量的非破损检验，对重要结构构件及生命线工程的非结构构件，应取每一检验批植筋总数的 3%且不少于5件进行检验。对一般结构构件，应取每一检验批植筋总数的 1%且不少于3件进行检验；对非生命线工程的非结构构件，应取每一检验批锚固件总数的 0.1%且不得少于3件进行检验。 3.采用水泥基胶粘贴外墙饰面时，可按胶粘剂使用说明书的规定时间或在粘贴外墙饰面砖14d及以后进行饰面砖粘结强度检验。粘贴后28d以内达不到标准或有争议时，应以28～60d内约定时间检验的粘结强度为准。 二、选择（每题5分，共15分） 1.后锚固件应进行抗拔承载力现场非破损检验，满足下列条件（ B ）时，还应进行破坏性检验： A、安全等级为甲级的后锚固构件 B、悬挑结构和构件 C、重要结构构件 D、非结构构件
2.后锚固承载力检测，进行非破损检验时，荷载检验值应取 A、0.9?yk A s B、0.8N RK,* C、0.9?yk D、0.9?yk A s和0.8N RK,*的较小值 3、监理单位应从粘贴外墙饰面砖的施工人员中随机抽选一人，在每种类型的基层上应各粘结至少（ D ）饰面砖样板件，每种类型的样板件应各制取一组（）饰面砖粘结强度试样。 A、 3㎡、1个 B、1㎡、1个 C、3㎡、3个 D、1㎡、3个 三、解答题（每题20分，共60分） 1.混凝土后锚固承载力抗拉拔试验的适用范围？ 适用于以钢筋混凝土、预应力混凝土以及素混凝土为基材的后锚固连接的设计、施工与验收；不适用于以砌体、轻骨料混凝土及特种混凝土为基材的后锚固连接。 2.加固材料粘贴、喷抹质量按组检验结果的合格评定，应符合什么规定？ 1）当组内每一试样的正拉粘结强度fti均达到fti≥1.5MPa，且为混凝土内聚破坏的要求时，应评定该组为检验合格组； 2）若组内仅一个试样达不到上述要求，允许以加倍试样重新作一组检验，如检验结果全数达到要求，则仍可评定该组为检验合格组； 3）若重作试验中，仍有一个试样达不到要求，则应评定该组为检验合格组。 3.简述外墙饰面砖粘结强度现场检测的取样数量。 答：现场粘贴饰面砖粘结强度检验应以每1000mm2同类墙体饰面砖为一个检验批，不足1000mm2应按1000mm2计，每批应取一组3个试样，每相邻的三个楼层应至少取一组试样，试样应随机抽取，取样间距不得小于500mm。
二 1 求A的LU分解，并利用分解结果求 解由紧凑格式 故 从而 故 2求证：非奇异矩阵不一定有LU分解 证明设非奇异，要说明A不一定能做LU分解，只需举出一个反例即可。现考虑矩阵，显然A为非奇异矩阵。若A有LU分解，则 故，而，显然不能同时成立。这矛盾说明A不能做LU分解，故只假定A非奇异并不能保证A能做LU分解，只有在A的前阶顺序主子式时才能保证A一定有LU分解。 3用追赶法求解如下的三对角方程组 解设有分解 由公式 其中分别是系数矩阵的主对角线元素及其下边和上边的次对角线元素，故有 从而有 故，，， 故，，， 4设A是任一阶对称正定矩阵，证明是一种向量范数 证明（1）因A正定对称，故当时，，而当时， （2）对任何实数，有 （3）因A正定，故有分解，则 故对任意向量和，总有 综上可知，是一种向量范数。 5 设，，已知方程组的精确解为 （1）计算条件数； （2）若近似解，计算剩余； （3）利用事后误差估计式计算不等式右端，并与不等式左边比较，此结果说明了什么？解（1） （2）
（3）由事后误差估计式，右端为 而左端 这表明当A为病态矩阵时，尽管剩余很小，误差估计仍然较大。因此，当A病态时，用大小作为检验解的准确度是不可靠的。 6矩阵第一行乘以一数成为，证明当时，有最小值 证明设，则 又 故 从而当时，即时，有最小值，且 7 讨论用雅可比法和高斯-赛德尔法解方程组时的收敛性。如果收敛，比较哪一种方法收敛较快，其中 解对雅可比方法，迭代矩阵 ， 故雅可比法收敛。 对高斯-赛德尔法，迭代矩阵 ，故高斯-赛德尔法收敛。 因=故高斯-赛德尔法较雅可比法收敛快。 8设，求解方程组，求雅可比迭代法与高斯-赛德尔迭代法收敛的充要条件。 解雅可比法的迭代矩阵 ， 故雅可比法收敛的充要条件是。 高斯-赛德尔法的迭代矩阵 ， 故高斯-赛德尔法收敛的充要条件是。 9 设求解方程组的雅可比迭代格式为，其中，求证：若，则相应的高斯-赛德尔法收敛。证明由于是雅可比法的迭代矩阵，故 又，故， 即，故故系数矩阵A按行严格对角占优，从而高斯-赛德尔法收敛。 10设A为对称正定矩阵，考虑迭代格式 求证：（1）对任意初始向量，收敛； （2）收敛到的解。 证明（1）所给格式可化为 这里存在是因为，由A对称正定，，故也对称正定。 设迭代矩阵的特征值为，为相应的特征向量，则与做内积，有 因正定，故，从而，格式收敛。
一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？ 答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。 2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。 答：能量色散谱仪主要由Si(Li)半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识X 射线，这些X 射线被Si(Li)半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个X 射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个电流脉冲，经放大器转换成电压脉冲，脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的X 射线能量色散谱。 在波谱仪中，在电子束照射下，样品发出所含元素的特征x 射线。若在样品上方水平放置一块具有适当晶面间距 d 的晶体，入射X 射线的波长、入射角和晶面间距三者符合布拉格方程时，这个特征波长的X 射线就会发生强烈衍射。波谱仪利用晶体衍射把不同波长的X 射线分开，即不同波长的X 射线将在各自满足布拉格方程的2θ方向上被检测器接收，最后得到以波长为横坐标、强度为纵坐标的X射线能量色散谱。 3．电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。 （1）二次电子。当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约30～50 电子伏特)，这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。 （2）背散射电子。背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。 （3）X 射线。当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量(约
主体结构检测试题 一、单项选择题（在所选项中，只有一个选项正确，每题1分） 1．《回弹法检测混凝土抗压强度技术规程》JGJ/T 23-2011规程适用于普通混凝土的（ B ）检测。A．表面硬度 B．抗压强度 C．表面强度 D．抗折强度 2．《回弹法检测混凝土抗压强度技术规程》JGJ/T 23-2011中指的普通混凝土系主要由水泥、砂、石、外加剂、掺合料和水配置的密度为（ D ）Kg/m3的混凝土。 A．2000～2400 B．2200～2800 C．2400～2800 D．2000～2800 3．回弹法检测构件混凝土强度时的一个检测单元称为（ B ）。 A．测点 B．测区 C．测域 D．以上均不对 4．由测区的（）值和（）值通过测强曲线或强度换算表得到的测区现龄期混凝土强度值称为测区混凝土强度换算值。( D ) A．最大，最小 B．平均，最小 C．最大，碳化深度 D．平均，碳化深度 5．混凝土强度推定值相应于强度换算值总体分布中保证率不低于（ B ）的构建中的混凝土强度值。A．90% B．95% C．99% D．% 6．《回弹法检测混凝土抗压强度技术规程》JGJ/T 23-2011中一般用（ D ）符号表示碳化深度值。 A．R B．S C．f D．d 7．《回弹法检测混凝土抗压强度技术规程》JGJ/T 23-2011中一般用符号S表示下列（ C ）参数。A．碳化深度 B．测区强度修正量 C．标准差 D．回弹值 8．回弹仪除应符合《回弹仪》GB/T9138的规定外，在弹击时，弹击锤脱钩瞬间，回弹仪的标称能量应为（ A ）J。 A． B．3.207 C． D． 9．用于率定回弹仪的钢砧的洛氏硬度HRC应为（ B ）。 A．50±2 B．60±2 C．70±2 D．80±2 10．在洛氏硬度HRC为60±2的钢砧上，回弹仪的率定值应为（ C ）。 A．80±1 B．60±1 C．80±2 D．60±2 11．数字式回弹仪的数显回弹值与指针直读示值相差不应超过（ A ）。 A．1 B．1.5 C．2 D．
安徽工业大学材料分析测试技术复习思考题 第一章 X射线的性质 X射线产生的基本原理 1 X射线的本质：电磁波、高能粒子、物质 2 X射线谱：管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等 连续谱短波限只与管电压有关，当固定管电压，增加管电流或改变靶时短波限λ0不变。随管电压增高，连续谱各波长的强度都相应增高，各曲线对应的最大值和短波限λ0都向短波方向移动。 3高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？ 连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为连续X射线。 特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。 X射线与物质的相互作用 1两类散射的性质 (1)相干散射：与原子相互作用后光子的能量（波长）不变，而只是改变了方向。这种散射称之为相干散射。 (2)非相干散射:：与原子相互作用后光子的能量一部分传递给了原子，这样入射光的能量改变了，方向亦改变了，它们不会相互干涉，称之为非相干散射。 2二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件 二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。 俄歇效应：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子 将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。这种效应 称为俄歇效应。 第二章 X射线的方向 晶体几何学基础 1 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型 晶体：在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体 2 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 晶向指数（略） 晶面指数：对于同一晶体结构的结点平面簇，同一取向的平面不仅相互平行，而且，间距相等，质点分布亦相同，这样一组晶面亦可用一指数来表示，晶面指数的确定方法为： A、在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，量出它在三个坐标轴上的截距并以点阵周期a、b、c为单位来度量； B、写出三个截距的倒数； C、将三个倒数分别乘以分母的最小公倍数，把它们化为三个简单整数h、k、l，再用圆括号括起，即为该组晶面的晶面指数，记为(hkl)。显然，h、k、l为互质整数。 3 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式 (1)晶带：在晶体结构和空间点阵中平行于某一轴向的所有晶面称为一个晶带。 (2)晶带轴：晶带中通过坐标原点的那条平行直线称为晶带轴。 (3).晶带定律：凡属于 [uvw] 晶带的晶面，它的晶面指数(HKL)必定符合条件： Hu + Kv + Lw = 0 4 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明
二 1求A的LU分解，并利用分解结果求 解由紧凑格式 故 从而 故 2求证：非奇异矩阵不一定有LU分解 证明设非奇异，要说明A不一定能做LU分解，只需举出一个反例即可。现考虑矩阵，显然A为非奇异矩阵。若A有LU分解，则 故，而，显然不能同时成立。这矛盾说明A不能做LU分解，故只假定A非奇异并不能保证A能做LU分解，只有在A的前阶顺序主子式 时才能保证A一定有LU分解。
3用追赶法求解如下的三对角方程组 解设有分解 由公式 其中分别是系数矩阵的主对角线元素及其下边和上边的次对角线元素，故有 从而有 故，，， 故，，，
4设A是任一阶对称正定矩阵，证明是一种向量范数 证明（1）因A正定对称，故当时，，而当时， （2）对任何实数，有 （3）因A正定，故有分解，则 故对任意向量和，总有 综上可知，是一种向量范数。 5 设，，已知方程组的精确解为 （1）计算条件数； （2）若近似解，计算剩余； （3）利用事后误差估计式计算不等式右端，并与不等式左边比较，此结果说明了什么？解（1） （2） （3）由事后误差估计式，右端为 而左端
这表明当A为病态矩阵时，尽管剩余很小，误差估计仍然较大。因此，当A病态时，用大小作为检验解的准确度是不可靠的。 6矩阵第一行乘以一数成为，证明当时，有最小值 证明设，则 又 故 从而当时，即时，有最小值，且 7讨论用雅可比法和高斯-赛德尔法解方程组时的收敛性。如果收敛，比较哪一种方 法收敛较快，其中 解对雅可比方法，迭代矩阵 ， 故雅可比法收敛。 对高斯-赛德尔法，迭代矩阵
，故高斯-赛德尔法收敛。 因=故高斯-赛德尔法较雅可比法收敛快。 8设，求解方程组，求雅可比迭代法与高斯-赛德尔迭代法收敛的充要条件。 解雅可比法的迭代矩阵 ， 故雅可比法收敛的充要条件是。 高斯-赛德尔法的迭代矩阵 ，
《现代材料分析方法》期末试卷1 一、单项选择题（每题 2 分，共10 分） 1．成分和价键分析手段包括【b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和XRD （b）WDS、EDS 和XPS （c）TEM、WDS 和XPS （d）XRD、FTIR 和Raman 2．分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR）（b）NMR、FTIR 和WDS （c）SEM、TEM 和STEM（扫描透射电镜）（d）XRD、FTIR 和Raman 3．表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）(b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和X 射线光电子谱仪（XPS）(d) 扫描隧道显微镜（STM）和 SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【b 】 （a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和CO 二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题2 分，共10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×）2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）
4．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。（×）5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。（√） 三、简答题（每题5 分，共25 分） 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。 2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？ 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？ 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律 4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？ 同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化，在谱线上造成的位移称为化学位移。在XPS、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。 5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的, 试述拉曼散射的过程。 拉曼光谱的峰位是由分子基态和激发态的能级差决定的。在拉曼散射中，若光子把一部分能量给样品分子，使一部分处于基态的分子跃迁到激发态，则散射光能量减少，在垂直方向测量到的散射光中，可以检测到频率为（ν0 - Δν)的谱线，称为斯托克斯线。相反，若光子从样品激发态分子中获得能量，样品分子从激发态回到基态，则在大于入射光频率处可测得频率为（ν0 + Δν)的散射光线，称为反斯托克斯线 四、问答题（10 分） 说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。 答：阿贝成像原理（5 分）：平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱，各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式（5 分）。利用阿贝成像原理，样品对电子束起散射作用，在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱，在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时, 则将衍射谱放大，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样；当中间镜物面取在物镜的像面上时，则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。 五、计算题（10 分） 用Cu KαX 射线（λ=0.15405nm）的作为入射光时，某种氧化铝的样品的XRD 图谱如下，谱线上标注的是2θ的角度值，根据谱图和PDF 卡片判断该氧化铝的类型，并写出XRD 物相分析的一般步骤。 答：确定氧化铝的类型（5 分） 根据布拉格方程2dsinθ=nλ，d=λ/(2sinθ) 对三强峰进行计算：0.2090nm,0.1604nm,0.2588nm,与卡片10-0173 α-Al2O3 符合，进一步比对其他衍射峰的结果可以确定是α-Al2O3。 XRD 物相分析的一般步骤。（5 分） 测定衍射线的峰位及相对强度I/I1： 再根据2dsinθ=nλ求出对应的面间距 d 值。 (1) 以试样衍射谱中三强线面间距d 值为依据查Hanawalt 索引。
一.填空 1、工程质量检测的主要内容包括:建筑材料检测、地基及基础检测、主体结构检测、室内环境检测、 建筑节能检测、钢结构检测、建筑幕墙检测、建筑门窗检测、建筑智能系统检测等。 2、检测机构应对出具的检测数据与结论的真实性、规范性与准确性负法律责任 3、环境条件记录应包括环境参数测量值、记录次数、记录时间、监控仪器编号、记录人签名等、 4、用于工程检测的回弹仪必须具有产品合格证及检定单位的检定合格证。 5、回弹仪累计弹击次数超过 6000 次时应送检定单位检定。 6、回弹法测混凝土强度时,混凝土测区的面积不宜大于0、04㎡。 7、检测混凝土强度就是,如果采用钻芯修正,直径100㎜的混凝土试件,钻取芯样数量不应少于6个,若采用直径小于70㎜的芯样,则数量不应少于9个。 8、碳化深度值测量时,采用浓度为 1% 的酚酞酒精溶液。 9、非金属超声检测仪如在较长时间内停用,每月应通电一次,每次不少于 l h。 10、平面换能器的工作频率宜在50～100kHz范围以内。 11、测量回弹值应在构件测区内超声波的发射与接收面各弹击8个点。超声波单面平测时,可在超声波的发射与接收测点之间弹击16个点,每一测点的回弹值测读精确至1。 12、钻芯法对结构混凝土造成局部损伤,就是一种微(半)破损的现场检测手段。 13、钻芯机应具有足够的刚度、操作灵活、固定与移动方便,并应有水冷却系统。 14、抗压试验的芯样试件宜使用标准芯样试件,其公称直径不宜小于骨料最大粒径的3倍,也可采用小直径芯样试件,但其公称直径不应小于70mm且不得小于骨料最大粒径的2倍。 15、当用钻芯法确定单个构件的混凝土强度推定值时,有效芯样试件的数量不应少于3个;对于较小的构件,有效芯样构件的数量不得少于2个;当用于钻芯修正时,标准芯样试件的数量不应少于6个,小直径芯样试件数量宜适当增加。 16.抗压芯样试件的高度与直径之比(H/d)宜为1、00。 17、芯样试件内不宜含有钢筋,不能满足此项要求时,标准芯样试件,每个试件内最多只允许有2根直径小于10mm的钢筋。 18、比较成熟的拔出法分为预埋或先装拔出法与后装拔出法两种。 19、拔出仪显示仪表的正常使用环境为4～40℃。 20、后装拔出法强度计算时,当构件3个拔出力中的最大与最小拔出力与中间值之差均小于中间值的15％时取最小值作为该构件拔出力计算值。 21、构件的结构性能载荷试验,按其在被测构件或结构上作用载荷特性的不同,可分为静荷载试验
材料结构分析试题1（参考答案） 一、基本概念题（共8题，每题7分） 1．X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？答：X射线的本质是一种横电磁波？伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射线的本质？ 2．下列哪些晶面属于[111]晶带？ （111）、（3 21）、（231）、（211）、（101）、（101）、（133），（-1-10），（1-12）， （1- 32），（0 - 11），（212），为什么？ 答：（- 1 - 10）（3 21）、（211）、（1 - 12）、（ - 101）、（0 - 11）晶面属于[111]晶带， 因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。 3．多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族的多重性因子会发生什么变化？为什么？ 答：多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体，其{100}的多重性因子是6？如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。 4．在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力？它们的衍射谱有什么特点？ 答：在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力，它们是：第一类内应力是在物 体较大范围内或许多晶粒范围内存在并保持平衡的应力。称之为宏观应力。它能 使衍射线产生位移。第二类应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。它一般能使衍射峰宽化。第三类应力是在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。它能使衍射线减弱。 5．透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何? 答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。 其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。 6．透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何? 答：主要有三种光阑： ①聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制
1、（本题5分）试确定7 22 作为π的近似值具有几位有效数字，并确定其相对误差限。 解 因为 7 22 =3.142857…=1103142857 .0-? π=3.141592… 所以 312102 11021005.0001264.0722--?=?=<=- π （2分） 这里，3,21,0=-=+-=n n m m 由有效数字的定义可知7 22 作为π的近似值具有3位有效数字。 （1分） 而相对误差限 3102 1 0005.00004138.0001264.07 22-?= <≈= -= π π πε r （2分） 2、（本题6分）用改进平方根法解方程组：??? ?? ??=????? ??????? ??--654131*********x x x ； 解 设???? ? ??????? ? ?????? ??===????? ??--11111 1 131321112323121 32 132 31 21 l l l d d d l l l LDL A T 由矩阵乘法得： 5 7,21,215 27 ,25,2323121321- ==-== -==l l l d d d （3分） 由y D x L b Ly T 1 ,-==解得 T T x y )9 23 ,97,910(,)563, 7,4(== （3分） 3、（本题6分）给定线性方程组???????=++-=+-+=-+-=-+17 7222382311387 510432143213 21431x x x x x x x x x x x x x x 1）写出Jacoib 迭代格式和Gauss-Seidel 迭代格式； 2）考查Jacoib 迭代格式和Gauss-Seidel 迭代格式的敛散性； 解 1）Jacoib 迭代格式为
1）短波限: 连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。P7。 2）质量吸收系数 指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。P12。 3）吸收限 吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。 4）X 射线标识谱 当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。P9。 5）连续X 射线谱线 强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。P7。 6）相干散射 当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。P14。 7）闪烁计数器 闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。P54。 8）标准投影图 对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。P99。 9）结构因数 在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2 HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。P34。
主体结构试题二 一、概念题（20分） 1、局部破损检测方法 2、超声回弹综合法检测混凝土强度 3、回弹法检测砌筑砂浆强度 4、混凝土内部钢筋保护层厚度 5、抽样检测 二、填空题（10分） 1、检测单位应有固定的、健全的和相应的。 2、按检测批检测的项目，应进行，且宜符合GB/T50344-2004标准规定。 3、《钻芯法检测混凝土抗压强度技术规程》DBJ14-029-2004规定，芯样试件的直径应为 mm、 mm或 mm，且不应小于骨料最大粒径的倍。如结构或构件工作条件比较干燥，芯样试件应以状态进行试验；如结构工作条件比较潮湿，芯样试件应在状态进行试验。 4、《回弹法检测砌筑砂浆强度技术规程》DBJ14-030-2004不适用于下列情况砌筑砂浆的检测：（1）测试部位与的质量有明显差异或内部存在。（2）遭受、或。 5、钢筋混凝土构件和允许出现裂缝的预应力混凝土构件结构性能检验的检验内容包括：、和。 三、判断题（10分） 1、回弹法检测结构测区混凝土强度换算值相当于施工现场预留混凝土试块28天标养强度。（） 2、后装拔出法检测结构混凝土强度，每一结构或构件上至少均匀布置3个测点。（） 3、贯入深度测量表由百分表改制而成，应按计量仪器要求进行管理。（） 4、原位轴压法属原位测试砌体抗压强度方法，测试结果除能反映砖和砂浆的强度外，还反映了砌筑质量对砌体抗压强度的影响，因此原位轴压法测试结果综合反映了砌体的抗压、抗剪等性能。（） 5、混凝土构件结构性能检验裂缝宽度可用精度为0.2mm的刻度放大镜等进行观测。( )
四、选择题（10） 1、后置埋件锚固质量检测，对于重要结构构件及生命线工程非结构构件，应采用（ ）检验。 A 、破坏性 B 、非破坏性 C 、抗压承载力 2、混凝土构件挠度检验，应量测构件（ ）。 A 、跨中位移 B 、跨中位移和支座沉陷 C 、构件自重产生挠度和跨中挠度 3、超声回弹综合法检测混凝土抗压强度时，超声测距量测应精确至（ ）。 A 、0.1mm B 、1mm C 、0.5mm 4、回弹法检测混凝土抗压强度，被测混凝土龄期应为（ ） A 、14~1000天 B 、28~1100天 C 、14~1100天 5、砌体的受压工作应力检测应采用（ ）法。 A 、原位轴压 B 、扁顶 C 、点荷 五、简答题（20分） 1、预制混凝土构件抗裂检验，开裂荷载实测值如何确定？ 2、如何检测混凝土的碳化深度值？ 3、混凝土回弹仪在什么情况下应送进行校准或技术性能测试？ 4、按《后装拔出法检测混凝土抗压强度技术规程》DBJ14-028-2004检测混凝土抗压强度时，测点布置有哪些要求？ 六、论述题（10分） 回弹仪应如何保养？ 七、计算题（20分） 1、某烧结砖砌体结构住宅楼主体施工完毕，三层砌筑砂浆试块抗压强度未达到设计要求，建设单位要求检测三层砌筑砂浆强度，现场调查，砌筑砂浆为混合砂浆，设计强度等级为M7.5，采用符合国家标准的R32.5普通硅酸盐水泥，中砂，自然养护，龄期3个月，为减少对结构损伤，确定采用回弹法检测，原始记录见下表1，计算三层砌筑砂浆强度推定值。 注：回弹法检测砌筑砂浆强度山东地区测强曲线 1、水泥砂浆测强曲线: ) 0156.0(4280 .2,,10 003542.0i m d i m i R f -= 2、混合砂浆测强曲线： ) 0132.0(9249 .2,,10 0006384.0i m d i m i R f -=
第一章X 射线物理学基础 2、若X 射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV 时，容许的最大电流是多少？ 答：1.5KW/35KV=0.043A。 4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。 答：因X 光管是Cu 靶，故选择Ni 为滤片材料。查表得：μ m α＝49.03cm2／g，μ mβ＝290cm2／g，有公式，，，故：，解得:t=8.35um t 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。 ⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K 电子，当外层电子来填充K 空位时，将向外辐射K 系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。或二次荧光。 ⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K 电子从无穷远移至K 层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K 系的吸收限。 ⑸原子钟一个K层电子被光量子击出后，L层中一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量使L层中另一个电子获得能量越出吸收体，这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。 第二章X 射线衍射方向 2、下面是某立方晶第物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：（123），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。 答：立方晶系中三个边长度相等设为a，则晶面间距为d=a/ 则它们的面间距从大小到按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（121）、（220）、（221）、（030）、（130）、
1、（本题5分）试确定7 22作为π的近似值具有几位有效数字，并确定其相对误差限。 解 因为 7 22=3.142857…=1103142857.0-? π=3.141592… 所以 3 12 10 2 110 21005.0001264.07 22--?= ?= <=- π （2分） 这里，3,21,0=-=+-=n n m m 由有效数字的定义可知7 22作为π的近似值具有3位有效数字。 （1分） 而相对误差限 3 10 2 10005.00004138.0001264.07 22-?= <≈= -= π π πε r （2分） 2、（本题6分）用改进平方根法解方程组：???? ? ??=????? ??????? ??--654131321 112321x x x ； 解 设???? ? ? ?????? ? ?????? ??===????? ? ?--11 1 11113 1321 11232312132 1 32 31 21 l l l d d d l l l LDL A T 由矩阵乘法得： 5 7,21,21527,25,2323121321- == - == -==l l l d d d （3分） 由y D x L b Ly T 1 ,-==解得 T T x y )9 23,97,910( ,)5 63, 7,4(== （3分） 3、（本题6分）给定线性方程组??? ? ? ??=++-=+-+=-+-=-+17722238231138751043214321 321431x x x x x x x x x x x x x x 1）写出Jacoib 迭代格式和Gauss-Seidel 迭代格式； 2）考查Jacoib 迭代格式和Gauss-Seidel 迭代格式的敛散性； 解 1）Jacoib 迭代格式为