探针基础知识培训

偏振荧光光谱原理偏振荧光光谱原理详解引言：偏振荧光光谱是一种重要的技术手段，广泛应用于化学、物理、生物学等多个领域。

通过对荧光信号的偏振特性进行测量和分析，可以揭示物质的结构、动态行为以及与周围环境的相互作用。

本文将为您详细介绍偏振荧光光谱的原理和分析步骤。

第一部分：偏振荧光的基础知识1. 光的偏振性光是一种电磁波，其电场分量在空间中垂直传播方向的方向不同，可分为无偏振光、线偏振光和圆偏振光。

线偏振光具有固定的电场振动方向，而圆偏振光的电场振动方向沿着垂直传播方向旋转。

2. 荧光光谱荧光是一种物质在受到能量激发后，从高能级跃迁到低能级时放出的光。

荧光光谱是荧光的波长分布，通常可由荧光光谱仪进行测量和记录。

第二部分：偏振荧光光谱的原理1. 偏振效应原理偏振荧光光谱的原理基于荧光分子在激发和发射过程中发生的偏振效应。

激发光通常是无偏振光，而发射光的偏振状态与激发光的偏振状态有关。

通过测量和分析荧光分子产生的线偏振光的偏振特性，可以获得物质的结构和动态信息。

2. 偏振荧光的产生机制荧光分子在受到激发后，电子从基态跃迁到激发态，并在激发态停留一段时间。

在这个过程中，荧光分子与周围环境（如溶液、固体等）的相互作用引起偏振效应。

这些相互作用包括取向效应、共振能量传输效应和旋转扭转效应。

3. 偏振荧光的测量与分析为了获得物质的结构和动态信息，我们需要通过测量荧光的偏振特性。

为此，我们可以使用偏振荧光光谱仪进行实验。

该仪器可以通过包括偏振片和分光器在内的光学元件，对荧光信号的偏振度进行测量和分析。

第三部分：偏振荧光光谱的应用1. 蛋白质结构分析偏振荧光光谱可用于研究蛋白质的构象和动态行为。

通过测量和分析荧光蛋白质的偏振特性，可以揭示其分子结构和溶剂化特性。

2. 荧光标记探针偏振荧光光谱可用于研究荧光标记探针和生物分子的相互作用。

通过测量和分析探针的偏振特性变化，可以揭示探针与靶分子之间的结合方式和状况。

3. 材料科学研究偏振荧光光谱在材料科学研究中也有重要应用。

原子力显微镜基础知识解读原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜，可用于研究物质的表面形态、力学性质等。

AFM采用扫描探针从样品表面扫描，利用针尖与样品表面的相互作用力来获得样品表面的形貌信息。

AFM具有高分辨率、非接触测量、可以在常温常压下进行实验等优点，因此被广泛应用于物理、化学、材料等多个领域的研究。

AFM工作原理AFM探头在扫描样品表面的过程中，通过针尖与样品表面的相互作用力（包括原子间力、化学键力、范德华力、弹性力等）来感知样品表面形态信息。

AFM采用的采样频率一般在几十赫兹到几百赫兹之间，探测范围在纳米到微米之间，精度可达纳米级别。

AFM探测原理大体可以分为力-位移探测和干涉仪探测两种方式。

力-位移探测是利用弹性探针尖部与样品表面间的相互作用力来感知样品表面形态信息。

探针在扫描样品表面时，探针尖部的位置发生微小变化，这种变化可以通过晶体谐振试验测量得到。

干涉仪探测则是采用光学干涉原理，通过探针尖部的振动干涉信号来获得样品表面形态的信息。

AFM应用领域AFM在各个领域有着广泛的应用。

在表面形态方面，AFM可以获得样品表面形貌、粗糙度、角度等信息。

在生物领域，AFM 可以用于测量蛋白质、DNA、细胞等的力学性质，如弹性模量、形变硬度等。

在材料科学领域，AFM可以用于材料表面物理性质的研究，如表面润湿性、磁性、电学性质等。

在纳米科技领域，AFM可以用于制备纳米结构及其表面形态研究等。

使用AFM时需要注意的事项在使用AFM时需注意：1、准备好样品。

样品应具备光洁度、平整度等要求，要排除可能引起探针损坏或测量误差的因素。

2、确定扫描范围。

根据需要获得的样品表面信息，确定扫描范围及分辨率。

3、选择适量的力度。

根据样品类型及探针硬度等因素，选择适量的力度。

4、检测探针。

检测探针的质量及硬度等特性。

5、设置参数。

根据采样方式、探租类型及大小等，设置相应的参数。

三坐标基础培训手册教材（一）三坐标测量机概述一、三坐标测量机的概念三坐标测量机的测量功能有二个：一是对工件几何尺寸的测量；二是对工件的形位公差的测量，并可用于逆向工程。

其测量的数据通过计算机进行运算及数据处理，将所需结果（数据）打印出来，并绘制出图形。

二、什么叫形位公差？形位公差分为形状公差和位置公差。

(1）形状公差：构成零件的几何特征的点，线，面元素之间的实际形状相对与理想形状的允许变动量。

给出形状公差要求的元素称为被测元素。

(2）位置公差：零件上的点，线，面元素的实际位置相对与理想位置的允许变动量。

用来确定被测元素位置的元素称为基准元素。

(1)理想元素和实际元素具有几何学意义的元素称为理想元素.零件上实际存在的元素称为实际元素,通常都以测得元素代替实际元素.(2)被测元素和基准元素在零件设计图样上给出了形状或(和)位置公差的元素称为被测元素.用来确定被测元素的方向或(和)位置的元素,称为基准元素.(3)单一元素和关联元素给出了形状公差的元素称为单一元素.给出了位置公差的元素称为关联元素.三、机器的结构以及特点（一）机器采用桥式结构（二）结构特点1.结构刚性好、承重能力大、空间开阔、布局合理、操作简单、维修方便、采用空气轴承、移动轻便。

2.工作台是机器的基准，采用高精度的大理石。

大理石的主要优点是变形小、稳定性好、不生锈，易于作平面加工，易于达到比铸铁更高的平面度，适合制作高精度的平台与导轨。

目前许多三坐标测量机采用这种材料。

机器的基座、工作台、桥框、各轴导轨、Z轴等全用花岗岩制造。

由于花岗石的热膨胀系数小，很适合与气浮导轨配合。

使用中应注意防水防潮，禁止用混水的清洗剂擦拭花岗石表面，也应防气体中的水分对导轨的影响。

四、机器的工作原理与用途（一）机器的工作原理将被测工件放置在三坐标测量机的平台上，移动X、Y、Z三轴，对工件进行测量，便可获得被测几何形面上各测点的几何坐标尺寸经过计算和数据处理，可求出待测几何尺寸和相互位置尺寸以及形位误差值。

三坐标测量员应该了解的三坐标测针常识总结一：什么是三坐标测针测针是三坐标策略系统的组成部分,它与被测工件接触，使测头机构产生位移。

所产生的信号经处理得出策略结果。

被测工件的外形特征将决定要采用的测针类型和大小。

在所有情况下，测针的最大刚性和测球的球度都至关重要。

为了达到这一要求,Rｅnｉshaw的测针杆按照严格的标准在数控机床上生产。

我们格外注意保证测针刚性最高，同时测针质量经过最优化处理以适用于Rｅnｉsｈaw的各种测头。

Rｅnishaw原产测球是按最高标准制造，保证与测针杆的链接能达到最佳的完整性。

如果您使用的测球球度差、位置不正、螺纹公差大、或因设计不当使测量时产生过量的扰度变形,则很容易降低测量效果。

为了确保您采集的数据的正确性,请务必从Renisｈaw原产的全系列测针中指定和选用测针。

二、三坐标测针的专业术语：总长度:雷尼绍对测针总长度的标准定义,是从测针的后安装端面到测球中心的长度。

有效工作长度:有效工作长度是在零件发现方向测量时从测球中心道测针杆与被测目标干涉点之间的距离。

三、如何正确选择测针１、尽量选用短测针测针弯曲或变形量越大,精度月底，使用近可能短的测针２、尽量减少接头每增加一个饿着呢的测杆的链接，便增加了一个潜在的弯曲和变性点。

所以使用中应尽量减少三坐标测针的组件数。

３、选用的测球直径要尽量大一是这样能增大测球、测针杆的距离，从而减少由于碰撞测针杆所引起的误触发。

其次测球直径越大,被测工件表面光洁度的影响越小。

查看更多三坐标技术知识请到:扩展阅读：三坐标测量技术小结三坐标三坐标测量机,它是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器,又称为三坐标测量仪或三坐标量床。

三坐标测量机的工作原理:任何形状都是由空间点组成的,所有的几何量测量都可以归结为空间点的测量,因此精确进行空间点坐标的采集,是评定任何几何形状的基础。

坐标测量机的基本原理是将被测零件放入它允许的测量空间，精确的测出被测零件表面的点在空间三个坐标位置的数值，将这些点的坐标数值经过计算机数据处理，拟合形成测量元素,如圆、球、圆柱、圆锥、曲面等,经过数学计算的方法得出其形状、位置公差及其他几何量数据。

荧光原位杂交技术(fish)的基本原理和应用理论说明1. 引言1.1 概述荧光原位杂交技术（Fluorescence in situ Hybridization，简称FISH）是一种广泛应用于生物学研究的重要技术。

它通过在细胞或组织水平上定位和检测特定DNA或RNA序列的分布情况，可以提供关于基因组结构、功能和表达的有价值信息。

该技术最早于20世纪80年代被开发出来，并且经过不断改进与扩展，如今已成为分子生物学研究中不可或缺的工具之一。

1.2 文章结构本文将首先介绍荧光原位杂交技术的基本原理，包括DNA探针的选择与设计、杂交反应条件的优化以及检测与可视化方法。

然后，我们将深入探讨荧光原位杂交技术在生物医学研究领域、植物遗传研究领域和动物进化研究领域的应用实例。

接下来，我们将评述荧光原位杂交技术的优势与局限性，包括其高灵敏度、高分辨率等优势以及对样本处理要求高、无法确定基因功能等局限性。

最后，我们将给出结论并展望荧光原位杂交技术的未来发展方向。

1.3 目的本文的目的是系统地介绍荧光原位杂交技术的基本原理和应用领域，以帮助读者深入了解这一重要技术。

通过阅读本文，读者将能够全面了解荧光原位杂交技术在生物学研究中的作用和意义，并对该技术的优势与局限性有所了解。

此外，本文也将探讨该技术未来可能的发展方向，为读者提供展望与思考。

2. 荧光原位杂交技术基本原理:2.1 DNA探针的选择与设计:荧光原位杂交技术（FISH）是一种利用DNA或RNA分子作为探针，通过特异性互补配对识别和定位目标序列的方法。

在进行FISH实验时，首先需要选择合适的DNA探针。

DNA探针通常由由人工合成的寡聚核苷酸（oligonucleotide）或从天然来源提取得到的全长DNA片段构建而成。

选择DNA探针时，需要考虑以下因素：首先是目标序列的特异性，即该序列在待检测样品中是否具有较高的丰度，并且只存在于感兴趣的目标区域中。

其次是探针长度和两个主要互补区域之间核苷酸序列的碱基组成比例。

测量机基础知识培训一、测量机的组成1）测量机主机这是测量机的基本硬件，有多种结构形式：活动桥式；活动桥式测量机是使用最为广泛的一种机构形式。

特点是开敞性比较好，视野开阔，上下零件方便。

运动速度快，精度比较高。

有小型、中型、大型几种形式。

固定桥式；固定桥式测量机由于桥架固定，刚性好，动台中心驱动、中心光栅阿贝误差小，以上特点使这种结构的测量机精度非常高，是高精度和超高精度的测量机的首选结构。

高架桥式；高架桥式测量机适合于大型和超大型测量机，适合于航空、航天、造船行业的大型零件或大型模具的测量。

一般都采用双光栅、双驱动等技术，提高精度。

水平臂式；水平臂式测量机开敞性好，测量范围大，可以由两台机器共同组成双臂测量机，尤其适合汽车工业钣金件的测量。

关节臂式。

关节臂式测量机具有非常好的灵活性，适合携带到现场进行测量，对环境条件要求比较低。

活动桥式测量机为例，主要组成及功能：工作台（一般采用花岗石），用于摆放零件支撑桥架；工作台放置零件时，一般要根据零件的形状和检测要求，选择适合的夹具或支撑。

要求零件固定要可靠，不使零件受外力变形或其位置发生变化。

大零件可在工作台上垫等高块，小零件可以放在固定在工作台上的方箱上固定后测量。

桥架，支撑Z滑架，形成互相垂直的三轴；桥架是测量机的重要组成部分，由主、附腿和横梁、滑架等组成。

桥架的驱动部分和光栅基本都在主腿一侧，附腿主要起辅助支撑的作用。

由于这个原因，一般桥式测量机的横梁长度不超过2.5米，超过这个长度就要使用双光栅等措施对附腿滞后的误差进行补偿，或采用其他机构形式。

滑架，使横梁与有平衡装置的Z轴连接；滑架连接横梁和Z轴，其上有两轴的全部气浮块和光栅的读数头、分气座。

气浮块和读数头的调整比较复杂，直接影响测量机精度，不允许调整。

导轨，具有精度要求的运动导向轨道，是基准；导轨是气浮块运动的轨道，是测量机的基准之一。

压缩空气中的油和水及空气中的灰尘会污染导轨，造成导轨道直线度误差变大，使测量机的系统误差增大，影响测量精度。

ESD防护基础知识培训考试试卷学员姓名：学员工号：得分：一、填空题（每题2分，总分20分），答错扣2分。

1、ESD指（静电放电）。

2、静电的带电方式有（接触传导）、（剥离）、（感应）、（断裂）带电。

3、人能感觉到的静电释放最少为（2000 ）伏。

4、静电指（物体表面所带过剩，处于静止不动的电荷）。

5、如何消除绝缘体表面产生的静电？答:（使用离子风机中和静电荷）。

6、静电的危害：（造成线路板及电子元器件损伤）、（造成元器件性能劣化）、（导致生产良率降低，增加返工成本）。

7、人体放电模型是（HBM ），CDM指（带电器件）模型。

8、处理静电敏感件操作要求：（不许放置或带入可能产生静电的绝缘物品）9、静电防护基本原则：原则一（静电敏感器件打开包装的操作只能在EPA中进行），原则二（离开EPA的静电敏感器件，必须使用屏蔽包装袋或容器存放、运送）。

10、什么是EPA？（防静电保护区 )，设立静电保护区可以是（整个工作台、车间、房间、区域）。

二、单选题:（每题3分，答错不得分）1、以下哪一类可阻止静电穿过或透入的包装材料:（ A ）A、真空屏蔽袋B、PE袋C、红色气泡袋D、文件袋2、车间二级EPA区的湿度控制范围是( B )。

A、40-60%RHB、35-75%RHC、45-75%RHD、30-60%RH3、接地链接触地面长度应大于( C )厘米。

A、3厘米B、5厘米C、10厘米D、15厘米4、以下哪种静电接地方式错误 ( C ) A、所有接触器件的物体采用等电位接地 B、以坐姿操作时穿戴好静电手环接地C、以坐姿操作时穿戴好静电鞋与地面接地D、工作台面通过装静电扣连接线接地5、生产过程中的哪一项必须安装静电地线接地，以达到静电泄放的目的( C )。

A、产品推车B、抗疲劳地垫C、工作台垫D、防静电箱6、通过安装（ B ）可以有效中和物体表面的静电荷？A、接地线B、离子风机C、静电接地扣D、静电皮7、绝缘材料的标准管控要求是( A )。