半导体器件物理
- 格式:doc
- 大小:51.00 KB
- 文档页数:8
半导体器件物理名词解释篇一半导体器件物理里有好多重要名词呢。
先说能带,这玩意儿就像是一群电子的“能量俱乐部”。
不同能量的电子在不同的能带里玩耍。
低能量的电子在价带里待着,价带就像是电子的“温馨小窝”。
高能量的电子呢,可以跑到导带里去撒欢。
导带和价带之间有个区域叫禁带宽度。
禁带宽度可重要啦!它决定了半导体能不能导电。
如果禁带宽度小,电子就容易从价带跳到导带,这样的半导体就容易导电。
要是禁带宽度大,电子就很难跳过去,半导体就不太容易导电。
载流子也是个关键角色。
载流子有两种,电子和空穴。
电子带负电,空穴带正电。
在半导体中,电子和空穴就像一群忙碌的小蜜蜂,跑来跑去传递电流。
载流子的浓度和迁移率决定了半导体的导电性能。
浓度越高,迁移率越大,导电性能就越好。
这些名词在半导体器件中那可是至关重要。
比如二极管,它就是利用半导体的单向导电性制成的。
在二极管中,能带结构决定了电流只能从一个方向通过。
当加上正向电压时,电子从N 区向P 区流动,空穴从P 区向N 区流动,形成电流。
当加上反向电压时,电子和空穴的流动被阻止,几乎没有电流通过。
再说说三极管,三极管可以放大电流。
它的工作原理也和能带、载流子等名词密切相关。
在三极管中,通过控制基极的电流,可以改变发射极和集电极之间的电流。
这是因为基极的电流可以改变载流子的浓度和分布,从而影响发射极和集电极之间的导电性能。
还有场效应管,它也是一种重要的半导体器件。
场效应管的导电性能取决于栅极电压对沟道中载流子的控制作用。
当栅极电压改变时,沟道中的能带结构也会发生变化,从而影响载流子的浓度和迁移率,进而改变场效应管的导电性能。
半导体器件物理中的这些名词对于理解和设计半导体器件至关重要。
只有深入理解这些名词的含义和作用,才能更好地设计和制造出高性能的半导体器件。
未来,随着科技的不断进步,半导体器件的性能也会不断提高,这些名词也将继续发挥着重要的作用。
篇二PN 结嘿,这可是半导体器件里超重要的一个玩意儿。
国科⼤-半导体器件物理第⼀章半导体物理基础1.主要半导体材料的晶体结构。
简单⽴⽅(P/Mn)、体⼼⽴⽅(Na/W)、⾯⼼⽴⽅(Al/Au)⾦刚⽯结构:属⽴⽅晶系,由两个⾯⼼⽴⽅⼦晶格相互嵌套⽽成。
Si Ge闪锌矿结构(⽴⽅密堆积),两种元素,GaAs, GaP等主要是共价键纤锌矿结构(六⽅密堆积),CdS, ZnS闪锌矿和纤锌矿结构的异同点共同点:每个原⼦均处于另⼀种原⼦构成的四⾯体中⼼,配种原⼦构成的四⾯体中⼼,配位数4不同点:闪锌矿的次近邻,上下彼此错开60,⽽纤锌矿上下相对2.⾦属、半导体和绝缘体能带特点。
1)绝缘体价电⼦与近邻原⼦形成强键,很难打破,没有电⼦参与导电。
能带图上表现为⼤的禁带宽度,价带内能级被填满,导带空着,热能或外场不能把价带顶电⼦激发到导带。
2)半导体近邻原⼦形成的键结合强度适中,热振动使⼀些键破裂,产⽣电⼦和空⽳。
能带图上表现为禁带宽度较⼩,价带内的能级被填满,⼀部分电⼦能够从价带跃迁到导带,在价带留下空⽳。
外加电场,导带电⼦和价带空⽳都将获得动能,参与导电。
3)导体导带或者被部分填充,或者与价带重叠。
很容易产⽣电流3.Ge, Si,GaAs能带结构⽰意图及主要特点。
1)直接、间接禁带半导体,导带底,价带顶所对应的k是否在⼀条竖直线上2)导带底电⼦有效质量为正,带顶有效质量为负3)有效质量与能带的曲率成反⽐,导带的曲率⼤于价带,因此电⼦的有效质量⼤;轻空⽳带的曲率⼤,对应的有效质量⼩4.本征半导体的载流⼦浓度,本征费⽶能级。
5.⾮本征半导体载流⼦浓度和费⽶能级。
<100K 载流⼦主要由杂质电离提供杂质部分电离区(凝固区) 。
100~500K,杂质渐渐全部电离,在很⼤温度范围内本征激发的载流⼦数⽬⼩于杂质浓度,载流⼦主要由掺杂浓度决定。
饱和电离区。
>500K,本征激发的载流⼦浓度⼤于掺杂浓度,载流⼦主要由本征激发决定。
本征区。
6.Hall效应,Hall迁移率。
半导体器件物理与工艺期末考试题一、简答题1.什么是半导体器件?半导体器件是利用半导体材料的电子特性来实现电流的控制与放大的电子元件。
常见的半导体器件包括二极管、晶体管、场效应管等。
2.请简述PN结的工作原理。
PN结是由P型半导体和N型半导体连接而成的结构。
当外加正向偏置时,P端为正极,N端为负极,电子从N端向P端扩散,空穴从P 端向N端扩散,形成扩散电流;当外加反向偏置时,P端为负极,N端为正极,由于能带反向弯曲,形成电势垒,电子与空穴受到电势垒的阻拦,电流几乎为零。
3.简述晶体管的工作原理。
晶体管是一种三极管,由一块绝缘体将N型和P型半导体连接而成。
晶体管分为三个区域:基区、发射区和集电区。
在正常工作状态下,当基极与发射极之间施加一定电压时,发射极注入的电子会受到基区电流的控制,通过基区电流的调节,可以控制从集电区流出的电流,实现电流的放大作用。
4.请简述场效应管的工作原理。
场效应管是利用电场的作用来控制电流的一种半导体器件。
根据电场的不同作用方式,场效应管分为增强型和耗尽型两种。
在增强型场效应管中,通过控制栅极电压,可以调节漏极与源极之间的通导能力,实现电流的控制与放大。
5.简述MOSFET的结构和工作原理。
MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应管)是一种常用的场效应管。
它由金属栅极、氧化物层和P型或N型半导体构成。
MOSFET的工作原理是通过改变栅极电势来控制氧化物层下方的沟道区域的电阻,从而控制漏极与源极之间的电流。
6.什么是集电极电流放大系数?集电极电流放大系数(β)是指集电区电流(Ic)与发射区电流(Ie)之间的比值。
在晶体管中,β值越大,表示电流放大效果越好。
7.简述三极管的放大作用。
三极管作为一种电子元件,具有电流放大的功能。
通过控制基区电流,可以影响发射极与集电极之间的电流,从而实现电流的放大作用。
二、计算题1.已知一个PN结的硅材料的势垒高度为0.7V,求该PN结的电势垒宽度。
半导体器件物理半导体器件物理学是电子学领域中一个重要的学科,它将物理学理论应用于半导体器件中,以提高半导体器件的性能、可靠性和可用性。
在这个新兴的领域中,有一些重要的概念和理论,它们对于半导体器件的设计、开发、制造和实现都具有重要意义。
首先要探讨的是半导体材料。
半导体材料是半导体器件的基础,有硅、砷化镓、氮化镓和III-V族材料等类型。
它们是半导体物理学中的核心理论,在器件的性能、可靠性和可用性方面发挥着重要作用。
例如,硅材料具有高集成度、易于集成、高可靠性和低成本等特点,以及高散热系数和低功耗等优点,在微电子领域得到广泛使用;砷化镓可用于制造大功率器件,具有良好的形状特性;氮化镓具有低漏电流的特点,可用于制作稳压器件;III-V族材料可以进行光电转换,用于制作集成激光器、光探测器等器件。
其次是半导体器件的基本工作原理。
半导体器件的性能主要取决于半导体材料的性质和工作原理,它们是半导体物理学的基本模型。
主要有二极管特性、多极管特性、器件动态特性和输出特性等几大类。
半导体器件的两种基本极性是正向和反向,在正向极性下,封装材料和金属电极之间的电压会导致电路中的电流流动,而反向极性则对电路中的电流进行抑制,从而提高电路的稳定性。
此外,半导体器件还可以控制信号的传输特性,例如动态响应和输出特性等,这些特性对于电路的可靠性和可用性有着重要的影响。
在半导体物理学中,量子物理学也起着重要作用。
在半导体器件中,量子物理学能够有效地描述电子密度分布、器件物理性质以及器件的工作原理,它与器件的可靠性和可用性有着密切的联系。
此外,由于量子效应的存在,半导体器件的工作特性会有不同的变化,从而提高设备的性能。
最后,有几种重要的半导体器件制造工艺。
主要的工艺有晶圆制造、芯片制造、集成电路制造、晶体管封装等,每种制造工艺都有其独特的特点,可满足不同的需求。
此外,在半导体器件引入市场前,还需要由相关团队进行全面的测试,以确保器件的可靠性。
半导体器件的物理原理半导体器件是当今科技进步的重要基石,广泛应用于电子设备、通信技术和能源转换等领域。
半导体器件的物理原理涉及到晶体结构、载流子运动以及电子能带等概念,下面将从这些方面展开论述。
晶体结构是半导体器件物理原理的基础。
半导体材料通常采用单晶或多晶的结构,其中单晶具有高度有序的原子排列,能够提供更好的电子传输通道。
晶体结构中的晶格常数以及晶格点的配位数决定了材料的载流子密度和能带结构。
例如,硅(Si)是一种常用的半导体材料,其晶格常数较大,晶格点配位数为4,因此具有较高的载流子密度,适用于大功率器件。
而锗(Ge)是另一种半导体材料,晶格常数较小,晶格点配位数为4,因此具有较低的载流子密度,更适用于低功率器件。
载流子运动是半导体器件工作的关键。
半导体材料中的载流子主要包括自由电子和空穴。
自由电子具有负电荷,在外电场的作用下形成电流;而空穴则相当于正电荷缺失的位置,同样能够参与电流的传输。
半导体材料内的载流子运动受到晶格振动、杂质掺杂以及温度等因素的影响。
在零温下,半导体处于绝缘态,载流子几乎没有运动能力;而在高温下,载流子的运动能力增强,半导体逐渐变为导体。
半导体器件的物理原理还涉及到电子能带结构。
在晶体中,电子的能量将按照一定规律排列成能带。
最低能量的能带称为价带,其中填满了电子;而最高能量的能带称为导带,其中没有或仅有极少数的电子。
半导体材料的价带和导带之间的能带隔离称为禁带宽度,它决定了半导体的导电性能。
当禁带宽度较小时,外界的微弱电场就能够激发半导体中的载流子,使其变为导体;而禁带宽度较大时,外界电场的激发能力较弱,使得半导体呈现绝缘性。
通过控制禁带宽度,我们可以调节半导体器件的电导率,从而实现对电流的精确控制。
为了实现特定的功能,半导体器件常常需要经过复杂的工艺制造。
例如,晶体管是一种重要的半导体器件,它通过控制电场和电流的作用,实现对电路的放大和开关功能。
晶体管的制造过程包括材料生长、掺杂、薄膜沉积、光刻、蚀刻等多个步骤,每个步骤都需要精确控制参数,以确保器件的性能和可靠性。
半导体器件物理
Physics of Semiconductor Devices
教学大纲
课程名称:半导体器件物理
课程编号:M832001
课程学分:2
适用专业:集成电路工程领域
一、课程性质
本课程的授课对象为集成电路工程专业硕士研究生,课程属性为专业基础必修课。
要求学生在学习过《电路分析》,《数字电路》,《模拟电路》和《半导体物理》的基础上选修这门课程。
二、课程教学目的
通过本课程教学,使得学生知道微电子学的用途、主要内容,明白学习微电子学应该掌握哪些基础知识;对微电子学的发展历史、现状和未来有一个比较清晰的认识;学会应用《半导体物理》的基础知识来对半导体器件物理进行分析,初步掌握电子器件物理、工作原理等基本概念,对微电子学的整体有一个比较全面的认识。
三、教学基本内容及基本要求
第一章微电子学常识
(一)教学基本内容
第一节晶体管的发明
1.1 晶体管发明的历史过程
1.2 晶体管发明对现代文明的作用
第二节集成电路的发展历史
2.1 集成电路的概念
2.2 集成电路发展的几个主要里程碑
2.3 目前集成电路的现状
2.4 集成电路未来发展的主要趋势
第三节集成电路的分类
3.1 集成电路的分类方法
3.2 MOS集成电路的概念
3.3 双极集成电路的概念
第四节微电子学的特点
4.1 微电子学的主要概念
4.2 微电子学的主要特点
(二)教学基本要求
了解:晶体管发明的过程,晶体管发明对人类社会的作用;
微电子学的概念,微电子学的特点;
掌握:集成电路的概念,集成电路发展的几个主要里程碑;集成电路的分
类方法,MOS集成电路的概念,双极集成电路的概念;第二章p-n结二极管
(一)教学基本内容
第一节p-n结的空间电荷区
1.1 p-n结的结构和制造概述
1.2 p-n结的空间电荷层和内建电场、内建电势
1.3 p-n结的耗尽层(势垒)电容
第二节p-n结的直流特性
2.1 p-n结中载流子的注入和抽取
2.2 理想p-n结的伏-安特性
2.3 实际p-n结的伏-安特性
2.4 大注入时p-n结的伏-安特性
2.5 实际p-n结的电流、正向结电压与温度的关系
第三节p-n结的小信号特性
3.1 p-n结的交流电流密度
3.2 扩散电容C d
第四节p-n结的开关特性
4.1 p-n结中少数载流子存储的电荷
4.2 p-n结的瞬变过程
4.3 p-n结反向恢复时间的计算
第五节p-n结的击穿特性
5.1 隧道击穿(Zener击穿)
5.2 雪崩击穿
第六节Schottky二极管
6.1 理想的金属-半导体接触
6.2 实际的金属-半导体接触
6.3 Schottky二极管的导电性
第七节Ohm接触
7.1 Ohm接触的概念和定义
7.2 Ohm接触实现的工艺措施
7.3 Ohm接触实现的设计方法
(二)教学基本要求
掌握:PN结的结构
理解:PN结的基本工作原理,正向特性,反向特性
了解:PN结中的能带图,PN结的击穿,PN结的电容第三章双极型晶体管(BJT)
(一)教学基本内容
第一节基本工作原理与直流特性
1.1 BJT的基本结构和特点
1.2 BJT的放大作用
1.3 BJT的电流成分和放大性能参数
1.4 理想BJT中载流子浓度的分布
1.5 理想的BJT的电流-电压特性
1.6 影响直流放大系数的一些因素
第二节BJT的模型
2.1 缓变基区晶体管(漂移晶体管)
2.2 实际BJT中的一些重要效应
2.3 BJT的击穿效应和穿通效应
2.4 BJT的特性曲线
2.5 BJT的直流小信号参数
2.6 BJT的E-M模型
2.7 BJT的G-P模型
第三节频率特性
3.1 BJT的交流小信号放大系数
3.2 提高BJT频率特性的措施
3.3 BJT的微波特性
第四节功率特性
4.1 最大集电极电流
4.2 BJT的安全工作区
4.3 发射极条的有效尺寸和发射极线电流密度
4.4 晶体管的最大耗散功率
4.5 BJT的二次击穿
第五节开关特性
5.1 BJT的开关状态
5.2 开态和关态时晶体管中少数载流子浓度的分布5.3 BJT的开关时间
5.4 开关晶体管的正向压降和饱和压降
5.5 BJT的尺寸缩小规则
(二)教学基本要求
掌握:双极晶体管的结构
理解:双极晶体管的工作原理,特性曲线
了解:双极晶体管的电流传输机制,晶体管的放大原理,放大系数,反向电流和击穿电压,频率特性
第四章场效应晶体管(FET)
(一)教学基本内容
第一节结型场效应晶体管(JFET)
1.1 JFET的基本性能
1.2 JFET的直流参数和低频小信号交流参数
1.3 JFET的频率特性
1.4 短沟道JFET的特性
1.5 JFET的结构举例
1.6 砷化镓金属栅场效应晶体管
1.7 高电子迁移率晶体管
第二节MOS型场效应晶体管(MOSFET)
2.1 大尺寸MOSFET
2.2 小尺寸MOSFET
2.3.SOI-MOSFET
(二)基本要求
掌握:MOS晶体管的结构,MOS晶体管的基本工作原理,阈值电压
理解:MOS晶体管的种类,特性曲线
了解:MOS晶体管的电容
四、本课程与其它相关课程的联系与分工
前修课程:《电子电路(模电)》、《半导体物理》;
后续课程:《模拟集成电路》;
五、实践环节教学内容的安排与要求
无
六、本课程课外练习的要求
课内/外的时间比:1:1.5
课外作业:主要作业以习题为主,还有实验报告。
要求学生独立完成,限期提交。
七、本课程的教学方法及使用现代化教学手段方面的要求
课程教学采用计算机多媒体投影,内容有Powerpoint、录像光盘放映等八、本课程成绩的考查方法及评定标准
平时成绩占30% (其中出勤成绩占10%,作业成绩占20%),期末考试成绩占70%。
九、教材及参考书
教材:姜岩峰/谢孟贤编著,《微纳电子器件》,化学工业出版社,2004
参考书:
[1]施敏著,《半导体器件物理》,科学出版社,2002
[2]刘光廷编,《半导体器件物理作用理论》,东南大学出版社,1991 十、课程各章节学时分配
大纲撰写人:孙海燕
学科、专业负责人:戴澜
学院负责人:王月海
制(修)订日期:2016年11月。