电子元器件检验规范标准书

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电子元器件检验规范标准书

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2011/03/30 / 系统文件新制定 4 A/0 / / /

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部分电子元器件检验规范标准书

IC类检验规范(包括BGA)

1. 目的 作为IQC人员检验IC类物料之依据。

2. 适用范围 适用于本公司所有IC(包括BGA)之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。 4.允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 无

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注

包装检验 MA a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否

都正确,任何有误,均不可接受。

b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。 目检

数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接

受。 目检

点数

外观检验 MA a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;

b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;

c.

本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;

d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超

过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;

e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;

f. 元件脚弯曲,偏位, 缺损或少脚,均不可接受; 目检或

10倍以上

的放大镜 检验时,必须佩带静电带。

备注:凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。

(三) 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)

1. 目的 便于IQC人员检验贴片元件类物料。

2. 适用范围 适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感…)之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4.允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 《LCR数字电桥操作指引》

《数字万用表操作指引》

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。

b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。 目检

数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。 目检

点数

外观检验 MA a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;

b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;

c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;

d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;

e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受; 目检

10倍以上的放大镜 检验时,必须佩带静电带。

电性检验 MA 元件实际测量值超出偏差范围内. LCR测试仪

数字万用表 检验时,必须佩带静电带。

二极管类型 检 测 方 法

LED 选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极

管不合格。

注:有标记的一端为负极。

其它二极管 选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。

注:有颜色标记的一端为负极。

备注 抽样计划说明:对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每

盘中取3~5pcs元件进行检测;AQL不变。检验方法见"LCR数字电桥测试仪操作指引" 和"

数字万用表操作指引"。

(四) 插件用电解电容.

1. 目的 作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。

2. 适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4. 允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 《LCR数字电桥操作指引》、

《数字电容表操作指引》。

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注 包装检验 MA a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否

都正确,任何有误,均不可接受。 目检

数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接

受。 目检

点数

外观检验 MA a. 极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受;

b. 电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受;

c. 本体变形,破损等不可接受;

d.Pin生锈氧化,均不可接受。 目检

可焊性检验 MA a.Pin上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使

用之合格的松香水,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡;如果不是则拒收) 实际操作 每LOT取5~10PCS在

小锡炉上验

证上锡性

尺寸规格检验 MA a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。 卡尺 若用于新的Model,需在PCB上对应的位置进行试插

电性检验 MA a. 电容值超出规格要求则不可接受。 用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测

(五) 晶体类检验规范

1. 目的 作为IQC人员检验晶体类物料之依据。

2. 适用范围 适用于本公司所用晶体之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4. 允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 《数字频率计操作指引》

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注

包装检验 MA a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都

正确,任何有误,均不可接受。 目检

数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接

受。 目检

点数 外观检验 MA a. 字体模糊不清,难以辨认不可接受;

b. 有不同规格的晶体混装在一起,不可接受;

c. 元件变形,或受损露出本体等不可接受;

d. Pin生锈氧化、上锡不良,或断Pin,均不可接受。 目检 每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性

电性检验 MA a. 晶体不能起振不可接受;

b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。 测试工位

和数字频率计

电性检测方法

晶体 检 测 方 法

32.768KHz

16.934MHz

25.000MHz 在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后,用调试好的数字频率计测量晶体,看

测量的频率是否在规格范围内,若不能开机或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。

24.576MHz 在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等,再接通电源开机,看能否正常开机显示;在正常开机

显示后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内,若不能开机显示或测量值不在规

格范围内,则该晶体不合格。

(六) 三极管检验规范

1. 目的 作为IQC人员检验三极管类物料之依据。

2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4. 允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 无

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注

包装检验 MA a. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否

都正确,任何有误,均不可接受。

b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。 目检

数量检验 MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接

受。 目检

点数 外观检验 MA a. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;

b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;

c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;

d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超

过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;

e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受。 目检

10倍以上的放大镜 检验时,必须佩带静电带。

电性检验 无

(七)排针&插槽(座)类检验规范

1. 目的 作为IQC人员检验排针&插槽(座)类物料之依据。

2. 适用范围 适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。

3. 抽样计划 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。

4. 允收水准(AQL) 严重缺点(CR): 0;

主要缺点(MA): 0.4;

次要缺点(MI): 1.5.

5. 参考文件 无

检验项目 缺陷属性 缺陷描述 检验方式 备注

包装检验 MA 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。 目检

数量检验

MA a. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;

实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。 目检

点数

外观检验 MA a. Marking错或模糊不能辩认;

b. 塑料与针脚不能紧固连接;

c. 塑料体破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水;

d. 过锡炉后塑料体外观变色,变形,脱皮;

e. 针脚拧结,弯曲,偏位, 缺损,断针或缺少;

f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;

g. 针脚端部成蘑菇状影响安装. 目检

焊锡性检验 MA a.PIN上锡不良,或完全不上锡,均不可接受;(将零件脚插入

现使用之合格松香水内,全部浸润,再插入小锡炉5秒钟