射频杂散的测试环境搭建及测试方法说明

wifi 杂散测试标准Wifi杂散测试是指对wifi信号的杂散干扰进行测试和评估的过程。

在无线通信中，杂散干扰是指无线信号发射中，除了目标信号外，其他不相关的信号对目标信号的干扰。

这些杂散干扰会导致信号质量下降，影响WiFi网络的稳定性和传输速率。

因此，对WiFi的杂散干扰进行测试和评估可以帮助我们了解当前网络环境中的干扰源，并采取相应的措施来提高网络性能。

首先，进行WiFi杂散测试需要准备一些测试设备和工具，如无线网络分析仪、频谱分析仪等。

这些设备可以帮助我们监测当前环境中的信号强度、频谱使用情况和杂散干扰源。

在进行WiFi杂散测试时，我们通常需要关注以下几个方面：1.信号强度：使用无线网络分析仪对当前环境中的WiFi信号强度进行测试。

信号强度越强，WiFi的覆盖范围越大，信号质量越好。

2.频谱使用情况：使用频谱分析仪对当前环境中的频谱使用情况进行测试。

频谱使用情况反映了当前环境中的WiFi信道的占用情况。

在选择WiFi信道时，需要避开已经被其他无线设备占用的信道，以减少互相干扰。

3.杂散干扰源：使用无线网络分析仪对当前环境中的杂散干扰源进行测试。

杂散干扰源可能来自其他无线设备、电磁干扰或邻近的WiFi网络等。

通过测试和识别这些干扰源，我们可以采取相应的措施来减少干扰，并提高WiFi网络的性能。

在进行WiFi杂散测试时，我们需要注意以下几个方面：1.测试环境的选择：测试环境应当尽量符合日常使用条件。

如果在办公室中进行测试，应当考虑到办公场所中的杂散干扰源，如打印机、电脑等。

2.测试位置的选择：为了全面评估WiFi的杂散干扰情况，我们需要在不同的位置进行测试。

可以在办公室的不同角落或不同楼层进行测试，以获取更全面的数据。

3.测试时间的选择：不同的时间段可能会有不同的杂散干扰情况。

例如，在上班高峰期，办公室中的无线网络可能会受到其他员工设备的干扰。

因此，我们可以选择在不同的时间段进行测试，以获取更准确的测试结果。

杂散发射的测定方法简介杂散发射是指在电子设备中产生的非意图发射信号。

准确测定设备的杂散发射是保证其电磁兼容性的重要步骤之一。

本文档将介绍杂散发射的测定方法。

测定设备进行杂散发射测定时，可以采用专用的测量设备。

该设备应具备以下特征：- 高分辨率和高灵敏度，以确保能够准确测量微弱的杂散发射信号；- 宽频率范围，以涵盖设备可能产生的不同频率的杂散发射；- 快速响应时间，以捕捉瞬时的杂散发射信号。

测定步骤进行杂散发射测定时，可以按照以下步骤进行操作：1. 设置测量环境确保测量环境符合标准要求。

环境中的电磁干扰应尽量降低，以避免对测定结果的影响。

2. 连接设备将待测设备与专用测量设备相连。

确保连接正确可靠，避免信号衰减或失真。

3. 预热设备根据设备的要求，进行适当的预热时间，以确保设备处于稳定工作状态。

4. 开始测定触发专用测量设备开始测定。

设备将记录并分析待测设备产生的所有杂散发射信号。

5. 分析结果根据测定结果，分析设备的杂散发射情况。

确定是否存在异常或超出规定范围的杂散发射。

6. 优化设备如有必要，根据测定结果进行设备优化。

通过改进设计或减少干扰源，降低杂散发射的水平。

测定结果报告完成杂散发射测定后，应根据测定结果生成报告。

报告应包括以下内容：- 测定设备的详细信息；- 测定环境的描述；- 测定步骤和参数的说明；- 杂散发射测定结果的数据和分析；- 设备优化建议（如适用）。

结论杂散发射的测定方法是保证电子设备电磁兼容性的重要步骤。

通过准确测定设备的杂散发射，可以及时发现问题并进行优化，确保设备在工作中不会产生不必要的电磁干扰。

杂散发射的测量方法所有的测量接收机应具有平均值和峰值的加权功能。

2．1．2分辨带宽resolutionbandwidth（rbw）通常的原则就是，测量接收机辨别频宽（末级中频滤波器的3db频宽）应当等同于参照频宽。

但为了提升测量的精确性、灵敏度和效率，辨别频宽可以不同于参照频宽。

比如，在测量紧邻中心频率的升空分量时，有时就须要使用狭窄的辨别频宽。

当辨别频宽大于参照频宽时，测量结果应属参照频宽内各分量的总和（其和应属功率议和，除非特别建议杂散信号按照电压议和，或是按多值法辨别，见注1）。

当辨别频宽大于参照频宽时，宽带杂散升空的测量结果应当按频宽比例展开归一化。

但对于线性（窄带）杂散产物，无法使用归一化。

辨别频宽的修正因子须要由测试接收机的实际辨别频宽（例如：-6db辨别频宽）和被测杂散升空信号特征而的定（例如：脉冲信号或高斯噪声）。

备注1：多值辨别法――当使用pep（峰纸盒功率）法测量杂散升空，且辨别频宽大于参照频宽时，所测出的总功率可能将不精确。

如果不晓得议和法则，那么在参照频宽内所测出的总的杂散发射功率应当按照功率制备法和电压制备法分别求出。

在每次测量中，如果用电压制备法求出的杂散升空值高于规定的限值，则满足要求；如果用功率制备法求出的杂散升空值低于规定的限值，则不满足要求。

2．1．3视频带宽videobandwidth(vbw)视频频宽至少与辨别频宽相同，最出色为辨别频宽的3至5倍。

vbw充分反映的就是测量接收机中坐落于包络检波器和模数转换器之间的视频放大器的频宽。

发生改变vbw的设置，可以增大噪声峰-峰值的变化量，提升较低信噪比信号测量的分辨率和Cadours率为，不易辨认出暗藏在噪声中的小信号。

2．1．4测量接收机滤波器的形状因子shapefactor形状因子就是叙述远距滤波器选择性的一个参数，通常定义为阻带和通带频宽的比值。

理想滤波器的比值为1。

但是，实际上滤波器具备滚降膨胀特性，远达没理想状态。

辐射杂散测试原理
辐射杂散测试是一种用于评估电子设备辐射噪声水平的测
试方法。

其原理是通过测量设备在工作状态下产生的辐射
能量，以确定设备的辐射噪声水平。

辐射杂散测试通常包括以下几个步骤：
1. 设备准备：将待测试的电子设备放置在一个封闭的屏蔽
室内，以防止外部电磁干扰对测试结果的影响。

2. 测试设备选择：选择合适的测试设备，如频谱分析仪、
电磁辐射仪等，用于测量设备产生的辐射能量。

3. 测试设置：根据测试要求和标准，设置测试设备的参数，如频率范围、分辨率带宽等。

4. 测量过程：将测试设备与待测试设备连接，并启动待测
试设备。

通过测试设备测量待测试设备在不同频率范围内
的辐射能量。

5. 数据分析：对测量得到的数据进行分析和处理，计算出
设备在不同频率范围内的辐射噪声水平。

6. 结果评估：根据测试结果和相关标准，评估设备的辐射
噪声水平是否符合要求。

需要注意的是，辐射杂散测试还需要考虑测试环境的影响，如屏蔽室的效果、外部电磁干扰等。

为了保证测试结果的
准确性和可重复性，还需要进行校准和验证等工作。

总之，辐射杂散测试通过测量设备产生的辐射能量，以评估设备的辐射噪声水平，为电子设备的设计和性能评估提供重要参考。

射频杂散的测试方法传导杂散骚扰（Conduct Spurious Emissions），发信机的杂散辐射是指：发信机正常工作时，除了发射出工作频段有用的射频外，还有其他的非有用的射频信号，这些无用信号会对其他的设备产生不良的干扰。

目的：检测手机天线端的离散辐射功率是否符合GSM规范及国家行业标准。

国标对杂散的要求是全频段的，鉴于手机的特殊性，最高的杂散点会出现在发射频点的二次三次等多次谐波上，所以本测试把重点集中在这些频点的测试上。

测试要求使用设备：所用设备：RATT工具待测机器射频线衰减器滤波器（VHF-1300+，VHF-2700+）频谱分析仪HP8596E 标准信号源Agilent83712B，综合测试仪CMU200图1 1.3G高通滤波器和2.7G高通滤波器图2 衰减器图3 频谱分析仪及标准信号源方法一：使用功分器与综测仪测试这里使用了一个10db的定向耦合器来作为功率采样，图9 10db定向耦合器1，测试实际连线框图如下：衰减器滤波器频谱分析仪MS 综测仪功分器滤波器需要根据测试的频段，来进行选择。

测试GSM900频段时，选用VHF-1300+（1.3G 高通滤波器）测试DCS1800频段时选用VHF-2700+（2.7G 高通滤波器） 测试步骤：2，测试通道的线损测试方法线损的测试可以用网络分析仪，也可以用信号源和频谱测试仪来进行点频测试。

这里采用信号源和频谱仪的测试方法：图12 测量线损测试线损时注意：耦合器空的一端需要加一个50欧的负载需要包含衰减器和电缆一起测试耦合器的直通端是提供给CMU200检测输出功率用的，线损只要测试工作频率10db口的线损测量需要连接相应的高通滤波器一起测试，主要测试相应的二次和三次谐波点的损耗。

注意定向耦合器是有方向的，所以信号源要接输入口3，测试步骤按测试的框图搭建测试环境，如下图：图10 功分器及综测仪测量二次谐波图11 实际连接图综测仪安测试的线损设置好补偿，首先通过综测仪与手机建立呼叫，调整到该频段的中间信道，设置使手机以最大功率发射，通过综测仪监视手机输出功率确实符合要求。

TD-LTE基站射频测试步骤详解TD-L TE基站射频测试操作说明第⼀部分TX测试⼀、TX测试连接图Note: 衰减为输出功率2.5倍以上，此处选择30dB。

10MH 参考线时钟线reference接BBU针孔，10毫秒trigger接B板最右边⽹⼝。

⼆、仪表等附件内容频谱分析仪(Agilent MXA Signal Analyzer N9020A,10Hz~13.6GHz), 30dB衰减，System DC Power 7Supply (AgilentN5747A/60V/12.5A/750W)，VGA信号源。

LTE NEM，Secure CRT。

三、NEM操作系统配置四、频谱仪选键设置Step 1. 选择LTE模式，Press Mode, LTE TDD.Step 2. 频点设置FREQ ChannelStep 3. 频点补偿设置Input/Output, External Gain, BTSStep 4. 下⾏模式设置Mode Setup, Radio, Direction to be Downlink.Step 5. 链路配置设Mode Setup, Radio, ULDLAlloc, Config 3；DW/GP/Up Len, More, Config 8.Step 6. 时间门限设置Sweep/control, Gate, Gate Delay=5ms, Gate Length=6.8msStep 7. 带宽设置Mode setup, Prest To Standard=10/20MHzStep 8. 触发⽅式设置Trigger, External 1/2配置完后频谱分析仪显⽰如下：五、下⾏发射项测试操作步骤1. 输出功率Output Power测试项选择Meas---Channel power测试模式E-TM1.1Note: 查看Channel Power值，(10W标准值40dBm)。