烙铁温度测试仪量具重复性和再现性报告

测量系统分析 --“量具R&R”

第一节

概述

测量数据的使用比以前更频繁﹑更广泛.例如,是否调整制造过程,现在普遍依据测量

数据来决定.把测量数据或由它们计算出的一些统计量,与这一过程统计控制限值相比较,

如果比较结果表明这一过程在统计控制之外,那么要做某种调整,否则,这一过程就允许运

行而勿须调整.

测量数据的另外一个用途是确定两个或多个变量之间是否存在某种显著关系.例如,

人们可以推测一模制塑料料件的关键尺寸与浇注材料温度有关系.这种可能的关系可通过

采用所谓回归分析的统计方法进行研究.即比较关键尺寸的测量结果与浇注材料温度的测

量结果.

应用以数据为基础的方法的益处,很大程度上决定于所用测量数据的质量.如果测量

数据质量低,则这种方法的益处很可能低,类似地,如果测量数据的质量高,这一方法的益处

也很可能高.

为了确保应用测量数据所得到的益处大于它们所花的费用,就必须把注意力集中在数

据的质量上.

测量数据的质量

测量数据质量与稳定条件下运行的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性有

关. 例如,假定用在稳定条件下运行的某测量系统,得到某一特性的多次测量结果.如果数据

的质量会很低,以致这些数据是无用的. ,那么可以说这些测量数据的质量“高”,类似地,如

果一些或全部测量结果“远离”标准值,那么可以说这些数据的质量“低”. 低质量数据最普通的原因之一是数据变差太大.例如,测量某容器内的流体的容积,使用

的测量系统可能对它周围的环境温度敏感,在这种情况下,数据的变差可能由于其体积的

变化或周围温度的变化,使得解释这些数据更困难.因些这一测量系统是不太合乎需要的. 一组测量的变差大多是由于测量系统和它的环境之间的交互作用造成的. 如果这种交

互作用产生太大的变差,那么数据的质量会很低,以致这些数据是无用的. 例如,一个具有

大量变差的测量系统,用来分析一个制造过程,可能是不恰当的,因为这一测量系统的变差,

可能会掩盖制造过程中的变差. 绝大部分变差是不希望有的,但也有一些重要的例外.例如这一变差是由于被测量特性

PCB量具名称：板厚完成人：1.6±0.14 mmR = XDIFF =Rp =

EV =R × K1K1%EV=100（EV/TV）=0.00217×0.59080.8862=1000.00128/0.01584=0.5908=%

AV= （XDIFF × K2）2 - （ EV2/（nr））%AV=100（AV/TV）=0.00183×0.5231-0.00128/（10 ×3））=1000.00093/0.01584=0.00093评价人3=%n = 零件数r = 实验次数K20.5231GRR= EV 2 + AV 2%GRR=100（GRR/TV）=0.00128+0.00093K3=1000.00158/0.01584=0.001580.7071=%0.5231PV=Rp × K30.4467%PV=100（PV/TV）=0.05011×0.31460.4030=1000.01576/0.01584=0.015760.3742=%0.3534TV= GRR 2 + PV 20.3375ndc=1.41（PV/GRR）=0.00158+0.015760.3249=1.410.0158/0.00158=0.015840.3146=14测量系统分析结果：判定标准：1. %GRR≤10%测量系统可接受；2. 10%<%GRR≤30%

3. %GRR>30%测量系统不可接受；由以上判定测量系统可接受。4. 分级数ndc≥5作成：批准：5. 均值图：50%以上的点要在控制线外；228.0791

总变差（TV)5.8703277

9.9866重复性和再现性（GRR）

70.70710.00128

零件变差（PV)零件量 具 号：量具类型：长度0.00183重复性-设备变差

再现性-评价人变差（AV）试验23零件名称：特 性：规 范：0.00217日 期：

99.50

1. %GRR=9.9866%，≤10%；2. 分级数ndc=14，≥5；3. 均值图显示，50%以上的点均在控制线外；4. 极差图显示，所有点均在控制线内。基于应用的重要性，测量装置的成本、维修的成本等方面的考虑，可能是可接受的。测量单元分析千分尺PYKC-WJ-12

0.05011

103456

98MSA/Gage R&R (Gage Repeatability and Reproducibility)量具重复性和再现性报告

% 总变差 （TV）

(）2(

22

222(）

(）

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(）日期：日期：6. 极差图：所有点均须在控制线内。

）

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怎么做自动测试设备再现性研究？——实践探究的思路之一

编者按：本文用于实战讨论，并非是学术定论，仅作参考。本文内容为原创，文中部分表情图片类为引用，敬请见谅。

“自动测试设备不需要做再现性分析“，甚至有许多人对这句话深信不疑，事实真的是这样的吗？

本文将讨论以下问题：

1. 自动测试设备需要做再现性研究吗？

2. 自动测试设备怎么去做再现性研究？

3. 什么情况下，使用多台测试仪器，作为整个系统，去做测试仪器的再现性？

4. 当每台单独的设备的GR&R满足要求时，整个测试仪器的系统就一定满足GR&R要求吗？

5. 经过SOV分析后，仍无法确定变异源，怎么办？

对于测试仪器的再现性，何桢教授主编的红皮书《六西格玛黑带管理》的原话有记载：最普遍的重要的再现性，即操作人员的差异对测量系统一致性的影响，也就是由不同的操作人员用相同的测试仪器，对同一测量对象进行测量时产生的波动。（以下称为句①）

这不，A公司对于自动测量设备机械地采用多个测量员的方法做再现性分析，GR&R数据确实很好看，制程监控测量的频次也足够，但是客户仍然投诉该关键尺寸时有超出规格范围发生。

A公司在试产阶段已把MSOP发给客户确认过，因此双方的测量手法是一致的。三台三坐标均在有效校验周期内，通过日常对标准块的测量记录表明测量数据无异常。

那么去找客户做双方检测设备的相关性呢？客户在海外，精密的样品空运时给你震荡两下，哪怕是轻微变形，也会造成测量的差异。一般情况下，客户是不希望产品走空运的。走海运时间又太长，寄回来不太现实。

怎么办？这时客户在中国区的SQE来了，经过初步地调查，首先对A公司的自动测量三坐标的再现性方法提出了质疑。对于大多数自动测量仪器来说，测量人员已经成为不了测量的主要变异源，因此SQE对使用不同测试员来做再现性分析的做法感到强烈不满。

那么再查阅红皮书？

让我们再看红皮书句①前面还有一句话，“测量过程中可变的测量条件包括改变操作者，操作方法，改变测量中的夹具，卡具，改变零件放置位置，改变测量地点，使用条件，以及在不同时间进行测量等。“（句②）

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更多免费资料下载请进： 好好学习社区 烙铁温度测试仪校验规程

1、目的

规范烙铁温度测试仪之校准程序,确保其于使用期间能维持其精密度和准确度,以保证产品之测试质量.

2、适用范围

本公司各种型号之烙铁温度测试仪均适用之。

3、权责

3.1品质部QE：烙铁温度测试仪之校准，仪器异常之处理。

4、定义

校验：在规定条件下，为确定测量仪器或测量系统所指示的量值，或实物量具或参考物质所代表的量值，与对应的由校准所复现的量值之间关系的一组操作。

测量准确度：测量结果与被测量真值之间的一致程度。

相对标准偏差：标准偏差与平均值的比值。

5、内容

5.1烙铁温度表校准

5.1.1将待校温度表与已校准温度表之感温器分别连接,并将恒温烙铁之温度调至2000C，然后开启恒温烙铁电源。

5.1.2首先用恒温烙铁在已校准之温度表上量测三次，记录其读值。

5.1.3再用恒温烙铁在待校准之温度表上量测三次，记录其读值。并与已校准之温度表读值比较，是否在误差范围内。

5.1.4将恒温烙铁之温度调至3500C，4500C，重复5.1.1~3步骤。

5.2允许误差为：温度为±20C。 德信诚培训网

更多免费资料下载请进： 好好学习社区 5.3校准合格者贴上合格标签；部分功能不合格且仍可使用者贴限用标签,并注明限用范围；严重不合格者贴禁用标签,视情况提出异常报告并作追踪处理。做好有关记录。

6.校准周期

校准周期一般不超过12个月。

7.参考文件

《量测仪器控制程序》

JJF 1071国家计量校准规范编写规则

JJF 1001 通用计量术语及定义

GBT/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定

8.记录表格

《测试设备校验记录表》