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化探数据处理与制图
1、将实际采样点点位信息（X/Y/Z）及各元素化验结果整理好放在excel 表格中；在excel中选择数据—数据分析—描述统计（填写好相应内容）—得到统计结果，如下：
2、采用统计出的平均值与标准偏差计算背景值与异常下限：
①、首先剔除（替换）异常高值与异常低值，使数据服从正态分布，方法如下：
用迭代法检验数据列中是否存在大于或者小于“平均值±3*标准偏差”的数据，若存在，则用平均值替换大于或者小于“平均值±3*标准偏差”的数据，然后对该列数据再次进行描述统计，然后再次检验是否存在大于或者小于“平均值±3*标准偏差”的数据，同理，再次对数据进行替换，直到不再出现大于或者小于“平均值±3*标准偏差”的数，最终得出：Cu平均值21.20；标准偏差7.01。
②、此时的平均值即为背景值（取整为21.20），可用“平均值+ 2*标准偏差”作为异常下限。
（背景值为X，异常下限为T=X+2S）
3、制作单元素异常图
将异常分为7个色区：
①、≦X-2S为低值区，着蓝色，色标65号；
②、在X-2S至X-0.5S为低背景区，着浅蓝色，色标63号；
③、在X-0.5S至X+0.5S为背景区，着黄色，色标128号；
④、在X+0.5S至X+2S为高背景区，着浅红褐色，色标157号；
⑤、在T至2T为外带，着浅红色，色标190号；
⑥、在2T至4T为中带，着红色，色标191号；
⑦、≧4T为内带，着深红色，色标194号。
定的不同要求﹔能一次测定取得多种信息﹐以利于提高化探本身的综合性和解释推断﹔能充分利用异常物质的某些特性﹐排除其中与矿化无关的组成部分﹐进一步强化异常﹐使弱异常变得完整﹑清晰﹔能帮助阐明影响元素迁移和异常形成环境等有关参数的测定或分析﹐例如﹐pH值﹐Eh值﹐有机碳含量和同位素比值分析等﹔能够适应成千上万计的大批量化探样品分析﹐并能迅速及时地提交结果。
根据不同的情况与具体要求﹐化探分析可以在中心实验室﹐驻地实验室或采样现场进行。
在第一种情况下﹐可以获得最高的数据质量﹑丰富的指标信息和较高的分析效率而成本也较低。
它的缺点是与现场的信息传递慢﹐周期长﹐难以适时指导下一步的现场工作。
第二种情况是为了缩短现场与实验室之间距离﹐以降低一些效率和质量要求换取加快信息传递的折衷或过渡类型。
第三种是就地分析(或现场分析)﹐即使用简易分析方法或便携式探测仪器在点上直接取得数据。
它最为灵活﹐特别在踏勘或异常检查阶段﹐可以立时采取工作措施﹐取得最大地质效果。
其缺点是由于受到仪器设备的大小和重量﹐能源消耗和工作环境条件等的限制﹐就地分析只能测定少数指标﹑较小的样品数量﹐达到较低的分析质量要求.化探分析的手段或仪器早期的化探分析﹐以半定量光谱分析和比色分析为主要手段。
它们的检出限至多只能达到ppm级﹐精密度一般在50～100%﹐并经常伴随著很大的系统误差。
尽管可分析的元素达40多种﹐但真正能满足化探要求的只有Cu﹑Pb﹑Zn﹑Mo﹑Cr﹑Mn等10多种。
自60年代末以来﹐新的选择性灵敏试剂﹑新的分析方法和新的高精密度自动化分析仪器不断地进入化探分析领域。
例如多道等离子光量计﹐可以一次定量测定多达60种元素﹐测定的含量范围可以跨6个数量级﹐包括了主﹑次元素﹐微量与痕量元素﹔原子吸收分光光度计﹐具有灵敏度高﹐干扰少﹐准确度好的优点﹐特别是非火焰原子吸收方法﹐具有极高的绝对灵敏度(10-10～10-12克)﹔还有X 射线荧光光谱仪﹐可以很高的分析精密度和准确度同时测定主﹑次和微量元素。
内蒙古扎赉特旗东芒合矿和哈拉街吐矿化探数据处理及图件编制方法1 化探数据质量评价的数据处理(分矿区)⑴统计重采样和重分析抽查样所占样品总数的比例比例 = （重采样和重分析抽查样数/工作样总数）100%⑵作出SSPS数据文件将重采样和重分析样分别作成SSPS数据文件。
文件中列出项目为：①重采抽查样重采样号元素含量相应的工作样号元素含量②重分析抽查样重分析样号元素含量相应的工作样号元素含量⑶计算各元素相对误差重采样和重分析抽查样相对误差均按RE(%) = |C1-C2|/0.5×(C1+C2)×100%计算。
C1为重采样或重分析抽查样的分析含量C2为重采样或重分析抽查样的相应的工作样的分析含量| |为绝对值RE(%)≤30%为合格，＞30为超差（不合格）；（Au：RE(%)≤50%为合格，＞50为超差）⑷计算各元素的合格率η= （抽查样品中合格的样品数/抽查样品的总数）100%合格率（η）应＞80%，即这批样品的分析结果是可信的。
⑸列表表示检查或分析质量结果表××化探重采样抽查各元素的合格率(%)Cu Pb Zn Cr Ni Co Sn V Ag Ti2 矿区地球化学特征研究的数据处理(以哈拉街吐为例)⑴作出SSPS数据文件作出下列SSPS数据文件：①文件1：整个矿区数据文件；②文件2：矿区地层数据文件；③文件3：矿区岩浆岩数据文件；④文件4 ：下二叠统大石寨组（P1d）数据文件；⑤文件5 ：下白垩统大磨拐河含煤组（K1d）数据文件；⑥文件6 ：华力西晚期侵入岩数据文件；⑦文件7 ：燕山期早期侵入岩数据文件；⑧文件8 ：燕山期晚期侵入岩数据文件；⑨文件9：已知矿附近一定范围数据文件每一数据文件的内容项目包括：序号野外号 X坐标 Y坐标各元素的含量⑵整个矿区和各地质单元（各地层、各岩浆岩）样品各元素含量特征统计统计的参数包括：①元素含量平均值；②最大值；③最小值；④标准离差；⑤变化系数（标准离差/含量平均值）；⑥浓度克拉克值（元素含量平均值/该元素的克拉克值）整个矿区和各地质单元统计结果含量平均值、最小值、最大值用表表示。
化探数据处理及图件编制第二节分析方法及质量评述一、分析方法本次扫面和异常查证的全部样品均交由四川省地矿局华阳地矿检测中心测试，根据任务书要求共分析测试元素14种。
样品从加工到测试到质量监控均按中华人民共和国地质矿产行业标准DZ0130-1994《地质矿产实验室测试质量管理规范》、ISSN-1870《1?5万区域地质调查及地球化学样品分析方法及质量管理指导性规程》和2002年新疆地勘局试验管理科《1?5万化探样品分析质量过程管理规则报告》进行。
14种元素的分析方法见表3,3。
二、技术要求1、报出率十四种元素的总报出率应大于95%。
2、外检样对已测试样品，测试单位按照3%的比率进行外检。
3、分析质量检查及质量监控方案为了有重点地监控元素的分析质量，实验室在送样单位确定的分析元素中，要再选择若干种主要监控元素并根据这些元素在本省制备的全部GRS二级标样中选择四个在元素含量范围及基体组成均为合适的GRD二级标样作为本图幅质量检查监控之用。
主要监控元素和二级标样的选择均应和送样单位协商进行。
每一大批样品测定完毕后，应将数据交给质量管理人员，对每一小批中插入的四个二级标样及四个重复分析(内部检查)样进行统计计算，并及时绘制日常质量监控图，在日常金的分析工作中，必须进行不小于10%的内检抽查。
为满足在一个较大范围的成矿远景区带内的1?5万图幅的拼接，应对分析的准确度进行检查和考核，为此实验室应在每一个1?5万普查化探项目完成后，分析8个GSD一级标样一次，痕金分析也应用金标样作准确度检查。
准确度和精密度计算结果应符合表3,2的要求。
4、微量金由于金元素在自然界中的均匀度和赋存状态对分析检测影响比较大，为确保金元素的分析质量，化验室特采用两种监控措施:第一，在每一分析批次的50个样品中插入两个国家?级标准物质GBW系列，用以计算实测值与推荐值之间的对数偏差:ΔlgC,lgC,lgC; 定值实测值第二，该地区样品分析结果结束或阶段性结束后，再对高、低异常点进行随机抽样检查约20%.5、?级标样为严格监控各元素的分析质量，实验室选取了四个不同含量的GRD系列监控样，每批次50个样品密码插入一组，与样品同时分析。
地球化学数据处理与图件编制方法流程一、指导思想成矿地质背景地球化学研究就是从地球化学特征出发，借助已建立的地球化学信息提取技术，充分利用地球化学调查所获得的海量数据信息，提取有关反应成矿地质背景条件的地球化学信息，并编制相应地球化学图及相应的推断解释图件，为资源潜力评价有关成矿地质背景的研究提供地球化学支撑。
二、工作内容（一）基础图件成矿地质背景条件的地球化学信息提取首先是要编制有关基础地球化学图件。
主要有：1. 39种元素（化合物）地球化学图2. 地球化学组合异常图3. 地球化学综合异常图（二）解释推断图件地球化学解释推断图件，内容包括：1. 地球化学推断解译地质图2. 地球化学找矿预测图三、工作方法（一）数据校正处理由于区域地球化学数据受地理景观、采样介质、分析手段的影响，不可避免的产生明显的系统误差，尤其是涉及到区域性的化探数据，这种误差更为突出。
因此，在各省进行数据处理与专题地球化学图编制之前，有必要分别对各元素进行系统误差的处理，以便能更好地反映地质现象和矿产信息。
误差处理主要针对图幅间（包括分析批次）明显的系统分析误差（必须处理）和地质景观环境差异影响解释的效果（根据解释的需要确定）。
1. 系统误差特征及处理原则（1）分析误差源，所展示的数据误差与周边数据值具有明显的台阶状。
（2）数据误差在空间上具有区域性特点，区域、图幅或分析批次。
（3）在数据值的分布上，掩盖了地球化学特征和地质特征展布的延续性和规律性。
（4）在数据处理方法上，尽可能地选择线性校正，通过简单的计算可以复原数据。
2. 系统误差处理步骤（1）按原始点位采用符号分级的方式生成元素的符号图，分级方法采用累计频率方式。
（2）通过校正图示窗浏览原始数据全图，确定具有明显的数据台阶区域，区域的确定原则是由区域－＞图幅－＞批次；采用图形编辑工具，在图上直接圈定要处理的区域（用面的方式表示）。
（3）确定局部图幅和分析批次范围产生的系统误差，校正单元由系统提供的工具直接在显示窗中勾绘，确定完所有需要校正单元，各校正单元的ID需设定为唯一。
