p射线反散射测厚仪

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p射线反散射测厚仪
用p射线照射镀层基体组合时,射线进入金属之后与金属原子碰撞,其中一部分被反向散射,而重新穿出。

由于p射线与原子撞击的概率和反向散射回来粒子的能量,与所撞击原子的多少和种类相关。

因此,反散射的p射线的强度是金属的种类和密度、数量的函数。

测定p射线反向散射的强度即能确定镀层的厚度。

工业上使用的p射线反向散射测厚仪,包括放射源(封闭的放射性同位素容器)、检出反向散射的装置、测量发射量的计数器或换算器。

用一个小工作台或装配架,安装发射器、样板和检出装置,并精密地配合起来,即可构成基本设备。

应用p射线反向散射方法测量覆盖层厚度,覆盖腥【电镀设备】与基体的原子序数应有足够大的差别,差别增大,灵敏度增高。

.…,-这种方法可以测定小至+2mm区域的镀层厚度。

常用于测定薄的贵金属镀层的厚度。

但也能用来测较厚的镀层,可测的最大厚度是镀层原子序数的函数。

实际上,原子序数大的金属可测到s/真m,原子序数小的铜或镍,可测到300Pm。

,此法的测量精度一般在IO%以内(参见IS0 3543)。

IS0 3543-81要求基体和镀层原子序数之差不应小于5。

原子序数低于20的材料,这个差值可降低到较高那个原手舌25%;原子序数高于50的材料,这个差值至少为较高的那个原子序数的10 9%.。