第五章 5.3电镜图象解释1
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第五章1 扫描电子显微镜第五章扫描电子显微镜和电子探针分析扫描电子显微镜(Scanning electron microscope--SEM) 是以类似电视摄影显像的方式,通过细聚焦电子束在样品表面扫描激发出的各种物理信号来调制成像的显微分析技术。
SEM在60’s商品化,应用范围很广;SEM成像原理与 TEM完全不同,不用电磁透镜放大成像;新式SEM的二次电子分辨率已达1nm以下,放大倍数可从数倍原位放大到30万倍;景深大,可用于显微断口分析,不用复制样品,方便;电子枪效率不断提高,使样品室增大,可安装更多的探测器,因此,与其它仪器结合,可同位进行多种分析,包括形貌、微区成分、晶体结构。
1965年第一台商用SEM问世2扫描电镜能完成:表(界)面形貌分析;配置各种附件,做表面成分分析及表层晶体学位向分析等。
35.1 扫描电子显微分析5.1.1 工作原理及构造1. 扫描电镜的基本原理SEM的工作原理是利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描,与样品相互作用产行各种物理信号,这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号,最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。
4扫描电镜的成像原理,和透射电镜大不相同,它不用什么透镜来进行放大成像,而是象闭路电视系统那样,逐点逐行扫描成像。
5由三极电子枪发射出来的电子束,在加速电压作用下,经过2-3个电子透镜聚焦后,在样品表面按顺序逐行进行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。
7这些物理信号的强度随样品表面特征而变。
它们分别被相应的收集器接受,经放大器按顺序、成比例地放大后,送到显像管。
供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也是供给阴极射线显像管的扫描线圈的电源,此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。
因此,样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。
10从以上的SEM原理我们可以知道,它与TEM的主要区别: 1) 在SEM中电子束并不像TEM中一样是静态的:在扫描线圈产生的电磁场的作用下,细聚焦电子束在样品表面扫描。