运算放大器性能测试
- 格式:doc
- 大小:146.00 KB
- 文档页数:5
运算放大电路实验报告运算放大电路实验报告引言运算放大电路是电子工程领域中一种常见的电路,它广泛应用于信号放大、滤波、积分、微分等功能。
本实验旨在通过搭建运算放大电路并进行实际测试,探究其工作原理和特性。
实验目的1. 了解运算放大电路的基本原理和组成结构;2. 熟悉运算放大电路的实际搭建和调试方法;3. 掌握运算放大电路的特性参数测量方法。
实验器材1. 运算放大器(OP-AMP);2. 电阻、电容等元件;3. 示波器、函数发生器等测试仪器。
实验步骤1. 搭建基本的非反馈运算放大电路。
将运算放大器的正、负输入端分别连接到电压源和接地,输出端接入负载电阻。
根据实验要求选择适当的电阻值,并使用示波器检测输出信号。
2. 测试运算放大器的放大倍数。
将输入信号接入运算放大器的正输入端,通过函数发生器输入不同频率和幅度的信号,并测量输出信号的幅度。
根据测量结果计算得到运算放大器的放大倍数。
3. 探究运算放大器的输入阻抗和输出阻抗。
使用电压源作为输入信号,通过改变输入电阻的值,测量输入电压和输出电压之间的关系。
同样地,通过改变负载电阻的值,测量输出电压和负载电阻之间的关系。
分析测量结果,得出运算放大器的输入阻抗和输出阻抗。
4. 实现运算放大器的反相放大功能。
在基本的非反馈运算放大电路的基础上,引入反馈电阻,并调整电阻的值,使得输出信号与输入信号呈反相关系。
通过示波器观察和测量输入信号和输出信号的波形,验证反相放大的功能。
实验结果与分析1. 在搭建基本的非反馈运算放大电路后,通过示波器观察到输出信号与输入信号具有相同的波形,且幅度有所放大。
这表明运算放大器实现了信号的放大功能。
2. 在测试运算放大器的放大倍数时,发现输出信号的幅度与输入信号的幅度成正比。
根据测量数据计算得到的放大倍数与理论值相符合,说明运算放大器具有较好的放大性能。
3. 通过测量输入电压和输出电压之间的关系,得到运算放大器的输入阻抗约为几十兆欧姆,说明输入电阻较高,不会对输入信号产生较大的负载效应。
运算放大器及电压比较器失调电压测试方法的研究运算放大器和电压比较器是电子领域中最常用的两种模拟集成电路。
在电路设计和实际应用中,失调电压是衡量这两种器件性能的重要参数。
本文将对运算放大器和电压比较器的失调电压测试方法进行研究,以期为电子工程师提供参考。
一、运算放大器失调电压测试方法1.直流偏置测试法直流偏置测试法是最常见的失调电压测试方法。
该方法通过在运算放大器的同相输入端和反相输入端分别加入相同的直流电压,测量输出端的电压差,从而得到失调电压。
测试步骤如下:(1)将运算放大器配置为同相放大器。
(2)在运算放大器的同相输入端和反相输入端加入相同的直流电压。
(3)测量输出端的电压差,即为失调电压。
2.交流测试法交流测试法主要用于测量运算放大器的动态失调电压。
该方法通过在输入端加入交流信号,测量输出端的电压差,从而得到失调电压。
测试步骤如下:(1)将运算放大器配置为同相放大器。
(2)在运算放大器的同相输入端和反相输入端加入相同的交流信号。
(3)测量输出端的电压差,通过计算得到失调电压。
二、电压比较器失调电压测试方法1.直流偏置测试法电压比较器的失调电压测试方法与运算放大器类似,同样采用直流偏置测试法。
测试步骤如下:(1)将电压比较器的同相输入端和反相输入端分别加入相同的直流电压。
(2)测量输出端的电压差,即为失调电压。
2.交流测试法电压比较器的交流测试法与运算放大器也有所不同。
测试步骤如下:(1)在电压比较器的同相输入端和反相输入端加入相同的交流信号。
(2)测量输出端的电压差,通过计算得到失调电压。
三、总结运算放大器和电压比较器的失调电压测试方法有多种,本文主要介绍了直流偏置测试法和交流测试法。
在实际应用中,工程师需要根据具体需求选择合适的测试方法,以确保电路的性能和稳定性。
同时,了解各种测试方法的优缺点,有助于提高测试的准确性和效率。
需要注意的是,测试过程中应严格控制测试条件,如温度、电源电压等,以确保测试结果的准确性。
1.集成运算放大器的传输特性及输出电压的动态范围的测试运算放大器输出电压的动态范围是指在不失真条件下所能达到的最大幅度。
为了测试方便,在一般情况下就用其输出电压的最大摆幅U op-p 当作运算放大器的最大动态范围。
输出电压动态范围的测试电路如图1(a)所示。
图中u i为100Hz正弦信号。
当接入负载R L后,逐渐加大输入信号u i的幅值,直至示波器上显示的输出电压波形为最大不失真波形为止,此时的输出电压的峰峰值U op-p就是运算放大器的最大摆幅。
若将u i输入到示波器的X轴,u o输入到示波器的Y轴,就可以利用示波器的X—Y显示,观察到运算放大器的传输特性,如图1 (b) 所示,并可测出U o p-p的大小。
R1R fu o(a)运算放大器输出电压动态范围的测试电路(b)运算放大器的传输特性曲线图1(图中:R1 = R2 = 1.2kΩ,R f= 20kΩ)U op-p与负载电阻R L有关,对于不同的R L,U op-p也不同。
根据表1,改变负载电阻R L 的阻值,记下不同R L时的U op-p,并根据R L和U op-p,求出运算放大器输出电流的最大摆幅I op-p = U op-p /R L,填入表1中。
表1运算放大器的U op-p除了与负载电阻R L有关外,还与电源电压以及输入信号的频率有关。
随着电源电压的降低和信号频率的升高,U op-p将降低。
如果示波器显示出运算放大器的传输特性,即表明该放大器是好的,可以进一步测试运算放大器的其它几项参数。
2.集成运算放大器的输入失调特性及其测试方法集成运算放大器的基本电路是差分放大器。
由于电路的不对称性必将产生输入误差信号。
这个误差信号限制了运算放大器所能放大的最小信号,即限制了运算放大器的灵敏度。
这种由于直流偏置不对称所引起的误差信号可以用输入失调电压U IO、输入偏置电流I B、输入失调电流I IO及它们的温度漂移来描述。
(1)输入失调电压U IO的测试一个理想的运算放大器,当两输入端加上相同的直流电压或直接接地时,其输出端的直流电压应等于零。
集成运放的性能主要参数及国标测试方法集成运放的性能可用一些参数来表示。
集成运放的主要参数:1.开环特性参数(1)开环电压放大倍数Ao。
在没有外接反馈电路、输出端开路、在输入端加一个低频小信号电压时,所测出输出电压复振幅与差动输入电压复振幅之比值,称为开环电压放大倍数。
Ao越高越稳定,所构成运算放大电路的运算精度也越高。
(2)差分输入电阻Ri。
差分输入电阻Ri是运算放大器的主要技术指标之一。
它是指:开环运算放大器在室温下,加在它两个输入端之间的差模输入电压变化量△V i与由它所引起的差模输入电流变化量△I i之比。
一般为10k~3M,高的可达1000M以上。
在大多数情况下,总希望集成运放的开环输入电阻大一些好。
(3)输出电阻Ro。
在没有外加反馈的情况下,集成运放在室温下其输出电压变化与输出电流变化之比。
它实际上就是开环状态下集成运放输出级的输出电阻,其大小反映了放大器带负载的能力,Ro通常越小越好,典型值一般在几十到几百欧。
(4)共模输入电阻Ric。
开环状态下,两差分输入端分别对地端呈现的等效电阻,称为共模输入电阻。
(5)开环频率特性。
开环频率特性是指:在开环状态下,输出电压下降3dB所对应的通频带宽,也称为开环-3dB带宽。
2.输入失调特性由于运算放大器输入回路的不对称性,将产生一定的输入误差信号,从而限制里运算放大器的信号灵敏度。
通常用以下参数表示。
(1)输入失调电压Vos。
在室温及标称电源电压下,当输入电压为零时,集成运放的输出电位Vo0折合到输入端的数值,即:Vos=Vo0/Ao失调电压的大小反映了差动输入级元件的失配程度。
当集成运放的输入端外接电阻比较小时。
失调电压及其漂移是引起运算误差的主要原因之一。
Vos一般在mV级,显然它越小越好。
(2)输入失调电流Ios。
在常温下,当输入信号为零时,放大器两个输入端的基极偏置电流之差称为输入失调电流。
即:Ios=Ib- — Ib+式中Ib-、Ib+为放大器内两个输入端晶体管的基极电流。
一、单选题1、对于理想运算放大器,不管它的工作状态如何,总是()。
A.同相输入端与反相输入端的电压相等B.开环差模电压放大倍数为无穷大C.输出电阻为无穷大D.两输入端的电流相等,但不为零正确答案:B2、以下对“负反馈对放大电路性能的影响”的描述中错误的是()。
A.减小非线性失真B.扩展通频带C.提高放大倍数的稳定性D.提高放大倍数值正确答案:D3、一个由理想运算放大器组成的同相输入比例运算电路,其输入输出电阻是()。
A.输入电阻低,输出电阻高B.输入、输出电阻均很高C.输入电阻高,输出电阻低D.输入、输出电阻均很低正确答案:C4、在由集成运放构成的反相输入比例运算电路中,比例系数为10,集成运放加±15V电源,输入电压为-1.8V,则输出电压最接近于()。
A.18VB.13.5VC.30VD.10V正确答案:B5、集成运放工作在线性区时,总近似有()。
A.输入电阻为零B.反相输入端与同相输入端等电位C.输出电压接近与电源电压D.输出电阻为无穷大正确答案:B6、下图电路中,R1=R2=100kΩ, C=0.01μF,集成运算放大器加±15V电源。
输入为正负对称、峰-峰值6V、频率200Hz的方波电压,则输出波形是()。
A.方波B.三角波C.正负尖脉冲D.梯形波正确答案:B7、如图中电路,R=Rb=10kΩ,C=0.1μF,ui=3sin1000t V,则uo=( )。
A.3sin(1000t+90°) VB. 3sin1000t VC.3sin(1000t-90°) VD.-3sin1000t V正确答案:C8、差分放大电路中所谓共模信号是指两个输入信号电压( )A.大小不等、极性相反B.大小不等、极性相同C.大小相等、极性相同D.大小相等、极性相反正确答案:C9、如图所示运放电路中,Uo与Ui的关系是( ) 。
A. Uo=-αUi/2B.Uo=UiC.Uo=-(1+α)UiD.Uo=(2+α)Ui正确答案:A10、如图所示的滞回比较器,UOm=±15V,R1=10kΩ,Rf=20kΩ,则其正向阈值URH=( )。
运算放大器的闭环参数测试北京华峰测控技术公司 孙 铣 段宁远内 容 摘 要本文介绍了运算放大器闭环参数的测试原理,分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素,及所采取的针对性措施,还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测试适应性的评价问题。
同时介绍了北京华峰测控技术公司研制的 STS 2107B 运算放大器电压比较器测试系统。
一. 运算放大器闭环参数的测试原理国家标准 GB 3442-86 和 GB 6798-86 参照国外标准,规定了运算放大器 (以下简称运放) 和电压比较器的测试方法的基本原理,其主要参数的基本测量线路见图1。
图1 运算放大器闭环参数测量原理图图中 DUT 为被测运放,A 为辅助运放。
两级运放构成负反馈闭环系统,其闭环增益由输入电阻 R I 和反馈电阻 R F 的比例决定。
为了得到足够增益,通常选用 500 倍或 1000 倍。
器件测试程控电源 V+ 和 V- 分别向被测运放提供所需的正、负电源电压,被测运放的输出端电压可由外接偏置电压源 V 进行控制,以获得测试所需的 V O 值。
辅助运放的输出端可测得所需的 V E 值。
电阻 R S 用于被测运放输入偏置电流的采样。
采用辅助运放的闭环测试参数主要有以下几个:1. 输入失调电压 V IO 。
2. 输入偏置电流 I B+,I B-。
3. 输入失调电流 I IO 。
4. 开环电压增益 A VD 。
5. 共模抑制比 K CMR 。
6. 电源电压抑制比 K SVR+,K SVR-。
在这些参数中失调电压 V IO 是最基本的参数,其计算公式为 :其它参数只是在不同的条件下测试 V IO 值,和进行不同的计算。
二. 影响运算放大器闭环参数测试精度的原因分析E FI I IO V R R R V ⋅+=根据分析和实践,影响闭环参数测试精度的原因主要有闭环系统不稳定、工频干扰、高频干扰、系统漏电、元件性能不良等。
现分别分析如下:1. 闭环系统不稳定闭环系统不稳定是影响运放闭环参数测试精度诸多原因中最主要的原因。
运放交流增益测量方法
测量运算放大器(简称运放)的交流增益通常涉及使用辅助运放环路法,这是因为该方法可以提供精确稳定的测试结果。
具体测量方法如下:
1. 使用辅助运放环路法:这种方法通过构建一个包含待测运放和辅助运放的测试电路来实现。
辅助运放不需要有比待测运放更好的性能,但其直流开环增益最好能达到106或更高。
2. 构建测试电路:测试电路应该能够将大部分测量误差降至最低,支持精确测量直流和交流参数。
电路中使用对称电源,即使对于“单电源”运放也是如此,因为系统的地以电源的中间电压为参考。
3. 进行仿真测试:除了实际搭建电路进行测量外,还可以通过运算放大器的仿真来进行交流小信号仿真,包括开环增益、带宽、相位裕度等参数的测试。
4. 选择测试方法:在测量运放的环路时,可以选择Rosenstark 方法或Middlebrook方法。
Rosenstark方法需要在受控源的位置断开测试环路,并确保测试源使环路工作在线性范围内。
综上所述,测量运放的交流增益需要精心设计测试电路并选择合适的测试方法,以确保测量结果的准确性和稳定性。
在实际操作中,可能还需要根据具体的运放型号和测试条件进行适当的调整和优化。
运算放大器参数的测量分析
赵会勤;董泽芳
【期刊名称】《集成电路应用》
【年(卷),期】2022(39)4
【摘要】基于运算放大器是差分输入,单端输出的高增益放大器,阐述在高精度的模拟电路中,快速创建有效的测试电路,从而精确测量其性能参数。
【总页数】2页(P10-11)
【作者】赵会勤;董泽芳
【作者单位】南京微盟电子有限公司
【正文语种】中文
【中图分类】TN722.77;TN407
【相关文献】
1.基于FPGA的运算放大器参数测量系统设计
2.基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计
3.运算放大器参数误差分析及设计应用
4.运算放大器参数测量系统的设计与仿真
5.运算放大器特性参数偏差对控制系统稳定性的影响分析
因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
[转载]各款运放⾳质⽐较评测各款运放⾳质⽐较评测近段时间⾝边⼏个朋友玩了⾳响⼜开始迷上了摩机换运放,CD机、功放,连电脑上声卡也弄个827、275什么的。
所以周末,我特意花了点钱,去淘了堆运放(均为陶封)回来测试,简单谈谈感受吧。
NE5532NE5532:确实有点胆味,解析⼒⼀般,⾼频⽐较燥,低频⽐较糊且肥。
OP275:和5532⽐,胆性还重⼀点,解析⼒、低频、⾳场更好⼀点,可以买贴⽚的来打摩声卡⽤(特别是创新的),可以改善硬冷的数码声。
EL2244:⾳⾊中性,⾳场⽐较宽,⾼频还可以,中频⾳乐味差。
有⼈说解析⼒很⾼,其实是因为低频量感少,中频薄,⾼频显得突出⽽已。
要⽤好⽐较难。
OP275LT1057:两端延伸不错,速度、动态和解析⼒也挺好,就是属冷⾊调,放出的⾳乐好象有种不⾷⼈间烟⽕的味道,让你可以静静的听,却燃不起对⾳乐的那份激情。
AD827:延伸⾮常好,解析⼒⾼,⾼频华丽,中频纯厚,低频下潜和⼒度都不错,⾳场向前后左右拓展,有了凹凸感(这⼀点⽐其它运放强),速度快,动态好,感觉很⼤⽓,初换上此运放后确实有让⼈为之⼀振的感觉。
但久听之下,也发现很多问题:⼀、虽然三频段、⾳场很宽,⽓势⾜,⼤开⼤合,但总感觉结构有点松,不够紧凑;⼆、⼈声部份⼀般,有时⼤动态时,⼈声被配乐声淹没;三、不够细腻,属于激情有余⽽柔情不⾜;四、⾳乐味不够。
不过很多的⼈喜欢这种风格。
当然买两⽚来换换⼝味听还是可以的,按我的感觉,⽤在AV功放上看DVD⼤⽚应该很适合。
OPA2604:感觉象5532的升级版,各⽅⾯都有很⼤提⾼,解析⼒不错,⾳乐味更好,有胆味,声底属于较纯厚且有点刚性,综合素质很不错。
DY649:和2604⽐,解析⼒更好,⾼频部份纤细⽽⼜柔美且泛⾳丰富,声底没2604厚,很清澈、细致的感觉,⾳乐画⾯异常清晰,⼈声部份圆润通透、有种甜甜的感觉,⼈声(特别是⼥声)是它的强项。
OPA2604DY639:整体性稍弱于649,但更具备胆机特性,胆味更浓。
实验七集成运算放大器参数的测试一. 实验目的1.了解集成运算放大器的主要参数。
2.通过实验,掌握集成运算放大器主要参数的测试方法。
二. 预习要求1.复习集成运算放大器的技术指标,主要参数的定义及测试方法。
2.了解用示波器观察运算放大器传输特性的方法。
3.了解输入失调电压U IO和输入失调电流I IO产生的原因。
三.实验设备名称型号或规格数量示波器日立V—252 1直流稳压电源JWD—2 1 函数信号发生器 GFG-8020G(或8016G) 1晶体管毫伏表 DA—16 1万用表 YX—960TR或其它型号 1四.实验内容及测试方法反映集成运算放大器特性的参数主要有以下四大类:输入失调特性、开环特性、共模特性及输出瞬态特性。
1.集成运算放大器的传输特性及输出电压的动态范围的测试运算放大器输出电压的动态范围是指在不失真条件下所能达到的最大幅度。
为了测试方便,在一般情况下就用其输出电压的最大摆幅U op-p 当作运算放大器的最大动态范围。
输出电压动态范围的测试电路如图1(a)所示。
图中u i为100Hz正弦信号。
当接入负载R L后,逐渐加大输入信号u i的幅值,直至示波器上显示的输出电压波形为最大不失真波形为止,此时的输出电压的峰峰值U op-p就是运算放大器的最大摆幅。
若将u i输入到示波器的X轴,u o输入到示波器的Y轴,就可以利用示波器的X—Y显示,观察到运算放大器的传输特性,如图1 (b) 所示,并可测出U o p-p的大小。
(a)运算放大器输出电压动态范围的测试电路(b)运算放大器的传输特性曲线图1(图中:R1 = R2 = 1.2kΩ,R f= 20kΩ)U op-p与负载电阻R L有关,对于不同的R L,U op-p也不同。
根据表1,改变负载电阻R L的阻值,记下不同R L时的U op-p,并根据R L和U op-p,求出运算放大器输出电流的最大摆幅I op-p = U op-p /R L,填入表1中。
实验五 集成运算放大器的参数测试一、实验目的1、学会集成运放失调电压U IO 的测试方法。
2、学会集成运放失调电流I IO 的测量方法。
3、掌握集成运放开环放大倍数Aod 的测量方法。
4、学会集成运放共模抑制比K CMR 的测试方法。
二、实验仪器及设备1、DZX-1B型电子学综合实验台 一台2、XJ4323 双踪示波器 一台3、集成运放 uA741 一片 三、实验电路1、测量失调电压U IO 。
2、测量失调电流I IO 。
I IO =RR R U U O O ⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-12121式中的U O1为测失调电压U IO 时的U O1 ,U O 2 为下面电路中测得的U O 。
U IO =211R R R+U O1R2 5.1KR2 5.1K3、测量开环放大倍数Aod 。
4、共模抑制比K CMR 。
注意:Ui 必须小于最大共模输入电压U iCM =12V四、实验内容及步骤 1、测量失调电压U IO(1) 按图接好电路,检查电路无误后接通电源,用示波器观察输出Uo 有无振荡,若有振荡,应采用适当措施加以消除。
(2) 测量输出电压,记做U O1,并计算失调电压U IO 。
2、测失调电流I IO(1) 按图接好电路,检查电路无误后接通电源,用示波器观察输出Uo 有无振荡,若有振荡,应采用适当措施加以消除。
(2) 测量输出电压,记做U O2,并计算失调电流I IO 。
3、测量开环放大倍数Rf 5.1KA Od =UiR R R U O 323+URf 5.1KK CMR = OCO A A d=UoU R R F i1•(1) 按图接好电路,接通电源。
(2) 在输入端加入Us =1V ,f =20Hz 的交流信号,用毫伏表测量Uo 和Ui ,计算出Aod 。
4、测量共模抑制比(1) 按图接好电路,接通电源。
(2) 在输入端加入一定幅值的频率为20Hz 的交流信号,用毫伏表测量Uo 和Ui ,计算出K CMR 。
运放开环输出阻抗测试方法在电子电路和系统中,了解和测试运放开环输出阻抗是一项重要的技术指标。
本文将详细介绍运放开环输出阻抗的测试方法,帮助读者更好地掌握这一技能。
一、运放开环输出阻抗概述运放(运算放大器)是一种具有高增益、差分输入和单端输出的放大器。
在实际应用中,了解运放的输出阻抗特性对于电路设计和性能分析具有重要意义。
开环输出阻抗是指在无反馈条件下,运放输出端的电压变化与输出端电流变化之比。
二、测试方法1.测试原理运放开环输出阻抗测试的核心原理是通过给运放输出端施加一定频率和幅值的交流信号,测量输出电压和电流的变化,从而计算出输出阻抗。
2.测试电路(1)差分输入端短路:将运放的差分输入端短接,使输入端不接收任何信号。
(2)输出端接负载:在运放输出端接上一个已知阻抗的负载,用于测量输出电压和电流。
(3)信号源:使用信号发生器产生一定频率和幅值的正弦波信号,输入到运放的输入端。
3.测试步骤(1)搭建测试电路:按照上述电路连接测试设备。
(2)设置信号源:调节信号发生器,输出所需的频率和幅值。
(3)测量输出电压和电流:使用示波器或电压表测量运放输出端的电压和流过负载的电流。
(4)计算输出阻抗:根据测得的输出电压和电流,计算输出阻抗。
输出阻抗Z = Vout / Iout,其中Vout 为输出电压,Iout 为输出电流。
(5)重复测试:改变信号源频率和幅值,重复步骤(3)和(4),以获得不同条件下的输出阻抗。
三、注意事项1.测试过程中,确保信号源、测试仪器和电路连接稳定可靠。
2.负载阻抗的选择应适当,以保证测试结果的准确性。
3.测试频率范围应覆盖运放的工作频率范围。
4.注意测量仪器的量程和精度,避免测量误差。
总结:运放开环输出阻抗测试是电子工程师在电路设计和性能分析中经常遇到的问题。
通过本文的介绍,相信读者已经掌握了测试方法,为今后的工作提供了有力支持。
半导体集成电路运算放大器测试方法pdf1引言随着现代科技的快速发展,集成电路在我们生活中的应用越来越广泛。
运算放大器是一种重要的模拟电子元器件,在各种电路中都有着重要的应用。
本文将介绍半导体集成电路运算放大器测试的方法及流程。
2测试方法在测试半导体集成电路运算放大器时,需要注意以下几点:2.1动态测试动态测试是指在给定的输入信号下观察输出信号的变化情况,以检查电路是否具有正确的放大功能。
具体方法如下:(1)输入直流偏置电压,设置一个直流偏置电压,来检查在没有输入信号的情况下放大器是否能够正常工作。
(2)输入单频信号,设定输入的单频信号大小,可以通过观察输出波形的变化来测试放大器的放大倍数。
(3)输入多频信号,设置多个频率不同的信号,检查放大器的输出稳定性,能否正确地放大输入信号的各频段。
2.2静态测试静态测试是指在没有输入信号的情况下,观察放大器输出信号的电平情况,来测试电路是否具备正确的偏置电压和偏置电流。
具体方法如下:(1)禁用输入信号,关闭所有波形发生器,禁用任何输入信号。
(2)观察输出电平,观察放大器的输出电平是否在规定范围内,以便检查其偏置电压和偏置电流是否符合要求。
3测试流程测试半导体集成电路运算放大器的流程如下:(1)准备测试设备,包括信号发生器、示波器、万用表等工具。
(2)连接测试设备,根据电路连接图将测试设备连接到运算放大器上。
(3)进行动态测试,按照上述动态测试方法进行测试。
(4)进行静态测试,按照上述静态测试方法进行测试。
(5)记录测试结果,将测试结果记录下来,以便后续分析和处理。
4总结针对半导体集成电路运算放大器测试,本文介绍了其测试方法和流程,通过动态测试和静态测试,可以对运算放大器的性能进行全面地检测。
测试结果的记录和分析,对于处理故障、提高电路可靠性具有重要的作用。
实验三、运算放大器参数测量及基本应用一、实验目的1.认识运算放大器的基本特性,通过仿真和测试了解运放基本参数,理解参数的物理含义,学会根据实际需求选择运放;2.掌握由运放构成的基本电路和分析方法;3.熟悉仿真软件Multisim的使用,掌握基于软件的电路设计和仿真分析方法;4.熟悉便携式虚拟仿真实验平台,掌握利用其进行实验的使用方法。
二、实验预习1. 复习运放的理想化条件,了解集成运算放大器的主要技术指标和含义;2. 复习运放应用的各种基本电路结构;3. 熟悉运放LM358L(因multisim元器件库中没有LM358L,所以仿真用LM358J来做,而实际电路用LM358L,它们DIP封装引脚排列是一样的)的性能参数及管脚布局,管脚布局如图3.1所示,并根据图3.2所示的内部原理图理解电路结构和工作原理。
图3.1 LM358L管脚LM358J为单片集成的双运放,采用DIP-8封装,INPUT1(-)为第一个运放的反相端输入,INPUT1(+)为同相端输入,OUTPUT1为输出,第二个运放命名原则相同。
Vcc为正电源输入端,V EE/GND可以接地,也可以接负电压。
双电源(±1.5-±16V)。
图3.2 LM358J内部原理图LM358L主要由输入差分对放大器、单端放大器、推挽输出级以及偏置电路构成。
三、实验设备便携式虚拟仿真实验平台(PocketLab、元器件)。
四、实验内容(一)仿真实验1. 运放基本参数仿真测量(用LM358J 代替LM358L) (1) 电压传输特性根据图3.3所示电路,采用正负电源供电,运放反相端接地,同相端接直流电压源V 3,在-150μV~150μV 范围内扫描V 3电压,步进1μV ,得到运放输出电压(节点3)随输入电压V 3的变化曲线,即运放电压传输特性,根据仿真结果给出LM358J 线性工作区输入电压范围,根据线性区特性估算该运放的直流电压增益A vd 。
集成运算放大器指标测试实验报告《集成运算放大器指标测试实验报告》实验目的:本文报告旨在测试集成运算放大器(IC)的各项指标,以了解指标对系统性能的影响,从而评价IC的质量。
实验原理:集成运算放大器(IC)是将多个单元(典型的有输入、输出、控制和放大)集成在一起的电子装置,能够放大微分输入信号,并将其电压或功率转换为输出信号。
IC指标的测试主要包括:输入阻抗、输出阻抗、电压增益、传输延迟、频响等,用以衡量IC的整体性能。
实验设备:实验所需设备包括模拟信号发生器、频率计、数字多用表测量仪、50 Ω示波器终端、数字示波器等。
实验步骤:(1)参数测量使用数字多用表测量仪对测试IC的输入阻抗、输出阻抗等参数进行测量,确定测试IC的各项指标。
(2)电压增益测量使用模拟信号发生器将低频信号输入测试IC,分别改变输出端的负载和频率,用示波器观察到测试IC增益电压的变化,从而测量出电压增益的分母、分子及其增益值。
(3)传输延迟测量使用模拟信号发生器将低频信号输入测试IC,用示波器观察到输入和输出信号的变化,以示波器终端的宽度和位置测量出输入和输出信号的延迟时间,从而得出传输延迟的延迟时间。
(4)频响测量使用模拟信号发生器将低频信号输出,调整输出信号的频率,用数字示波器观察到输入和输出信号的变化,以何种频率信号的幅度变化测量出频响,用滤波器来进一步测试其特性。
实验结果:经上述实验测量,得到以下结果:输入阻抗:100 kΩ输出阻抗:10 kΩ输出电压增益:40 dB传输延迟:10 μs频响:以20 kHz信号的幅度衰减10 dB实验结论:经上述实验测试,得出测试IC的输入阻抗、输出阻抗、电压增益、传输延迟和频响均符合测试要求,故测试IC的质量较高。
集成运算放大器的测试1. 简介集成运算放大器(Integrated Circuit Operational Amplifier,简称IC Op-Amp)是一种基础电路模块,广泛应用于模拟电子电路中。
在实际电路设计中,对IC Op-Amp的测试是十分重要的,可以保障电路的正常运行和性能。
本文将介绍IC Op-Amp测试中的要点和方法。
2. 设备和工具在进行IC Op-Amp测试前,需要准备下列设备和工具:1.待测试IC Op-Amp2.可调直流电源3.双踪示波器4.函数信号发生器5.电阻箱6.多用万用表7.接线、夹子、连接线等3. DC参数测试在实际电路中,IC Op-Amp通常会处理各种不同幅值和频率的输入信号,因此对其进行DC参数测试就显得十分重要。
下面是DC参数测试的步骤:1.连接示波器和电源:将双踪示波器的通道1连接到待测试IC Op-Amp的输出端,通道2连接到输入端。
同时,将可调直流电源的正极连接到IC Op-Amp的VCC引脚,负极连接到VEE引脚。
2.测量输入偏移电压:将函数信号发生器的输出连接到ICOp-Amp的正输入端,输入为0V。
使用万用表测量IC Op-Amp的输出电压,并与0V比较。
得到的输出电压即为输入偏移电压。
如果偏移电压较大,会影响电路的稳定性。
3.调整输入偏移电压:使用电阻箱或仿真工具,调整引脚上的电压,直到输入偏移电压为0。
这一步是十分重要的,因为输入偏移电压为0时,IC Op-Amp的基准电平与输入信号相等,不会产生误差。
4.测量输入偏移电流:使用多用万用表测量IC Op-Amp的两个输入端之间的电流。
由于IC Op-Amp有一个高阻输入,因此输入偏移电流一般十分小,一般不会影响电路。
5.温度漂移测试:在常温和高温(如:100°C)两种情况下接通电源,然后测量输入偏移电压。
输入偏移电压的变化即为温度漂移。
温度漂移也会对电路的稳定性产生影响,应当予以注意。
运放关键参数的测量方法介绍运算放大器是差分输入、单端输出的极高增益放大器,常用于高精度模拟电路,因此必须精确测量其性能。
但在开环测量中,其开环增益可能高达107或更高,而拾取、杂散电流或塞贝克(热电偶)效应可能会在放大器输入端产生非常小的电压,这样的话,误差将是难以避免的通过使用伺服环路,可以大大简化测量过程,强制放大器输入调零,使得待测放大器能够测量自身的误差。
图1显示了一个运用该原理的多功能电路,它利用一个辅助运放作为积分器,来建立一个具有极高直流开环增益的稳定环路。
开关为执行下面所述的各种测试提供了便利。
图1. 基本运算放大器测量电路图1所示电路能够将大部分测量误差降至最低,支持精确测量大量直流和少量交流参数。
附加的“辅助”运算放大器无需具有比待测运算放大器更好的性能,其直流开环增益最好能达到106或更高。
如果待测器件(DUT)的失调电压可能超过几mV,则辅助运放应采用±15 V电源供电(如果DUT的输入失调电压可能超过10 mV,则需要减小99.9 kΩ电阻R3的阻值。
)DUT的电源电压+V和–V幅度相等、极性相反。
总电源电压理所当然是2 ×V。
该电路使用对称电源,即使“单电源”运放也是如此,因为系统的地以电源的中间电压为参考。
作为积分器的辅助放大器在直流时配置为开环(最高增益),但其输入电阻和反馈电容将其带宽限制为几Hz。
这意味着,DUT输出端的直流电压被辅助放大器以最高增益放大,并通过一个1000:1衰减器施加于DUT的同相输入端。
负反馈将DUT输出驱动至地电位。
(事实上,实际电压是辅助放大器的失调电压,更精确地说是该失调电压加上辅助放大器的偏置电流在100 kΩ电阻上引起的压降,但它非常接近地电位,因此无关紧要,特别是考虑到测量期间此点的电压变化不大可能超过几mV)。
测试点TP1上的电压是施加于DUT输入端的校正电压(与误差在幅度上相等)的1000。
运算放大器性能测量方法图解运算放大器是差分输入、单端输出的极高增益放大器,常用于高精度模拟电路,因此必须精确测量其性能。
但在开环测量中,其开环增益可能高达107或更高,而拾取、杂散电流或塞贝克(热电偶)效应可能会在放大器输入端产生非常小的电压,这样误差将难以避免。
通过使用伺服环路,可以大大简化测量过程,强制放大器输入调零,使得待测放大器能够测量自身的误差。
图1显示了一个运用该原理的多功能电路,它利用一个辅助运放作为积分器,来建立一个具有极高直流开环增益的稳定环路。
开关为执行下面所述的各种测试提供了便利。
图1. 基本运算放大器测量电路图1所示电路能够将大部分测量误差降至最低,支持精确测量大量直流和少量交流参数。
附加的“辅助”运算放大器无需具有比待测运算放大器更好的性能,其直流开环增益最好能达到106或更高。
如果待测器件(DUT)的失调电压可能超过几mV,则辅助运放应采用±15 V电源供电(如果DUT 的输入失调电压可能超过10 mV,则需要减小99.9 kΩ电阻R3的阻值。
)DUT的电源电压+V和–V幅度相等、极性相反。
总电源电压理所当然是2 × V。
该电路使用对称电源,即使“单电源”运放也是如此,因为系统的地以电源的中间电压为参考。
作为积分器的辅助放大器在直流时配置为开环(最高增益),但其输入电阻和反馈电容将其带宽限制为几Hz。
这意味着,DUT输出端的直流电压被辅助放大器以最高增益放大,并通过一个1000:1衰减器施加于DUT的同相输入端。
负反馈将DUT输出驱动至地电位。
(事实上,实际电压是辅助放大器的失调电压,更精确地说是该失调电压加上辅助放大器的偏置电流在100 kΩ电阻上引起的压降,但它非常接近地电位,因此无关紧要,特别是考虑到测量期间此点的电压变化不大可能超过几mV)。
测试点TP1上的电压是施加于DUT输入端的校正电压(与误差在幅度上相等)的1000倍,约为数十mV或更大,因此可以相当轻松地进行测量。
运算放大器的指标测试一、实验目的1.加深对集成运算放大器特性和参数的理解。
2.学习集成运算放大器主要性能指标的测试方法。
二、实验内容1.测量输入失调电压V IO 。
2.测量输入失调电流I IO 。
3.测量输入偏置电流I IB 。
4.测量开环差模电压增益A od 。
5.测量最大不失真输出电压幅度V o(max)。
6.测量共模抑制比K CMR 。
7.测量转换速率SR 。
三、实验准备1.了解集成运放μA741的管脚排列。
2.查阅有关资料,找出集成运放μA741主要性能指标的典型数据。
3.理解V IO 、I Io 、A od 、K CMR 、V om 等指标的测试电路的工作原理,选定实验所需仪器,拟定实验步骤。
四、实验原理与说明集成运算放大器是一种高增益的直接耦合放大电路,在理想情况下,集成运放的A od =∞、R i =∞、V IO =0、I IO =0、K CMR =∞。
但是实际上并不存在理想的集成运算放大器。
为了解实际运放与理想运放的差别,以便正确使用集成运放大器,有必要研究其实际特性,并对其主要指标进行测试。
下面介绍的是运放主要指标的简易测试方法。
1.输入失调电压V IO 的测量在常温下,当输入信号为零时,集成运放的输出电压不为零,该输出电压称为输出失调电压。
为了使输出电压回到零,需要在输入端加上反向补偿电压,该补偿电压称为输入失调电压V IO 。
V IO 可能为正,也可能为负。
高质量运放的V IO 一般在1mV 以下。
V IO 的大小主要反映了运放内部差分输入级中两个三极管V BE 的失配程度。
当运放的输入外接电阻(包括信号源内阻)比较小时,失调电压及其温漂往往是引起运放误差的主要原因。
输入失调电压的测试电路如图9.19所示。
电路中R 1和R 3、R 2和R 4的参数应严格对称。
测出输出电压V O1的大小(实测值可能为正,也可能为负),则输入失调电压为:O1211IO V R R R V +=图9.19 V IO 测试电路 2.输入失调电流I IO 的测量在常温下,当输入信号为零时,集成运算放大器两个输入端的输入电流之间的差值称为输入失调电流I IO ,设I BP 和I BN 分别是运放同相输入端和反相输入端的输入电流,则输入失调电流I IO =│I BP -I BN │。
集成运放的I IO 一般在100nA (1nA=10-9A )以下。
输入失调电流的大小反映了运放内部差分输入级中两个三极管基极静态电流的失配程度。
当集成运算放大器的输入端外接电阻比较大时,输入失调电流及其温漂是造成运放误差的主要原因。
输入失调电流的测试电路如图9.20所示,电路中R 1= R 3,R 2=R 4,而且两个输入端上的电阻R b 必须精确配对才能保证测量精度。
图9.20与图9.19之间的区别是两个输入端上均引入了电阻R b ,此时,输出电压V O2可以看作是由输入失调电压V IO 和输入失调电流I IO 共同引起的。
由于R b >>R 1,因此输入电流I BN 和I BP 在电阻R 1和R 3上的压降可以忽略。
测得运放的输出电压V O2,则输入失调电流为:b 211O1O2IO R 1R R R V V I ⋅+-=式中,V O1为图9.19中测得的输出电压。
图9.20 I IO 测试电路 3.输入偏置电流I IB 的测量输入偏置电流是指在常温下,且输入信号为零时,集成运算放大器两个输入端输入电流的平均值,即)I (I 21I BN BP IB +=。
集成运放的I IB 一般在10nA ~1μA 范围内。
输入偏置电流的测试电路如图9.21所示,该电路是在图9.20的基础上增加了两个开关S 1和S 2(在实验中可利用导线的接通与否来取代开关)。
图9.21 I IB 测试电路 当S 1断开、S 2闭合时,若测得运放输出电压为V O3,则)R I )(V R R (1V b BN IO 12O3++=当S 1闭合、S 2断开时,若测得运放输出电压为V O4,则 )R I )(V R R (1V b BP IO 12O4-+=两式相减,得: )R R )(1I (I R V V 12BP BN b O4O3++=- 因此,输入偏置电流为: b 121O4O3BP BN IB R 1R R R )V (V 21)I (I 21I ⋅+⋅-=+=在测量输入偏置电流I IB 时,应注意:(1)只有当集成运放的输出电压尚未达到饱和值时,测试电路所获得的各项测试结果才是正确的。
(2)在测试时,应该用示波器监视输出电压波形,若发现集成运放的输出端产生自激,则必须加补偿电容,以消除自激振荡。
4.开环差模电压放大倍数A od 的测量集成运放的开环差模电压放大倍数A od 可以采用直流信号源进行测量,但为了测试方便,通常采用低频(如几十赫兹以下)交流信号进行测量。
具体的测量方法很多,一般采用同时引入直流反馈和交流反馈的测试方法,如图9.22所示。
图9.22 A od 与V o(max)测试电路 图9.22电路中,被测运放一方面通过R f 、R 1、R 2引入直流反馈,以抑制输出电压失调;另一方面,通过R f 引入交流反馈,输入回路中的电阻R 1和R 2同时又起到对输入交流信号进行分压衰减的作用。
同相端接地电阻R 3应与反相端所接电阻相匹配,以减小输入偏置电流的影响。
电容C 是隔直电容。
被测集成运算放大器的开环差模电压增益为:212i o ido od R R R υυυυA +==需注意的是:在测量过程中,要求被测运放始终工作在线性放大区,而且没有自激振荡现象。
5.最大不失真输出电压V o(max)的测量V o(max) 的测试如图9.22所示,与A od 的测试电路相同。
实验时,只需改变υs 幅度,并观察υo 是否开始出现削顶失真,从而确定运放在一定电源电压下的最大不失真输出电压幅度V o(max)。
6.共模抑制比K CMR 的测量集成运放的共模抑制比是其差模电压放大倍数A od 与共模电压放大倍数A oc 之比的绝对值,即 ocod CMR A A K =K CMR 的测试电路如图9.23所示。
由图可得共模电压放大倍数为: ic ococ v v A =图9.23 K CMR 测试电路 由所测得的A od 和A oc 不难得到共模抑制比K CMR 。
实验时应注意:(1)R 1与R 2、R 3与R f 的阻值应严格配对,否则将影响测量精度。
(2)在测量A oc 时,应该适当加大共模输入信号υic 的幅度,但又必须小于被测集成运放的最大共模输入电压V Ic(max)。
(3)在输出端上,仍需用示波器监视电路没有产生自激振荡。
7.转换速率SR 的测量转换速率SR 反映了集成运放对信号变化速度的适应能力。
在大信号条件下,集成运放的输出电压随时间的最大变化率称为转换速率,即max dtdv SR O =。
集成运算放大器一般在每微秒零点几伏以上,高速型运放的转换速率高达每微秒上百伏。
转换速率与运放的电路结构、反馈深度及补偿网络有关,手册中给出的SR 一般是在运放接成电压跟随器或反相器的情况下测得的。
SR 的测试电路如图9.24所示,图中被测运放构成反相器。
对于最大允许共模输入电压较高的集成运放,也可接成电压跟随器。
图9.24 SR 测试电路 若输入信号是前沿陡峭的大幅度方波(峰峰值≥1V ),则由输出波形υO 的过渡区斜率(一般取0.9+O m V ~0.9-O m V ),可得到被测运放的转换速率,如图9.25所示。
由图可得:129090SR t V .t V .Om Om ∆=∆=-+ 若测得正向与负向的转换速率不同,则应取其中数值较小者。
图 9.25 SR 测试波形 当采用正弦电压作为输入信号时,设正弦输出电压为πft V 2sin υo(max)O =,式中V o(max)为集成运放的最大不失真输出电压。
则转换速率为:(max)max O 2dt d υSR o fV π==,由此可得:f V π2SR o(max)=。
可见,集成运放的最大不失真输出电压幅度受运放工作频率的限制。
随着频率的升高,由于转换速率一定,运放的最大不失真输出电压幅度将减小。
当输入正弦波υs 的频率太高时,由于受转换速率的限制,将出现输出电压的变化跟不上输入电压的变化,从而引起输出正弦波形严重失真,甚至使输出几乎成为三角波,而且幅度也将明显地减小,如图9.26所示。
因此,通常集成运算放大器在大信号条件下的最高工作频率远低于小信号工作时的上限频率。
图9.26 因SR引起的失真五、计算机辅助设计1.集成运放指标的仿真分析用计算机仿真分析软件对集成运放的性能指标进行仿真分析时,可以利用计算机的“虚拟”特性,直接根据运放指标的定义进行仿真,而不用担心损坏元器件,因此比用实际电路进行测试容易得多。
若要仿真输入失调电压V IO、输入失调电流I IO、输入偏置电流I IB时,应选择Bias Point Detail(静态工作点分析)或DC Sweep(直流工作点分析);若要仿真开环差模电压增益A od、最大不失真输出电压V o(max)、共模抑制比K CMR,则应选择Transient(瞬态分析)和AC分析(交流分析)。
仿真时,集成运放选择µA741,管脚1、5、8可悬空。
直流电压源选择VDC,注意管脚7接+15V,管脚4接-15V。
交流信号源选择VSIN,参数设置为:FREQ=1~10Hz左右,VOFF=0,VAMPL由具体实验而定,AC等于V AMPL的值。
2.实验电路的仿真分析在PSpice中输入实验电路,进行以下仿真分析,并将仿真结果与实验实测数据进行比较。
(1)测量输入失调电压V IO、输入失调电流I IO、输入偏置电流I IB。
(2)测量开环差模电压增益A od、最大不失真输出电压幅度V om、共模抑制比K CMR。
六、实验报告1.将所测得的数据与典型指标值进行比较。
2.在测试运放的开环差模电压增益时,为什么必须引入直流负反馈?3.分析实验中遇到的现象。