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正畸头影测量分析

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CBCT技术在正畸头影测量分析中的研究进展

CBCT技术在正畸头影测量分析中的研究进展
ｉ ａ ｉｏ ｅＳ ｒ ，Ｏ５， （ ） ２９ ｅ ． ｒ ｏ ｘｌ ａ ｕｇ２ Ｏ ３ ４ ： ． ｎｍ ｌ ｆ ３ ２
５ 刘怡 ， 赵健慧 ， 云， 锥形 束 Ｃ 丁 等． Ｔ转 化头 颅侧位片定点精确性的研究 ［ ］ 中华 口腔 Ｊ． 正 畸学 杂 志 ，０ ０ １ （ ）：１— ５ ２ １ ，７ ２ ６ ６ ．
析的软件 ， 目前 正在起 步 阶段 ， ｊ维影 像 测 量分 析方 法需 建立新 系统规 范 以明确 其精确度和准 确性 。新 的三维 测量 坐标
系 统 包 括 ： 标 原 点 、 准平 面 、 量 标 志 坐 基 测 点 、 维 参 考 平 面 和 测 量 项 目等 。 三 降低 Ｃ Ｃ Ｂ Ｔ辐 射 剂 量 的 研 究
锥 形 束 Ｃ 头颅 侧 位 片 Ｔ
确 。刘怡 等研 究 对 比 正畸 患 者 Ｃ Ｃ ＢＴ 转化头颅侧 位 片与传统 头颅侧 位片 的定 点精 确性 发 现前 者定 点 精 确性 更 高 ， 尤其在颅底点（ ａ ， 点（ ） 眶点 （ ， Ｂ ）耳 Ｐ ， Ｏ）
４ ２ ｄ ｉ １ ． ９ ９ ｊ ｉ ｎ １ ７ — ６１ ｘ．２０１ ｏ ：０ ３ ６ ／． ｓ ００ ｓ
头影 测量 分析 是正畸 治疗 过程 中的 重要组成 部分 ， 口腔颌面部影像从二维到 三维 的 发 展 ， 得 颌 面 部 锥 形 束 Ｃ 使 Ｔ （ Ｂ Ｔ 在 头影 测 量学 中的研 究成 为热 ＣＣ） 点。就 Ｃ Ｃ Ｂ Ｔ在 正 畸头 影测量 分 析 中的 应用的最新发展做一综述。
ｒ ｃ ｎ ｔｕ ｔ ｎ ｎ ｎ ｄ ｙ ｓ ｕ ｌ ｆｓ ｅ ｐ ｆｔ － ｅ ｏ ｓ ｃｉ ｓ ａ ｄ ｏ ｒ ｋ ｌ ｏ ｈ ｅ ｅｕ ｒ ｏ ｓ
得 的测量值与传统头位测量片相似 ， 适合 于做 纵 向研 究 Ｊ 。 放射剂量 ： 报道 ， 有 孕妇 长时 间暴 露 于 ｘ线照射 可 导致 低体 重儿 得 产生 ， 因 此， 影像学诊断手段的放射剂量评估非 常 重 要。根据 ２ ０ ０７年 国际放射防护 委员 会 （Ｃ Ｐ２ ０ ） ＩＲ ０ ７ 有效放 射剂量 测定标 准 ， 螺 旋 Ｃ Ｔ放射剂 量是 中等 视野 Ｃ Ｃ Ｂ Ｔ的 １５ ． １． ２ ３倍 。

《X线头影测量学》课件

《X线头影测量学》课件

对于需要手术治疗的颅面畸形，X线头影测 量可以评估手术前后颅面形态的变化，指 导手术方案的制定和调整。
比较治疗效果
科学研究
通过比较治疗前后的X线头影测量结果，可 以评估治疗效果，为进一步治疗提供依据 。
X线头影测量在颅面外科研究中也有广泛应 用，如颅面生长的规律、手术效果的评价 等。
其他医学领域应用
头影测量的目的是为了了解颌面部软硬组织的生长发育状态、分析颌面部畸形 的病因、制定正畸治疗方案、评估治疗效果和预测未来生长趋势等。
头影测量学发展历程
早期头影测量学
早期的头影测量学主要依靠手工测量和目测，精度和可靠性较低。
数字化头影测量
随着计算机技术的发展，数字化头影测量逐渐取代手工测量，实现 了快速、准确、可重复的测量和分析。
04 X线头影测量学实 验操作
实验设备介绍
01
02
03
实验设备
X线机、头影测量分析软 件、测量工具等。
设备功能
X线机用于拍摄头颅X线片 ，头影测量分析软件用于 测量和分析X线片，测量 工具用于辅助测量。
设备要求
确保设备性能稳定、精度 高，以保证实验结果的准 确性和可靠性。
实验操作流程
实验准备
选择合适的实验对象，准备实验材料和设 备。
1 2 3
颞下颌关节紊乱病
X线头影测量可以用于颞下颌关节紊乱病的诊断 和治疗，帮助医生了解关节位置和形态，评估治 疗效果。
正颌外科
在正颌外科手术中，X线头影测量可以帮助医生 了解颌骨形态和位置，为手术设计提供依据，并 评估手术效果。
口腔颌面部肿瘤
对于口腔颌面部肿瘤患者，X线头影测量可以用 于肿瘤的诊断、手术前后评估以及放疗定位。
06 总结与展望

线头影测量分析

线头影测量分析

前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖
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A (Subspinale上齿槽座点)
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－定点
UI (Upper incisor上中切牙切端)
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3.下颌标志点
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－定点
髁顶点(Co):髁突最上点
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－定点
作为诊断分析 的基础
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3.确定错牙合畸形的矫治计划
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正常牙颌 பைடு நூலகம்面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
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治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
❖ 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点 指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。
定位
2.头影图的描绘
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❖ X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结 构不完全对称而出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
传统X线片
数字化X线片
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传统手描图
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简介
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❖ 1934年Hofrath and Broadbent 提出 ❖ 我国于20世纪60年代初运用于临床
X线头影测量分析
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通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形态深入到内部的骨骼结构中去,它是正畸临床诊断 及治疗设计的一种重要手段.

X线头影测量分析

X线头影测量分析
X 线头影测量 , 主要是测量 X 线头颅定位照像 所得的影像 , 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一 定的线角进行测量分析 , 从而了解牙颌、 颅面 软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断 , 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发展历史
* 1780 年 解剖学家 Camper
* 1884 年 人类学国际会议在德国 Frankfurt 举 行—眼耳平面（ FH ）的诞生
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓 眶侧缘、下缘 翼上颌裂 上下颌骨 上下 1 、上下 6 软组织侧貌
常用 X 线头影测量 的标志点
标志点
• 定义 :
面及测量内容的点
用来构成一些平
• 特点：
– 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标志点
• 部位 :
–颅部 – 上颌 – 下颌 –软组织侧
２ . 牙颌、颅面畸形的诊断分析
X 线头影测量的主要应用
3. 确定错畸形的矫治设计
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
4. 研究矫治过程中及矫治后的 牙颌、颅面形态结构变化
X 线头影测量的主要应用
5. 外科正畸的诊断和矫治设计
下颌标志点
• 颏前点 ( Po): 颏部 之最突点
• 颏下点 ( Me): 颏 部之最下点
• 颏顶点 ( Gn): Po 与 Me 之中点
• D 点 :下颌体骨性 联 合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点 ( Id) : 下齿 槽突之最前上 点
• 下齿槽座点 ( B): Id 与 Po 间之骨部最凹 点
用于评价下颌基骨 前后位置的重要标 志点！

头影测量

头影测量

下颌角点
软组织侧貌标志点
• 额点（G. Glabella）:额部最突点 • 鼻顶点（Prn. Pronasale）:鼻部软组织最突点 • 上唇突点（UL. Upper Labrale）:上唇最突点 • 下唇突点（LL. Lower Labrale）:下唇最突点 • 软组织颏前点（Pos. Pogonion of Soft Tissue）:
下颌标志点
髁顶点（Co. Condylion）:髁突最上点 关节点（Ar. Articulare）:颅底下缘与下颌髁突颈后缘交点， 在颏顶点不清晰时用，为升支平面标志点之一 下颌角点（Go. Gonion）:下颌角的后下点，即下颌平面和下 颌升支后缘切线交角的角平分线与下颌角的交点（通过下颌平 面与升支后缘切线的交点GO'来确定）
• 下切牙点（Li. Lower Incisor）:最前的下中切牙切缘点 • 下齿槽座点（B. Supramental）:
下齿槽缘点与颏前点间之骨部最凹点
下颌标志点
• 颏前点（Po. Pogonion）:颏部最前点 • 颏顶点（Gn. Gnathion）:颏前点与颏下点骨连线中点 • 颏下点（Me. Menton）：颏部最下点
颅部标志点
• Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
上颌标志点
• 眶点（Or. Orbitale）:眶下缘最低点
上颌标志点
• 前鼻棘点（ANS. Anterior Nasal Spine）:前鼻 棘之尖
• 后鼻棘点（PNS. Posterior Nasal Spinale）： 硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 常用的点不用背，只需理解
• 冒着眼瞎的风险定出来的点，具体临床作 用
拍摄时射线主轴沿外耳道上缘穿过， Frankfort水平面需平行于地面

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举

经典X线头影测量分析方法及其国内应用胡关举1931年，美国的Broadbent[1]提出了X线头影测量分析方法。

该方法主要是通过患者拍摄X线头颅定位侧位片，然后对面部软硬组织进行定点、描绘线角以及轮廓，并测量线距与角度进行测量分析。

这一革新使对患者牙、颌、颅面软硬组织结构特点的了解由表及里，让个体或人群的颅面部参数开始步入量化时代，使得区分正常与异常的解剖形态更加形象化、数据化。

如今已发展成为口腔正畸、正颌外科诊断、治疗、预后及科研中不可或缺的一部分。

1 Tweed三角分析法由Tweed[2]于1945年提出，该三角由眼耳平面、下颌平面和下中切牙长轴围成。

具体为：FMA角：眼耳平面与下颌平面围成；FMIA角：下中切牙长轴与眼耳平面围成；IMPA角：下中切牙长轴与下颌平面围成。

临床应用时该分析方法可结合下牙弓散隙来决定与否拔牙。

Tweed认为下切牙相对于基骨的位置关系十分重要，是维持牙合关系稳定的关键因素。

所以主要通过改变下切牙唇舌向倾斜角度来改善面型和维持牙合关系的稳定，他通过对白种人的研究认为FMIA 值为65°是建立良好侧貌的重要条件。

所以FMIA 65°成为了Tweed矫治理念中追求的矫治目标。

但Tweed[3-4]也指出对下切牙唇舌向倾斜度的改变可能会加重畸形程度，如颏唇沟较深的AngleⅡ2分类错牙合，下切牙内收畸形会加重，下颌发育不足后缩、上切牙位置正常的AngleⅡ1分类患者，直立下切牙则会加重已存在的深覆盖，上切牙后收又会造成凹面型。

Tweed分析法测量值来自白种人群，不一定适合中国人群；对于较复杂的畸形很难分析出较全面的畸形机制。

临床应用时下切牙的倾斜度和矫正应根据不同患者骨骼下调的具体情况等做出正确的选择。

吕婴等[5]在此基础上提出了Tweed小三角的概念：即由下颌第一磨牙长轴、下颌平面角、眶耳平面围城的三角。

通过对大小三角的对比研究发现两个三角存在着特定联系，为矫治过程中如何调整第一磨牙的近远中倾斜角度提供了参考依据，同时也丰富了Tweed三角分析法，有一定临床指导价值。

头影测量分析方法


头04影测量分析方法的优缺点与 局限性
头影测量分析方法的优点
• 头影测量分析方法的优点 • 客观性强，减少了人为误差 • 可以准确反映颅颌骨的结构特点，为诊断和治疗提供依据 • 可以重复测量，便于长期观察和对比分析
头影测量分析方法的缺点
• 头影测量分析方法的缺点 • 操作复杂，需要专业的知识和技能 • 依赖影像手段，可能受到影像质量的影响 • 难以全面反映患者的生理和心理状况
头03影测量分析的主要指标与意 义
头影测量分析的主要指标
头影测量分析的主要指标
• 角度指标：如SNA、SNB、ANB等 • 线距指标：如ANS-Me、UI-SN等 • 面积和体积指标：如全面积、下颏体积等
头影测量分析的辅助指标
• 牙齿指标：如牙槽骨高度、牙齿倾斜角度等 • 软组织指标：如鼻唇角、颏颈角等
头影测量分析结果的评估与诊断
头影测量分析结果的评估
• 根据正常值范围和统计学方法，评估测量结果的正常与否 • 分析测量结果之间的关联性，了解各种指标的变化趋势 • 结合患者的临床表现和其他检查结果，进行综合分析
头影测量分析的诊断
• 根据测量结果，诊断患者的颅颌骨生长发育状况和疾病程度 • 指导正畸治疗和颌面外科手术方案的设计 • 预测治疗效果和评估治疗进展
头影测量分析方法的发展趋势与前景
头影测量分析方法的发展趋势
• 个性化治疗和精准医疗的需求，推动头影测量分析方法的改进和发展 • 口腔医学与其他学科的交叉融合，拓展头影测量分析的应用领域 • 计算机辅助设计和人工智能技术的应用，提高头影测量分析的效率和准确性
头影测量分析方法的前景
• 在口腔医学领域发挥重要作用，为诊断和治疗提供科学依据 • 随着技术的进步，头影测量分析方法将不断完善和发展，为患者提供更优质的医疗 服务

正畸测量软件种类


FYI头影测量大师
一、头影测量部分：
（一）X-光片的录入：
本系统X-光片的录入对所有支持TWAIN的设备都适用，目前主要建议使用36bit, 600×1200，4800dpi，TMA A4幅面以上配置的扫描仪，如：A
gafa Duoscan T1200, ScanAce Ⅲ等中档以上的型号。另外本系统还支持CR，DR输入[ 7 ]，这点和口腔影像学未来的数字化发展趋势是相适应的。另外系统还可以直接读入软/硬/光盘上已经存在的BMP/JPG格式的文件。从以上各种方式所获头颅侧位片及面相可依据矫治前、矫治中第一、二、三阶段及矫治后分别储存。
正畸头影测量分析系统软件种类
１，SP头影测量软件，所属单位：北京大学口腔医学院
２，艾坚头影测量分析系统，上海艾坚软件有限公司开发
３，ＦＹＩ头影测量大师
４，ＣＡＳＳＯＳ正畸头影测量分析系统
５，NemoCeph 口腔头影测量分析系统，是法国 Visiodent 公司研发
6、WinCeph8.0 网络版头影测量分析系统，日本RISE珠式会社开发
（二）头影测量的进行：
在选定测量方法后即可在X光片上直接进行鼠标定点，系统同时配有所需定点的顺序提示。如定点错误则可重新进行。所获测量的点线可由不同颜色来区分，以避免重复，另该颜色可自定义。需要说明的是系统提示定点的数量与操作者所定义的测量方法直接相关。所有定点正确输入后即可查询测量结果并打印输出或以TXT文件存档。
（三）自定义标志点、测量项目、测量方法及变量值：
此为本系统的最大优势，本系统预置了134个标志点，使用者可另外自定义100个以上的标志点，但需添加标志点名称，指代，以及说明。本系统原有测量项目110项，足以满足一般头影测量的需要。若使用者需自定义测量项目，可先选择所需的测量项目类型（包括两点线距，两线成角，点线距离等所有二维测量类型），然后再选择具体的点，系统所提供的测量项目增加余地为300项以上。至于测量方法的定义，本系统预设了12种常用的头影测量方法，包括Clark，Downs等著名的分析方法，另外使用者可根据自己的需要定制新的测量方法，只需从已经存在的测量项目中选取需要者就可以了，非常方便。 而对于变量值即标准值，由于我国地域辽阔，各地人口的头颅测量标准值存在着一定的差异，本系统的标准值和标准差均可自行设定，这样就可很容易地使系统“本地化”，适合于各地的需要。

头影测量在正畸学中的临床研究及应用发展


面 骨 骼 位 置 关 系 与 形 态特 点 的信 息 ， 已经 成 为 非 常 成 熟 的检 查 方 法 ， 有 助 于 明确 诊 断 、 将 制定 治 疗 计 划 、 估 预 评 后等 。ｘ 头影 测量 自２ 世 纪 中期 就 已开始 应用 于 口腔 正 线 ０ 畸学 ， 目前 ， 已经 在 国 内外 得 到普 遍应 用 ， 且 发 展 的 相 而 当成 熟 ， 当完 善 。在过 去 的 １ 年里 ， 生 了一种 崭 新 的 相 ０ 产 三 维 头 影测 量 方法 ， 得 头 影 测 量 的 功 能 得 到 极 大 的 丰 使
【 要 】 头影 测量 一 直是 口腔 正 畸 ・床诊 断 、 摘 治疗设 计 及研 究 工作 的 重要 手段 。 各种 头影测 量 分析 法也 在 不断 完善 。随 着数码 技 术的 飞速 发展 和 计算 机应 用 的 日益 广泛 ， 用数 字化ｘ线 片和 计 算机 辅助 头影测 量逐 渐 增 多 ， 应 头影 测 量技 术 也 经过 了３ 渐 次 个 发 展 的 阶段 ， ： 手 工 头影 测量 ； 常规计 算杌 辅 助 头影 测 量 ； 三 维 头影 测 量 。本 文 主要 对 头影 测 量技 术 的发 展及 应 用 进 行 即 ① ② ③
（ 稿 日 期 ：０２ ０—９ 收 ２ １— ５ ２ ）
・
综述 ・
文 章编 号 ： ０ ５ ６ ９ ２ １）９ ０９ — ３ １０ — １Ｘ（０ ２０ — ７ ９ ０
头影 测 量在 正 畸学 中的 临床 研究 及 应 用发 展
骆 厚卓 张晓 东 李 成 日 张文 君 贾立 辉 （ 阳军 区总 医 院 口腔 内科 ， １８ ０ 沈 １０ ４ ）
［ 任 希 玉 ， 培 雷 ， 余 金 ． 强 基 层 部 队 全 科 卫 生 人 才 ５］ 周 陈 加 队 伍 建 设 的 几 点 思 考 ［ ］沈 阳 部 队 医 药 ， ０ １ ２ （ ） Ｊ． ２１ ，４ ６ ：

成人双颌前突患者舌侧正畸的X线头影测量分析

成人双颌前突患者舌侧正畸的X线头影测量分析目的:观察经舌侧隐形正畸矫治器治疗的双颌前突的成人患者牙齿、颌骨以及面部软组织的变化情况。

方法:16例使用舌侧隐形矫治器的患者,通过治疗前后X线头影测量分析,观察患者牙齿、颌骨以及面部软组织的变化情况。

结果:16例使用舌侧隐形矫治器的患者,经过平均2.6年的治疗后,上下颌平面角FH-AB增大(2.51±5.64,P＜0.05),患者的上齿槽座角减小SNA(1.30±1.28,P＜0.05), 同时,伴有下列数据的减小:上下齿槽座夹角ANB(1.64±0.79,P＜0.001)、上唇突度E-UI(4.22±2.41,P＜0.001)、下唇突度E-LI(4.09±1.90,P＜0.001),上切牙唇倾角(9.45±4.62,P＜0.001)、下切牙切点至AB平面的距离3.64±3.12,P＜0.001)、上下齿槽座点在合平面上垂足的距离(2.58±1.76,P＜0.001)、前牙覆牙合(2.38±1.77,P ＜0.001)、前牙覆盖(2.05±0.52,P＜0.001)。

结论:患有双颌前突的成人患者,使用隐形正畸矫治器治疗后,可获得良好的牙齿排列、牙颌关系的同时,也可获得满意的口腔以及颜面部的美学效果。

Abstract:ObjectiveTo investigate the oral and maxillofacial changes oflingual appliance treating of adult patients with bimaxillary protrusion. Methods A total of 16 adult patients included in the study. The cephalometric analysis was used to investigate the oral and maxillofacial changes.Results16 patients were treated with lingual appliance for a mean duration 2.6 years.Significant retroclination of the maxillary incisor(-8.74±4.10,P＜0.001)and increased of FH-AB angles(2.51±5.64,P ＜0.05)were accompanied by reductions in the SNA angle (1.30±1.281,P＜0.05),ANB angle(1.64±0.79,P＜0.001),AB-UI angle(9.45±4.62,P＜0.001),the distance between upper and lower lips to E plane(4.22±2.41,4.09±1.90,P＜0.001),lower incisor to AB plane(3.64±3.12,P＜0.001),Ao-Bo(2.58±1.76,P＜0.001),overjet(2.05±0.52,P＜0.001),overbite(2.38±1.77,P＜0.001).Conclusion The esthetic effects on oral and maxillofacial changes are remarkble during lingual orthodontic treatment of adult patients with maxillary or bimaxillary protrusion.Key words:adult orthodontics;lingual orthodontics;bimaxillary protrusion成人正畸是20世纪70年代在口腔正畸临床中出现的一个新的患者群。

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正畸头影测量分析
上齿槽座点(A)：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点
正畸头影测量分析
UI (Upper incisor上中切牙切端)
正畸头影测量分析
注意：
由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难
正畸头影测量分析
3.下颌标志点(10个）
髁顶点（Co）：髁突影像最上点 关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点 下颌角点（Go）：下颌角后下点 颏下点（Me）：颏部之最下点 颏前点（Pog）：颏部之最前点 颏顶点（Gn）：颏下点与颏前点之中点 下齿槽座点（B）：颏前点与下齿槽缘之间的凹点 下齿槽缘点（Id）：下牙槽突的最前上点 下中切牙点（L1）：下中切牙切缘之最前点
上中切牙点（U1）： 上中切牙切缘之最 前点
正畸头影测量分析
Or (orbitale 眶点) 眶下缘最下点
正畸头影测量分析
翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓最下点
正畸头影测量分析
前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖端
正畸头影测量分析
后鼻棘（PNS）：硬腭后部骨棘之尖
正畸头影测量分析
上齿槽缘点（Spr）：上牙槽突的最前下点
明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、 及对颅面生长发育颌、颅面畸形的诊断分析
通过X线对正常牙合人 的颅面结构进行分析
得出正常牙合的各 项测量参考标准
作为诊断分析 的基础
正畸头影测量分析
3.确定错牙合畸形的矫治计划
正常牙颌 颅面关系
对比
个体牙颌 颅面结构
分析出错牙合畸形的机制 确定牙和颌位的理想位置，制定可行的矫治方案
正畸头影测量分析
传统手描图
数字化描图
正畸头影测量分析
常用头影测量标志点
• 标志点：用来构成一些平面及测量内容的点
1.解剖的，真正代表颅骨的解剖结构 2.引伸的，如两测量平面相交的一个标志点
定点准确才能获得相应准确 的头影测量分析结果！
正畸头影测量分析
标志点
▪ 硬组织测量标志点 ▪ 软组织测量标志点
定点
颅底点( Ba,basion ）枕骨大孔前缘中点
正畸头影测量分析
定点
Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点
正畸头影测量分析
硬组织测量标志点
2.上颌标志点（7个） ➢眶点（Or）：眶下缘最下点 ➢翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像的最下点 ➢前鼻棘点（ANS）：前鼻棘的尖端 ➢后鼻棘点（PNS）：硬腭后部骨棘之尖 ➢上齿槽座点（A）：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点 ➢上齿槽缘点（Spr）：上牙槽突的最前下点 ➢上中切牙点（U1）：上中切牙切缘之最前点
正畸头影测量分析
2.头影图的描绘
• 传统描图工具： 观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐的铅笔等
• X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而 出现的左右影像不完全重合
按其平均中点来作描绘
正畸头影测量分析
正畸头影测量分析
头影图的描绘
17
正畸头影测量分析
传统X线片
数字化X线片
X线头影测量分析
Cephalometrics Analysis
正畸头影测量分析
简介
• 1934年Hofrath and Broadbent 提出 • 我国于20世纪60年代初运用于临床 • 通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅面各标志点
描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织 的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨 骼结构中去,它是正畸临床诊断及治疗设计的一种重要手段. • 简言之：通过对X片进行分析、测量，从而了解牙颌、颅面骨骼 及软组织发育状况及相互关系 。
正畸头影测量分析
4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化
治疗前
对比
治疗中,矫治后
正畸治疗
正畸头影测量分析
5.外科正畸的诊断和矫治设计 • 通过X线对颅面畸形患者进行分析 • 得出畸形的机制
• 确定部位、方法及需要移动或切除的部位
正畸头影测量分析
二、头颅侧面定位X片的拍照原理和方法
❖ 定位原理： 1、通过定位仪上的左右耳塞与眶点指针三者构成的眼耳平面与 地面平行。 2、自然头位法
解剖耳点---骨性外耳道 影像的最上点 颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘 中点 Bolton点（Bo）：枕骨髁突后 切迹之最凹点
正畸头影测量分析
定点
S (Sella 蝶鞍中心点)
正畸头影测量分析
定点
N (Nasion 鼻根点)：鼻额缝最前点
正畸头影测量分析
定点
P( Porion耳点 ）：机械耳点
正畸头影测量分析
D点 :下颌体骨性联合部之中心点
正畸头影测量分析
髁顶点(Co):髁突最上点
正畸头影测量分析
关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点
正畸头影测量分析
Go (下颌角点) ：下颌角的后下点，下颌支平面与下 颌角平面交角之分角线与下颌角的交点
10
正畸头影测量分析
• 头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者构成 一与地面平行的恒定平面。
定位
正畸头影测量分析
患者体位：自然放松
正畸头影测量分析
X线照相
投照距离 X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm 患者正中矢状面至胶片约15cm X线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线
正畸头影测量分析
正畸头影测量分析
上颌标志点（7个）
眶点（Or）：眶下缘最 下点
翼上颌裂点（Ptm）： 翼上颌裂影像的最下 点
前鼻棘点（ANS）：前 鼻棘的尖端
正畸头影测量分析
上颌标志点（6个）
后鼻棘点（PNS）： 硬腭后部骨棘之尖
上齿槽座点（A）： 前鼻棘与上齿槽缘 间的最凹点
上齿槽缘点（Spr） 上牙槽突的最前下 点
正畸头影测量分析
正畸头影测量分析
一、主要应用
• 研究颅面生长发育 • 牙颌、颅面畸形的诊断分析 • 确定错牙合畸形的矫治计划 • 研究矫治中，矫治后的变化 • 外科正畸的诊断和矫治设计 • 下颌功能分析
正畸头影测量分析
1.研究颅面生长发育
• 不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育 • 同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育
正畸头影测量分析
1、硬组织测量标志点
1.颅部标志点（5个）
➢蝶鞍点（S） ➢鼻根点（N） ➢机械耳点(P) ➢颅底点（Ba） ➢Bolton点（Bo）
正畸头影测量分析
颅部标志点（5个）
鼻根点（N）：鼻额缝的最前点 蝶鞍点（S）：蝶鞍影像的中心
点 耳点（Po）：
机械耳点---定位仪耳塞 影像的最上点