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Rigaku（理学）XRD操作步骤一、开机打开总电源（墙上的空气开关），然后打开水冷机，注意水冷机的水位高于标示线，温度为20℃左右，水压约为0.3MPa，水冷机后部的净化树脂一年更换一次，在柳絮比较多的时候查看一下在一楼的水冷机风机。
之后打开变压器，开关在其后部。
打开UPS后打开主机（PC），等开机后打开XRD主机，等待XRD主机左下部的operate灯呈现黄色说明仪器稳定。
二、初始化右击桌面右下角的Ragaku Measurement Sever，单击Initialize，图标由蓝色变为闪烁再变为蓝色说明初始化完成。
三、软硬件匹配单击桌面上的Rigaku文件夹，选择control，单击Rigaku control panel，在弹出的对话框中选择Rint 2200 Right system（注意第四个选项是Rint 2200 Right system Add and Delect，易混淆），然后选择与硬件相匹配的选项。
以下是对应三种模式的软件匹配示意图标准模式：单色器模式：T-tex模式：注意：在T-tex中要把Detector property 选项中的correction选为Not correct。
四、仪器老化桌面Rigaku→control→XG operation→Toolbar中的XG operation→X-ray on→XG property→every day use/long time not use→ok→execute aging老化完成后可关闭窗口。
五、光路调整桌面Rigaku→control→Automatic Alignment，下面三种仪器分别介绍1 标准模式：选项■ 2 Theta Alignment■ Theta Alignment■ profile measurement单击execute，按照提示操作，完成校正后单击save，然后关闭窗口。
2 单色器模式：选项■ profile measurement单击execute，按照提示操作，完成校正后单击save，然后关闭窗口。
1.用Highscore软件打开XRD文件，在第一个表格界面下选定.XRDML和.ASC，点击OK即可。
然后将该文件另存为.asc格式的文件。
2.用Micro soft excel软件将.asc文件中的数据导入，这样就可以将数据在excel表格中复制下来粘到origin里，进一步作图分析了。
3.可以利用Highscore分析XRD谱图。
（1）将XRD的数据库（即PDF2文件夹）导入到highscore软件里。
●将PDF2文件放在不含有汉字的（纯英文）的路径里，比如直接放在D盘的话，路径即为D:/PDF2，这是可以的。
● b.在highscore软件的上方的Customize里找到program setting …。
在programsetting的对话框里点击Reference Patterns，在这个界面下找到databaseconversion下方的PDF2，点击，并通过这下方的一个空白条目后的browse（浏览）里在电脑找到PDF2文件夹。
选定后在其下方的Extract user data fromexisting reference database打勾。
●点击start conversion of ICDD Database。
这个导入的过程可能花费半个小时的时间。
（2）分析XRD数据●利用highscore软件打开XRD源文件，●在Analysis的下拉菜单里面找到Search&March，然后在它的后拉条目中选ExecuteSearch&March。
●在弹出的对话框中点击restrictions，在Edit Restriction Sets…里找到Periodic Table…并点击。
select restriction set使用default选项●按照提示选择可能含有或者一定含有的元素，然后点击close。
即会返回到Search&Match的对话框，点击search。
X-射线衍射仪使用方法以下内容纯属个人整理，仅供参考1.真空泵的泵油不宜加得过满，到上刻度线的下方1cm即可。
2.仪器的高低温测试管线在转盘里侧，用时取出即可。
3.水冷箱工作时，水压达到0.4左右即可。
4.测试台介绍：光源：Cu阳极靶狭缝：共有防发散狭缝，防散射狭缝，探测器狭缝等三种；在使用点探测器时，防发散狭缝与防散射狭缝的规格是一致的，均为0.6/1.0/2.0mm中的一种，探测器狭缝为0.1或0.2mm的。
而探测器为线探测器时，，在探测臂上的防散射狭缝为一8mm的狭缝。
狭缝越大，光强越大，分辨率越低滤光片：铜片滤光片和镍片滤光片两种。
铜片滤光片主要用于光路校正时使用，而镍片滤光片主要在测试时用于滤去衍射光的Kβ线，只留下Kα线进入探测器。
铜片用6.0mm的狭缝来安装，根据需要选用一片或是两片铜片。
探测器：点探测器(闪烁计数器)和线探测器---即(lynxEye)一维阵列探测器两种。
一维阵列探测器的检测速率比点探测器的速率大得多，其Scanspeed一般为0.02 sec/step(最低值)、0.05，而点探测器的Scanspeed一般为0.1，0.3，1.0 sec/step。
5.样品盒：三点确定一平面，粉体样品压实压平。
加载样品时先把样品盒上至三个支柱处，再把底部的平台向上顶住，以防止样品的洒出。
6.防辐射玻璃门具有自动上锁功能，开门前请按Opendoor 按钮。
但是按下Opendoor 按钮5秒后没有开门，则会再次自动上锁。
7.左右两侧支柱上的红色Stop按钮是用于紧急关机的，直接按入就行，开时则是按箭头所示的方向旋转。
此外支柱上还有开机，关机按钮，高压按钮，照明按钮，仪器的权限钥匙。
8.仪器的开机步骤：接通总电源，打开稳压电源的空气开关和电源开关，按支柱上的绿色开机按钮，约10秒钟后指示灯亮，门自动锁住。
然后打开水冷箱，待其正常工作后旋转高压旋钮，顺时针转45°停驻3-5秒，即可以打开，此时READY指示灯闪烁。
如何完成一个测试？1、开启循环水系统：将循环水系统上的钥匙拧向竖直方向，打开循环水上的控制器开关ON，此时界面会显示流量，打开按钮RUN即可。
调节水压使流量超过3.8L/min，如果流量小于3.8L/min，高压将不能开启。
2、开启主机电源：打开交流伺服稳压电源，即把开关扳到ON的位置，然后按开关上面的绿色按钮FAST START, 此时主机控制面板上的“stand by”灯亮。
3、按下Light（第三个按钮），打开仪器内部的照明灯。
4、关好门，把HT钥匙转动90°，拧向平行位置，按下X'Pert仪器上的Power on （第一个按钮），此时HT指示灯亮，HT指示灯下面的四个小指示灯也会亮，并且会有电压（15KV）和电流（5mA）显示，等待电压电流稳定下来。
如果没有电压电流显示，把钥匙拧向竖直位置稍等半分钟再把钥匙拧向平行位置，重复此操作，直到把HT打开。
5、点击桌面上的X'Pert Data Collector软件，输入账号密码。
6、点击菜单Instrument的下拉菜单Connect，进行仪器连接，出来以对话框，点击OK，再出来对话框还点击OK，此时软件的左侧会出现参数设定界面Flat sample stage。
7、Flat Sample Stage界面共有3个选项卡Instrument Settings，Incident Beam Optics 和Diffracted Beam Optics，设备老化和电压电流操作均在Instrument Settings下设定，后两个参数设定一般不要动。
8、如果两次操作间隔100个小时以上应选择正常老化，间隔在24~100个小时之间的应选择快速老化。
老化的方式：在第7步的Instrument Settings下，展开Diffractometer→X-ray →Generator（点击前面的小“+”号），此时Generator下面有三个参数：Status,Tension和Current，双击这三个参数中的任一个或者右击其中的任一个选择change，会出现Instrument Settings对话框，此时正定位在此对话框的第三个选项卡X-ray上，界面上有X-Ray generator，X-Ray tube和Shutter 三项，点击X-Ray tube下的Breed…按钮，会出现Tube Breeding对话框，选择breed X-Ray tube的方式：at normal speed或者fast，然后点击ok，光管开始老化，鼠标显示忙碌状态。
XRD仪器操作范文XRD（X射线衍射）仪器被广泛应用于材料科学、地质学、化学和生物学等领域，用于确定晶体结构和分析样品的晶体结构信息。
操作XRD仪器需要一定的仪器知识和技巧。
下面将详细介绍XRD仪器的操作步骤，包括样品制备、仪器设置和数据分析。
一、样品制备1.准备样品。
首先，根据具体要求选择合适的样品。
样品可以是粉末、薄片或块状材料。
确保样品质量良好，具有足够的重现性。
2.样品制备。
对于粉末样品，先将样品细磨成细粉，可以使用研钵和研钉进行手工研磨，或者使用高能球磨机进行机械研磨。
对于薄片样品，需要先进行切割和打磨，确保表面光滑。
块状材料可以直接使用。
3.样品装填。
将制备好的样品放置在适当的样品支撑器中。
对于粉末样品，可以使用玻璃纸片、玻璃纤维滤膜或石英盖片作为支撑器。
对于薄片样品，将样品固定在适当大小的支撑器上。
对于块状材料，直接将样品放在支撑器上。
二、仪器设置1.打开仪器。
首先，确保X射线衍射仪器的安全使用和电源接通。
打开仪器电源，启动仪器。
2.样品安装。
根据仪器的不同型号，选择合适的样品安装方式。
对于粉末样品，使用样品支撑器架放在样品台上。
对于薄片样品，使用样品夹将样品固定在样品台上。
3.加载和调整样品位置。
将装有样品的样品支撑器放入样品台中，使用微调节装置调整样品位置，使其位于X射线束的正中央位置。
确保样品与X射线源之间的距离合适。
4.X射线管设置。
根据样品特性选择合适的X射线管电压和电流。
通常，较高的电压和电流可产生更强的X射线信号，但也会加大样品和探测器的热负荷。
根据样品的类型和要求进行合理设置。
5.选择扫描范围。
根据样品的特性选择适当的扫描范围。
如果已知样品中一些特定晶面的位置，则可以选择针对该晶面进行扫描。
否则，可以选择全角度扫描。
6.样品倾斜修正。
对于非理想样品，其中晶粒方向分布不均匀或有细微的倾斜，可以使用样品旋转台或倾斜台进行修正。
三、数据采集与分析1.开始扫描。
确认仪器设置良好后，可以开始进行数据采集。
xrd的工作原理及使用方法
X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种常用的材料分析技术，用于研究晶体结构、晶体学和非晶态材料的结构特征。
下面是XRD的工作原理和使用方法的概述：
工作原理：XRD利用入射X射线与样品中的原子发生衍射现象，通过测量衍射图样来推导出样品的晶体结构、晶格常数、晶格畸变等信息。
其基本原理可以概括为布拉格定律，即入射X射线在晶体中的衍射现象遵循2d sinθ = nλ，其中d是晶面间距，θ是衍射角度，n是整数倍数，λ是入射X射线的波长。
使用方法：
1.准备样品：需要准备一定数量的样品，可以是晶体样品或
非晶态材料样品。
晶体样品必须具有规则的晶体结构，而
非晶态材料样品则可以是无定型的或非晶结构的材料。
2.调节仪器参数：根据样品的特性和研究目的，调整XRD仪
器的参数，如X射线管的电流和电压、入射角范围、衍射
角范围等。
选择合适的参数可以获得更准确的结果。
3.扫描样品：将样品放置在XRD仪器中的样品台上，通过控
制仪器进行扫描。
仪器将采集到的衍射数据转换为衍射图
样或衍射强度图像。
4.分析数据：根据获得的衍射图样或衍射强度图像，使用专
业的XRD分析软件对数据进行处理和分析。
这可以包括通
过模拟与标准数据的比对来确定样品的晶体结构或晶格常
数，通过解析峰的位置和形状来研究晶体的畸变等。
XRD技术可应用于多个领域，如材料科学、地球科学、生物化学等。
它可以帮助研究者了解材料的结构和性质，发现新的材料性质，并优化材料的制备和加工工艺。
XRD实验操作规范一、开机。
①打开开关-开循环水（温度不能超过40℃，高于停机检查）②打开衍射机，UPS，计算机电源，等待计算机自检。
③启动Rint2200软件，在login输入dmax，在password中输入回车键，工作站启动后，此时桌面显示Main Menu和XG-control。
④仪器老化。
点击打开XG-control窗口，点击power按钮，打开主机电源，此时Ready灯亮，然后点击Aging keep按钮，运行老化程度，此时Aging keep按钮由暗绿色变成黄色，等再次变成暗绿色时，老化过程结束，开始进行样品测试。
二、测试样品①制备样品。
本仪器可测试块状固体和粉末样品，其中块状样品需固定在铝制样品槽中测量，粉末样品需研磨后，在玻璃样品盒中，按压结实后方可进行测量。
②测试样品：按下衍射仪上的黄色开门按钮，等声音变成“滴-滴”声时，打开样品室门，将准备好的样品面朝外放入测量室中，点击打开Main Menu，窗口中的Measurement（right）窗口，然后打开该窗口中的Standard measure窗口，输入样品名，测试日期等，和设备测试条件，然后点击窗口下面的OK按钮，X射线打开，开始测试。
③停止测试，若测试过程之中，出现意外，需要停止，点击measurement，窗口中的stop按钮，则仪器停止测试，如需要重新开始测试，则点击start。
4、取出样品：每个样品测试结束后，测角仪会自动回到原位，等待片刻，打开样品室的门，取出样品。
5、数据保存：测试结束后，数据会自动保存在X-ray database文件夹中。
三、关机①关闭x射线：分析结束后，取出样品，点击XG-control窗口中X射线标志，关闭射线。
②退出工作站，点击XG-control窗口中power按钮，关闭主机电源，然后点击Main Menu窗口右下角的插销标志按钮，出现一个小窗口后，再点击插销标志按钮，等桌面出现对话框时，在login输入shutdown在password处敲回车键，再敲回车键，系统自动退出。
XRD从原始数据到图原创2016-06-06ZSH研之成理前言：XRD是非常常用的表征手段，前面我们主要从它的用途，具体原理以及实际操作等几个方面进行了分享。
今天我们将整个过程串起来，给大家一个直观的认识，看看XRD如何一步一步从样品到最后文章中的图。
有朋友提出让我们分享下XRD的结构精修，这个建议非常好，不过确实需要一定的时间。
说实话，对于很多东西，我们确实也不是特别懂。
XRD结构精修是我一直想要学习的知识，我争取早点学会，然后能够将它分享给大家。
如果有会的朋友能够帮我们完成这个工作，那肯定是极好的，小编会幸福得笑晕在实验室的！通过上一期的内容（从样品到原始数据），大家应该大致了解如何通过多晶衍射仪得到XRD原始数据（包括raw和txt两个文件）。
今天就接着从这里开始分享，看看如何从这两个原始文件最后变成可用于文章的图。
1. 基于Jade的物相鉴定方法简单的利用Jade进行物相分析的方法，我们在第二期已经分享过了，今天咱们更进一步，看看XRD如何分析复杂的物相，顺便对Jade进行较为全面的介绍。
Step 1. 采用jade来读取raw文件：如下图所示打开Jade软件，File-->Read,在弹出来的窗口中找到目标文件所在文件夹，点击选取目标文件（raw文件），然后打开。
友情提示：如果觉得看不清楚，可以点击图片，然后就可以方便的放大查看了。
打开之后，得到下图所示界面：Step 2: 物相检索匹配（search/match)注：在有些教程中，也有说采用Jade自带扣背景功能先扣除背景和删除杂峰的。
这里，小编不推荐，因为采用原始数据进行S/M得到的信息是最多的（请读者根据实际情况进行斟酌）采用Jade的S/M功能大致可以分三步走：A. 无条件自动检索，具体操作如下图所示。
点击Jade软件菜单中Identify-->Search/Match setup, 在弹出来的对话框中， 勾选上subfiles to search中需要的数据库（一般至少选中Inorganic, Minerals, ICSD patterns以及ICSD minerals这四个，其他的根据实际情况增加）无条件自动检索中，不要勾选use Chemistry，直接点击OK就行。
jade分析XRD数据基本过程jade5.0 分析XRD数据基本过程2006-07-22 16:02现在将通过实例初步介绍jade5.0 的基本操作步骤1、数据输⼊由于不同的X射线衍射仪输出的数据类型不同，但都可以将数据转换成txt⽂档或Ascii格式的⽂档(⽂件名为*.txt 或*.asc )，为提⾼软件的通⽤性jade5.0 提供了以txt⽂档或Ascii格式输⼊数据。
运⾏jade5.exe ⾸先进⼊以下界⾯中间的窗⼝⽤于选择需打开⽂件，左侧选择⽂件路径与资源管理器的操作相同，右侧选择打开⽂件的类型, ⼀般选择XRD Pattern files(*.*) ，这时在右下⽅的窗⼝中将显⽰左侧被选择⽂件夹中所有能被该软件识别的⽂件，然后选择需要分析的数据⽂件，点击菜单栏Read进⼊主窗⼝，此选择窗⼝可以通过主窗⼝中file/patterns 进⼊。
2、背景及Ka2线扣除在主菜单栏中选择analyze/fit background 进⼊如下窗⼝：— f?ti!FIH 汎ftMtnrS1* Br?f h T fa f J [Z~ ~ *A*j” i- n F*- hff* ] !*** ] — ￡flw [ 4b如!. 'J. .V .5 C. J |BOMbsOi 亦1S7JEKMC1^-JtfbUtrMul-W*vc IUn4 ⼔亀■脑I n>M■祁HF■曲I fLUv巧34*?盼1 ⾎**巴9 O|?■■ ||犀??ITMSI h?B FHrtn⼆_丸栄阳狂* *⽚?陥创璋■中|[1平4 卑34*"l lyMft弼.也陥（I ll.*祥HO-AMd M>t? L&l rUMMi*Md F.⾎|rLEfcaita—dF?⼼|fllb 伸*陷?F? lt-|*|r.................. ..... .....1M4FFit/Remove Backer nun d,…-Area above I he Background Cmve：[iOJ [619 )25503 亟| Pefauk BE Fitting]Save ResetShip K-alpha2Remove[稣⾎]Close该窗⼝⽤于设置扣除背景时的参数，⼀般选择默认值直接选择apply ，回到主窗⼝，此时软件⾃动运⾏Edit ba汨.E 按钮，⽤于⼿动修改背景，Edit bar ⼯具栏如下：此⼯具栏提供了放⼤、标定峰位等操作，当⿏标移动到按钮上时软件将⾃动提⽰。
X射线衍射仪器校准方法说明书一、引言X射线衍射（XRD）技术是一种广泛应用于材料结构表征与分析的技术。
而要确保X射线衍射仪器的准确性和可靠性，需要进行定期的校准。
本文将详细介绍X射线衍射仪器的校准方法，以确保其在实验研究中的可靠性和准确性。
二、设备检查在进行校准之前，需要先检查X射线衍射仪器的设备状况。
包括以下几个方面：1. 确保仪器的电源连接稳定。
2. 检查射线源的放射性程度，确保源的辐射稳定性。
3. 检查X射线出射窗口的完整性。
4. 检查仪器的机械部分，确保样品台和探测器的位置准确。
5. 检查仪器的冷却系统、温度控制系统等环境因素，确保仪器的稳定性。
三、仪器校准1. 校准样品的选择选择适当的校准样品对于X射线衍射仪器的校准至关重要。
常用的校准样品有单晶衬片、多晶衬片或标准粉末样品。
根据具体实验需求和仪器类型选择适当的校准样品。
2. 样品台校准（1）水平校准：将样品台移至仪器正中位置，使用水平仪或调平仪对样品台进行水平校准。
调整样品台的倾斜状态，直到气泡位于水平仪的中心位置，此时样品台水平校准完成。
（2）角度标定：选择合适的标定样品，在仪器上设置相应的校准角度，然后在仪器上观察标定样品的衍射角度。
将观察到的衍射角度与已知的标定角度进行比对，如果有偏差，则进行调整，直到衍射角度与标定角度一致。
3. 探测器校准（1）垂直校准：使用调平仪或垂直仪，调整探测器的垂直度。
将探测器调整至垂直位置，直到气泡位于垂直仪的中心位置，此时探测器垂直校准完成。
（2）增益校准：根据探测器的特性，设置合适的增益参数。
通常可以通过特定的校准样品，如铜（Cu）标准粉末样品进行增益校准。
调整增益参数，使标准粉末样品的峰位位于合适的位置，以保证探测器的灵敏度和分辨率。
四、数据分析与验证在进行校准后，需要对校准结果进行数据分析和验证。
主要包括以下几个方面：1. 阴影校正：通过扫描无样品的背景信号，进行阴影校正。
校正后的信号能够更准确地反映样品的衍射情况。
