IQC-IC检验指导书-WI-QC-IQC-030
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IC坏,确认是来料问题者试样方法:取样5PCS在 QAPASS性能良好的成品上取下与来料型号规格一致的 电气性能 IC,把来料之IC装上去测试,其性能应良好,其中 1PCS性能不良则将此批判定为不合格。
●
治具
5 5 尺寸检验 尺寸与承认书和样品不符. ● 卡尺
5
检验方法及验收标准 二.特殊检验项目 抽样为MIL-STD-105E G抽样方案或按具体规定数量抽样
检验方法及验收标准
缺陷类别 CR MA MI ● ● ● ● ● ● 签与实物不符. RoHS材料:外包装箱和开箱后的最小包装必须有 RoHS标识. 型号等有错误或无标示。 字迹模糊不清,或有缺字符,断笔书之不良。
2
RoHS标识
目视
AQL 无
3
外观检验
IC方向标示,脚位标示错。 IC本体有破损、划痕、脏迹。 IC引脚氧化,色泽灰暗,无光泽,影响焊接. IC引脚有扭曲、偏歪、排列不整齐现象。
缺陷类别
检验工具
CR MA MI
检 登 查 录 量 数
1 备注:特殊检验项目检验时要求客户提供材料规格书、样品、工装具及可靠性试验申请,我司方 可作上述特殊项内容检验,如客户未能满足我司要求,则视客户认可接受此物料常规检验质量
来料检验规范(SIP)
文件名称 规格型号 拟 制 缺陷类别 AQL IC检验标准 文件编号 版 审 CR 0 本 核 MA 0.4 MI 1.5 WI-QC-IQC-030 A0 页 码 第1页 共1页 2012-8-8 修定日期 批 准 检验工具 检 登 查 录 量 数
序号 检验项目 一般检验项目 (II) 1 包装检验