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Zahner HIZ Probe简介和应用1 前言高阻抗探头(HIZ Probe)是德国Zahner公司推出的电化学工作站选件。
将HIZ Probe与工作站主机相连接，可将输入阻抗提高到1013Ω以上，并联电容降至1pF，大幅过滤电流和电压噪音。
主要应用与氧化物、氮化物、介质膜、陶瓷、油漆、涂层和微电极等方面。
2 高阻抗探头简介2.1 HIZ Probe 介绍高阻抗探头(HIZ Probe)由两部分组成：HIZ Probe电流和HIZ Probe电压组成，如图1。
Zahner电化学工作站与HIZ Probe连用，可将工作站的动态量程降到fA级别，输入阻抗达到TΩ级别。
HIZ Probe与工作站并联，进而提供宽动态量程。
HIZ Probe连接线的命名方式和电化学工作站一样：CE：辅助电极；RE：参比电极；TE：工作电极；TES：工作电极sense。
图1 HIZ Probe 示意图2.2 HIZ Probe 的安装2.2.1 安装校准数据从光盘中“HIZ calibration data”复制“Thales”到c:\。
2.2.2 安装HIZ Probe把HIZ Probe Potential 的7-pin LEMOSA连接到电化学工作站的Probe-E端。
把HIZ Probe Current 的8-pin LEMOSA连接到电化学工作站的Probe-I端。
连接好以后再次确认所有线缆都连接正确。
2.2.3 使用高阻抗探头进行测试使用HIZ Probe进行测试，激活EIS模块中的“check cell connections”，选择6 < four electrodes with buffer˃，并输入RE电位和增益因子。
图2是HIZ Probe 的最佳连接方式。
图2 HIZ Probe最佳连接方式3 高阻抗探头的应用3.1 HIZ Probe在防护涂层方面的应用EIS是研究防护涂层，监测吸水过程中涂层性质变化的重要手段之一。
SU6600设备简介扫描电子显微镜（SEM）概论扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。
1942年，英国第一制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时刻太长，因此有效价值不大。
通过各国科学工作者的尽力，尤其是随着电子工业技术水平的不断进展，到1956年开始生产商品扫描电镜。
近数十年来，扫描电镜已普遍地应用在生物学、医学、冶金学等学科的领域中，增进了各有关学科的进展。
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的彼此作用。
当一束高能的入射电子轰击物质时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特点x射线和持续谱X射线、背散射电子、透射电子，和在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。
同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动（声子）、电子振荡（等离子体）。
原那么上讲，利用电子和物质的彼此作用，能够获取被测样品本身的各类物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。
一、场发射扫描电子显微镜大体原理被加速的高能电子束照射到样品上(在高真空状态下)，入射电子束与样品彼此作用，产生各类信号，通过不同的探测器检测各类不同的信号，即能够取得有关样品的各类信息。
例如，最多见的二次电子信息，就能够直接取得样品表面的图像信息。
场发射扫描电子显微镜(与一般扫描电镜不同的是采纳高亮度场发射电子枪，从而取得高分辨率的高质量二次电子图象)能够观看和检测非均相有机材料、无机材料及微米、纳米材料样品的表面特点，是材料表面形貌观看有效仪器。
普遍用于金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检测、产品生产质量操纵、宝石鉴定、生物学、医学、考古和文物鉴定及公安刑侦物分析等。
1.光学显微镜与扫描电子显微镜光学显微镜是用可见光照射在样品表面，反射光通过一系列玻璃透镜放大后而呈现出样品的放大图象，由于波长和光干与限制，极限只能观看到小至200nm左右的颗粒。
与光学显微镜不同，场发射扫描电子显微镜(电子束波长极短)是用电子束在样品表面扫描，电子束轰击样品表面，释放出二次电子和反射电子等，通过二次电子探测器检测二次电子信号，按相同扫描规律，在显示器上成像。
horiba激光共聚焦拉曼光谱仪高低温-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述激光共聚焦拉曼光谱仪是一种先进的分析工具，能够在高温和低温环境下进行非接触式原位测量。
借助于激光共聚焦技术和拉曼散射理论，该仪器能够准确获取物质的结构信息和化学成分，广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。
高温下的应用主要包括材料的高温行为研究、催化剂表征、熔融物质分析等。
由于高温环境具有独特的化学和物理性质，传统的表征方法往往无法满足研究需求。
然而，激光共聚焦拉曼光谱仪通过以激光光束为探测源，利用样品与光束相互作用后发生的拉曼散射现象，实现对高温材料的原位表征。
通过分析材料的拉曼光谱特征，可以获得材料的结构、晶格振动、化学键信息等，从而揭示材料在高温下的行为规律。
另一方面，在低温环境下，激光共聚焦拉曼光谱仪也具有重要的应用价值。
低温条件下，物质的结构和性质可能发生显著改变，因此对低温材料进行原位表征具有重要意义。
激光共聚焦拉曼光谱仪通过非接触式测量的方式，能够准确获取低温材料的拉曼光谱信息，为研究人员提供了实验数据，使他们能够深入研究材料的相变、晶化、晶体结构等问题。
此外，激光共聚焦拉曼光谱仪具有许多独特的技术特点，如高空间分辨率、高灵敏度、非接触式测量等。
这些特点使得该仪器在材料科学和生物科学等领域具有广泛的应用前景。
未来的发展中，激光共聚焦拉曼光谱仪有望继续提升分辨率、灵敏度和测量速度，拓宽其应用范围，并进一步推动相关领域的研究进展。
文章结构部分的内容：本文主要结构如下：1.引言1.1 概述- 简述horiba激光共聚焦拉曼光谱仪的基本原理和应用领域1.2 文章结构- 介绍本文的整体结构，包括正文各部分的内容和重点1.3 目的- 阐述本文旨在分析和探讨horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在高低温环境下的应用及技术特点2.正文2.1 高温下的应用- 探究horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在高温环境下的应用，如材料表征、催化剂研究等方面的案例分析和实验结果2.2 低温下的应用- 着重研究horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在低温环境下的应用，例如超导体材料、半导体器件等的表征和分析方法2.3 技术特点- 介绍horiba激光共聚焦拉曼光谱仪的技术特点，包括高精度、高灵敏度、高空间分辨率等方面的优势和独特之处3.结论3.1 总结高温下的应用- 归纳总结horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在高温环境下的应用，总结其优点和应用前景3.2 总结低温下的应用- 综述horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在低温环境下的应用情况，探讨其在相关领域中的潜在应用价值3.3 展望未来发展- 对horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在高低温环境下的应用进行展望，提出其未来的发展方向和可能的研究领域以上便是本文的整体结构，通过对horiba激光共聚焦拉曼光谱仪在高低温环境下的应用进行细致的研究和分析，旨在为相关研究领域提供参考和借鉴，促进相关技术和应用的进一步发展。
美国科学家开发出采用单光子上转换器的红外光谱仪
岳桢干
【期刊名称】《红外》
【年(卷),期】2010(31)5
【摘要】据《Photonics Spectra》杂志2009年10月报道，一款设计巧妙的单光子探测器已经使美国国家标准与技术研究所（NIST）的科学家们能够开发出工作在红外波段的高灵敏度、低成本的光谱仪。
这项技术可以运用在需要进行超灵敏光谱测量的众多领域，
【总页数】1页(P46-46)
【关键词】单光子探测器;红外光谱仪;美国科学家;开发;转换器;美国国家标准;高灵敏度;红外波段
【作者】岳桢干
【作者单位】
【正文语种】中文
【中图分类】O734
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Zahner简明操作说明中文Zahner仪器是一款用于电化学测量的专业设备，具有高精度和可靠性的特点。
本篇文章将向您介绍Zahner仪器的基本操作步骤和常见功能，帮助您快速上手并熟练使用该仪器。
一、仪器概述Zahner仪器包括主机、电极、电解池和软件。
主机是控制仪器运行的核心部分，电极是与被测样品接触的部件，电解池则用于容纳样品和电解液。
软件则为用户提供了操作界面和实验数据的处理。
二、仪器准备1. 将Zahner主机连接到电源，并确保电源连接稳固；2. 将电解池放置于工作台上，并使用连接线将电解池与主机相连；3. 准备待测样品，并注意将样品正确放置在电极上；4. 打开软件，并根据系统提示进行连接操作。
三、仪器操作1. 启动软件后，在主界面上选择所需的实验模式，如循环伏安法、交流交流阻抗测量等；2. 在实验参数设置界面中，根据实验要求进行相应的参数调整，如扫描速率、频率范围等；3. 设置电解液的浓度和温度；4. 在实验控制界面上，点击“开始”按钮，即可开始实验；5. 实验过程中，可以通过实验过程图表和实时数据对实验进行监控和记录；6. 当实验完成后，保存数据并可导出结果，进行后续的数据处理和分析。
四、常见功能介绍1. 循环伏安法：用于对电化学反应进行循环扫描，得到电化学反应的动力学参数；2. 交流交流阻抗测量：通过测量电化学系统对交流电信号的响应，得到被测电极的阻抗值；3. 恒流充放电：用于测试电池和超级电容器的充电和放电性能，估算其容量和能量；4. EIS谱分析：利用交流交流阻抗谱分析电化学体系的界面特性和电导机制；5. 极化曲线测量：用于测量电极材料在不同电位下的电流变化，评估其电化学性能。
五、注意事项1. 操作仪器前，请仔细阅读并理解用户操作手册，确保操作正确和安全；2. 选择合适的电解池和电极材料，并保持其干净和无污染；3. 注意样品的准备和操作环境的控制，确保实验的准确性和可重复性；4. 在进行实验前，对仪器进行校准和漂移校正，以保证实验数据的准确性；5. 定期维护和保养仪器，清洁电极和电解池，并及时更换不可用部件。
A Z-G E101沉积物元素观测系统易科泰AZ-GE101沉积物元素观测系统1 引言地质沉积物元素分析较成熟的方法有电感耦合等离子体发射光谱( ICP-AES) 、电感耦合等离子体质谱( ICP-MS) 以及原子吸收法(ASS)、中子活化分析法(NAA)等。
前三种方法均需要对样品进行消解, 操作繁琐, 对试验环境要求高, 并且大量的化学试剂的使用是环境污染的潜在威胁。
AZ-GE101沉积物元素观测系统结合了X-射线荧光分析(XRF)和数字X-射线成像（digital x-ray micro radiography）技术，在X-射线的作用下, 沉积物发射出特征谱线, 依据这些特征谱线,可定性、定量分析沉积物中的元素。
该方法不破坏样品组成、分析速度快、检测范围广、结果稳定,广泛用于地质科学、生命科学、环境科学、古气候重建、全球气候变化研究等领域。
2 观测系统设计2.1目标通过对沉积物元素的检测，探测地质矿物元素的组成及含量；研究沉积物组成特征的变化及古气候环境的演化；研究重金属元素在沉积物中的垂直分布情况和含量，揭示重金属元素迁移富集的规律；探讨地球化学特点，揭示物质构成特征、来源。
2.2采样根据研究的需要，选取具有代表性的地质沉积物，考虑下面提到的样品的大小和形状要求，采样，带回实验室进行检测。
系统可检测样品的大小和形状如下：1）有效测量长度最长1800mm , 宽度120mm2）水平放置的沉积物样品，最大外径可达120mm3）厚板状沉积物样品，厚度1-60mm, 宽度120mm4）洞穴堆积物（如钟乳石）样品，厚度1-50mm, 宽度120mm2.3观测内容AZ-GE101沉积物元素观测系统可得到样芯的高分辨率数码照片、x-射线图片和元素浓度曲线，然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。
系统可测量Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等Al以上的多种元素的浓度数据（Al – U），其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。
For more than 30 years, ZAHNER measurement systems have proven to be first choice for laboratory measurement equipment in various branches of university and industry research. The reason is the high flexibility, reliability, and performance of these instruments. In addition to a high-precision, reliable hardware, and a sophisticated software, ZAHNER provides an exemplary service, an individual, task-specific consultation, and a support for the realization of the test setup. Our experience can help you from starting till analysis.IM6德国Zahner电化学工作站的详细介绍仪器简介：Zahner 公司作为世界领先的电化学工作站的生产厂商,在原来著名的IM6ex的基础上又最新推出Zennium 型号。
Zennium从硬件到软件都有很大的提高，Zennium精度更高，频率范围更宽。
Zennium的推出是德国Zahner的又一里程碑。
德国ZAHNER Zennium 电化学工作站。
主机包括恒电位仪/恒电流仪和频率发生器及分析仪。
硬件结构上为一体化设计，支持高频率高输入阻抗测试，具有强大的扩展能力。
软件控制界面友好，功能强大，能满足绝大多数电化学研究需要。
主要应用于化学与物理电源、功能材料、腐蚀与防护、电化学沉积、电化学分析及教学。
ZAHNER用户培训讲义1、ZAHNER公司产品（www.zahner.de）：IM6, Zennium, IM6eX, IM6e, ThalesBox, XPOT,PP200（PP201）, PP210（PP211）, PP240（PP241）EL101, EL300, CVB80（CVB120）, Temp/U, RMUX, PWRMUX-S, PWRMUX-P, EPC40/41/42, FE42, PAD4, DA4, HIZ_Probe, U_Buffer, fF Probe, LoZ Cable, Noise_Probe, Pulse Probe, FRA_ProbeCIMPS, CIMPS-abs, CIMPS-pcs, CIMPS-dtr, CIMPS-emit, CIMPS-fit, Colt, KMA3, KMZ5, AMZ602、ZAHNER软件Thales_2.50, Thales_3.21, Thales_4.15, Thales_Z2.27，PP Inspector，Zman软件安装：计算机需使用WindowsXP/Service Pack3操作系统，或Vista/Windows7（32/64位）。
运行Thales软件安装光盘上Setup.exe。
连接USB信号，检查仪器面板上2个开关均处在go位置。
将IM6或Zennium仪器开机，安装USB驱动程序（AMOS USB IFC EZ或FTDI USB）。
安装Calibration数据文件。
3、仪器使用环境：室内温度小于400C，室内湿度小于65%，关闭计算机电源安全模式、屏幕保护程序和杀毒软件。
仪器后面板有专用接地线的插孔。
4、Thales主要应用软件Control Potentiostat，EIS，CV（CV Analysis），I/E（Multi Cell I/E）（I/E Analysis），POL，PVI，C/E, Polarography，Noise（Noise Analysis），Signal Acquisition，ALEX, FRA, Pulse, TRC, CIMPS, Battery Cycling, Colt, SCRIPT, SIM, CAD, Notepad, Calculator, EXEMain differences between IM6 and ZENNIUM注：IM6使用U_Buffer的接口与Zennium使用U_Buffer接口不同6、Zennium主机到货清单：U_Buffer, USB Cable, Mouse, 1m Cell cable(2), 10cm Cell Cable(2),Thales software Installation CD, Calibration CD, Manual7、Zennium硬件特性：（1）超低噪声恒电位仪（2）宽频率响应范围的双DDS数字频率合成器频率响应分析仪FRA （3）高共模抑制比、高精度U/I放大器（4）双差分模数转换器18位ADC（5）电极引线BNC接口，可连接高阻抗和低阻抗的测量体系（6）4个扩展插槽（7）410MIPS ColdfireV4e信号处理器（32位/266MHz CPU）。
Zahner 光电化学测试系统环球分析测试仪器有限公司目录1 前言 (3)2 Zahner光电化学测试系统 (3)2.1 CIMPS基本系统 (3)2.1.1 CIMPS-CLV (5)2.2 CIMPS系统的扩展 (5)2.2.1 CIMPS-ABS (6)2.2.2 CIMPS-PCS/IPCE (6)2.2.3 CIMPS-DTR (8)2.2.4 CIMPS-EMIT (9)2.2.5 CIMPS-FIT (9)2.3 CIMPS测试系统的原理和优势 (10)3 评价太阳能电池的主要参数 (12)3.1 EIS、PEIS (13)3.2 IMPS和IMVS (13)3.3 填充因子(FF) (13)3.4 开路电压(V oc)、短路电流(J sc) (14)3.5 最大输出功率(Pm)、转化效率(η) (14)3.6电子收集时间(τc)、电子收集效率(ηc)、电子扩散系数(D n)和扩散长度 144 结论 (15)1 前言光电化学是当前十分活跃的研究领域。
所谓光电化学过程，就是光作用下的电化学过程，即分子、离子及固体等吸收光使电子处于激发态而产生的电荷传递过程。
正如电化学反应一样，光电化学反应体系也伴随着电流的流动。
通常研究在电化学体系中涉及光能和化学能互相转换的各种过程，其中最常见的为通过光电化学反应把光能转变成化学(或电)能并伴随有在光照下的电化学电池中出现光电流的过程，及其逆过程即化学(或电)能转换为光能(电致化学发光)。
Zahner公司的CIMPS测试系统是基于Zennium或IM6电化学工作站并扩展专用的软硬件，被称为强度调制光电流谱(IMPS)和强度调制光电压谱(IMVS)。
通过光电化学测试，可得出电子收集时间、电子收集效率、电子扩散系数和扩散长度等主要参数。
2 Zahner光电化学测试系统Zahner的可控强度调制光电化学测试系统(简称CIMPS)，其最大的优势在于采用闭环控制技术调节和控制光强，从而避免了温度、时间、环境等各种因素的变化或者光源老化等原因造成实际光强不稳定带来的测量误差。
2.1 CIMPS基本系统一套基本的CIMPS系统主要由五部分组成，包括：电化学工作站主机、外置恒电位仪、光感放大反馈系统、光源和光具座。
如图1所示。
而根据电化学图1 基本CIMPS测试系统工作站和外置恒电位仪的不同，CIMPS基本系统有四种不同的配置，如表1所示。
表1 CIMPS基本系统的四种不同配置CIMPS-1 ●Zennium 电化学工作站●XPOT外置恒电位仪(±500mA，±10V) ●EPC42控制模块●光具座，传感器，光感放大反馈系统●CIMPS及Thales软件CIMPS-2 ●Zennium 电化学工作站●PP211外置恒电位仪(±10A，±20V) ●EPC42控制模块●光具座，传感器，光感放大反馈系统●CIMPS及Thales软件CIMPS-3 ●IM6 电化学工作站●XPOT外置恒电位仪●EPC42控制模块●光具座，传感器，光感放大反馈系统●CIMPS及Thales软件CIMPS-4 ●IM6电化学工作站●PP211外置恒电位仪●EPC42控制模块●光具座，传感器，光感放大反馈系统●CIMPS及Thales软件CIMPS基本系统可进行如下测试：1、标准太阳能电池测试(1) 最大输出功率； (2) 填充因子；(3) 转换效率； (4) 开路电压；(5) 短路电流； (6) 电子收集时间；(7) 电子收集效率； (8) 电子扩散系数。
2、静态光电传输函数(1) 静态光电压vs.光强曲线； (2) 静态光电流vs.光强曲线；(3) 恒定光强下静态光电流vs.池电压曲线。
3、动态光电传输函数(1) 动态光电流效率(IMPS)； (2) 动态光电压效率(IMVS)。
4、时间域测试(1) 恒定光强，光电压vs.时间； (2) 定光强，光电流vs.时间。
5、光强度瞬态变化测试(1) 瞬态光强变化条件下测量光电压vs.时间；(2) 瞬态光强变化条件下测量光电流vs.时间。
6、电荷抽取，斩光伏安法2.1.1 CIMPS-CLV斩光伏安法(Chopped Light V oltammetry)，简称CLV，可用于研究液晶材料的变色：在液晶材料上加电压，电压变化时液晶材料的颜色也会发生变化。
对于光源的选择一般都会选用白色光源，因为白光的开关速度快。
图2为CIMPS-CLV 测试结果示意图。
液晶材料的变色通过CIMPS-CLV或CIMPS-ABS都能实现，但是两者是有区别的：1、CIMPS-CLV的光电化学池不透光；2、CIMPS-ABS的光电化学池透光。
图2 CIMPS-CLV测试结果示意图2.2 CIMPS系统的扩展除了上述的CIMPS基本系统，CIMPS的扩展性非常强大，可将CIMPS的应用扩展到吸收光谱、发射光谱、光电转化效率、动态透射/反射及瞬态响应测试等。
2.2.1 CIMPS-ABS将CIMPS系统扩展到电致变色过程的检测和材料筛选。
CIMPS配套有UV-VIS-IR光谱仪，两个相同的PECC-2光电化学池安装在可自动切换的滑轨上(其中一个为测量池，另一个为参比池)，1个高光强白色光源(LED或钨灯光源)。
根据光电化学池电压、电流或时间等参数的系列变化自动测量光谱。
图3 CIMPS-ABS示意图图3为CIMPS-ABS装置示意图。
外置恒电位仪控制光源，电化学工作站主机控制光电化学池。
用EIS的扰动来控制PECC电压，可同时得出谱图和EIS，但是此时的扰动和EIS是不一样的，扰动会很大。
光源背侧有快门键控制光的入射与遮挡，光电化学池两端的光纤需在一条水平线上，否则会严重影响测试结果。
CIMPS-ABS可现实的测试方法有：(1)吸收光谱vs.电压；(2) 吸收光谱vs.电流；(3) 吸收光谱vs.时间；(4) 用户自定义吸收光谱系列测量。
2.2.2 CIMPS-PCS/IPCECIMPS-系统是基于特殊的可调波长光源进行测量的，提供了光谱分辨率的入射光转换效率和一整套光谱电化学测量技术。
CIMPS 系统的FRA 可被配置成锁相模式，这使得第三方斩光控制器和单色光控制器能够与CIMPS 系统一起使用。
图4 CIMPS-PCS/IPCE 示意图图4 为CIMPS-PCS/IPCE 示意图，外置恒电位仪控制光源，光源前方有单色仪，电化学工作站主机控制光电化学池。
可进行太阳能电池的光电转化效率等。
IPCE 表示单位时间内外电路产生的电子数与单位时间内的入射光子数之比。
可用式(1)计算IPCE ：02()()d d d d d d j w w q e e e e I e e αγγγγγααγαφαγ−−−−−−+−==•+− 式(1)其中，α：吸收系数；q ：电子电量；I 0：入射光通量；d ：薄膜厚度；j(w)：交流光电流；γ：电子的有效扩散系数。
CIMPS-PCS 核心应用技术是430nm~730nm （TLS ）、365nm~1020nm （TXLS ）或者用户自定义的UV/IR 波长范围内对有机或染料敏化太阳能电池的测量入射光量子转换效率（IPCE ）。
像其它CIMPS 光源一样，TLS 光源同样是基于先进的LED 阵列技术。
马达带动阵列变化，实现连续可调。
同时滤光片和光强检测器都被整合到同一个黑盒中。
CIMPS-PCS/IPCE 可实现的测试方法有：(1) 光电流 vs. 波长(PCS)；(2) 入射光量子转化效率(IPCE)。
2.2.3 CIMPS-DTR某些物理系统在外加电压和电流影响下其光学特性会发生变化。
这种现象在电子显示器、智能玻璃、电子报纸和电致变色器件等领域已经产生了巨大的经济重要性，是目前高科技所关注的。
对大多数应用来说，除了颜色变化以外，重要的是动态特性的变化。
如开关时间对显示器和调制控制是非常重要的，智能玻璃的反应时间是根据物质传输过程、氧化还原反应过程或者物质结构重组过程等动态特性来确定的，这些变化均会产生光学变化。
动态透射-反射(DTR)传输函数分析，也称为光学阻抗谱(OIS)，是伴随着电化学阻抗谱(EIS)理论而出现的。
电化学阻抗谱中基本的传输函数是由电压和电流之间的关系得到的。
在DTR测量过程中，与EIS测量过程相同的是在样品上施加直流偏置电压（或电流）以及小振幅扰动测试信号；与EIS测量不同的是，试样由恒定光强P光源照射，记录的透射或反射光强P*是根据是电激发信号的扰动所引起的响应信号。
动态DTR传输函数是根据响应的调制信号(相对光强度变化P*/P=TR)与扰动激发电压或电流信号之间的关系而计算得到的(激发信号与恒电位或恒电流工作模式有关)。
图5 CIMPS-DTR示意图图5为CIMPS-DTR示意图，该套装置包含两个外置恒电位仪，其中一个控制光源，另一个控制光电化学池电压，电化学工作站主机与光强传感器相连。
测量反射时，PECC需倾斜45°角，光强传感器也需相应变换位置。
CIMPS-DTR可实现的测试方法有：(1) 动态透射/反射谱vs.频率；(2) 静态透射/反射谱vs. 电荷；(3) 静态透射/反射谱vs. 电压；(4) 静态透射/反射谱vs. 时间。
2.2.4 CIMPS-EMITCIMPS-EMIT将CIMPS的应用范围扩展到OPV，LED，OLED检测等。
该系统附加UV-VIS-IR光谱仪来实现发射光谱测量。
对于整体发射光测量，需另外配NIST追踪标定的光强检测器。
图6 CIMPS-EMIT示意图图6为CIMPS-EMIT示意图，该装置有两种型号分别为：CIMPS-EMIT1和CIMPS-EMIT2。
两者的区别在于：(1) CIMPS-EMIT1的光谱仪为ILT-950，ILT-950接收面积大，且可与ABS共享；(2) CIMPS-EMIT2的光谱仪为新型光纤微型光谱仪。
入射端和接收端的光纤一定要在同一水平面对齐，否则无法测量。
CIMPS-EMIT可实现的测试方法有：(1) 光发射时电压电流特性(PVI)；(2) 光谱分辨率的PVI。
2.2.5 CIMPS-FITCIMPS-FIT将CIMPS扩展到对半导体、有机太阳能电池、染料敏化太阳能电池做高速动态特性检测。
对于高速响应过程如以硅为基底的材料或单晶硅半导体太阳能电池，或由于在有机太阳能电池内具有薄层结构，标准的CIMPS软件中“Intensity Transients”功能的时间分辨率不能满足要求，在这种体系中光电荷扩散和迁移时间常数非常快以致标准的CIMPS系统无法实现测量。
Zahner公司的CIMPS-fit系统可提供高速瞬态响应信号测量，将时间测量分辨率达到50ns。
