《数字电路》实验讲义
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数字电路实验讲义课题:实验一门电路逻辑功能及测试课型:验证性实验教学目标:熟悉门电路逻辑功能,熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法重点:熟悉门电路逻辑功能。
难点:用与非门组成其它门电路教学手段、方法:演示及讲授实验仪器:1、示波器;2、实验用元器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片实验内容:1、测试门电路逻辑功能(1)选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。
(2)将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。
2、逻辑电路的逻辑关系(1)用74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。
(2)写出两个电路的逻辑表达式。
3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4、用与非门组成其它门电路并测试验证。
(1)组成或非门:用一片二输入端四与非门组成或非门B+=,画出电路图,测试并填=AABY∙表1.4。
(2)组成异或门:①将异或门表达式转化为与非门表达式;②画出逻辑电路图;③测试并填表1.5。
5、异或门逻辑功能测试(1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。
(2)将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。
6、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器74LS04 逻辑电路按图1.6 接线,输入200Hz 连续脉冲(实验箱脉冲源),将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴,观察输入、输出相位差。
实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换一、实验目的:1.掌握TTL 与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2.熟悉TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3. 熟悉逻辑功能的变换。
二、实验仪器及器件:1.数字电路实验箱 1台 2.二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5.数字万用表 1块三、实验预习:1.复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。
2.查出实验所用集成电路的外引脚线排列图,熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
四、实验原理:1.测试门电路的逻辑功能⑴ 与非门的逻辑功能:有0出1,全1出0。
与非门的逻辑函数式:Y=AB74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。
如下图所示。
⑵ 或非门的逻辑功能:有1出0,全0出1。
或非门的逻辑函数式:Y=A+B74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。
Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A1B1Y2A2B2YGND00 四2输入与非门V DDA4B4Y4Y3B3A3A1B1Y1Y2B2A2V SS4001 四2入或非门⑶异或门的逻辑功能:相同出0,相反出1。
异或门的逻辑函数式:Y=A⊕B=AB+AB74LS86为二输入四异或门,即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。
如图(c)所示。
2.门电路的逻辑变换:就是用与非门等组成其它门电路。
方法:先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式,再画出相应逻辑图,然后用与非门实现之。
五、实验内容:实验前先检查实验箱电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按接线图连线。
特别注意V cc及地线不能接错。
线接好后经指导教师检查无误方可通电。
实验中改动接线必须先断开电源,接好线后再通电实验。
预备实验门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉门电路逻辑功能。
2.熟悉示波器使用方法。
二、实验仪器及材料双踪示波器74LS00 四2输入与非门 2片74LS20 二4输入与非门 1片74LS86 四2输入异或门 1片三、预习要求1.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2.熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
3.了解双踪示波器使用方法。
实验前先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按自己的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及地线不能接错。
先接好后经实验指导教师检查无误后可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。
1.测试门电路逻辑功能1)选用74LS20按图0-1接线输入端接S1-S4(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(D1-D8任意一个)。
2)将电平开关按表0-1置位,分别测出电压及逻辑状态。
表0-12. 异或门逻辑功能测试1) 选74LS86按图0-2接线输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A 、B 、Y 接电平显示发光二极管。
2) 将电平开关按表0-2置位,将结果填入表中。
表0-23.逻辑电路的逻辑关系1) 用74LS00按图 0-3,0-4接线,将输入输出逻辑关系分别填入表0-3,0-4中。
2) 写出上面两个电路逻辑表达式。
表0-3表0-4图0-2图 0-3图 0-44. 利用与非门控制输出用74LS00按图0-5接线,S 接任一电平开关用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
5.用与非门组成其它门电路并测试验证1) 组成或非门:用一片四2输入与非门组成或非门,画出电路图,测试并填表0-5。
2) 组成异或门:将异或门表达式转化为与非门表达式后,画出逻辑电路图,测试并填表0-6。
表0-5五、 实验报告1. 按各步骤要求填表并画出逻辑图。
2.思考题1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常?2) 与非门的一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过? 3) 异或门又称可控反相门,为什么?表0-6图 0-5实验一TTL与非门主要参数测试一、实验目的掌握TTL与非门电路主要参数的意义及测试方法。
目录实验一逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试 (2)实验二组合逻辑电路的功能测试 (9)实验三锁存器和触发器的逻辑功能及相互转换 (15)实验四计数、译码、显示电路 (20)实验五寄存器及其应用 (26)实验六随机存取存储器的应用 (30)实验七D/A、A/D转换器 (42)实验八智力竞赛抢答装置的设计 (49)实验一 逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用; 2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法; 3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74136异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。
二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。
2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。
3.熟悉74LS00、74LS02、74136、74LS125和CC4011的外引线排列。
4.画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。
(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2 ),接有拉电流负载时,OH V 将下降。
测试OH V 的电路如图1.1所示。
(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时,图1.1 V OH 的测试电路图1.2 V OL 的测试电路OLV 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。
测试OL V 的电路如图1.2所示。
(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。
数字电路实验讲义目录1 数字电路实验箱简介2 实验一基本门电路和触发器的逻辑功能测试3 实验二常用集成组合逻辑电路(MSI)的功能测试及应用4 实验三常用中规模集成时序逻辑电路的功能及应用5 实验四组合逻辑电路的设计6 实验五时序逻辑电路的设计7 实验六综合设计实验8 附录功能常用芯片引脚图数字电路实验箱简介TPE系列数字电路实验箱是清华大学科教仪器厂的产品,该实验箱提供了数字电路实验所必需的基本条件。
如电源,集成电路接线板,逻辑电平产生电路,单脉冲产生电路和逻辑电平测量显示电路,实验箱还为复杂实验提供了一些其他功能。
下面以JK触发器测试为例说明最典型的测试电路,图1为74LS112双JK触发器的测试电路。
其中Sd、Rd 、J、K为电平有效的较入信号,由实验箱的逻辑电平产生电路提供。
CP为边沿有效的触发信号,由单脉冲产生电路提供。
Q和为电路的输出,接至逻辑电平测量显示电路,改变不同输入的组合和触发条件,记录对应的输出,即可测试该触发器的功能。
逻辑电平测量显示图1. JK触发器测试电路实验一 基本门电路和触发器的逻辑功能测试一、 实验目的1、掌握集成芯片管脚识别方法。
2、掌握门电路逻辑功能的测试方法。
3、掌握RS 触发器、JK 触发器的工作原理和功能测试方法。
二、实验设备与器件 1、数字电路实验箱 2、万用表 3、双列直插式组件 74LS00:四—2输入与非门 74LS86:四—2输入异或门 74LS112:双J-K 触发器三、实验原理与内容 1、测试与非门的逻辑功能74LS00为四—2输入与非门,在一个双列直插14引脚的芯片里封装了四个2输入与非门,引脚图见附录。
14脚为电源端,工作时接5V,7脚为接地端,1A ,113和1Y 组成一个与非门,B A Y 111⋅=。
剩余三个与非门类似。
按图1—1连接实验电路。
改变输信号,测量对应输出,填入表1—1中,验证其逻辑功能。
测 量 显示逻 辑 电平图1—1 74LS00测试电路2、测试基本RS 触发器功能两个与非门相接可构成基本RS 触发器,R 、S 为触发器的清0和置1输入端。
数字电路实验讲义杭州电子科技大学2010.04实验1 数据选择器的应用1 实验目的1.了解数据选择器的电路结构和特点。
2.掌握数据选择器的逻辑功能和测试方法。
3.掌握数据选择器的基本应用。
2 实验仪器与器件3 实验原理数据选择器又称为多路开关,是一种重要的组合逻辑部件。
它是一个多路输入、单路输出的组合电路,能在通道选择信号(或称地址码)的控制下,从多路数据传输中选择任何一路信号输出。
在数字系统中,经常利用数据选择器将多条传输线上的不同数字信号,按要求选择其中之一送到公共数据线上。
另外,数据选择器还可以完成其它的逻辑功能,例如函数发生器、桶形移位器、并串转换器、波形产生器等。
(一)用门电路设计四选一数据选择器四选一数据选择器表达式为301201101001d A A d A A d A A d A A Y +++=,由表达式可以得到当A 1A 0=00时,Y=d 0;A 1A 0=01时,Y=d 1; A 1A 0=10时,Y=d 2;A 1A 0=11时,Y=d 3,这样就起到数据选择的作用。
同时由表达式可以直接用门电路设计出数据选择器电路,该电路如图2.4.1所示。
(二)双四选一数据选择器74LS153的应用74LS153数据选择器集成了两个四选一数据选择器,外形为双列直插,引脚排列如图2.4.2所示,逻辑符号如图2.4.3所示,其中D 0、D 1、D 2、D 3为数据输入端,Q 为输出端,A 0、A 1为数据选择器的控制端(地址码),同时控制两个数据选择器的输出,S 为工作状态控制端(使能端),74LS153的功能表见表2.4.1。
用数据选择器74LS153实现组合逻辑函数设计举例:当变量数等于地址端的数目时,则直接可以用数据选择器来实现逻辑函数。
现设逻辑函数F (X ,Y )=∑m (1,2),则可用一个四选一完成,根据数据选择器的定义:30120110100101D A A D A A D A A D A A )A ,Q(A +++=,令A 1=X ,A 0=Y ,1S =0(使能信号,低电平有效),1D 0=1D 3=0,1D 1=1D 2=1,那么输出Q=F 。
数字电路实验讲义2008年5月目录实验1 TTL集成逻辑门功能测试 (1)实验2 组合逻辑电路 (6)实验3 加法器 (9)实验4 触发器逻辑功能测试 (13)实验5 译码器及数据选择器的应用 (17)实验6 同步计数器 (23)实验7 集成单元异步计数器 (27)实验8 移位寄存器的功能测试及应用 (33)实验9 555 集成定时器的应用 (36)实验1 TTL集成逻辑门功能测试一、实验目的1.掌握TTL与非门、或非门、异或门的逻辑功能。
了解三态门的主要特性及使用方法。
2.掌握TTL门电路电压传输特性的测试方法。
二、实验仪器1.数字电路实验箱一台2.万用表一块3.集成芯片74LS00 四2输入与非门74LS55 4输入与或非门74LS86 四2输入异或门74LS125 四2输入三态门三、实验原理TTL与非门的电压传输特性:电压传输特性表示与非门的输出电压U0与输入电压U i 之间的关系,由该曲线可以得到以下参数:U0H(输出高电平);U0L(输出低电平);阈值电压U TH(转折区中点对应的输入电压)。
三态门的特点:三态门的输出除0态和1态外,还可以呈现高阻状态,或称为开路状态。
利用三态门可以实现总线结构,还可以实现数据的双向传输。
四、实验内容及步骤1. 测试TTL与非门(74LS00)的逻辑功能1)集成电路的管脚见图1所示,管脚标“V CC”接电源+5V,管脚标“GND”接电源“地”,集成电路才能正常工作。
门电路的输入端接入高电平(逻辑1态)或低电平(逻辑0态),可由实验箱逻辑电平开关K提供,门电路的输入端接逻辑电平指示灯L,由L灯的亮或灭来判断输出电平的高、低。
74LS00 二输入与非门74LS55 与或非门74LS86 二输入异或门74LS125 四路三态缓冲门图1 集成电路管脚图2)实验线路如图2所示,与非门的输入端A、B分别接实验箱中逻辑电平开关K1、K2,扳动开关即可输入0态或者1态。
实验一:集成逻辑门电路的测试与使用一. 实验目的:1.学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法;2.掌握TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法; 3.掌握TTL 门电路与CMOS 门电路的主要区别; 4.掌握三态门的特点及应用。
二. 实验仪器与器件:1.实验仪器:稳压电源、万用表、数字逻辑实验测试台。
2.元器件:74LS20、74LS00(TTL 门电路)、4011(CMOS 门电路)、74LS125、74LS04;它们的管脚排列如下: (1)74LS20(4输入端双与非门):Y= ABCDV2A 2B N 2C 2D 2Y1A 1B N C 1C 1D 1Y GNDV CC :表示电源正极、GND :表示电源负极、N C :表示空脚。
(2) 74LS00(2输入端4与非门):Y= AB V 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND(3) 4011(2输入端4与非门): Y= ABV4A 4B 4Y 3Y 3B 3A1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND(4)74LS125(三态缓冲器):Y=A (C=0)、Y 为高阻(C=1)V CC 4C 4A 4Y 3C 3A 3Y(5)74LS04(非门): Y= A1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y GND集成门电路管脚的识别方法:将集成门电路的文字标注正对着自己,左下角为1,然后逆时针方向数管脚。
三. 实验原理:1.TTL 与非门的主要参数有:导通电源电流I CCL 、低电平输入电流I IL 、高电平输入电流I IH 、输出高电平V OH 、输出低电平V OL 、阈值电压V TH 等。
注意:不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。
2.检测集成门电路的好坏的简易方法:(1)在未加电源时,利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象;(2)加电源:利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电,然后再利用门电路的逻辑功能检查电路。
实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用;2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法;3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。
6.掌握利用门电路设计数字电路的方法。
二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。
2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。
3.熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。
4.画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。
(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2=),接有拉电流负载时,OH V 将下降。
测试OH V 的电路如图1.1所示。
(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时,OL V 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。
测试OL V 的电路如图1.2所示。
图1.1 V OH 的测试电路 图1.2 V OL 的测试电路(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。
前级输出低电平时,后级门的IS I 就是前级的灌电流负载。
一般IS I <1.6mA 。
测试IS I 的电路见图1.3。
(4)扇出系数N :扇出系数N 是指能驱动同类门电路的数目,用以衡量带负载的能力。
图1.4所示电路能测试输出为低电平时,最大允许负载电流OL I ,然后求得ISOL I I N 。
实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换一、实验目的:1.掌握TTL 与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2.熟悉TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3. 熟悉逻辑功能的变换。
二、实验仪器及器件:1.数字电路实验箱 1台 2.二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5.数字万用表 1块三、实验预习:1.复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。
2.查出实验所用集成电路的外引脚线排列图,熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
四、实验原理:1.测试门电路的逻辑功能⑴ 与非门的逻辑功能:有0出1,全1出0。
与非门的逻辑函数式:Y=AB74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。
如下图所示。
⑵ 或非门的逻辑功能:有1出0,全0出1。
或非门的逻辑函数式:Y=A+B74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。
Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A1B1Y2A2B2YGND00 四2输入与非门V A4B4Y4Y3B3A3A1B1Y1Y2B2A2V 4001 四2入或非门⑶异或门的逻辑功能:相同出0,相反出1。
异或门的逻辑函数式:Y=A⊕B=AB+AB74LS86为二输入四异或门,即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。
如图(c)所示。
2.门电路的逻辑变换:就是用与非门等组成其它门电路。
方法:先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式,再画出相应逻辑图,然后用与非门实现之。
五、实验内容:实验前先检查实验箱电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按接线图连线。
特别注意V cc及地线不能接错。
线接好后经指导教师检查无误方可通电。
实验中改动接线必须先断开电源,接好线后再通电实验。
数字电路实验讲义实验一KHD-2型数字电路实验装置的使用和集成门电路逻辑功能的测试一、实验目的1.熟悉和掌握KHD-2型数字电路实验装置的使用。
2.熟悉74LS20和74LS00集成门电路的外形和管脚引线。
3.掌握与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门逻辑功能的测试。
二、实验器材及设备1.KHD-2数字电路实验台2.4输入2与非门74LS20(1块)3.2输入4与非门74LS00或CC4011(1块)三、实验原理(一)KHD-2型数字电路实验台KHD-2型数字电路实验台由实验控制屏与实验桌组成。
实验控制屏主要由两块单面敷铜印刷线路板与相应电源、仪器仪表等组成。
控制屏由两块相同的数电实验功能板组成,其控制屏两侧均装有交流电压220V的单相三芯电源插座。
每块实验功能板上均包含以下各部分内容:1.实验板上装有一只电源总开关及一只熔断器(额定电流为1A)作为短路保护用。
2.实验板上共装有600多个高可靠的自锁紧式、防转、叠插式插座。
它们与集成电路插座、镀银针管座以及其他固定器件、线路的连线已设计在印刷线路板上。
板正面印有黑线条连接的器件,表示反面已装上器件并接通。
3.实验板上共装有200多根镀银长15mm的紫铜针管插座,供实验时接插小型电位器、电阻、电容、三极管及其他电子器件使用。
4.实验板上装有四路直流稳压电源(±5V、1A及两路0~18V、0.75A可调的直流稳压电源)。
实验板上标有处,是指实验时需用导线将直流电源+5V引入该处,是+5V 电源的输入插口。
5.高性能双列直插式圆集成电路插座18只(其中40P 1只、28P 1只、24P 1只、20P 1只、16P 5只、14P 6只、8P 2只、40P锁紧座1只)。
6.6位十六进制七段译码器与LED数码显示器:每一位译码器均采用可编程器件GAL 设计而成,具有十六进制全译码功能。
显示器采用LED共阴极红色数码管(与译码器在反面已连接好),可显示四位BCD十六进制的全译码代号:0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、B、C、D、E和F。
实验二:TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能。
2、掌握TTL器件的使用规则。
3、熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法。
二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20和二输入四与非门74LS00,四输入双与非门是在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1(a)、(b)、(c)所示。
(b)(a) (c)图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)其逻辑表达式为 Y=三、实验设备与器件1、+5V直流电源。
2、逻辑电平开关。
3、逻辑电平显示器。
4、直流数字电压表。
5、74LS20、74LS006、1KΩ电阻器(0.5W)四、实验内容、步骤及数据记录在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。
1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图2-2接线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。
门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。
按表2-2的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。
74LS20有4个输入端,有16个最小项,在实际测试时,只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。
图2-2 与非门逻辑功能测试电路表2-22、利用与非门组成其他门电路并测试其逻辑功能 (1)组成与门电路用与非门74LS00组成与门Z=A ﹒B ,画出测试电路(并注明芯片的引线端口),并完成表2-3。
表2-3(2)组成或门电路用与非门74LS00组成或门Z=A+B ,画出测试电路,并完成表2-4。
第一部分实验教学部分基本原理实验实验一门电路逻辑功能测试及应用一、实验目的1.熟悉数字电路学习机和双踪示波器的使用方法;2.熟悉门电路的逻辑功能;3.掌握TTL门电路、CMOS门电路功能及外特性的测试方法;4.掌握基本集成逻辑芯片的正确使用与应用。
二、实验器材1.数字电路学习机1台2.双踪示波器1台3.万用表1台4.集成芯片74LS00四2输入TTL与非门1片74LS02四2输入TTL或非门1片TC4011四2输入COMS与非门1片5.0~10KΩ电位器1只6.导线若干三、预习要求1.了解数字电路学习机和双踪示波器的使用方法(见附录);2.熟悉所用集成芯片的引线位置及各引线用途;3.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式;4.复习门电路主要特性及参数的意义。
四、实验内容及步骤实验前按学习机使用说明书先检查学习机电源是否正常,然后选择实验用的集成芯片,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意V CC及地线不能接错。
线接好后经实验指导老师检查无误方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。
1.测试门电路的逻辑功能分别将集成芯片74LS00、TC4011、74LS02插入面包板,接好V CC和地线,输入端接S1~S8(电平开关输出插口)任意两个,输出端接电平显示发光二极管(D1~D8)任意一个,列出各自的真值表,写出逻辑表达式。
(集成芯片引脚图见图1-9、图1-10、图1-11)2.TTL门电路(74LS00)主要参数的测试(1)输出高电平V OH与输出低电平V OL的测定。
V OH—是指输入端有一个或一个以上为低电平时的输出高电平值,其测试图如图1-1所示。
V OL —是指输入端全部接高电平时的输出低电平值,其测试图如图1-2所示。
(2)输入短路电流I IS 的测定。
I IS —是指输入端有一个接地,其余输入端接高电平(或TTL 门输入端的开路)时,流入接地输入端的电流。
有时也把V I =0时的输入电流叫输入短路电流I IS 。
数字电路实验讲义传媒技术学院2013年4月实验一门电路电参数的测试一、实验目的:1、学习数字万用表、双踪示波器、信号发生器、DJ-SD1数字电路实验箱的使用方法;2、掌握TTL的门电路的主要参数及其测试方法;(74LS00)3、了解集电极开路OC门(74LS07)、三态输出门TSL(74LS125)的主要特性和使用方法。
4、学会使用数字表逻辑档检测TTL门电路好坏的方法。
二、实验原理:1、 TTL门电路在数字电路设计中,通常要用到一些门电路,而门电路的特性参数的好坏,在很大程度上影响整个电路工作的可靠性。
通常参数按时间特性分两种:静态参数和动态参数。
静态参数指电路处于稳定的逻辑状态下测得的参数,而动态参数则指逻辑状态转换过程中与时间有关的参数。
本实验中选用TTL 74LS00二输入端四与非门进行参数的实验测试,以掌握门电路的主要参数的意义和测试方法。
TTL 74LS00集成电路引脚排列图如图1-1所示。
图1-1 74LS00集成电路引脚排列图TTL与非门的主要参数有:(1)、空载导通功耗Pon 和空载截止功耗Poff:空载导通功耗Pon是指输入端全为高电平、输出为低电平且不接负载时的功率损耗。
Pon =VCC·ICCL空载截止功耗Poff是指输入端至少有一个为低电平、输出为高电平且不接负载时的功率损耗。
Poff =VCC·ICCH以上两式中:VCC——电源电压(+5V);I CCL ——空载导通电源电流;(输出为低电平且不接负载时的电源电流) I CCH ——空载截止电源电流。
(输出为高电平且不接负载时的电源电流)空载导通功耗P on 和空载截止功耗P off 的测试电路如图1-2所示。
图1-2 空载导通功耗P on 和空载截止功耗P off 的测试电路(2)、输入短路电流I IS :输入短路电流I IS 又称低电平输入电流I IL (I IS 即I IL )是指一个输入端接地,其他输入端悬空时,流过该接地输入端的电流。
数电实验讲义数字电子技术基础一实验设备认识及门电路功能测试一、目的:1、熟悉万用表及电子技术综合实验平台的使用方法;2、掌握门电路逻辑功能测试方法;3、了解TTL器件和CMOS器件的使用注意事项。
二、实验原理门电路的逻辑功能。
三、实验设备与器件1、电子技术综合实验平台一台2、万用表一块3、器件(1) 74LS02 一片(四二输入或非门)(2)74HC86 一片(四二输入异或门)(3) 74LS03 一片(四二输入与非门(OC))(4)74LS00 一片(四二输入与非门)四、实验内容和步骤1、测试74LS02和74HC86的逻辑功能。
注意CMOS电路的多余输入端不得悬空,应按需要接成相应的高低电平。
表中VO为不加负载时的电压,即开路输出电压。
表4-1-12.OC门上拉电阻计算及逻辑功能测试2.1 OC门上拉电阻的计算OC门输出端可以并联连接,即OC门可以实现“线与”逻辑,但必须接一个合适的上拉电阻RL,计算方法如下:RL(max)VCC VOLVCC VOHRL(mi nnIOH mIIHILM m IIL式中:m ― 负载门总输入端数n ― OC门并联的个数m ― 负载门个数IOH ― OC门输出管截止时的漏电流(对于74LS03按IOH=50 A计算) ILM ― OC门输出管导通时允许的最大灌电流(按VOL≤0.3V,ILM≤7.8mA估算) IIH ― 负载门每个输入端的高电平输入电流(对于74LS00按IIH=0.01 A) IIL ― 每个负载门的低电平输入电流(对于74LS00按IIL=-0.25mA估算) VCC ― 电源电压(5V) VOH ― 输出高电平(按3V估算) VOL ― 输出低电平(按0.3V估算)图4-1-1 2.2 OC门“线与”应用将各OC门输入端A、B和C分别接逻辑开关;Z、Y1和Y2分别接LED指示灯,连接电路图如图4-1-1所示。
当输入端A、B和C取不同值时,观察Z、Y1和Y2的变化情况,填入表4-1-2中。
《数字电子技术基础》实验指导手册首都师范大学信息工程学院2015年8月目录第一章数字电路实验基本知识第二章基本实验实验一基本逻辑门特性实验二逻辑门电路的功能实验三基本触发器实验四译码器和多路数据选择器实验五全加器设计与实现实验六简单时序电路实验七减法计数器的设计与实现实验八集成计数器第三章选作实验选做实验一组合逻辑中的竞争冒险选做实验二秒计时显示器的制作第一章 数字电路实验基本知识一、数字集成电路芯片:中,小规模数字IC 中最常用的是TTL (晶体三极管逻辑)电路和CMOS (互补场效应管逻辑)电路,TTL 器件型号以74(或54)作为前缀,称为74/54系列,如74LS10,74F181,54S86等。
中,小规模CMOS 数字集成电路主要是4XXX/45XX (X 代表0—9的数字)系列;高速CMOS 电路为74HC/HCT 系列。
TTL 电路与CMOS 电路各有优缺点,一般来说TTL 电路速度快,驱动能力强;CMOS 电路功耗小,电源范围大,输入阻抗高。
由于TTL 在世界范围内应用极广,在数字电路教学实验中主要使用TTL 电路的74系列作为实验用器件,采用单一的+5V 作为供电电源。
1. 字表示引脚号。
双列直插封装的IC 引脚有8、14、16、20、24、28等若干种。
2. 双列直插封装器件有两种引脚。
引脚之间的间距是2.54毫米。
两列引脚之间的距离有宽(15.24毫米)有窄(7.62毫米)两种。
将器件插入实验台相应的插座中去或从插座中拔出时要小心,不要将器件的引脚搞弯或折断。
通常要借助小起子进行操作。
特别注意:不要带电插拔器件!插拔器件只能在关断+5V 电源的情况下进行。
二、数字电路测试及故障查找、排除:1. 数字电路测试数字电路测试大体分为静态测试和动态测试两部分。
静态测试指的是:给定数字电路若干组静态输入值,测试其输出值是否正确。
在静态测试的基础上按设计要求在输入端加动态脉冲信号,观察输出端波形是否符合设计要求,这是动态测试。
BA∙BA电子信息与机电工程学院电子技术实验室编写2009年9月目录实验注意事项 (1)实验一仪器使用及逻辑电路实验 (2)实验二集成逻辑门电路的基本应用 (7)实验三组合逻辑电路的实验分析 (9)实验四组合逻辑电路设计与测试 (9)实验五触发器的功能测试....................................... (11)实验六计数器的应用......................................... (14)附录A 数字集成电路(TTL电路)的使用规则................... ..16 附录B 常用芯片的引脚号和信号名称.. (17)附录C DZX-1型电子学综合实验装置使用说明.……...…… .. 16实验注意事项1、实验前认真阅读实验指导书,熟悉实验目的、实验内容及实验步骤。
2、进入实验室后,必须严格遵守实验室的一切规章制度。
按已分好的小组进行实验。
3、了解并熟悉实验设备及器件(从附录B中查清所选用集成块的引脚及功能,特别注意集成块V CC及GND的接线不能错),按实验要求连好线路,自已检查无误或经指导教师同意,方可通电继续进行实验。
4、发生事故时,应立即断开电源,保持现场,待找出并排除故障后,方可继续进行实验。
5、实验过程中仔细观察实验现象,认真做好记录。
6、需要变更原实验线路进行后面实验内容时,必须先切断电源,不能带电插拔元器件。
7、培养踏实、严谨、实事求是的科学作风。
8、爱护实验室财物,当发生仪器、设备损坏时,必须认真检查原因,并立即告知教师及实验室管理员,以便按实验室有关条例处理。
9、保持实验室内安静、整洁以及良好的秩序。
实验结束应将仪器、元件、导线等整理好放妥,并协助实验室管理员搞好清洁卫生。
实验一仪器使用及逻辑电路实验一、实验目的(一)熟练掌握万用表、综合实验装置中的电源、示波器的使用方法。
(二)熟悉综合性实验装置的基本功能和使用方法。
(三)熟悉基本门电路的功能。
二、实验仪器和设备通用型综合性实验装置系统数字万用表示波器74LS00集成三、实验内容及步骤(一)掌握实验台中的“时钟电路(基准脉冲电路)”、“逻辑电平开关电路(开关电平)”、“LED显示电路”、“单次脉冲电路”、“通用集成电路插座”、“数字电路实验区”电路原理及使用方法。
1、用示波器测试实验台中“时钟脉冲”其中一路的输出信号,把测出来的波形图及电压峰峰值V P-P、周期值T标注在图1-1中。
计算出电压峰峰值V P-P、周期值T。
t图1-1电压峰峰值V P-P= 周期T=2、从“逻辑电平开关电路(十六位开关电平输出)”中任选一电平开关,上下拔动改变开关位置,连接LED ,用LED 显示电路测定其电平并用万用表测出电压值。
开关位置 指示灯状态 电平 电压 拔上 拔下(二)测试逻辑电路基本元件——门电路的逻辑功能。
1、观察74LS00门电路的外形结构,对照其插脚(见附录B )并记住各脚的引线排列顺序及其内部电路图。
以此芯片作为本次实验的入门测试实验对象。
在“通用集成电路插座E ”中插入74LS00逻辑电路芯片。
2、74LS00为4个2输入端的与非 门电路,可选任其中一个与非门接成实 验电路,如图1-2。
3、其中输入端A 、B 应与输出端Y 对应为同一个门电路的相关端点。
4、分别把A 、B 端接到两个“逻辑 图1-2 B A Y . 电平开关”,用开关控制A 、B 端的输入状态;Y 端接“LED 显示电路”用灯来 观测输出端Y 的状态。
5、芯片接电源。
#14脚接至实验台电源 +5V ,#7脚接地。
6、通电后开始测试。
改变电平开关位置,分别输入电平,用LED 显示电路测定输出端Y 的电平,并用万用表测出各点的电压。
输 A 入 B 端输出 端将测出的结果填入下表中:7、用上表数据检验布尔代数式:BY∙=A四、实验报告要求1、整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。
2、实验电路中工作电源取自装置的直流电源中哪一路输出?3、在实验过程中,如果得不出正确的数据,你是从哪些方面分析原因的?实验二 集成逻辑门电路的基本应用一、实验目的(一) 熟悉用标准与非门实现逻辑变换的方法。
(二) 学习与非门电路的应用。
(三) 掌握半加器电路结构和逻辑功能。
二、实验仪器和设备通用综合实验装置 万用表 74LS00 74LS86集成电路 三、实验步骤及内容(一)利用摩根定理可以对逻辑函数化简或进行逻辑变换。
摩根定律:)( +++C B A = ∙∙∙C B A = +++C B A1、利用与非门组成一个与门的电路设计。
与非门的布尔代数表达式为:B A Y ∙=,而与门的布尔代数表达式为:B A Z ∙=,只要把与非门的输出Y 反相一次,即可得到与非门的功能:Z B A =∙=Y=B A ∙方法:用二个与非门即可实现与门的功能。
将测试电路图画在下面空白处,并将测试结果记录于表2-1。
2、利用与非门组成一个或门的电路设计。
或门的布尔代数表达式为:Z=A+B ,根据摩根定律可知: Z=A+B =B A ∙方法:用三个与非门连接起来,即可实现或门的功能。
将测试电路图画在下面空白处,并将测试结果记录于表2-2。
(二)1、利用与非门完成一个电平“0”的控制器。
电路的输入端接一个1MHZ 的脉冲信号,其输出端只能输出电平为“1”的信号。
2、用奇数个与非门构成环形振荡器,如图2-1所示。
振荡频率为:pdnt f 21=,用示波器观察波形,测量振荡频率,计算与非门的图2-1 与非门构成环形振荡器平均延迟时间pd t 。
其中,n 是与非门的个数。
(三)半加器逻辑功能的测试。
用一个与门及一异或门(74LS86)组成一位半加器,测试其逻辑功能。
如图2-1所示表2-1S 图2-1V 0四、实验报告要求(一)整理实验数据、图表并对实验结果进行分析。
(二)请讨论下述两个问题:1、门电路芯片74LS00中不用的门应如何处理?2、一个与非门中不用的输入端应如何处理?实验三组合逻辑电路的实验分析一、实验目的半加器及全加器是CPU中的ALU(算术逻辑单元)主要电路。
本实验目的就是学会组成这两种主要电路的连接方法,进行测试验证。
二、实验仪器和设备通用微机接口实验系统微机电源万用表74LS00,74LS86 74LS54 74LS138三、实验步骤及内容1.分析、测试用与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能⑴写出图3-1的逻辑表达式⑵根据表达式列出真值表3-1,并画出卡诺图判断能否简化。
表3-1⑶按图3-1连线,将A及i B分别接至逻辑电平开关1K及2K,i C及iS分别接至LED电平显示电路1L及2L。
i⑷给A及i B以不同的电平,观察i C及i S的电平并记于表3-2中, i同时与上表3-1比较,看两者是否一致.2.分析用一个与门(实验系统中)及一异或门(74LS86)组成半加器电路,电路如图3-2。
(1)查阅本书附录B,记下74LS86 的结构和引线的排列,按图连线,测 试方法同1.(3)项,将测试结果填 入自拟的表格中,并验证逻辑功能。
3. 分析测试用异或门、与非门和或门组成的全加器逻辑电路。
根据全加器的逻辑表达式 全加和 1i i i i C )B A (S -⊕⊕= 进位 i i 1i i i i B A C )B A (C ∙+∙⊕=-可知一位全加器可以用两个异或门和两个与门及一个或门组成。
⑴画出用上述门电路实现的全加器逻辑电路。
⑵按所画的原理图,选择器件,并接线。
⑶进行逻辑功能测试,将测试结果填入自拟表格,判断测试是否正确。
四、实验报告要求1、整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。
2、总结组合电路的分析与测试方法。
实验四组合逻辑电路设计与测试一、实验目的(一)掌握组合电路的设计与测试方法。
(二)了解译码器的性能和使用方法。
二、实验仪器和设备通用微机接口实验系统微机电源万用表74LS00 74LS20 74LS54 74LS138三、验步骤及内容(一)用逻辑门构成组合逻辑电路的设计方法血型符合电路人的基本血型分为O、A、B和AB四种。
输血者和受血者的血型必须符合下述原则才可以进行输血:O型可以输给任意血型的人,但O型只能接受O型血;A型只能输给A型和AB血型的人,A型只能接受A型和O型血;B型只能输给B型和AB血型的人,B型只能接受B型和O型血;AB型只能输给AB血型的人,但AB型可以接受任意血型。
试用与或非门构成一个判断能否输血的电路。
设计方法:1、定义与赋值用自变量KL表示输血人的血型,MN表示受血人的血型。
00表示O型,10表示A型,01表示B型,11表示AB型。
Y=1表示血型符合;Y=0表示血型不符合。
2、列出真值表。
3、画卡诺图,化简得出逻辑表达式。
4、画逻辑图。
5、测试电路的逻辑功能,检验设计电路的正确性。
(二)用中规模集成电路构成组合逻辑电路设计一个表决电路三个人参加投票,当有二个以上(包括二个)赞成时就表示通过,否则不能通过。
(用3-8线二进制译码器74LS138等)构成。
设计方法1、定义与赋值,将地址输入端A2、A1、A0作为自变量,Y 作为结果的输出。
2、列真值表,写出逻辑表达式。
3、画逻辑图4、测试逻辑功能,检验设计电路的正确性。
实验五触发器的功能测试一、实验目的(一)掌握基本RS触发器的功能测试。
(二)掌握集成触发器的电路组成形式及其功能。
(三)熟悉时钟触发器不同逻辑功能之间的相互转换。
二、实验仪器和设备通用微机接口实验系统微机电源74LS00 74LS74 74LS76 三、实验步骤及内容触发器具有两个稳定状态,用以表示逻辑状态“1”和“0”,在一定的外界信号作用下,可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态,它是一种具有记忆功能的二进制信息存贮器件,是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。
(一)测试基本RS触发器的逻辑功能用两个与非门组成基本RS触发器如图4-1,输入端R,S接逻辑电平开关输出插口,输出端Q、Q接逻辑电平显示插口,按表4-1要求测试。
表4-1图4-1 基本RS触发器RSQQ••(二)测试集成双JK触发器74LS76的逻辑功能1、测试R、D S端的复位、置位功能D74LS76逻辑符号如图4-2,对照其插脚(查阅附录B)取其中一JK触发器,R、D S、J、K端分别接逻辑电平开关输出插口,CP接D单次脉冲源(正脉冲),Q、Q接至逻辑电平显示输入插口。
要求在R=0,D S=1以及D S=0,D R=1时任意改变J、K及CP的状态用“ⅹ”D符号表示,观测Q、Q状态。
2、测试触发器的逻辑功能按表4-2的要求改变J、K、CP端状态,记录Q的状态变化,观察触发器状态的更新发生在CP脉冲(单脉冲)的上降沿还是下降沿?(注意R、D S端的电平接法)DD D图4-2 74LS76逻辑符号3、JK触发器的J、K端连在一起,构成T‘触发器。