ESD测试报告

Official Test Report正式的测试报告测试项目：静电放电测试Conclusion结论:Pass通过Fail 不通过Other其它: 测量PIN耐受电击的极限值，作为设计参考，具体请阅报告正文Performed by测试: 樊佳伦&黄俊伟Signature Date: 2015-12-22 Written by撰写: 邓文签名：日期：2015-12-23 Checked by核查: 董安庆2015-12-24 Approved by批准: 穆剑权2015-12-25Revision History修订履历Contents目录Contents目录 (3)1 Purpose目的 (4)2 References 参考文件 (4)3 Glossary术语 (4)4 Sample Information 样品信息 (4)4.1 General Information 基本信息 (4)4.2 Hardware &Software Information 软硬件信息 (5)5 Equipment & Device Information设备信息 (5)6 Approach测试方法和步骤 (5)7 Pass/ Fail Criteria 通过标准 (6)8 Results 分析与结果 (6)9 Conclusion 结论 (7)江苏博强新能源科技有限公司报告编号：BQ-72V-BMS-0004ESD Test Report1 Purpose目的验证该BMS的抗静电干扰的性能指标是否在产品规范内。

2 References 参考文件Specification 产品规格书:Standard 执行标准: ISO106053 Glossary术语4 Sample Information 样品信息4.1 General Information 基本信息4.2 Hardware &Software Information 软硬件信息软件版本：V1.2硬件版本：V1.25 Equipment & Device Information设备信息6 Approach测试方法和步骤7 Pass/ Fail Criteria 通过标准如章节68 Results 分析与结果1）ESD极限测试不通过的情况如下：对保护板Pin脚，控制口端，-8KV 接触放电，测试结束，BMS上电，发现启动不了，分析电路，元器件被电击损坏测试场景如下图：江苏博强新能源科技有限公司报告编号：BQ-72V-BMS-0004 2）其他检测点经过静电放电测试后，BMS恢复上电，其各采样和通信功能良好，测试布置如下：9 Conclusion 结论该BMS在软件版本V1.2和硬件版本V1.2的阶段，其静电放电抗扰性能指标合格。

ESD保护电路的改进型结构的测试报告复旦大学ASIC与系统国家重点实验室李宁集成电路中ESD(ElectroStatic Discharge)现象，主要由IC与带静电的人体或机器接触所致，目前，静电释放所引起的IC失效已占总失效数的10％，因此静电释放保护是保证IC可靠性的一个重要内容，现在的设计要求就是以最小的版图面积，得到触发时间足够快，释放电流足够大的ESD保护电路，以确保IC内部的电路性能不受ESD影响.1.ESD设计原理在ESD冲击发生时，ESD保护电路必须及时地释放ESD能量，并且保护电路必须能够承受大电流。

所以保护电路必须有很快的触发速度，形成低阻通路，来释放ESD能量.另外，由于大电流流过保护电路而产生的热效应，要求保护结构必须能够均匀的释放ESD能量，降低能量密度，防止局部过热而造成损伤。

ESD保护中常用的器件有；a)电阻b)二极管c)双极型晶体管d)NMOS型晶体管e)场管f)可控硅(SCR)1)回扫现象回扫(snapback)现象存在于多种ESD保护电路结构中,举MOS管为例;MOS管的跨导比较双极型器件要小，显然不适合承载大电流。

但在ESD冲击发生时，以NMOS为例，它将被触发成横向的N+-P-N+晶体管。

而源漏电压将被箝位在N+-P-N+晶体管的回扫电压上。

图1. NMOS管寄生NPN管的回扫击穿截面图如上图1所示，漏端接静电源，源端接地。

随着V DS的增加，漏端和衬底的耗尽区将发生雪崩，并伴随着电子空穴对的产生。

一部分产生的空穴被源端搜集，其余的流过衬底。

由于体电阻的存在，从而使衬底电压提高。

当衬底和源之间的P-N结正偏时，电子就从源发射进入衬底。

这些电子在源漏之间的电场的作用下，被加速，产生电子、空穴的碰撞电离，从而形成更多的电子空穴对，使流过N +-P-N +晶体管的电流不断增加，最终形成回扫击穿。

I-V 曲线也类似图2。

I图(6)图2. 回扫击穿的I －V 特性曲线2) SCR 结构由于可控硅(semiconductor Controlled Rectifies,SCR) 触发前后，电阻变化很大。

静电测试一、静电物理参数1、材料起电带电能力物理参数（1）导电性物理参数①绝缘电阻R：绝缘体上安放两个电极，其间施加一直流电压V时，电极间便有电流I流过，我们将电压V与电流I之比值称为绝缘电阻R。

对电工材料来说，103～106Ω为半导体，>1×106Ω为绝缘体。

而对静电材料来说，104Ω～106Ω是静电导体，1×106～1×1011Ω为静电亚导体，>1×1011Ω为静电非导体。

②电阻率ρ：绝缘体的绝缘电阻当该绝缘体的尺寸和电极的形状确定后，绝缘体的绝缘电阻只随决定材料性质的系数而变，这系数通称为电阻系数，或叫电阻率。

③导电率1/ρv（2）放电时间常数τ：一般的带电物体，当其停止摩擦时，其带的静电荷或静电电位是自行衰减消散，并会按指数曲线规律衰减V=Vo e-t/τ。

式中的τ是放电时间常数，它的定义是电位值（或电荷量），衰减到e分之一时（即e＝2.71828，1/e＝0.37）所需的时间。

半衰期τ半＝ln2*τ。

（3）介电常数εr：按法拉第的定义，介电常数是充满此介质电容的电容量C与真空为介质同样尺寸电容量C O的比值（C/C O=ε）,也有认为介电常数是由极板上一定电荷在介质中产生的电场强度E比在真空中所产生的电场强度Eo减小的倍数（E O/E=ε）。

无论怎样看，介电常数ε是表征介质在电场中的极化能力（两物体摩擦，介电常数大的产生正电荷，介电常数小的产生负电荷）。

决定静电荷衰减的时间常数τ。

严格说来，C/C O或E O/E叫相对介电常数εr。

真正的介电常数是ε＝εr*εO，这εO是真空的介电常数εO＝8.85×10-12F/m。

εr空＝1，εr介质＝1～8，εr水＝81。

（4）静电电容（对地电容）：被测物体的测试点对地间的电容。

在防静电研究和试验研究中，常常需要测量静电电容数据。

（a）为得知材料的介电常数（平板试样εO＝C•d/s）,需测量C，计算出εr＝ε/εO＝C•d/s•1/εO；（b）为分析仪器的测量精度和响应速度，必须掌握仪器的输入电容（Q=CV）；(C)在防爆场所，静电能否放电，放电能否引起爆炸火灾，或对电子元件能否击穿，是看静电电场强度E的高低。

南京熊猫移动通信设备有限公司整机可靠性测试试验报告试验名称:ESD（静电放电）测试样品型号：M368 样品编号：#26、#28、#29测试开始时间：04-４-28-18:30 测试结束时间：04-４-28-20:00试验报告日期：04-05-07一、试验目的：模拟人体产生的静电对手机造成的不良和损坏而加以预防。

二、试验设备名称及型号：静电放电测试仪Ｎoiseken ESS-2002三、试验方法：1、试验时手机处于开机状态，进行接触放电和空气放电；2、接触放电为±5kv,对外壳缝隙、按键缝隙、LED缝隙、外露接口等各放电10次；3、为±12kv，对外壳缝隙、按键缝隙、LED缝隙、外露接口等各放电10次；4、每放电一次检测一次。

四、判定依据：试验过程中手机应无死机、当机现象，试验结束以后手机应该能正常开关机，手机speaker、reciver声音正常。

手机能正常使用。

南京熊猫移动通信设备有限公司五、试验数据:六、试验结论：本试验合格七、说明：本试验结果仅对测试样机负责。

试验：报告：审核：南京熊猫移动通信设备有限公司整机可靠性测试试验报告试验名称：按键寿命测试样品型号：M368 样品编号：#26、#27测试开始时间：4-28-21: 00 测试结束时间：5-03-9: 00试验报告日期：04-05-07一、试验目的：测试手机的按键寿命。

二、试验设备名称及型号：手机键盘耐久性测试机KBT-005三、试验方法：在关机状态下，以7-8N的压力按压键盘，速率约为110次/min,累计共10万次，每1万次后检测手机一次。

四、判定依据：手机外形无变化，键盘无掉漆现象，用手按压时手感须与试验前基本一致；按键时无串号现象，手机能正常使用。

六、试验结论：装饰片脱落现象，可能与固定手机的夹具有关，故本试验合格！七、说明：本试验结果仅对测试样机负责。

试验：报告：审核：南京熊猫移动通信设备有限公司整机可靠性测试试验报告试验名称：低温存储试验样品型号：M368 样品编号：#07、#08、#09测试开始时间：04-5-4-11:00 测试结束时间：04-5-5-11:00试验报告日期：04-05-07一、试验目的：低温存储试验目的为验证成品长时间存储在恶劣环境下的承受力，提前发现不良状况并改善。

Distribution to: PDM, QAS,QCS,Albert Yiu C.B.Hou, Wb Liu,PDS, PES,IES, PAS.Instrument Used: 3M 701 Megohmeter & DMM FLUKE 17B,电线一条2.0Ω, 经测试合格的静电带一条，表笔(0.1Ω )。

1.点检样品：参考电阻板 2.测试辅助用品:酒精，5m 卷尺Rev: B有铅修理区Report No.:C29309091406Date:27-Sep-2009Distribution to: PDM, QAS,QCS,Albert Yiu C.B.Hou, Wb Liu,PDS, PES,IES, PAS.Instrument Used: 3M 701 Megohmeter & DMM FLUKE 17B,电线一条2.0Ω, 经测试合格的静电带一条，表笔(0.1Ω )。

1.点检样品：参考电阻板 2.测试辅助用品:酒精，5m 卷尺Rev: BReport No.:C29309091406Date:27-Sep-2009Distribution to: PDM, QAS,QCS,Albert Yiu C.B.Hou, Wb Liu,PDS, PES,IES, PAS.Instrument Used: 3M 701 Megohmeter & DMM FLUKE 17B,电线一条2.0Ω, 经测试合格的静电带一条，表笔(0.1Ω )。

1.点检样品：参考电阻板 2.测试辅助用品:酒精，5m 卷尺Rev: BReport No.:C29309091406Date:27-Sep-2009红色橙黄色粉红色黄色制作：批准:。