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光片和薄片的用途与区别光片和薄片的区别如下：1、切片方式不同薄片要把岩石切至以下，用贴在载薄片下便于观察岩石的矿物组成等和岩组学特征。
光片不需要载薄片或是，只需要把岩石2、不同薄片：主要用光片：用反射光不过现在高级的同时配备有透射和反射光路。
3、目的不同薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。
但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。
光片：适用于矿石中（、等）的判别采样要求1.样品规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。
2、采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品:析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。
③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样○4矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。
对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。
在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品，同位素地质年龄测定样品时，应同时采集岩矿鉴定样品。
应注意采集反映构造特征的标本，若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构造时，可根据需要采集大型标本；若采集定向标本，则应注明产状方位；采集极疏松和多孔样品时，可先用丙酮胶（废胶卷溶于丙酮制成）浸透岩石、矿石，待胶结干涸后再采集样品。
第一篇沉积岩矿物鉴定1。
方解石：10}解理完全；正中-负低突起（闪突起）。
（1)单偏光：粒状、形状不完整;无色；菱面体｛11（2）正交偏光：高级白干涉色;对称消光；双晶纹平行菱形长对角线.（3)锥光：一轴晶(—)。
2.白云石：10}解理完全；正中—负低突起(闪突起）.（1)常有较完整的晶形；无色;菱面体｛11(2）正交偏光：高级白干涉色；对称消光；双晶纹平行菱形短对角线。
（3）锥光:一轴晶(-）.3。
菱铁矿：（1）粒状,形状不完整；无色，边缘并可能为黄色或棕色的斑点;正极高-正中突起（闪突起）.11}聚片（2）正交偏光：高级白干涉色；对称消光;双晶不常见，有时有平行长对角线｛21双晶。
（3）锥光:一轴晶（-）。
(4)易次生变化成褐铁矿。
（5）沉积岩中的结核和沉积铁矿中的伴生矿物。
4.玉髓：（1)单偏光:纤维状、放射状和球粒状集合体、隐晶质;无色至淡棕色,反射光下，通常呈蓝白色;无解理；负低突起。
（2）正交偏光：Ⅰ级灰白;平行消光，延性有正有负。
（3）锥光：一轴(+），二轴(+）；（+）2V=0°-25°。
（4）沉积硅质岩中主要矿物。
5。
蛋白石：(1）单偏光：非晶质,无固定外形；无色至淡灰或浅褐色;无解理，但可见不规则裂纹；负高突起，有明显的糙面。
（2)正交偏光：均质,有时由于营力影响而有微弱的双折率。
（3）易脱水重结晶成玉髓和石英的细小集合体.（4)是低温下形成的矿物为年轻的硅质岩—硅藻土、硅华的主要矿物。
6.石膏：（1）单偏光：纤维状、板状晶形常不完整；无色；{010｝完全{100}和｛111｝不完全解理;负低突起，N略小于树胶。
（2）正交偏光:Ⅰ级白色或Ⅰ级淡黄;延性负或正；以｛100｝为结合面的燕尾双晶常见。
（3）锥光:二轴晶（+）；（+）2V=58°.（4）经脱水作用可以转化为硬石膏.7.硬石膏:（1）单偏光：柱状、粒状、纤维状、放射状；无色；｛001｝和｛110}｛100}一组解理完全，互相成正交；正中—正低突起.（2）正交偏光:Ⅲ级绿,颜色鲜艳；平行消光，延性正或负;常见有沿{101｝呈简单双晶、聚片双晶。
Academic Forum488简述薄片鉴定法在岩石特征分析中的应用陈志琴（四川省地质矿产勘查开发局西昌地矿检测中心，四川 西昌 615000）摘要：矿物是地壳中物理化学作用形成的天然无机的均一固体，有的为单质，有的为化合物，它们组成地壳中岩石与矿石的基本单元。
由于化学元素的多样性及地质作用复杂性成就了矿物多样性与复杂性，而矿物并非一经形成就亘古不变，因流体、压力、酸咸度等物化条件的改变而使矿物结构构造及矿物组合会发生规律性的变化，研究清楚矿物的组成、结构构造及其次生变化对于成矿理论的验证与研究都是大有裨益的。
到目前为止，全世界发现的矿物种类已经超过3000种，可谓是琳琅满目、千姿百态。
本文将重点阐述运用岩矿鉴定中薄片鉴定法（其实质为研究矿物的光学性质）分析岩石的矿物组合、结构构造、嵌布关系、生成次序、次生变形变质等基本特征的步骤，以帮助人们分析岩石、认知岩石、充分利用好矿产资源。
关键词：薄片鉴定法；矿物光学特征；标本；偏光显微镜；薄片；分析；应用地壳在40亿年的漫长演化中，由地质营力逐渐形成三大类岩石：岩浆作用形成岩浆岩、沉积作用形成沉积岩、变质作用形成变质岩，而被人类生产生活所利用的矿石就赋存在这些形形色色的岩石中，成因及类型非常复杂。
在地质人员科学研究和矿山企业工业化生产中，需要综合分析和全面掌握岩石矿石的基本特征，精准的分析与鉴定得以确保相关工作顺利开展。
薄片鉴定法是最常用来鉴定矿物的迅速有效而经济的方法。
1 设定岩矿鉴定实验，准备实验设施采用薄片鉴定矿物时，相关人员要充分准备好实验所用的相关仪器设备与试剂，比如最基础的试验设备岩石切片机、抛光机、偏光显微镜，除此之外，还需要准备好树脂、茜素红、浓度不一的稀盐酸、钼酸铵、硝酸等。
在岩矿鉴定试验过程中要选择不同种类的样品，用偏光显微镜对薄片展开观察，从而获得相关信息，指导野外工作者或指导选矿。
2 岩石鉴定实验基本步骤分析2.1 制作薄片第一，在切割样品时要根据试验的需求或侧重点选择。
光薄片的制备
光薄片的制备通常需要经过以下步骤：
1. 切割：将待研究的生物标本固定在切片机上，使用切片机将其切成薄片，通常在几十微米到几百微米之间。
2. 磨平：将切好的岩样标本与要胶着的玻片，分别以#600～#1000的碳化硅粉末在岩石磨片抛光机上研磨，使岩样切面成为光滑之平面。
检查切面是否平整光滑，可将岩样面向光源，观察其反射是否良好来判断。
3. 上胶：将处理完成的岩样以环氧基树脂粘着于毛玻璃上，注意上胶前需将接触面以酒精清洁，且在上胶时岩样与玻璃之间不能有气泡产生，以免影响切片时的粘着强度。
上胶后置于固定平台（Bonding jig）上，并以50℃低温烘烤约6～8小时，以便固结、硬化。
4. 切片：待胶硬化后将标本置于薄片切割机（Petro-thin）或岩石标本切片机上切割并磨成100～150μm的厚度，因为切割机转速过快，所以无法切磨成太薄的标本。
5. 研磨：以测微器定出标本厚度，再把100～150μm厚之岩样标本在自动岩石磨片机或岩石标本磨片机上研磨至标准厚度30μm。
6. 拋光：标本若要做微探成分分析，则需将薄片分别用0.3～0.05μm的铝粉拋光液进行拋光。
以上就是光薄片制备的一般步骤，如果有更多关于这方面的疑问可以查阅相关文献或者咨询专业人士。
手磨岩石薄片的详细制作过程薄片岩石学是最基本的岩石学研究方法之一。
岩石磨到极薄时（标准厚度0.03mm）大部分矿物都可以透光，就可以用偏光显微镜研究其中的矿物组合、粒度、结构、构造等。
换句话说，岩石学中的薄片就相当于生物学中的切片。
其实只要有基本的几件工具（市价200元以内），制作薄片你也可以。
今天没有研究用的样品，就随便从路边捡几块铺路石练手吧没错，就是最常见的几种石材，其貌不扬。
下面是今天用到的最高级的工具电磨装上金刚石锯片，夹在铁架台上。
注意上方有自来水龙头，待会儿要用水冷却。
工作的时候就是这样的请原谅帮我照相的朋友，这个场面其实水花四溅锯下的样品研究用的片子最好能大些，今天只是练手，做个教学薄片吧然后把一面磨平一定要平哦工具是一系列的金刚石磨片，从80目到1000目。
下面要垫一个稳定坚固的平面，找块好的平板玻璃就可以。
磨好是这样的如果这一步磨不平，哪怕是有薄纸那么厚的一点偏差，哭的时候在后面……然后用环氧树脂（什么？滴胶？没错！）粘在磨砂玻璃片上千万不要有气泡哦！什么？气泡进去了？搓一搓就好等胶固化，然后再拿到电磨上尽量打薄，效果是这样的对光看已经透明了。
不要太贪心哦，电动工具太猛了……一个不小心就会打漏一片现在介绍一个小工具：偏振片拆一个普通的黑白液晶屏，在玻璃表面能撕下一张灰色的塑料片。
用环氧树脂粘在玻璃片上，一共做两片。
正交放置可以发现完全不透光，OK然后把刚才的薄片放在两张偏振片之间，你会发现粉的绿的蛮好看，不过这是高级干涉色，说明离标准厚度还差得远……用磨片继续手工磨吧过一会儿会变成这样大量的黄色、蓝色，偶尔有蓝绿色。
胜利在前方。
要换更细的金刚石砂盘。
等磨到基本都是灰白色，偶尔有些淡黄的时候就可以了磨好是这样的（原谅我顺序放错了）然后用中性树脂封片大功告成现在看看成果吧第一个样品是二长花岗岩，部分斜长石核心蚀变生成白云母，斜长石具较细的聚片双晶，向钾长石突出处形成蠕虫结构第二个是花岗闪长岩，角闪石多见，具简单双晶，部分蚀变为绿泥石和绿帘石第三个是辉长岩，橄榄石、单斜辉石、斜长石。
Sectioning 样品制备步骤█ 样品粗切█ 浸渗/镶嵌█ 精密切片/修整█ 薄片样品粘合█ 薄片样品再切片/粗磨█ 磨削█ 抛光超薄样品/EBSD样品抛光ImpregnationPrecision sectioningBoning Gringing/PolishingRe-sectioning 岩相样品制备专家制备样品的步骤开始于从大块材料中切出典型的样品，由以下原因而进行：·从原材料中获得可处理尺寸的样品·减少样品的厚度，这样可以降低样品磨削的时间 (当制备薄切片样品时) ·显露出感兴趣的表面为使样品减小至可处理的尺寸而不在意切削损耗时，切除大块切片的切割机是理想的选择。
标乐的Abrasimet250岩相切割机和Lapro 岩石修整锯可以将切割缺陷或破坏最小化并形成一个平整的表面。
Abrasimet 250 岩相切割机· 电机功率：4HP, 3000W ； 切割速度：50Hz ，2800转 · 冷却：外置水循环系统7加仑（27L ）· 砂轮片直径和孔径：10英寸(254mm)直径砂轮片孔径1.25英 寸（32mm ）· 最大切割能力：样品的直径为3.75英寸（95mm ）· 外形尺寸：711*737*572（长厚高）；工作台：240*250 （长宽）· 具有最大的切割窗口； 宽敞的工作空间方便样品装卸 · LED 照明，能明确和通畅的观看样品，切割的位置，夹具 和切割过程· 喷雾软管高效清洗和冲洗的切削空间 · 可拆卸的篮子便于收集切割下的小零件Lapro 岩石修整锯· 轨道上运行· 主轴转速：500 rpm· 24英寸(254mm)金刚石刀片实现更快的试样切割 · 最大可夹持17英寸(432mm)的试样 · 最大切割能力9英寸（229mm ）· 可实现电机独立运作，并配备有自动关闭功能 · 220V/50Hz 单相马达 · 24英寸金刚石刀片一片样品切割好以后，必须彻底清洗干净和干燥。
岩石薄片鉴定标准一、目的本标准规定了岩石薄片鉴定的程序和方法，旨在明确岩石薄片鉴定的基本要求和主要内容，为地质调查、矿产资源评价、工程地质勘察等领域提供准确可靠的岩石薄片信息。
二、鉴定内容1. 岩石类型根据岩石的外观特征、结构特点和矿物组成，对岩石类型进行鉴定。
常见的岩石类型包括火成岩、沉积岩和变质岩等。
2. 矿物成分通过观察和分析岩石薄片中的矿物组成，确定主要矿物和次要矿物，以及它们的相对含量。
根据矿物成分可以判断岩石的形成环境和地质历史。
3. 结构构造观察岩石薄片的结构和构造特征，包括矿物颗粒大小、形态和排列方式等。
根据结构构造可以推断岩石的形成过程和地质演化。
4. 岩石学特征分析岩石薄片的光学特征，如颜色、透明度、光泽等，以及岩石的硬度、解理、断口等力学性质。
这些特征可以提供有关岩石的形成环境和晶体结构的信息。
5. 岩石物理性质测定岩石的密度、磁性、电导率等物理性质，为岩石分类和地质找矿提供依据。
同时，这些性质也与岩石的形成环境和化学成分有关。
6. 岩石化学成分通过化学试验和分析，测定岩石中的化学元素含量，如硅、铝、钙、镁等。
化学成分可以反映岩石的形成环境和地质历史。
7. 矿物共生组合研究岩石薄片中矿物之间的共生组合关系，了解不同矿物之间的共生规律和演化特点。
这种共生组合关系与岩石的形成环境和地质历史密切相关。
8. 沉积环境与地质意义根据岩石的类型、矿物成分、结构构造等特点，推断其形成的地质环境和沉积环境。
同时，分析这些特征对地质历史和地层划分的影响及意义。
三、鉴定程序和方法1. 准备工作：收集具有代表性的岩石样品，进行挑选和加工，制作成薄片样品。
准备好鉴定所需的仪器设备和个人防护用品。
2. 观察外观特征：观察薄片样品的外观特征，包括颜色、光泽、透明度等，并记录下来。
这有助于初步判断岩石的类型和性质。
岩石矿物鉴定方法综述岩石及矿物是地质学研究的重要组成部分，在矿产资源开发及利用、工程建设等领域也具有广泛的应用。
岩石和矿物鉴定是地质学研究的基础，本文将对常用的岩石矿物鉴定方法进行综述。
1. 岩石薄片鉴定法岩石薄片是将薄片切割下来的岩石样品经过薄片加工制成的，可以通过透射光观测岩石中的矿物，从而进行岩石的鉴定。
岩石薄片制作需要经过样品磨平、薄片切割等多道工序，制作工艺较为复杂，但准确度较高，是岩石鉴定的主要方法。
2. 室外观察法室外观察法是利用人眼直接观察野外取得的岩石样品的颜色、构造、质地等特征进行鉴定。
此方法适用于岩石在野外分布较广、构造简单、矿物组成单一的情况下，缺点是准确度较低，易被误判。
3. 化学分析法化学分析法是通过分离、提纯、测量等方法来确定岩石样品中各元素的含量和比例，从而鉴定岩石的种类和成分。
此方法适用于岩石中可能存在的惰性矿物或有机物含量较高的情况下，缺点是分析过程较为复杂，需要专业化的设备和技术支持。
4. X射线衍射法X射线衍射法是将岩石样品反射出来的X射线进行衍射分析，通过衍射图谱进行岩石矿物的鉴定、元素分析。
此方法适用于复杂岩石或碎屑物中矿物粒度小、难以直接观测、化学成分相似的情况下，准确度较高。
5. X射线荧光光谱法X射线荧光光谱法是通过岩石样品在X射线入射下是表发出的物质的荧光进行分析，从而确定其中的元素含量，并以此来鉴定岩石种类。
此方法适用于岩石中元素含量较高的情况下，缺点是不能检测C、N和O这三种元素。
矿物的常规观察法是通过肉眼观察矿物的物理性质和外形等特征来鉴定矿物，例如颜色、硬度、透明度等。
此方法适用于矿物单一、物理性质明显的情况下，缺点是准确度低，易被误判。
电子探针分析法是将基底样品进行研磨后在其表面照射电子束，当电子束与样品表面原子发生相互作用时，产生的信号经过处理后，得到了样品表面的化学组成。
此方法适用于矿物中微量元素以及产生大量不易被准确测试的化学物质分析的情况下。
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集光片和薄片的区别如下：1、切片方式不同薄片要把岩石切至0.3mm以下，用树胶贴在载薄片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。
光片不需要载薄片或是盖玻片，只需要把岩石表面抛光。
2、实验仪器不同薄片：主要用透射光显微镜光片：用反射光显微镜。
不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。
3、磨片目的不同薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。
但是若岩石中含有金属矿物，等无法判别。
光片：适用于矿石中矿石矿物（方铅矿、黄铜矿等）的判别。
岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集样品, 薄片, 标本, 鉴定, 采集1.样品规格：陈列标本的大小不应小于3×6×9cm；供薄片、光片鉴定用样品以能满足切制光片、薄片及手标本观察的需要为原则，规格不限。
2.采样要求①沉积岩对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研究的需要而加密采样点。
②岩浆岩在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性，沿走向和倾向系统采样。
③变质岩根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿物；对不同夹层、残留体（由边缘至中心）、各种混合岩应系统地分别采样。
④矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别采集矿石样品。
对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系统采样，以便研究矿石的变化规律。
在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。
岩石薄片制备是地质学和岩石学等领域常用的一种实验技术，用于观察岩石的微观结构和矿物组成。
制备岩石薄片的过程主要包括以下步骤：
采集岩石样品：首先需要在野外或岩石样品库中采集需要研究的岩石样品。
样品的选择应该代表所研究岩石的性质和特征。
切割岩石样品：采集的岩石样品需要进行切割，制备出适当大小的薄片样本。
常见的切割方法包括用钻机、锯片或石锤等工具。
粗磨：将切割好的岩石样品进行粗磨，将其表面进行打磨，以去除粗糙部分和破碎的颗粒，使其表面平整。
薄片制备：在粗磨后的岩石样品上涂抹薄片胶，然后将其粘贴在玻璃片上。
再利用砂纸或特殊磨料进行细磨，逐渐将样品磨薄至几十至几百微米厚度。
研磨和抛光：将制备好的薄片进行进一步的研磨和抛光，以获得光滑的表面，以便在显微镜下观察和分析。
染色：有时需要对岩石薄片进行染色处理，以增强矿物的显示效果，帮助鉴定和分析。
镜像薄片：某些特殊的研究需要制备薄到几微米以下的超薄岩石薄片，这称为镜像薄片，通常需要采用离心和离心镜像等特殊技术。
完成岩石薄片：经过以上步骤，岩石薄片制备完成。
它们可用于光学显微镜观察，通过偏光显微镜鉴定矿物和观察岩石的结构特征。
岩石薄片的制备需要特殊的仪器设备和技术，通常在地质学实验室或矿物学实验室进行。
岩石薄片的制备是地质学研究和岩石学研究中非常重要的一项基础工作。
经典岩石薄片观察图（146幅）!薄片具有微晶石英颗粒钙化的长石颗粒，注意长石在溶解和交代后的不溶残留（箭头）薄片显示了新鲜的、黄色污点的钾长石（正常光）被钙（C）部分交代的斜长石颗粒显微图像：显示了部分、乃至几乎完全被溶解的长石颗粒（F），蓝色部分微孔隙显微图像：显示变质了的粉砂岩颗粒（M）。
注意红污色方解石和蠕虫状高岭石（箭头）。
蓝色为孔隙。
显微图像：显示黑色燧石（B）和绿色燧石（G），注意红污色的方解石。
显微图像：显示了介于坚硬石英颗粒之间的弯环状的白云母（箭头）某些重矿物颗粒的部分溶解(箭头处）含丰富牡蛎残片的砂岩显微图像：方解石胶结的砾岩显微图像：A显示了含有蠕虫状氯化物的脉状石英(箭头处）；B 显示了拉伸状的多晶石英颗粒。
洁净的、分选好的砂岩：石英胶结物(OV)几乎完全占据了原生孔隙，破坏了储层性质显微图像：中等幅度（0.5mm）的缝合线1类方解石（红污色）。
注意颗粒之间的点接触（p）和凹凸接触（C）2类方解石胶结物（红污色），滞后于石英再生长（OV）具有微孔隙的高岭石胶结物（A）和成形良好的假六边形的板状高岭石（B）充填了高岭石（Ch）的孔隙。
注意高岭石叠覆在石英之上，且滞后于石英胶结物（OV）显示了强烈的石英再生胶结物（OV）。
注意局部的厚层页岩覆层阻碍了石英胶结作用(箭头处）显示孔隙搭桥作用的纤维状的伊利石胶结物（A）和环碎屑颗粒的伊利石（B）白云岩长石砂岩海绿石石英砂岩石英岩竹叶状灰岩方解石溶解所形成的次生孔隙，方解石微红污色，蓝色区域为孔隙）多类型的孔隙，粒内孔隙（BP）和次生的粒内孔隙（SWP）。
注意超孔隙（OS）生物扰动砂岩，含超过10％的碎屑粘土。
注意看不到孔隙。
长石被溶蚀黄铁矿硬石膏胶结石盐胶结石盐胶结石英小簇晶石英次生加大伊蒙混层伊利石胶结石英镜下特征——单偏光石英镜下特征——正交偏光石英镜下特征——正交偏光正长石正交偏光镜下特征微斜长石正交偏光镜下特征条纹长石正交偏光镜下特征透长石正交偏光镜下特征微斜长石的格状双晶斜长石的的聚片双晶和卡钠双晶钠长石的卡斯巴双晶黑云母单偏光镜下特征黑云母正交单偏光镜下特征白云母单偏光镜下特征白云母正交单偏光镜下特征长石杂砂岩长石杂砂岩白云质砂岩石英杂砂岩岩屑砂岩岩屑石英杂砂岩玉髓质石英砂岩正交偏光钙质岩屑砂岩钙质长石石英砂岩铁质石英砂岩绿泥石长石石英砂岩次生菱铁矿胶结（球粒状或菱面体状）长石交代边长石杂砂岩碳酸盐岩染色薄片碳酸盐岩亮晶生屑结构碳酸盐岩泥晶生屑结构碳酸盐岩泥晶生屑结构（螺壳）。
岩石光片制作流程1. 岩石样本的获取首先需要准备一块岩石样本。
可以通过野外调查、岩石采集或者购买来获得岩石样本。
选择的样本应具有代表性，能够反映岩石的特征和性质。
2. 岩石样本的切割将岩石样本切割成薄片是制作岩石光片的关键步骤。
切割过程需要使用岩石切割机或者手工切割工具。
首先将岩石样本修整成适当的大小和形状，然后使用切割工具将岩石样本切割成薄片。
切割时需要注意刀具的角度和力度，以避免岩石样本破裂或者切割不均匀。
3. 岩石样本的研磨切割好的岩石薄片通常会有一些不平整的表面和粗糙的边缘。
为了获得平滑的表面和光滑的边缘，需要对岩石样本进行研磨处理。
研磨过程可以使用研磨机或者研磨纸进行，逐渐将岩石样本的厚度磨薄。
研磨时需要注意力度和方向的控制，以获得均匀的厚度和平滑的表面。
4. 岩石样本的粘贴将研磨好的岩石样本粘贴到光片上是制作岩石光片的下一步。
可以使用透明胶水或者石英胶水将岩石样本粘贴到光片上。
粘贴时需要将岩石样本的平面与光片的平面保持一致，避免产生空隙或者松动。
5. 岩石样本的研磨和抛光粘贴好的岩石样本仍然有一些粗糙的表面和边缘。
为了获得更好的观察效果，需要对岩石样本进行进一步的研磨和抛光。
可以使用研磨纸和精细研磨液进行研磨，然后使用抛光机和抛光液进行抛光。
研磨和抛光过程需要逐渐减小研磨颗粒和提高抛光效果，直到获得光滑的表面和高质量的岩石光片。
6. 岩石样本的清洗和干燥制作好的岩石光片需要进行清洗和干燥处理。
将岩石光片放入清洁的水中，轻轻搅动几分钟，去除岩石样本表面的杂质和污垢。
然后将岩石光片放在通风处晾干，或者使用吹风机等工具加速干燥过程。
7. 岩石光片的标注和存储为了方便使用和管理，需要在岩石光片上进行标注和存储。
可以使用细笔或者标签将岩石光片的标本名称、采集地点、采集日期等信息标注在光片上。
然后将岩石光片存放在干燥、阴凉和通风的地方，以防止湿气和污染的影响。
通过以上的步骤，我们可以制作出高质量的岩石光片，用于观察岩石的结构和特征。
全岩光片显微组分鉴定全岩光片显微组分鉴定是一项非常重要的技术，它可以对岩石的成分、结构和形成历史等多个方面进行研究和分析，对于地质学、石油地质学、矿物学等领域有着非常广泛的应用。
下面，我们就来分步骤地讲解一下全岩光片显微组分鉴定的过程。
第一步：样品制备与切片首先我们需要取得样品，将其进行加工处理，并制备成适合观察的薄片。
样品的加工处理方式需要根据不同的目的而定，一般来说，我们可以进行粉碎、研磨、抛光等加工方式。
制备好薄片后，再将其加工成有足够薄度可以透过光线的样品切片。
第二步：光学显微镜下的观察与描述将切好的样品薄片放到光学显微镜下，并对其进行初步的观察。
观察的过程需要考虑到样品的颜色、质地、纹理、结构、内部构造等多个方面。
观察时要注意使用不同的偏光器和滤光片，以便观察到不同的特征。
同时，还需要对岩石薄片中的特征进行描述和记录，以便后续的分析。
第三步：岩石成分鉴定通过光学显微镜的观察和描述，我们可以初步了解到岩石的成分特征。
在这个基础上，我们可以运用一些常用的分析技术，如偏光显微镜下的偏光图像分析、反射率测定、荧光反应测定等方法，进一步对样品的成分特征进行鉴定。
根据不同的分析目的和要求，我们还可以进行X射线衍射分析、扫描电镜分析等更加高级的分析方法，以进一步确定样品的成分和特征。
第四步：岩石结构和构造分析除了成分特征外，岩石的结构和构造特征同样重要。
我们可以通过观察薄片的岩石组构、晶粒构造、矿物结晶形态等特征，进行岩石的结构和构造分析，从而推断出岩石可能的成因、岩石历史等信息。
在这个过程中，需要借助于成分特征的鉴定结果，以使分析结果更加准确。
总结起来，全岩光片显微组分鉴定是一项较为复杂、精细的技术，需要耐心、细致地进行观察和分析。
通过样品制备、光学显微镜下的观察与描述、成分鉴定、结构构造分析等多个步骤，我们可以对岩石样品进行细致全面的研究，获取丰富的信息和数据，为后续的地质研究提供重要的支持和基础。
看矿物岩石薄片的理解
矿物岩石薄片是一种用来观察和研究地球物质的工具。
它通过将岩石或矿物样品切成薄片，然后用显微镜观察其结构、组成和性质，从而帮助我们更好地了解地球的演化历程、构造和矿产资源等方面。
矿物岩石薄片的制备需要经过一系列的步骤。
首先必须选取合适的样品，并且用磨片机将样品切成一定厚度的碎片。
然后使用磨盘、磨粉和水对样品进行细磨，直到其厚度达到几十微米以下。
为了使样品更加透明，还需进行一定的化学处理，如腐蚀、染色等。
最后，将样品装在玻璃片上，用胶水粘贴，在烤箱中加热固化。
矿物岩石薄片的观察需要使用显微镜。
常用的显微镜有偏光显微镜和透射电镜。
偏光显微镜主要用来观察岩石和矿物的光学性质，如双反射、吸收、偏振等。
透射电镜则能够观察到更细微的结构特征，如原子、晶体等。
通过观察矿物岩石薄片，我们可以了解到许多关于地球物质的信息。
首先，从薄片的颜色、透明度等特征可以推断出其成分和构造特征。
其次，从岩石和矿物在薄片中的排列、生长纹理等可以推断出其成因和演化历史。
最后，还可以通过观察薄片中的微观结构，如晶格、缺陷等，了解到矿物和岩石的物理性质，如硬度、脆性等。
矿物岩石薄片的研究对于认识地球的历史和演化，探寻矿产资源，寻找地下水源等方面都有着重要作用。
近年来，随着高新技术的发展，矿物岩石薄片的研究在许多领域得到了广泛应用，如地震学、材料科学、能源开发等，成为多个学科领域的重要工具。
总之，矿物岩石薄片是一种重要的地球物质研究工具，通过其可以深入了解岩石和矿物的结构、组成和性质，为地球科学研究提供了重要的信息和支持。
泥岩和页岩岩石薄片鉴定标准云课
1.岩石薄片制备方法
（1）取一块适当大小的岩石样品，将其磨平并打磨到厚度约为0.03-0.06mm；
（2）在玻片上涂上一层干净的胶水，然后用镊子将制备好的岩石薄片贴于其上面；
（3）将玻片放置在加热板上，用适当的温度加热胶水，使其粘附更紧密；
（4）去掉多余的岩石和胶水，然后使用相位对比显微镜观察样品。
2.泥岩岩石薄片鉴定特点
（1）泥岩的粘土矿物含量通常较高，因此岩石薄片中会看到大量的粘土矿物颗粒，如伊利石、蒙脱石等；
（2）岩石薄片中还可以看到一些小的沙粒和微量矿物颗粒，但数量较少，通常在10%以下；
（3）泥岩的层理较明显，常常呈现出平行的条纹状结构；
（4）在偏光显微镜下，泥岩会呈现出灰色至褐色的颜色，这是因为其中的粘土矿物会发生强烈的交替吸收和反射。
3.页岩岩石薄片鉴定特点
（1）页岩中的有机质含量相对较高，因此岩石薄片中会有较多的有机质粒子分布其中，通常呈现出黑色或深灰色；
（2）页岩的粘土矿物含量相对较低，通常在5%以下，但其中也会含有一些蒙脱石以及伊利石等矿物；
（3）在偏光显微镜下，页岩常常呈现出蓝色或灰蓝色，这是由于其中的亚铁电角闪石具有强烈的偏光性质所致；
（4）页岩通常不具有明显的层理性质，但可以通过颗粒的大小、形状、分布等来推测其沉积环境。
岩石光薄片
在地质工作中通常要取一些岩矿鉴定样品，最常见到的有岩石光薄片。
岩石光薄片是一个统称，它又可以分为岩石光片、岩石薄片。
岩石光薄片样的取样目的：
主要是利用所采岩石或矿石标本，通过矿物学、岩石学、矿相学等方法，结合的镜下观察，对矿石和围岩的矿物成分、矿石结构构造、矿物共生组合和生成顺序、近矿围岩蚀变特征、次生变化等进行研究，为确定岩石或矿石的矿物种类、分析地质构造、推断矿床生成地质条件、了解矿石加工技术性能以及划分矿石自然类型等方面提供资料依据。
岩石光薄片样的主要任务：
1、对所采岩石、矿物、化石，作系统鉴定，统一定名，以便正确进行编录和填图。
2、系统研究岩石、矿石的物质成分、有用主元素的存在形式、矿石结构构造，正确确定岩石、矿物的名称，探讨成矿的地球化学条件和物理化学条件。
3、根据矿石的鉴定和分析资料，确定矿石的分布，划分矿石工业类型。
岩石光与岩石薄片的区别：
两者的主要区别在于它们的侧重点不同，分述如下：
岩石光片：侧重于对岩石中的金属矿物的观察研究，其主要是为了观察研究岩石中有用金属矿物主元素及伴生（共生）元素的赋存状态、自然类型、生成的先后顺序、共生还是伴生组合，以及金属矿物成分、含量、粒度、形态、结构构造及次生变化等特征。
岩石薄片：侧重于观察研究岩石的结构、构造、矿物成份及其共生组合，研究矿物的变质、蚀变现象，确定岩石、矿物的名称，对比地层和岩石等。
这里当然要包括岩石中主要矿物的赋存形态、晶形、粒度、含量、结构构造等特征。
岩石光薄片取样原则及方法：
所采集的样品应有充分的代表性。
采集标本时要尽量采集新鲜的岩石，并做好野外地质观察描述工作。
根据研究目的不同，采样的方法也有所不同，现将其主要的取样原则和方法简述如下：
1、岩石薄片样的采集：从勘查初期到勘探的各个阶段，根据各阶段的研究目的系统采集岩石标本。
岩石标本的采集一般沿岩石性变化最大的方向进行。
采集岩浆岩的标本要从岩体的接触带到中心系统采集，采集中应注意岩相的变化以及岩浆分异现象。
对各种岩脉、析离体或残留体、同化混染带及围岩蚀变、代表性围岩也应采取标本；采集沉积岩、喷出岩的标本，应按层根据不同的目的要求采集，所采集的标本应代表不同相、不同层位、不同韵律的变化。
如发现化石应小心凿取；采集变质岩的标本，要在含有分带标准矿物的各变质带内采取。
2、岩石光片样的采集：根据矿石自然类型、矿物组合、结构构造、蚀变特征进行采集。
为例研究矿石的变化规律，应沿矿体的走向、厚度和倾斜三个方向，选择有代表性的若干剖面采集标本。
应特别注意采集矿化地段的标本。
在氧化带，要注意采集次生矿物以及不同部位不同氧化程度的矿石标本。
3、单矿物标本的采集：采取单矿物标本，是为了查明有工业意义的有用主元素及其伴生稀散元素的赋存状态和分布规律，研究它们在成矿过程中的作用和工业利用性能。
有用元素主矿物和伴生矿物的标本在工业矿体内采取；用来划分成矿期、成矿阶段、的单矿物标本应在各期矿脉内采取。
