TTL 与非门的静态参数测试

实验二TTL与非门的参数和特性测试实验目的：测试TTL与非门的参数和特性实验器材：1.TTL与非门电路板2.电源3.示波器4.逻辑分析仪5.连接线6.其他必要的辅助器件（如电阻、电容等）实验原理：TTL与非门（英文全称：Transistor-Transistor Logic NOT Gate）是一种常用的数字逻辑门电路，它是由晶体管和电阻等元器件构成的。

TTL与非门的主要功能是将输入信号取反，并输出到输出端。

在TTL与非门的电路中，输入信号为低电平时，输出信号为高电平；输入信号为高电平时，输出信号为低电平。

实验步骤：1.将TTL与非门电路板连接到电源上，并将示波器和逻辑分析仪连接到电路板上相应的引脚上。

2.开启电源，使电路板正常工作。

3.测量并记录输入端和输出端的电压。

输入端的电压为高电平时，记录输出端的电压，输入端的电压为低电平时，记录输出端的电压。

4.分析所测得的数据，并绘制输入电压和输出电压的关系曲线。

5.测试TTL与非门的最大工作频率。

通过改变输入信号的频率，逐渐增大频率直到输出信号出现错误，记录频率值。

6.测试TTL与非门的功耗特性。

测量输入电压为高电平时的功耗，以及输入电压为低电平时的功耗，并对测得的数据进行比较和分析。

实验结果：根据实验步骤和实验原理进行实验后，我们可以得到以下结果：1.输入端和输出端的电压关系。

根据测得的数据，绘制出输入电压和输出电压的关系曲线图。

2.最大工作频率。

记录输出信号出现错误的频率值，作为TTL与非门的最大工作频率。

3.功耗特性。

测量输入电压为高电平时的功耗和输入电压为低电平时的功耗，并对比分析。

实验分析：根据实验结果，我们可以对TTL与非门的参数和特性进行分析。

1.输入电压和输出电压关系。

通过绘制输入电压和输出电压的关系曲线图，可以分析出TTL与非门的转换特性和输入输出电平的范围。

2.最大工作频率。

通过得到的最大工作频率值，可以判断TTL与非门的响应速度和应用场合。

实验二TTL与非门逻辑功能及参数测试一、实验目的1、熟悉TTL与非门外型和管脚引线排列。

2、掌握TTL门电路逻辑功能测试方法。

3、掌握TTL门电路传输特性及主要参数的测试方法。

二、实验仪器1、万用表1块2、晶体管毫伏表1台3、数字电路实验箱1台4、器件74LS00 二输入端四与非门1片三、实验原理本实验采用四“与非”门74LS00，它共有四组独立的“与非”门（Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ），每组有两个输入端，其插脚位置如图1-15-1所示。

图1-15-1 74LS00引线排列图1-15-2 74LS00与非门（一组）每组的构造和逻辑功能相同。

现以其中一组说明如下：TTL与非门电路如图1-15-2所P AB “与非”TTL。

为输出端。

逻辑功能为P为“与非”门的二个输入端，B和A示。

．门的主要参数有：1、扇入系数N和扇出系数N：能使电路正常工作的输入端数目称为扇入系数N，电i0i路正常工作时能带动的同类门的数目称为扇出系数N。

02、输出高电平V：一般V≥3V。

OHOH3、输出低电平V：一般V≤0.3V。

OLOL4、电压传输特性曲线，开门电平V和关门电平V：图1-15-3所示之V~V关系曲0ONOFFi线称为电压传输特性曲线。

使输出电压V刚刚达到低电平V时的最低输入电压V称为开i0OL门电平V。

使输出电压V刚刚达到高电平V时的输入电压V称为关门电平V。

OFFOHON0i图1-15-3 电压传输特性曲线图1-15-4 输出波形延迟于输入波形5、输入短路电流I：一个输入端接地，其它输入端悬空时，流过该接地输入端的电流RD为输入短路电流I。

RD6、空载导通功耗P：指输入全部为高电平输出为低电平时的功率损耗。

ON7、空载截止功耗P：指输入为低电平输出为高电平时的功率损耗。

OFF8、抗干扰噪声容限：电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大干扰电压值，称为噪声容限。

其中输入低电平时的噪声容限为V=V-V，而输入高电平时的噪声容限为ILNLOFF V=V-V。

实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法。

3、熟悉TTL门电路主要参数的测量方法。

二、实验设备与器件数字电路实验箱、逻辑测试笔、万用表、74LS20三、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、(b)所示。

(a) (b)图1 74LS20逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为: Y＝2、TTL与非门的主要参数与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

●低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH(通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小)ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

ICCL和ICCH测试电路如图2(a)、(b)所示。

(a) (b) (c)(d)图2 TTL与非门静态参数测试电路图●低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiHIiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

(在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

)IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。

(在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望IiH小些。

由于IiH较小，难以测量，一般免于测试。

实验五TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。

(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

通常ICCL＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

I CCL 和I CCH 测试电路如图2－2(a)、(b)所示。

[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。

I iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中，I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。

第二次实验报告实验一 TTL 与非门参数测试一、实验目的要求1， 熟悉TTL 与非门的外形和管脚排列 2， 掌握TTL 与非门逻辑功能的测试方法3， 掌握TTL 与非门主要参数的测试方法，加深理解TTL 与非门参数及其物理意义 二 实验仪器、设备直流稳压电源，电子电路调试器，万用表，74LS20、电位器、电阻 三、实验线路、原理框图 （一）74LS20的管脚排列74LS20是一块由两个4输入端与非门组成的小规模集成电路，其逻辑表达式为Y=D C B A 。

它具有14个外引管脚，当芯片的缺口朝左方时，芯片的左上方为14号脚，接电源Vcc （所有TTL 集成电路使用的电源电压均为Vcc=+5V ），右下方7号脚GND 接0V 。

多数芯片的电源引脚是对角线分布的。

芯片的外引脚管排列规则，通常是左下方是1号脚，按逆时针方向递增排列。

它的引脚图如下：图1（二）74LS20的静态参数 1，低电平输出电源电流I ccl低电平输出电源电流I ccl 是指：所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

测试电路如下：图22，输入短路电流I Is低电平输入电流是指：被测输入端的输入电压V Il =0.4V,其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。

测试时，把被测输入端接地，可以测得与非门的输入短路电流I Is ，此值可1B 1C 1D 1Y 地近似地代替I Il值。

测试电路如下：图33，电压传输特性电压传输特性是反映输出电压V0与输入电压V1之间关系的特性曲线。

测试电路如下：图4四、实验方法步骤（一）74LS20逻辑功能的测试任选一个与非门，将三个输入端A、B、C、D分别接电子电路调试器的状态设置开关，其余不用的输入端悬空（或接高电平），输出端接LED逻辑电平指示器，逐个按真值表扳动状态设置开关。

测试结果如下：（二）测试74LS20的静态参数1，测试低电平输出电源电流I ccl按图2接线，测试结果为I ccl=1.45mA2，测试输入短路电流I Is按图3接线，测试结果为I Is=0.1mA4，根据上表描点作图，如下图所示：。

TTL与⾮门参数测试⼀. 实验⽬的1）熟悉TTL与⾮门集成电路的外形和管脚引线排列。

2）通过测试了解与⾮门的直流参数3）加深对与⾮门逻辑功能的认识⼆. 实验仪器(点击可看到图⽚）1. xst-6D电⼦技术综合实验装置2. 500型万⽤表3. DS1052E （点击可阅读使⽤⼿册）4. 元件：74LS20三. 预习要求1. 复习《数字电⼦技术基础》相关内容2. 了解74ls20的逻辑功能和管脚排列；3.ICCL, IIL, IIH, IOL, No,tpd是什么？4. 与⾮门在什么条件下输出⾼电平？什么情况下输出低电平？不⽤的输⼊端怎么处理？5. TTL电路,如果某输⼊端悬空,则相当于给该输⼊端输⼊了什么电平的信号?6. 请说明⽤直流电流表测电路的某个⽀路电流时关键步骤和应注意的事项?四. 实验原理、步骤⾸先，根据逻辑功能检查与⾮门是否良好。

1. 测量下列各直流参数：1）低电平输出时的电源电流ICCL。

门电路的信号输⼊、输出脚悬空，这时门电路的输出处在低电平状态，这时，⽤直流电流表测出IC的Vcc脚的电流。

2）低电平输⼊电流IIL。

3）⾼电平输⼊电流IIH。

4）电压传输特性。

Uon:表⽰与⾮门输出低电平时，允许输⼊的⾼电平的电压值的最⼩值，在图上求出。

(即在VOL=0.4V时,求Vi）Uoff：表⽰与⾮门输出⾼电平时，允许输⼊的低电平的电压值的最⼤值，在图上求出。

（即在VoH=2.4V时，求Vi) 5）扇出系数No得出的⼩数要圆整6）平均传输延迟时间tpd。

我们把输出电压波形滞后于输⼊电压波形的时间叫传输延迟时间(见《数字电⼦技术基础》门电路)。

有两个重要参数tPHL,tPLH，五. 报告要求1）列出直流参数的实测数据表格，，与出⼚参数相⽐，判断参数是否合格。

2) ⼀个该⾮门能驱动多少个TTL门电路？假设LED的⼯作电流是20mA,他可以⽤该门电路直接驱动吗（画出该电路）？3) 画出传输特性，确定VOFF、VON、VOL、VOH值4）列出与⾮门的实测数据表格，看逻辑关系是否相符。

实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告By kqh from SYSU一、实验数据及数据分析1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P：I CCL：测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为I CCH：测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为mAP：P===W=图1(a) 图1(b)数据分析：低电平输出电源电流I CCL比高电平输出电源电流I CCH高，符合理论预测。

2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH：I IS（或I IL）：测试电路如图2(a)所示，测得I IS为I IH：测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数图2(a) 图2(b)数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。

3.输出高电平U OH及关门电平U off测试电路如图3所示，测得U OH为则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为图34.输出低电平U OL及开门电平U on测试电路如图4所示，测得U OL为调整输入电压，测得开门电平U on为图4数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电平为。

5.u i(V) 0U0(V)u i(V)U0(V)u i (V) 2 3 4 U 0(V)用MATLAB 拟合，u 0关于u i 的函数图像，如图5所示0.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性v ovi图5图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。

输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符6. 平均传输延迟时间t pd测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。

图6(a)图6(b)数据分析：由波形图中读得T=，则二、实验思考题1、TTL与非门和CMOS与非门有何异同点答：TTL 与CMOS 的相同点是：a.都是与非逻辑元件，可以实现与非逻辑功能b.输出端都可以悬空c.都有输出高电平UOH、关门电平Uoff、输出低电平UOL及开门电平Uon等参数TTL 与CMOS 的不同点是：a.TTL与非门的闲置输入端可以悬空，悬空时相当于接高电平。

实验一TTL与非门的参数测试实验目的：通过测试TTL与非门的参数，了解其工作原理和性能特点。

实验器材：1.TTL与非门集成电路芯片（例如：74LS04）2.面包板3.连线杜邦线4.LED等基础元件5.电源6.示波器实验原理：实验步骤：1.连接电路：将TTL与非门芯片安装在面包板上，并与电源、LED等元件适当地进行连接。

根据需要，可以连接多个输入信号和输出信号。

2.施加电源：将电源接入电路，确保电压符合TTL电路的工作要求（通常为5V）。

3.输入测试：通过外部开关或按钮等触发输入信号，观察输出信号状态的变化。

可以通过连接示波器来观察电路的工作波形。

4.参数测量：根据实验需要，可以测试TTL与非门的不同参数，例如输入电压门限（VIH、VIL）、输出电流和输入电流。

实验结果：通过测试TTL与非门的参数，可以得到以下结果：1.输入电压门限：根据数据手册，可以测量TTL与非门的高电平输入电压门限（VIH）和低电平输入电压门限（VIL）。

这些门限电压确定了逻辑电平的切换点。

2.输出电流：可测量TTL与非门的输出电流，这是通过所选工作电压下的外部负载（如LED）所测得的。

输出电流的大小决定了芯片的驱动能力。

3.输入电流：可以通过测量输入端的电流（通常是输入电压为高电平或低电平时的电流值）来确定TTL与非门的输入阻抗。

实验注意事项：1.操作电路时，应注意电源的稳定性和接线的可靠性，以避免电路损坏。

2.测量参数时，应使用合适的测量仪器，并按照正确的操作步骤进行测量。

3.执行测试时，应按照实验计划记录测试数据，并及时分析和总结实验结果。

实验拓展：1.可以进一步测试TTL与非门的工作速度参数，例如上升时间、下降时间和传播延迟等。

2.可以将TTL与非门与其他逻辑门（如与门、或门等）进行组合，构建更复杂的数字逻辑电路。

3.可以通过改变输入信号的方式，如按钮触发、串行输入等，来测试TTL与非门在不同工作条件下的性能。

本次实验通过测试TTL与非门的参数，能够更好地理解其工作原理和性能特点。

实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告By kqh from SYSU一、实验数据及数据分析1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P：I CCL：测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为I CCH：测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为 mAP：P===W=图1(a)图1(b)数据分析：低电平输出电源电流 I CCL比高电平输出电源电流 I CCH高，符合理论预测。

2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH：I IS（或I IL）：测试电路如图2(a)所示，测得I IS为I IH：测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数图2(a)图2(b)数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。

3.输出高电平U OH及关门电平U off测试电路如图3所示，测得U OH为则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为图34.输出低电平U OL及开门电平U on测试电路如图4所示，测得U OL为调整输入电压，测得开门电平U on为图4数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电平为。

5.测试TTL与非门的电压传输特性u i(V)0U0(V)u i(V)U0(V)u i(V)234U0(V)用MATLAB拟合，u0关于u i的函数图像，如图5所示00.51 1.52 2.53 3.540.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性v ovi图5图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。

输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符 6. 平均传输延迟时间t pd测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。

图6(a)图6(b)数据分析：由波形图中读得T=，则二、实验思考题1、TTL与非门和CMOS与非门有何异同点答：TTL 与 CMOS 的相同点是：a.都是与非逻辑元件，可以实现与非逻辑功能b.输出端都可以悬空c.都有输出高电平UOH、关门电平Uoff、输出低电平UOL及开门电平Uon等参数TTL 与 CMOS 的不同点是：a.TTL与非门的闲置输入端可以悬空，悬空时相当于接高电平。

实验一TTL与非门的静态参数测试TTL（Transistor-Transistor Logic）与非门是一种基础的数字逻辑门电路，常用于数字电子设备中。

在本实验中，我们将对TTL与非门进行静态参数测试，以了解其性能和特性。

TTL与非门是一种两输入的逻辑门电路，其输入和输出信号通过晶体管进行控制和放大。

它的逻辑功能是将两个输入信号取反，并输出一个布尔值。

TTL与非门通常由几个晶体管和几个电阻组成。

在进行静态参数测试之前，我们需要了解TTL与非门的一些重要参数。

其中包括输入高电平（VIH）、输入低电平（VIL）、输出高电平（VOH）和输出低电平（VOL）。

静态参数测试是测量这些参数的过程，以确保TTL与非门在工作时能够正确输出。

首先，我们需要设置实验电路。

为了进行测试，我们将使用通用数字示波器和数字电源。

将TTL与非门的输入端分别连接到数字电源的正负极，并连接示波器的信号探头到输出端。

接下来，我们开始测试TTL与非门的静态参数。

首先是输入高电平的测试。

将输入端连接到数字电源的正极，并逐渐升高电压直到TTL与非门输出从低电平变为高电平。

记录该电压值作为VIH。

然后是输入低电平的测试。

将输入端连接到数字电源的负极，并逐渐降低电压直到TTL与非门输出从高电平变为低电平。

记录该电压值作为VIL。

接下来是输出高电平的测试。

将数字电源的负极连接到TTL与非门的输入端，并逐渐升高电压直到输出电平从低电平变为高电平。

记录该电压值作为VOH。

最后是输出低电平的测试。

将数字电源的正极连接到TTL与非门的输入端，并逐渐降低电压直到输出电平从高电平变为低电平。

记录该电压值作为VOL。

完成这些测试后，我们可以对TTL与非门的静态参数进行分析和评估。

VIH和VIL值表示了TTL与非门所能接受的有效输入电压范围。

VOH和VOL值则反映了TTL与非门所能提供的有效输出电压范围。

正常情况下，TTL与非门的VIH和VOH应较高，而VIL和VOL应较低。

⼤学电⼦技术实验⼀基本逻辑门的参数及特性测试第⼆部分数字电⼦技术实验实验⼀基本逻辑门电路参数测试⼀、实验⽬的1、掌握TTL 与⾮门电路集成芯⽚的外形、引脚图和各引脚的作⽤。

2、掌握TTL 与⾮门电路主要参数和电压传输特性的测试⽅法。

3、掌握测试CMOS 门电路参数的测试⽅法及使⽤规则。

4、通过上⾯的测试加深对两种器件的认识以及正确的使⽤⽅法。

⼆、预习要求1、阅读数字电⼦基础教材第四章的内容。

2、查阅集成电路器件（见附图），熟悉74LS00、74HC20的电路功能以及引脚结构图。

3、阅读本实验的实验原理和测试⽅法。

4、掌握数字万⽤表和⽰波器的使⽤⽅法。

三、实验内容1、TTL与⾮门的静态参数测试，以74LS00、74LS20为例。

2、TTL 与⾮门的动态参数测试。

以74LS00、74LS04为例。

3、CMOS门电路参数及逻辑功能测试。

四、实验原理与测试⽅法1、TTL 与⾮门的静态参数测试。

I（1）低电平输⼊电流iLTTL 与⾮门某⼀输⼊端接地，其余输⼊端均悬空，流过接地输⼊端的电流称为输⼊低电平电流iL I ，或称为输⼊短路电流is I 。

在实际应⽤中，is I 相当于前级门输出低电平时后级向前级门灌⼊的电流，因⽽is I 的⼤⼩影响到前级门低电平输出时驱动该类型负载门的个数。

is I 的测试电路如图1.1所⽰。

（2）⾼电平输⼊电流iH ITTL 与⾮门某⼀输⼊端接⾼电平，其余输⼊端均接地，流过接⾼电平输⼊端的电流称为输⼊⾼电平电流iH I 。

在多级门电路中，当前⼀级门输出⾼电平时，iH I 就是前级门的拉电流负载，因⽽iH I 的⼤⼩影响到前级门⾼电平输出时驱动该类型负载门的个数。

iH I 的测试电路如图1.2 所⽰。

图1.1 输⼊短路电流is I 的测试电路图1.2 ⾼电平输⼊电流iH I 的测试电路（3）关门电平OFF V与⾮门的⼀个输⼊接V1，其它输⼊端悬空，慢慢增⼤V1，使门电路的输出⾼电平达到其下限值(min)OH V 时所对应的输⼊电平称为该门的关门电平OFF V 。

【实验题目】TTL与非门的静态参数测试【实验目的】1.掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。

2.熟悉数字电路实验箱、数字万用表的使用。

【实验仪器及器件】【实验原理】本实验采用四2输入与非门74LS00，即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门，每个与非门有2个输入端。

1.TTL原理图及逻辑图TTL与非门内部原理图：图a外部逻辑电路图：图b其中VCC和GND是四个与非门供电电源的输入端。

要使与非门正常工作，前提条件是在VCC和GND端加入合适的电源供应，GND接地，VCC的范围是5V±5%。

2.集成与非门的静态参数：a)输出高电平UOHb)关门电平Uoffc)输出低电平UOLd)开门电平Uone)阈值电压UTf)输入短路电流IISg)输入漏电流IIHh)低电平输出电源电流ICCLi)高电平输出电源电流CCH I j)平均传输延迟时间pd t 3.各参量意义ⅰCCL I 、CCH I 、CCH I与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

CCL I ：指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供器件的电流。

CCH I ：指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供器件的电流。

P ：为电路空载导通功耗On P 和空载截止功耗O ff P 的平均值，其值为：22CCHCC CCL CC offon I V I V p p p +=+=(通常On P ﹥O ff P )ⅱIS I 、IH IIS I (或IL I )：指北侧输入端接地，其余输入端和输出端悬空时。

由被测输入端流出的电流。

也称低电平输入电流。

在由多级门构成的电路中，IS I 相当前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流。

因此，IS I 越小，前级门带负载的个数就越多。

IH I ：被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端悬空时，流入被测输入端的电流。

也称高电平输入电流。