目录 1Testbed功能介绍 (1) 1.1编程规则验证 (1) 1.2数据流分析 (1) 1.3控制流分析 (1) 1.4表达式分析 (2) 1.5接口分析 (2) 1.6软件质量度量分析 (2) 2使用Testbed 进行编码规则的定制和检查 (3) 2.1确定测试需求 (3) 2.2建立测试工程 (3) 2.3定制代码分析规则 (6) 2.4配置Report选项 (7) 2.5分析执行及结果查看 (8) 3结果分析及测试报告编写 (9) 3.1质量度量信息的获取 (9) 3.2程序质量度量报告单 (11) 3.3静态分析质量报告单 (12) 附录A：静态分析推荐规则使用说明 (1)
1Testbed功能介绍 1.1编程规则验证 编程标准验证是高可靠性软件开发不可缺少的软件质量保证方法，使用LDRA Testbed 自动地验证应用软件是否遵循了所选择的编程规则。编程规则由软件项目管理者根据自身项目的特点并参考现有的成熟的软件编程标准制定，如DERA（欧洲防务标准），MISRA（汽车软件标准），LDRA Testbed依据此规则搜索应用程序，并判断代码是否违反所制定的编程规则。LDRA Testbed报告所有违反编程规则的代码并以文本方式或图形反标注的方式显示。测试人员或编程人员可根据显示的信息对违反编程规则的代码进行修改。 1.2数据流分析 LDRA Testbed分析软件中全局变量、局域变量及过程参数的使用状况，并以图形显示、HTML或ASCII文本报告方式表示，清晰地识别出变量使用引起的软件错误，此种方法既可使用于单元级，亦可使用于集成级、系统级。 通过Testbed数据流分析功能，可方便地分析出软件中一些可能的程序欠缺，如： 1.没使用的函数参数； 2.不匹配的参数； 3.变量未赋初值就引用； 4.代码中有多余变量； 5.给值传递参数赋值； 6.无返回值的函数路径； 7.函数的实参是全局变量。 1.3控制流分析 控制流分析检查以下内容： 1.不可达代码； 2.不合理的循环结构； 3.存在浮点相等比较； 4.函数存在多个出口； 5.函数存在多个入口。
实验二 TTL 与非门电路参数测试 一、实验目的 ·掌握TTL 与非门主要参数的测试方法。 ·掌握TTL 与非门电压传输特性的测试方法。 ·熟悉集成元器件管脚排列特点。 二、实验原理 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，使用时必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能好坏。 本实验采用TTL 集成元器件74LS00与非门进行测试。它是一个2输人端4与非门，形状为双列直插式，逻辑表达式为F ＝A ·B ，其逻辑符号及外引线排列图如图 1—1(a)(b)(c)(d)所示。
1．TTL与非门主要参数 (1)输出高电平V OH和输出低电平V OL V OH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。此时门电路处于截止状态。如输出空载，V OH必须大于标准高电平(V SH＝2.4V)，一般在3.6V左右。当输出端接有拉电流负载时，V OH将降低。 V OL是指与非门的所有输人端均接高电平时，输出电压的大小。此时门电路处于导通状态。如输出空载，V OL必须低于标准低电平(V SL＝0.4V)，约为0.1V左右。接有灌电流负载时，V OL将上升。 (2)低电平输入电流I IL I IL是指当一个输入端接地，而其他输入端悬空时，输入端流向接地端的电流，又称为输入短路电流。I IL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。 (3)高电平输入电流I IH I IH是指当一个输入端接高电平，而其他输入端接地时，流过接高电平输入端的电流，又称为交叉漏电流。它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。当I IH太大时，就会因为“拉出”电流太大，而使前级门输出高电平降低。 (4)输入开门电平V ON和关门电平V OFF V ON是指与非门输出端接额定负载时，使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电平必须大于V ON。 V OFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。 (5)扇出系数N0 N0是说明输出端负载能力的一项参数，它表示驱动同类型门电路的数目。N0的大小主要受输出低电平时，输出端允许灌人的最大电流的限制，如灌人负载电流超出该数值，输出低电平将显著抬高，造成下一级逻辑电路的错误动作。
第四章 DAC 静态电参数测试 本文要点： DAC 电参数义的定 DAC 规静态电参数测试计常方法及算公式 DAC 测试统系的典型硬件配置 DAC 数规据范（Data Sheet）样例 选择输码减如何入代以少DAC 测试时间的 如何提高DAC 电参数测试的精度及稳定性 关键词释解 调误失差Eo（Offset Error）转换线实际值与值值：特性曲的起始理想起始（零）的偏差。 误增益差E G （Gain Error）转换线实际与资：特性曲的斜率理想斜率的偏差。（在有些料误称为满误上增益差又刻度差） 线误性差Er（Linearity Error）转换线与拟线间：特性曲最佳合直的最大偏差。（NS 公司义定）或者用：准确度E A （Accuracy 转换线与转换线）：特性曲理想特性曲的最大偏差（AD 义公司定）。 线误微分性差E DL （Differential Linearity Error）值满值围内邻输：在起始到刻度的范相入数码对应拟输电压实际值与的模出之差的1LS 值简单说个理想得最大偏差。的，就是在整转换围内范每一步距（1LSB）的最大偏差。 满围刻度范（FSR）：DAC 输电压围的出范。 最小有效位（LSB）：DAC 输变时输电压变入化一位，出的化量。 单调性（Monotonic）：DAC 输号个变时输个变的入信朝一方向化，出也向一方向化或保持常量 分辨率（Resolution）：DAC 总的输数义为入位，定2 n 一、 DAC 静态电参数义测试简定及介 在图4.1中，Summing Junction 和 I out 连没电过电端接在一起，如果有流流阻R∑输，电压出Vout 为电压当零刻度；DAC 电过电的最大流流阻R∑输电压，出Vout 为满电压刻度。
实验一--T T L门电路参数测试实验
实验一 TTL门电路参数测试实验 一、实验目的 1.掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。 2.掌握TTL器件的使用规则。 3.熟悉数字电路测试中常用电子仪器的使用方法。 二、实验原理 本实验采用二输入四与非门74LS00（它的顶视图见附录），即一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。其逻辑框图如下： 图1-1 74LS00的逻辑图图1-2 I is的测试电路图TTL集成与非门的主要参数有输出高电平V OH、输出低电平V OL、扇出系数N0、电压传输特性和平均传输延迟时间t pd等。 （1）TTL门电路的输出高电平V OH V OH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此 时与非工作管处于截止状态。空载时，V OH的典型值为3.4~3.6V，接有 拉电流负载时，V OH下降。 （2）TTL门电路的输出低电平V OL
V OL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管 处于饱和导通状态。空载时，它的典型值约为0.2V，接有灌电流负载 时，V OL将上升。 （3）TTL门电路的输入短路电流I is 它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，由被测输入端 输出的电流值，测试电路图如图1-2。 （4）TTL门电路的扇出系数N0 扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数N0L和高电平扇出系数N0H。通常有I iHN0L，故常以N0L作为门的扇出系数。 N0L的测试电路如图1-3所示，门的输入端全部悬空，输出端接灌电流负载R L，调节R L使I OL增大，V OL随之增高，当V OL达到V Olm（手册中规定低电平规范值为0.4V）时的I OL就是允许灌入的最大负载电流，则 N0L＝I OL÷I is，通常N0L>8 （5）TTL门电路的电压传输特性 门的输出电压V o随输入电压V i而变化的曲线V o=f（V i）称为门的电压传输特性，通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V OH、输出低电平V OL、关门电平V off、开门电平V ON等值。测试电路如图1-4所示，采用逐点测试法，即调节R w，逐点测得V i及V o，然后绘成曲线。
实验二 TTL 与非门电路参数测试 一、实验目的 1、掌握TTL 与非门参数的物理意义。 2、掌握TTL 与非门参数的测试方法。 3、了解TTL 与非门的逻辑功能。 二、实验原理 7400是TTL 型中速二输入四与非门。下图为其内部电路原理图和管脚排列图。 TTL 内部原理图 管脚排列图 1.与非门参数 (1)输入短路电流I IS ： 与非门某输入端接地时，该输入端流入地的电流. (2)输入高电平电流I IH ： 与非门某输入端接Vcc ，其他输入端悬空或接Vcc 时，流入该输入端的电流. (3)开门电平V ON ： 使输出端维持V OL 所需的最小输入高电平，通常以Vo=0.4V 时的Vi 定义。 (4)关门电平V OFF ： 使输出端维持V OH 所允许的最大输入低电平，通常以Vo=0.9V OH 时的Vi 定义。 阈值电平V T ：V T =（V OFF +V ON ）/2
（5）开门电阻R ON 某输入端对地接入电阻，使输出端维持低电平所需的最小电阻值。 （6）关门电阻R OFF 某输入端对地接入电阻，使输出端维持高电平所允许的最大电阻值。 TTL 与非门输入端的电阻负载特性曲线： (7)平均传输延迟时间t pd ： 开通延迟时间t OFF ：输入正跳变上升到1.5V 相对输出负跳变下降到1.5V 的时间间隔;关闭延迟时间t ON ：输入负跳变下降到1.5V 相对输出正跳变上升到1.5V 的时间间隔;平均传输延迟时间：开通延迟时间与关闭延迟时间的算术平均值，t pd =（t OFF +t ON ）/2。 2.与非门电压传输特性： 3.TTL 与非门的逻辑特性： 三、实验仪器
第三部分数字电路实验 实验3.1 TTL与非门参数测试及使用 [要点提示] 一、实验目的 二、实验预习要求 三、实验原理 四、实验仪器设备 五、练习内容及方法 六、实验报告 七、思考题 [内容简介] 一、实验目的 1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2．掌握TTL器件的使用规则。 3.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 二、实验预习要求 1.了解数字实验箱的基本结构及使用方法。 2．了解TTL与非门主要参数的定义和意义。 3．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。 4．熟悉TTL与非门74LS00的外引线排列。 5．自拟实验步骤和数据表格。 三、实验原理 1．TTL与非门的主要参数 TTL与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点,因而得到了广泛的应用。 （1）输出高电平VoH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时，VOH必须大于标准高电平（VSH=2.4 V），接有拉电流负载时，VOH将下降。测试VOH的电路如图1、1所示。
图1、1 VOh 的测试电路图1、2 VOL的测试电路 （2）输出低电平VOL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。空载时，VOL 必须低于标准低电平（VsL=O.4 V），接有灌电流负载时，VOL将上升。测试VoL电路如图1、2所示。（3）输入短路电流IIS：输入短路电流IIS是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流。前级输出低电平时，后级门的IIS就是前级的灌电流负载。一般IIS＜1.6mA。测试IIS的电路见图1、3所示。 （4）扇出系数N：扇出系数N是指能驱动同类门电路的数目，用以衡量带负载的能力。图1、4所示电路能测试输出为低电平时，最大允许负载电流IOL，然后求得N＝IOL／IIS。一般N＞8的与非门才被认为是合格的。 图1、3 IIS的测试电路图1、4 扇出系数N的测试电路 2．TTL与非门的电压传输特性 利用电压传输特性不仅能检查和判断TTL与非门的好坏，还可以从传输特性上直接读出其主要静态参数，如VOH、VOL、VON、Voff、VNH和VNL，如图1-5所示。传输特性的测试电路如图1、6所示。
实验一 单级放大电路静态参数的测试 （验证性实验） 一、实验目的 1. 熟悉模拟电子技术实验箱的结构，学习电子线路的搭接方法。 2. 学习测量和调整放大电路的静态工作点，观察静态工作点设置对输出波形的影响。 二、实验仪器 1. 低频信号发生器 SG1026 1台 2. 双踪示波器 SS7802或COS5020BF 1台 3. 万用表 VC9802A 1块 三、实验说明 图1为电阻分压式工作点稳定单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用RB1和RB2组成的分压电路，并在发射极中接有电阻RE ，以稳定放大器的静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号ui 后，在放大器的输出端便可得到一个与ui 相位相反，幅值被放大了的输出信号u0，从而实现了电压放大。 图1 共射极单管放大器实验电路 在图1电路中，旁路电容CE 是使RE 对交流短路，而不致于影响放大倍数，耦合电容C1和 C2 起隔直和传递交流的作用。当流过偏置电阻RB1和RB2 的电流远大于晶体管T 的基极电流IB 时（一般5～10倍），则它的静态工作点可用下式估算 CC B2 B1B1 B U R R R U +≈ U CE ＝U CC －I C （R C ＋R E ） C E BE B E I R U U I ≈-≈
电压放大倍数 be L C V r R R β A // -= 输入电阻 R i ＝R B1 / R B2 / r be 输出电阻 R O ≈R C 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。因此，除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。 放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰与自激振荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。 放大器静态工作点的测量与调试 1) 静态工作点的测量 测量放大器的静态工作点，应在输入信号ui ＝0的情况下进行， 即将放大器输入端与地端短接，然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表，分别测量晶体管的集电极电流IC 以及各电极对地的电位UB 、UC 和UE 。一般实验中，为了避免断开集电极，所以采用测量电压UE 或UC ，然后算出IC 的方法，例如，只要测出UE ，即可用 E E E C R U I I =≈算出IC （也可根据C C CC C R U U I -=，由UC 确定IC ）， 同时也能算出UBE ＝UB －UE ，UCE ＝UC －UE 。 为了减小误差，提高测量精度，应选用内阻较高的直流电压表。 2) 静态工作点的调试 放大器静态工作点的调试是指对管子集电极电流IC （或UCE ）的调整与测试。 静态工作点是否合适，对放大器的性能和输出波形都有很大影响。如工作点偏高，放大器在加入交流信号以后易产生饱和失真，此时uO 的负半周将被削底，如图2(a)所示；如工作点偏低则易产生截止失真，即uO 的正半周被缩顶（一般截止失真不如饱和失真明显），如图2(b)所示。这些情况都不符合不失真放大的要求。所以在选定工作点以后还必须进行动态调试，即在放大器的输入端加入一定的输入电压ui ，检查输出电压uO 的大小和波形是否满足要求。如不满足，则应调节静态工作点的位置。 (a) (b) 图2 静态工作点对uO 波形失真的影响 改变电路参数UCC 、RC 、RB （RB1、RB2）都会引起静态工作点的变化，如图3所示。但通常多采用调节偏置电阻RB2的方法来改变静态工作点，如减小RB2，则可使静态工作点提高等。
一. 实验目的 1）熟悉TTL与非门集成电路的外形和管脚引线排列。 2）通过测试了解与非门的直流参数 3）加深对与非门逻辑功能的认识 二. 实验仪器(点击可看到图片） 1. xst-6D电子技术综合实验装置 2. 500型万用表 3. DS1052E （点击可阅读使用手册） 4. 元件：74LS20 三. 预习要求 1. 复习《数字电子技术基础》相关内容 2. 了解74ls20的逻辑功能和管脚排列； 3.ICCL, IIL, IIH, IOL, No,tpd是什么？ 4. 与非门在什么条件下输出高电平？什么情况下输出低电平？不用的输入端怎么处理？ 5. TTL电路,如果某输入端悬空,则相当于给该输入端输入了什么电平的信号? 6. 请说明用直流电流表测电路的某个支路电流时关键步骤和应注意的事项? 四. 实验原理、步骤 首先，根据逻辑功能检查与非门是否良好。 1. 测量下列各直流参数： 1）低电平输出时的电源电流ICCL。 门电路的信号输入、输出脚悬空，这时门电路的输出处在低电平状态，这时，用直流电流表测出IC的Vcc脚的电流。 2）低电平输入电流IIL。
3）高电平输入电流IIH。 4）电压传输特性。 Uon:表示与非门输出低电平时，允许输入的高电平的电压值的最小值，在图上求出。(即在VOL=0.4V时,求Vi） Uoff：表示与非门输出高电平时，允许输入的低电平的电压值的最大值，在图上求出。（即在VoH=2.4V时，求Vi) 5）扇出系数No
得出的小数要圆整 6）平均传输延迟时间tpd。 我们把输出电压波形滞后于输入电压波形的时间叫传输延迟时间(见《数字电子技术基础》门电路)。有两个重要参数tPHL,tPLH， 五. 报告要求 1）列出直流参数的实测数据表格，，与出厂参数相比，判断参数是否合格。 2) 一个该非门能驱动多少个TTL门电路？假设LED的工作电流是20mA,他可以用该门电路直接驱动吗（画出该电路）？ 3) 画出传输特性，确定VOFF、VON、VOL、VOH值 4）列出与非门的实测数据表格，看逻辑关系是否相符。 5)什么是集成电路？74LS20、CD4007(下次实验用）各属于哪种类型的集成电路？ 6）PCB是什么？列出英文全称。
实验一TTL 与非门的静态参数测试实验报告 By kqh from SYSU 一、实验数据及数据分析 1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P： I CCL： 测试电路如图1(a)所示，测得I CCL为 I CCH： 测试电路如图1(b)所示，测得I CCH为mA P： P===W= 图1(a) 图1(b) 数据分析：低电平输出电源电流I CCL比高电平输出电源电流I CCH高，符合理论预测。 2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH： I IS（或I IL）： 测试电路如图2(a)所示，测得I IS为 I IH： 测试电路如图2(b)所示，电流过小，多用电表无测量示数 图2(a) 图2(b) 数据分析：输入短路电流I IS和输入漏电流I IH分别是和无示数，均比较小，说明前级门电路带负载的个数较多。
3.输出高电平U OH及关门电平U off 测试电路如图3所示，测得U OH为 则当输出电压为90%U OH（）时，测得输入电压（即关门电压）为 图3 4.输出低电平U OL及开门电平U on 测试电路如图4所示，测得U OL为 调整输入电压，测得开门电平U on为 图4 数据分析：综合实验3、4可知，74LS00 的跳变电压在在之间，高电平为，低电 平为。 5. u i(V) 0 U0(V) u i(V) U0(V)
u i (V) 2 3 4 U 0(V) 用MATLAB 拟合，u 0关于u i 的函数图像，如图5所示 0.511.522.533.54TTL 与非门的电压传输特性 v o v i 图5 图像分析：在高电平输出范围内，随输入电平增大，输出电平轻微减小；在低电平输出范围内，输出电平基本不随输入电平变化而变化。输入电平在左右时，输出电平出现跳跃，与实验3、4结果基本相符 6. 平均传输延迟时间t pd 测试电路如图6(a)所示，输出波形如图6(b)所示。 图6(a)
实验一TTL与非门的静态参数测试 一、实验目的 1. 掌握TTL与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。 2. 熟悉数字电路试验箱、数字万用表的使用。 二、实验仪器及器件 1.数字电路试验箱、万用表、示波器 2.器件：74LS00X 2．电阻：560Ω X1，1OkXI 三、实验内容和结果 1.低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH及静态平均功耗P?： 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。 I CCL：指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流．也称空 载导通电流．测试电路如图（一）(a)所示。 I CCH：指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬 空，电源提供器件的电流。也称空载截止电流，电路如图（二）(b)所示。 P?：为电路空载导通功耗P on和空载截止功耗P off的平均值，其值为： p?=pp oooo+pp oooo2=VV CCCC II CCCCCC+VV CCCC II CCCCCC2(通常P on>P off) （ａ）（ｂ） 图（一） 2.输入短路电流I IS和输入漏电流I IH： I IS：（或I IL）指被测输入端接地，其余输入端和输出端悬空时．由被测输 入端流出的电流。也称低电平输入电流。在由多级门构成的电路中，I IS 相当前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流。因此．I IS越小， 前级门带负载的个数就越多。测试电路如图（二）(a)所示。 I IH：指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端悬空时，流入 被测输入端的电流。也称高电平输入电流。在由多级门构成的电路中， 它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载。I IH越小，前级门
单级放大电路静态参数测试实验报告
单级放大电路静态参数测试 一、实验目的 1、熟悉模拟电子技术实验箱的结构，学习电子线路的搭接方法。 2、学习测量和调整放大电路的静态工作点，观察静态工作点设置对输出波形的影响。 二、实验说明 图6－1为电阻分压式工作点稳定单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用R B1和R B2组成的分压电路，并在发射极中接有电阻R E ，以稳定放大器的静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号u i 后，在放大器的输出端便可得到一个与u i 相位相反，幅值被放大了的输出信号u 0，从而实现了电压放大。 图6－1 共射极单管放大器实验电路 在图6－1电路中，旁路电容C E 是使R E 对交流短路，而不致于影响放大倍数，耦合电容C 1和 C 2 起隔直和传递交流的作用。当流过偏置电阻R B1和R B2 的电流远大于晶体管T 的基极电流I B 时（一般5～10倍），则它的静态工作点可用下式估算： CC B2 B1B1 B U R R R U +≈ -≈≈B BE E C E U U I I R ()CE CC C C E U U I R R =-+ 电压放大倍数 be L C V r R R βA // -= 输入电阻 12////i B B be R R R r = 输出电阻 O C R R ≈ 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点 和各项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。
单级放大电路静态参数测试实验报告 单级放大电路静态参数测试 一、实验目的 1、熟悉模拟电子技术实验箱的结构，学习电子线路的搭接方法。 2、学习测量和调整放大电路的静态工作点，观察静态工作点设置对输出波形的影响。 二、实验说明 图6－1为电阻分压式工作点稳定单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用R B1和R B2组成的分压电路，并在发射极中接有电阻R E，以稳定放大器的静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号u i后，在放大器的输出端便可得到一个与u i相位相反，幅值被放大了的输出信号u0，从而实现了电压放大。 图6－1共射极单管放大器实验电路 在图6－1电路中，旁路电容C E是使R E对交流短路，而不致于影响放大倍数，耦合电容C1和C2起隔直和传递交流的作
用。当流过偏置电阻R B1和R B2的电流远大于晶体管T的基极电流I B时（一般5～10倍），则它的静态工作点可用下式估算： CC B2B1B1 B U R R R U+≈ -≈≈B BE E C E U U I I R ()CE CC C C E U U I R R=-+ 电压放大倍数be L C V r R RβA//-=输入电阻12////i B B be R R R r=输出电阻O C R R≈ 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。 因此，除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰与自激振荡及放大器各项动
IGBT静态参数测试系统 简介 1.概述 BR3500新型半导体分立器件测试系统是西安佰人科技有限公司研发、生产的，用于测试各类半导体元器件的专用设备。本系统是在国家科技部、国家高新技术西安产业园、西安市政府、国家外专局联合支持下, 结合国外进口先进测试系统技术研制、采用航天军用工艺生产的新型半导体全静态参数测试设备。本系统主机获得国家科技部06年度创新基金支持，被誉为”比国内同类产品技术先进十年以上”; 大电流选件获得国家科技部09年度第一批创新基金支持；技术上获得多项国家专利。本系统产品技术水平高于日本同类产品，接近美国和欧洲同类产品领先水平，产品综合技术性能可与国际同类先进产品媲美，性价比和售后技术服务明显优于进口产品。成为目前我国唯一可以替代国外进口高端同类产品的半导体测试系统。本系统经过中国信息产业部电子计量中心的校准认定，所有测量值和参数指标均达到国际同类产品允许误差范围之内。 多年来产品销往国内航天、航空、兵器、中船、电子、汽车多个领域的百余家单位，得到了广泛的应用，以产品性价比好、可测器件和参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、稳定性可靠性高、故障率极低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到得到用户的广泛赞誉。被用户认为“用国产中档机价格买到了进口高档机产品和国际知名厂家难以做到的技术服务”。 1.1 产品应用领域 半导体元器件生产厂：应用本公司测试系统可对半导体元器件生产线的成品进行全参数测 试、筛选、分析，以确保出厂产品的合格率； 电子电力产品生产、检修厂：应用本公司测试系统可对所应用到的半导体元器件，尤其现 代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析，以确 保出厂产品的稳定性、可靠性； 航空、航天、兵器、电子信息等领域：应用本公司测试系统可对所应用到的元器件，尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析，以 确保出厂产品的稳定性、可靠性； 机车、汽车、船舶控制系统生产厂：应用本公司测试系统可对所应用到的元器件，尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析， 以确保出厂产品的稳定性、可靠性； 水力、电力控制系统生产厂：应用本公司测试系统可对所应用到的元器件，尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析，以确保出 厂产品的稳定性、可靠性。
实验四 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2、掌握TTL器件的使用规则。 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法。 二、实验原理 本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输人端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图 2—l（a）、（b）、（c）所示： 图2—174LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列 1、与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端才为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“l” 全“l”得“0”） 其逻辑表达式为Y=ABCD 2、TTL与非门的主要参数 （1）低电平输出电源电流I ccL和高电平输出电源电流I ccH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。I ccL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源供给器件的电流。I ccH是指输出端空载，个门各有一个以上的输人端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常I ccL＞I ccH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为P＝V cc I ccL。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。II ccL和I ccH测试电路如图2—2(a)(b)所示。 ［注意］：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压Vcc只允许在十5V土10％的范围内工作，超过5．5V将损坏器件；低于4．5V器件的逻辑功能将不正常。 图2—2 TTL与非门静态参数测试电路图 ②低电平输入电流I iL和高电平输入电流I iH。I iL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中，I iL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL小些。I iH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输
MOSFET动静态测试系统西安易恩电气科技有限公司
MOSFET动静态测试设备技术方案 1.1技术条件 1.1.1环境要求 A.环境温度：25±10℃， B．相对湿度：湿度不大于65% C.大气压力：86Kpa～106Kpa D.工作电压：三相五线制AC380V±10%，或者单相三线制AC220V±10% E．电网频率：50Hz±1Hz F.压缩空气：0.4～0.6Mpa G.防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害； 1.1.2设备功能简介 此设备具有以下测试单元 注：开关时间，二极管反向恢复，栅极电荷需要可在分装后测试，静态参数及雪崩测试需要在加电容前测试。 ●开关时间测试单元 开启延迟时间（Td(on)）上升时间（Tr） 关断延迟时间（Td(off)）下降时间（Tf） 开启损耗Eon关断损耗Eoff ●二极管反向恢复测试单元 反向恢复时间（Trr）反向恢复电荷（Qrr） ●栅极电荷测试单元 阈值电荷（Qg（th））栅电荷（Qg） ●静态全参数测试单元 R DS(ON)V GS(th)T DSS I GSS V SD R25 ●雪崩测试单元 雪崩电流（I），雪崩电压(V)，雪崩能量(E)
1.2动态测试参数 1.2.1开通和关断波形及其相关参数的定义 图1.1mosfet开通过程及其参数定义 图1.2mosfet关断过程及其参数定义
1.2.2加电容后可测试的参数 表格1.1可测量的MOSFET动态参数参数名称符号参数名称符号 开通延迟时间td(on)关断延迟时间td(off) 上升时间tr下降时间tf 开通时间ton关断时间toff 开通损耗Eon关断损耗Eoff 栅极电荷Qg拖尾时间tz 表格1.2可测量的DIODE动态参数参数名称符号参数名称符号 反向恢复时间trr反向恢复电荷Qrr 1.3静态参数测试 1.3.1加电容前可测试的参数 表格1.3可测量的mosfet静态参数参数名称符号参数名称符号 门极开启电压VGS(th)集射极耐压VDS 集射极漏电流IDSS栅极漏电流IGSS 表格1.4可测量的mosfte其他参数 参数名称符号参数名称符号二极管反向电压Vsd额定电阻R25雪崩电流I雪崩电压V 雪崩能量E
TTL 与非门的参数测试 一、实验目的 ·掌握TTL 与非门主要参数的测试方法。 ·掌握TTL 与非门电压传输特性的测试方法。 ·熟悉集成元器件管脚排列特点。 二、实验原理 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种基本逻辑门，使用时必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能好坏。 本实验采用TTL 集成元器件74LS00与非门进行测试。它是一个2输人端4与非门，形状为双列直插式，逻辑表达式为F ＝A ·B ，其逻辑符号及外引线排列图如图1—1(a)(b)(c)(d)所示。 图1-1与非门逻辑符号及74LS00外引线排列图 1 2 3 4 5 6 7 (d)74LS00引脚排列 (a)国内常用符号 A Y (b)国外常用符号 A B Y (C)国际标准符号 A Y
1．TTL与非门主要参数 (1)输出高电平V OH和输出低电平V OL V OH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。此时门电路处于截止状态。如输出空载，V OH必须大于标准高电平(V SH＝2.4V)，一般在3.6V左右。当输出端接有拉电流负载时，V OH将降低。 V OL是指与非门的所有输人端均接高电平时，输出电压的大小。此时门电路处于导通状态。如输出空载，V OL必须低于标准低电平(V SL＝0.4V)，约为0.1V左右。接有灌电流负载时，V OL将上升。 (2)低电平输入电流I IL I IL是指当一个输入端接地，而其他输入端悬空时，输入端流向接地端的电流，又称为输入短路电流。I IL的大小关系到前一级门电路能带动负载的个数。 (3)高电平输入电流I IH I IH是指当一个输入端接高电平，而其他输入端接地时，流过接高电平输入端的电流，又称为交叉漏电流。它主要作为前级门输出为高电平时的拉电流。当I IH太大时，就会因为“拉出”电流太大，而使前级门输出高电平降低。 (4)输入开门电平V ON和关门电平V OFF V ON是指与非门输出端接额定负载时，使输出处于低电平状态时所允许的最小输入电压。换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电平必须大于V ON。 V OFF是指使与非门输出处于高电平状态所允许的最大输人电压。 (5)扇出系数N0 N0是说明输出端负载能力的一项参数，它表示驱动同类型门电路的数目。N0的大小主要受输出低电平时，输出端允许灌人的最大电流的限制，如灌人负载电流超出该数值，输出低电平将显著抬高，造成下一级逻辑电路的错误动作。 (6)空载导通功耗P ON
单级放大电路静态参数测试 一、实验目的 1、熟悉模拟电子技术实验箱的结构，学习电子线路的搭接方法。 2、学习测量和调整放大电路的静态工作点，观察静态工作点设置对输出波形的影响。 二、实验说明 图6－1为电阻分压式工作点稳定单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用R B1和R B2组成的分压电路，并在发射极中接有电阻R E ，以稳定放大器的静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号u i 后，在放大器的输出端便可得到一个与u i 相位相反，幅值被放大了的输出信号u 0，从而实现了电压放大。 图6－1 共射极单管放大器实验电路 在图6－1电路中，旁路电容C E 是使R E 对交流短路，而不致于影响放大 倍数，耦合电容C 1和 C 2 起隔直和传递交流的作用。当流过偏置电阻R B1和R B2 的电流远大于晶体管T 的基极电流I B 时（一般5～10倍），则它的静态工作点可用下式估算： CC B2 B1B1B U R R R U +≈ -≈≈B BE E C E U U I I R ()CE CC C C E U U I R R =-+ 电压放大倍数 be L C V r R R βA // -= 输入电阻 12////i B B be R R R r =
输出电阻 O C R R ≈ 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。因此，除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。 放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰与自激振荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。 放大器静态工作点的测量与调试 1) 静态工作点的测量 测量放大器的静态工作点，应在输入信号0i u =的情况下进行，即将放大器输入端与地端短接，然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表，分别测量晶体管的集电极电流C I 以及各电极对地的电位B U 、C U 和E U 。一般实验中，为了避免断开集电极，所以采用测量电压E U 或C U ，然后算出C I 的方法，例如，只要测出E U ，即可用 E E E C R U I I =≈算出C I （也可根据C C CC C R U U I -=，由C U 确定C I ）， 同时也能算出BE B E U U U =-，CE C E U U U =-。 为了减小误差，提高测量精度，应选用内阻较高的直流电压表。 2) 静态工作点的调试 放大器静态工作点的调试是指对管子集电极电流C I （或CE U ）的调整与测试。 静态工作点是否合适，对放大器的性能和输出波形都有很大影响。如工作点偏高，放大器在加入交流信号以后易产生饱和失真，此时o u 的负半周将被削底，如图6－2(a)所示；如工作点偏低则易产生截止失真，即o u 的正半周被缩顶（一般截止失真不如饱和失真明显），如图6－2(b)所示。这些情况都不符合不失真放大的要求。所以在选定工作点以后还必须进行动态调试，即在放大器的输入端加入一定的输入电压i u ，检查输出电压o u 的大小和波形是否满足要求。如不满足，则应调节静态工作点的位置。
广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
年 月曰 5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能 开课学院及实验室: 学院 机电学院 年级、专 业、班 姓名 学号 实验课程名称 数字电子技术实验 成绩 实验项目名称 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 指导 教师 、实验原理 三、 使用仪器、材料 四、 实验步骤 五、 实验过程原始记录(数据、图表、计算等) 六、 实验结果及分析 一、实验目的 1 、掌握TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、掌握TTL 器件的使用规则 3 、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、实验原理 TTL 与非门的主要参数 (1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流 ICCH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。 ICCL 是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。 ICCH 是指输 出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常 ICCL >ICCH 它们的大小标志着器件静态功耗 的大小。 器件的最大功耗为 PCCL= VCCICCL 手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。 ICCL 和ICCH 测试电路 如图 5- 2-2(a)、(b)所示。 ［注意］:TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压 VCC M 允许在+ 5V ± 10%的范围内工作，超过 (a) (b) (c) (d) 图5-2- 2 TTL 与非门静态参数测试电路图 (2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流liH o IiL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。 在多级门电路中，IiL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电 路带负载的个数，因此希望 IiL 小些。 IiH 是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输出高电 平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望 IiH 小些。由于IiH 较小，难以测量，一般免于测试。 IiL 与IiH 的测试电路如图5- 2-2(c)、(d)所示。附件2: 广州大学学生实验报告
A／D转换芯片静态参数直方图测试法公式推导 谢力 （国电自动化研究所，南京210003） 1．引言 A／D转换芯片(以下简称A／D)的作用是将模拟信号转换为数字信号，被广泛应用于控制领域。对A ／D的测试分为静态参数测试及动态参数测试。本文涉及的是静态参数洲试。A／D的静态参数测试系统主要由数字部分和模拟部分绀成。数字部分的作用是对A／D提供控制信号及捕获转换后的数字量，要求有足够的向量深度并能够提供灵活复杂的时序。模拟部分的作用是对D／A提高精度低噪声的模拟信号和参考电压。其测试系统的结构框图如图1。 对A／D进行测试必须意识到A／D的“多对一”的特性，也就是说当对A／D激励一些量值不同的模拟信号(这些信号量值虽然不同但差值较小)时，输出的数字信号却可能是相同的。A／D的这种“多对一”的特性就导致A／D的测试框架不同于传统的测试框架，即给定一个激励信号，只要测出相应的输出信号即可。在对A／D测试时我们必须找到那个使输出信号发生变化的激励信号，获得这些激励信号后我们才对它们进行计算，得到诸如偏置、增益、线性特性这些参数值。在测试中我们将这些激励信号的值称为转换值，图2是一个理想8位A／D的转换值示意图。
因为A／D输出是一组数码，所以没有任何的输出电压需要测试。在测试A／D时，激励A／D的应是连续增长的模拟信号，当A／D将模拟输入转换成数字输出时，应对模拟输人一直进行监测，当A／D 的数字输出发生变化、达到期望的数码时，监测出此时的模拟信号值，这个值就是转换值。 在图2可以看到两个特殊的转换值：VZST和VFST，做如下定义： VFST是使数字输出i从仅次于最大值的值变为最大值时的模拟值。 VZST是使数字输出i从0变为1时的模拟值。 这两个转换值在计算分辨率(LSB)和满幅电压范围(FSR)时是很有意义的。 在图2中可以看到对于一个n位的A／D有2n个输出数码，有2n-1个转换值，在VZST和VFST之间有2n-2个输出数码。 2．A／D静态参数的定义 2.1 满幅电压范围(FSRIDEAL、FSRDUT) 理想满幅电压范围(FSRIDEAL)是指被测A／D技术规范上标称的满幅电压参考值。实际满幅电压范围(FSRDUT)是让被测A／D的数字输出为全1时，根据如下公式得出的计算值： LSB是最低有效位，VFST、VZST的概念上文以介绍过，从图2中可看出，在VZST和VFST之间有2n-2个输出数码。因此，对一n位被测A／D的实际最低有效位 而此时，FSRDUT由式2-1表示。 对一n位被测A／D的理想最低有效位 2.2 失调电压(VOFFSET) 失调电压是指计算出来的零点与理想零点之差。 在单极性A／D中理想零点为0。 2.3 增益误差电压(Gain ErrorVOltage) 增益误差电压就是指被测A／D理想满幅电压与实际满幅电压之差。 2.4 微分非线性(DNL) 做如下定义，当数字输出为i时，定义使数字输出从i-1变为i时模拟转换值输入为V[i-1]，当数字输出从i变为i+1时，定义模拟转换值输入为V[i]，此时有定义数字输出i的码宽为： 这时应注意当i=0(即所有数字输出为0)和i为最大值(即所有数字输出为1)时，理论上i=0时的码宽为0.5LSBDUT，理论上i为最大值时的码宽为1.5LSBDUT 2.5 积分非线性(INL) 首先介绍一下代码中心(Code Center)。代码中心是指当数字输出为i时，其二分之一码宽对应的模拟输入值。其计算方法如下：