关于提高同位素测井资料解释精度的探讨
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同位素吸水剖面测井的影响因素及对策分析随着社会现代化进程的不断加快,油田开采工作越来越显现出重要的地位。
在油田开采工作中,首先需要对油田注水开发进行分析,而这项工作的重点在于对注水井吸水剖面的处理,其结果直接影响着开采的质量。
标签:同位素;对策分析;影响因素;吸水剖面油田的开采质量直接关系到社会发展的各个方面,因此在油田开采过程需要严格流程控制,就目前的发展情况来看,油田注水开发工作得到了一定的发展,但是其中存在的问题不容小觑。
1 同位素污染据相关资料统计,同位素污染因素是整个作业过程中比重比较大的因素,经过对可能产生的因素分析,我们可以归纳出产生同位素污染的主要因素,其中管柱的清洁因素、腐蚀程度、地层污染程度、同位素用量过大以及同位素微球类型选择失误等都是影响的主要因素。
同时,外界环境也可能会对同位素的质量产生一定的影响,例如地层出砂、水泥环被破坏等都能引起同位素的污染。
在所有的污染类型中,同位素使用不当可以通过相应的措施有效地避免。
从整体上看,可以将污染类型大致分为两类。
一类为吸附污染,一类为沉淀污染。
在最终的资料解释中,应当注明同位素污染的类型,并且运用污染校正归位法将总体污染分配给不同的吸水层,进而抵减由于同位素污染而造成的吸水误差。
2 同位素载体2.1 同位素Ba的粒径影响石油储层所处的地质环境有着很大的差异,对于岩石颗粒直径不均匀、孔喉半径相差较大的石油储层来说,如果长期对其进行注水,势必会造成高渗透层产生微小的裂缝和一些大孔。
在这种情况下,如果所选取的同位素的粒径比较小,在整个作业过程中,同位素就不会停留在吸水层的表面,它会随着悬浊液进入冲刷带,也就超出了仪器的探测范围,严重影响着测量结果。
当然,也不是说同位素粒径的选择应该越大越好,如果粒径过大,其质量也会相应增大,在注入水的过程中,注水对其的携带能力也就变差,颗粒在重力的作用下,其沉降速度回越来越快,对于注水管道的撞击和污染程度也就随之加深,最终也会造成测量结果的偏差。
同位素示踪测井方法的不足以及改进方法作者:孙权兴来源:《中国科技博览》2018年第17期[摘要]在油田开发过程中,通过同位素吸水剖面可以了解不同时期的注水状况为油田动态分析、注水调整提供可靠依据。
但是在测井时会受到诸多因素的影响,这些因素都会对资料的解释精度产生一定的影响,降低准确性。
中图分类号:P631.84 文献标识码:A 文章编号:1009-914X(2018)17-0030-01前言同位素示踪测井方法是注入剖面测井中主要的测井方法。
其工作原理是通过对放射性物质的追踪确定注入量,主要使用的示踪剂为钡131与典131。
1.同位素示踪测井方法专属名词解释1.1 沾污沾污:由于同位素示踪剂是随水推进到吸水层段的,在示踪剂悬浮液的整个移动过程中,会与各类工具或管壁接触而产生各种类型的沾污,部分吸水层段的同位素异常幅度基本上淹没在了同位素污染的响应之中。
处理分析不当会使解释结果受到相当的影响,甚至造成错误。
1.2 强度强度:由于示踪剂在井口释放,同位素悬浮液经过长距离的运移,井筒中不可避免的沾污,大大消耗了同位素的用量,使同位素到达吸水层位时强度不够或甚至部分层段同位素未到达,造成同位素曲线异常不能反映剖面整体吸水情况。
1.3 粒径粒径:同位素粒径选择不当,如果吸水层段存在大孔道,同位素粒径较小,则随注入水进入到地层深部而未滤积在地层表面上,致使同位素幅度异常、同位素滤积量与注入量不成关系,甚至某些层段虽然吸水但无法测到同位素。
1.4 耐压耐压:同位素示踪剂有其微球颗粒密度和耐压范围,一定时间后会自行溶解。
如果注入水流速太低,则很难形成均匀的悬浮液或某些层段同位素在进入吸水层之前就已沉淀;如果部分井井下压力太高,超出了同位素耐压范围,致使颗粒提前溶解,并随水进入地层而不能滤积地层表面等,也导致同位素资料分析产生错误结论。
1.5 温度场温度场:由于油田长时间注水开发,井下的温度场已由原来的原始状态变得十分复杂:一是长时间注水,大量的冷水进入地层,致使层或层段的温度下降;二是由于对应层位的开发,从层内带走了大量的热能,致使层位温度下降;三是由于开发过程中压力保持不够,油的体积膨胀或油中气体的游离与膨胀都使层段温度下降。
同位素吸水剖面测井精细解释方法【摘要】目前同位素测井仍然是我国最主要的吸水剖面测井方法之一。
本文作者根据生产测井解释经验,运用测井实例,介绍了温度曲线幅度异常法、同位素段塞速度计算法、同位素示踪面积损失法和同位素分配过程曲线展布法等综合解释方法。
运用这些综合方法精细解释同位素吸水剖面测井,收到了很好的效果,为油田注水开发提供了更多更可靠地信息。
【关键词】吸水剖面精细解释温度同位素面积损失同位素吸水剖面测井在我国已有五十多年的历史,其测井资料被广泛的应用于油田开发过程中。
吸水剖面测井系列在不断地发展和完善,从最初的两参数(同位素、磁定位)到三参数(同位素、磁定位、温度),再到五参数测井系列等。
最近几年又发展了氧活化水流和相关流量等吸水剖面测井方法。
这些方法和系列从不同的方面解决了注水井吸水剖面测井存在的问题,都有其独到之处。
本文作者在总结各种方法的基础上,根据多年的吸水剖面解释经验,总结了同位素、温度和磁定位三参数测井的精细解释方法。
1 结合温度曲线进行综合解释在同位素注入剖面测井中一般有关井和流动两条温度曲线,其中关井温度多为关井2-4小时后所测,流温为正常注水压力下所测得。
温度曲线能定性反映层的吸水状况、管柱结构和同位素污染情况。
例1:根据温度异常判断污染和封漏某油田2005年4月的一口三参数吸水剖面测井,射开3号和4号层分层注水,这两个层上都有同位素异常,疑似吸水显示,但根据关井温度曲线显示只在3号层上有低温异常,并且从封隔器位置以下关井温度和流温曲线完全重合,还有在4号层位置上深度2050米时温度值74.7℃,和本区静温场数值相当,因此判断4号层不吸水。
而其同位素异常的形成多为不吸水或吐水层处管柱壁面较脏,有油污,根据多年解释的经验,油污最容易沾染同位素,这样的测井实例并不少见。
除此之外,流温在2037米处和封隔器位置对应的异常低温拐点,证明封隔器被腐蚀,漏水,并且漏入的水通过封隔器向上进入了3号层。
放射性同位素测井技术的发展及应用探讨作者:高明来源:《中国科技博览》2018年第16期[摘要]本文主要分析了放射性同位素测井的应用范围,除了在油藏动态检测中广泛应用外,其还向油田后期开发、剩余油研究、油藏数值模拟等研究方向发展。
对同位素示踪法用于吸水剖面测试问题进行分析,探讨其形成的原因以便提升技术质量。
[关键词]放射性同位素;测井;注水中图分类号:S857 文献标识码:A 文章编号:1009-914X(2018)16-0386-01在油田的注水井开发中有一项数据是非常重要的就是注水井注入剖面的动态分析,对油田开发水平的好坏、取得数据的准确性和可靠性有直接的影响。
在油田中我们普遍采用同位素示踪测井技术,该技术具有较好的分层性能、与井下管柱之间的影响很小、与井温同测具有定性和定量的特点,该技术的应用在油田注水剖面检测中起到了非常重要的作用,但是该技术也存在着一定的问题给油田的动态检测工作带来了很多难题,例如定性和定量存在着与实际理论情况不一致、曲线特征无法识别的问题等。
我们经过进一步的研究和分析,找出同位素示踪测井技术对油田注入剖面的一些影响因素,努力提高剖面解释的精确度,最后找到可以提高同位素示踪测井技术的措施,增加该技术测井的成功率和精确度。
1.放射性同位素测井应用随着该技术的不断成熟和推广应用,其已经成为我国水驱油田注水剖面测井的主要监测手段。
除了在油藏动态检测中广泛应用外,其还向油田后期开发、剩余油研究、油藏数值模拟等研究方向发展。
其应用有如下几个方面:1.1 检查漏失、串槽井段,为封堵提供支持由于固井质量差或者固井后由于射孔及其他施工使得水泥环破坏,则可造成层间串通形成串槽,进而对采油或注水造成严重影响。
为了封堵管外的串槽和漏失点,应该先找到串槽井段,而放射性测井可以很好的提供这些信息。
对于油层找串通常注入活化油,对于水层找串则相应注入活化水。
通过测量注入前后伽马曲线并进行对比,若发生串槽,则除了注入层外,在曲线上必会有其它层段伽马曲线值相对于基线值显著增加,从而可以确定串槽井段,进而为封堵提供支持。
同位素示踪测井的方法分析及影响因素探讨作者:刘丽娜来源:《中国化工贸易·下旬刊》2019年第07期摘要:在实际进行油田的生产开发过程中,在测试工作中应用同位素示踪测井的方法能够进一步提升测试工作效率以及测试的精确度,但是同位素示踪测井方法在实际的应用过程中也会受到很多因素的影响,从而使得其不能达到预期的测试精度目标,本文在针对同位素示踪测井法进行介绍的基础上对该技术在测井作业过程中的影响因素进行了探讨。
关键词:同位素示踪;测井方法;影响因素1 同位素示踪测井法1.1 同位素淋洗由于同位素自身具有较强的污染性,因此在实际的测试工艺中通常情况下都会选择拥有150d半衰期的133Sn作为工艺技术实施的母体,然后针对同位素进行淋洗的时候主要使用的是浓度为0.05mol/L的盐酸溶液,最终就能形成半衰期为90min的133mIn的子体。
这样才能实现对同位素污染的有效控制,这样才能充分保证整个测试作业的安全性。
1.2 测井解释将测井仪器下入到井下合理的测试深度的时候,为了进一步提升测试族作业的精度要严格的使用伽马曲线或者磁定位技术对测试位置的精度进行进一步校正。
在测试仪器下入过程中一旦到达射孔层位上部2m的时候,就可以向示踪器进行供电,这样示踪器就可以向外发射出同位素,伽马曲线也会第一时间出现测试过程中的第一个峰值,这个峰值也代表着释放出的同位素所抵达的第一个位置。
然后继续将测井仪器进行下放直到其达到第二个同位素的释放位置,在该位置上通过测试就能够得到伽马曲线的第二个峰值,这个峰值也代表着释放出的同位素所抵达的第二个位置。
在实际中对伽玛曲线进行测量的过程中必须要充分保证测量速度的均匀性。
而通常情况下但实际进行测井实践过程中,为了有效提升测量的精度都会采取三次测量。
在经过对每一个层面进行测量后就能够得出不同层面之间的流量,将各个层面的流量进行相加后,就能得出最终的总流量。
但是生产开采实践中并不是所有的射孔层位都能够出现流量。
关于提高同位素测井资料解释精度的探讨【摘要】在油田开发的过程中,同位素注入剖面测井资料以了解不同时期的注水状况,为油田动态分析,注水调整提供了可靠的依据,但是在测井的过程中,资料的质量受多种因素的影响,这些因素都会对资料的解释精度造成影响。
本文通过理论分析与实际对比,确定了提高同位素解释精度的方法。
【关键词】生产测井注入剖面解释精度吸水剖面测井技术是油田开发中重要的动态监测手段之一,根据吸水剖面解释结果不仅可以确定水井的吸水情况,而且还可以为水井调剖及地层改造等提供依据。
地层由于长期的注水冲刷、压裂等措施等导致出现大孔道(高渗层);封隔器失效、窜槽、套损等情况出现越来越多,测井资料显示同位素曲线解释结果与流量解释结果差异较大,这些问题的出现使得资料解释更加复杂化。
因此,提高同位素测井资料的解释精度和解释准确性势在必行。
1 同位素曲线与流量曲线解释结果差异分析对于同位素注入剖面组合测井,其中流量曲线可以比较准确的划分出各个配注层段的吸水流量,但是无法确定层段内各个小层的吸水量,确定小层的吸水量只能依靠同位素吸水面积来实现。
理论上,在同一层段内,同位素曲线计算得出的相对吸水量与流量计算得出的值应该是一致的。
统计我大队2012年同位素测井资料,对464口同位素五参数测井资料共1729个解释层段进行统计,其中同位素解释结果与流量解释结果超过±20%的井占到了总数的29.27%。
通过对同位素与流量解释结果存在较大差异的井和层段进行原因分析,各种原因所占比例分别为:地层存在大孔道(高渗层)11.8%,井段内沾污严重44.9%,窜槽4.5%,封隔器漏失、挡球漏失2.6%,注水量大、替注时间把握不好25.4%,其他10.8%。
5个原因里,大孔道、窜槽、封隔器挡球漏失都属于井况原因,无法从测井施工、解释方法这两个角度校正,只有从沾污处理和确定合理替注时间这两个方面入手来提高提高同位素测井解释结果的准确性。
291当前,国内很多油田的测试公司利用同位素进行测井时,多采用注入剖面的五参数测井技术,也就是利用流量、伽马、磁定位、温度和压力参数,该方法可以占到生产测井总数的一半以上。
采用该技术进行测井作业,可以较为真实的体现出注水井每个小地层吸水的情况,可以对井下工具的配注状况进行深入的了解,从而检验各种注水措施产生的效果,为地质大队提供有效的数据支持。
测井质量情况直接决定着对注水井的调配的效果,为了保证测井资料更加详实可靠,应该结合测井曲线不同特点,进行系统全面的分析和解释,如实的反映出地层具备的吸水特性,对同位素产生的异常进行正确的识别。
所以,在采用注入剖面五参数进行测井时,工程技术人员必须要把每项参数对应的测井数据进行准确解释,使测井质量可以得到保证。
1 五参数测井仪器五参数测井仪器,也就是所谓的组合式超声流量计,可以广泛的应用于笼统的地层注入以及多级分层注入管柱技术,可以对清水和污水等状况下的吸水剖面进行测井。
超声流量计多用于对地层区段实现连续的注水流量测试,可以测试每天大于2立方米的地层段流量情况。
该仪器由释放器、井下扶正器、超声流量测量部分、上扶正器、自然伽马测量部位、井温和压力测量部位以遥传磁定装置构成。
2 五参数测井仪器现场应用相关问题分析2.1 投源点的确定方面测井仪器的投源点的优选,是困扰测井工程技术人员的难题,如果把投源点距离设置的离注水层段太远,极易使油管内壁受到沾污程度变大,当活化悬浮液流动到设定地层区段,放射源存在的剂量就会达不到要求,同位素曲线的幅度情况没有显著的变化,极易使工作人员作出错误的判断。
但是,投源点如果离地层区段太近,放射源物质就无法和注入的水分进行有效的融合,会引起放射源物质集中到地层某个区段,这样也会使工作人员产生错误的判断。
结合现场测井经验,应该采用超声流量计来对注水层段上部油管实际达到的流量进行测量,求出实际流量除以油管内部的横截面,从而得到获得注水的流动速度,通过试验的手段得到放射源物质和水分完全融合的时间,流动速度和时间的乘积就是距离注水层段上部的最优投源点。
影响注入剖面同位素示踪测井精确度的原因分析及改进办法在油田动态监测中,注入剖面同位素示踪法测井应用十分广泛,在连续测量及细分层方面有着举足轻重的地位。
由于该方法在测试过程中受到诸多因素的影响,导致了测井质量难以得到保证。
如何提高同位素测井精确度是亟待解决的问题。
本文主要对影响同位素示踪测井精确度的原因进行了分析,并提出了改进方法。
标签:注入剖面;同位素;测井;因素影响因素分析影响注入剖面同位素示踪测井精确度的因素错综复杂,其中包括示踪剂特性、井下状况、施工工艺、同位素污染、施工方式等诸多因素,下面总结了几方面常见的影响因素。
(1)沾污的影响沾污是示踪法普遍存在的问题,70%以上的井存在不同程度的污染,造成同位素曲线上产生一些与注水量无关的假异常,因此测井资料并不完全直接反映分层注水量。
从沾污形成的机理上划分,沾污可分为吸附沾污和沉淀沾污两大类型。
(2)施工方式同位素的释放深度同位素释放深度必须根据同位素的注水量的大小来进行。
当注水量不大的情况下,同位素释放的深度偏大,一定会在所需层位上方形成人为管柱沾污;假如释放同位素的深度过浅,同位素源就会沉积在井底,因为来不及均匀分布在注入水中。
(3)施工工艺在同位素吸水剖面测井过程中,传统的防喷密封装置由于顶端防喷盒密封性不够存在难以避免的井口溢流,而当注水井本身的注水量很低时,排除溢流量后实际注入量更小,严重影响测井结果的准确性。
(4)示踪剂特性的影响目前应用较为广泛的是同位素131Ba-GPT微球,该同位素微球比重在1.01~1.06g/mL之间,半衰期为11.7天。
应用现场实验,简单分析在固相载体强度相同的情况下,衰变期的长短及载体用量多少对测井结果的影响。
同位素衰变期过短,载体用量少。
朝90-28井,日注水30m3/d;测试压力8.9MPa;核素强度为3.7MBq;载体用量为8mL;有效厚度4.2m;替注量2m3;替注时间1.6h;测量井段70m。
试论如何提高吸水剖面测井的解释精度【摘要】由于测量井段长度,油套管腐蚀,化堵或油污造成管壁变脏吸附同位素,不吸水层、吐水层和吸水较少的射孔层沾污较多的同位素以及操作不当等因素影响了同位素吸水剖面的解释精度。
本文主要分析了如何提高吸水剖面测井解释精度的问题。
【关键词】吸水剖面;测井油田;开发资料1.吸水剖面测井的影响因素1.1放射性同位素污染关于同位素污染的具体原因,主要有以下几方面。
同位素的微球类型选择不当;管柱的腐蚀程度、清洁程度;地层污染的程度;同位素的用量是否过多。
在此之外,还有因固井质量引起的问题,如水泥环被破坏、地层出砂,地层屏蔽介质发生变化或者是酸化开裂,这些原因都能引起同位素污染。
如果是使用同位素出错而造成的污染,可以经过选择得到控制。
污染的类型可分为两种,吸附污染和沉淀污染。
吸附污染:吸附沾污分为配水器沾污、管壁沾污、接箍沾污、封隔器沾污四项,我们抽取近几来测试井进行统计,对沾污原因进行了分析:(1)清洗不彻底、进水少、注入水不太流动的井段管壁。
(2)地层压力高、吸水少的层,在关井测温度曲线期间,因层间压力差异大或者由于井口不密封等原因产生吐水,在射孔层的地方产生油污,吸附同位素。
(3)注入水质不洁净,管壁不光洁等,也会造成油管内壁、外壁和套管内壁污染,而油管和套管腐蚀后,表面有微空隙,也会吸附徽球载体,从而形成吸附沾污。
沉淀污染:这类污染主要是同位素颗粒密度与注入水不匹配,使同位素微球产生滑脱造成的。
1.2配水器工作状态注水井注入介质为含油污水,作业周期长,在油管内会存在很多杂质,在仪器上提或下放的过程中,扶正器会将油管内壁上的杂质挂落,造成配水器微堵或全堵,如果配水器微堵,在释放同位素后,同位素进人配水器时就有可能造成配水器全堵,使得测井结果就发生改变,那么保证配水器原始陪注工作状态就尤为重要。
1.3存在大孔道地层由于注水的长期冲刷和地层压力的下降,井壁周围的冲刷带变大,注水的同位素微球推向了地层深处,同位素幅度值很小或者超出了仪器的探测范围,使吸水层同位素异常幅度变低,甚至主吸水层没有异常幅度。
优化测井工艺提升监测资料解释实用性【摘要】“测之有用、用之有效”,滨南监测大队紧紧围绕地质需求和动态变化,狠抓资料的实用性和可用性,转变观念,勇于创新,深入开展监测工艺创新促效工作。
我们先后开展分层测压和干扰试井两项新工艺,纵向上研究层间矛盾,平面上研究层间的连通情况;加强流温流压资料的解释研究,在汽液界面、管网热损、隔热效果等三个方面有了新的认识,增强了资料的可用性;利用井下电视、磁定位等手段开展了射孔质量检查监督工作,收到了较好的效果;完善了流量找漏工艺,套管找漏成功率有了较大提高;引进陀螺测斜工艺,在为偏磨治理提供数据的同时,加强该工艺在地质方面的应用;加强四十臂、吸水剖面等常规工艺的效果跟踪,及时反馈解释应用信息,全面提高自身资料解释水平。
通过以上措施,有效地提高了动态监测资料的针对性、准确性和使用性,一次成功率、资料合格率和资料全准率均达到100%。
资料是产品,产品有市场才是监测发展的基础,提高资料的可用性是目前工作的中心。
【关键词】监测;干扰试井;资料解释;测井工艺1.开展干扰试井,正确认识层间连通性正确认识油层的连通性,是老油田注采工作的重要组成部分,也是地质研究人员迫切需要的资料。
今年,我们在滨682块首次开展了干扰试井,取得了较好的地质认识。
干扰试井目的是确定井间连通情况和求解井间地层特性,测试时一般以一口或多口井作为激动井,另一口或几口井作为观测井,改变激动井的工作制度,造成地层压力变化,称为干扰信号;在观测井中下入高精度的压力计,记录激动井改变工作制度所造成的干扰信号,观测井能否接收到“干扰信号”来判断观测井与激动井之间是否连通,分析“干扰信号”的特征来计算井间的地层特性。
2.开展分层测压工艺,纵向上细分压力系统滨南油田非均质性严重,各个层系的压力差异较大,层间矛盾突出。
目前起泵测压测取的油井静压是多个油层压力系统平衡后的综合压力,不能体现每个单层的实际压力。
为了能准确了解各层位之间的压力差异,今年年初我们提出了分层测压工艺。
浅谈我国测井解释技术中的问题及对策作者:郭锐来源:《中国化工贸易·中旬刊》2017年第11期摘要:测井解释技术主要用来勘探井下油气藏储量和分布情况,通过对地质、岩石结构和裂缝分布、油藏情况的信息参数等进行分析解释,为地下油气资源的勘探开发提供参考依据。
本文针对我国测井解释技术中存在的相关问题进行分析,提出了相应的解决方案和对策。
关键词:测井解释技术;存在问题;解决对策油气勘探的过程中,需要对井下的地质情况、油藏储量、油藏分布、压力等信息数据进行分析研究,才能为开发地下油气藏提供准确的参数信息和开发依据。
测井解释技术是发现油气藏资源并用于井下油气勘探开发的重要方法。
随着能源勘探开发难度的增加,各类复杂井况越来越多,给测井解释的过程带来巨大挑战,在评价复杂结构井况时难以准确的评价。
本文针对测井解释技术在应用过程中出现的问题进行分析,提出了相应的解决对策,使我国的测井解释技术能够更好的评价我国油气资源的特点。
1 我国测井解释技术在应用中存在的问题1.1 储层地质状况复杂,测井解释不准确我国低渗、低孔隙度、分布岩层复杂的油气藏较多,储层的组份变化比较大,而且分布的空间复杂,不均性强。
储层的类型多为砾岩、碳酸盐岩、火成岩等复杂岩性储层,这些特点给测井解释带来很大的困难,使测井解释的相关数据难以准确的解释出复杂地质背景。
测井解释技术需要结合理论模型来分析,复杂地质状况增加了相关数据采集的难度,数据的准确性降低就会影响测井解释技术的效果,应用采集的数据构建的模型误差也会增大,从而导致测井解释的结果不准确。
1.2 油水关系复杂,对储层信息识别度低我国油气藏分布特点是横向与纵向地层水变化范围比较大,油层中的地层水与水层中的矿化程度差异较大。
长期注采的油井油水关系变得更加复杂,难以利用测井解释技术来评价油气层的真实含水状态。
油水关系复杂的情况下,采用信息界面对储层进行识别的难度增大,测井识别的准确度受到影响,难以准确判断油井和储层的真实情况。
同位素吸水剖面测井资料质量影响因素分析于建玮测试技术服务分公司第十大队 166405摘要:同位素吸水剖面测井受到多方面因素的影响,同时影响测井资料的准确性。
该文中分析并找出各类影响因素,提出解决办法,为同位素吸水剖面测井提供更为准确的动态测井资料。
关键词:注水井 同位素污染 解释分析引言:朝阳沟油田属于低渗透油田,日注入量在30m 3/d 以下的井占多数。
目前在吸水剖面测井方面主要以同位素测井为主。
由于注入量偏低使同位素测井存在很大难度。
注水剖面测井受同位素粘污甚至测井装备漏洞和施工方式等多种因素的影响,直接导致同位素资料的精确度有所降低,而吸水剖面测井资料是搞清油田开发过程中分层动态的主要监测资料。
但在油田动态分析中, 不少同位素吸水剖面测井资料和动态不吻合。
因此,在进行同位素吸水剖面测井时必须排除干扰因素才能测取优质资料。
一、影响因素1、同位素沾污由于示踪剂表面活性欠佳,密度过大,以及注入水质不洁净,管壁不光洁等原因,会造成油管内壁、外壁和套管内壁污染,而油管和套管腐蚀后,表面有微孔隙,也会吸附微球载体,从而形成吸附玷污。
几乎所有吸水剖面资料在目的层以下或者井底部记录到的示踪剂显示说明普遍存在沉淀沾污,这是微球载体密度与注水密度不匹配引起的,而且当注入水流速过小时,沉淀沾污更为严重。
在资料解释中根据污染类型及水流方向,采用污染校正归位法将污染分配给各吸水层,以消除同位素污染所造成的吸水偏差,但是这样仍然存在解释偏差。
[1]图1 笼统井和分层井管柱结构2、施工设备同位素吸水剖面测井过程都是带压作业,因此测井过程中为防止泄压井喷,而采用顶端带有防喷盒的防喷管进行带压测井,但是由于顶端防喷盒密封性不够导致溢流量比较大,而注水井本身的注水量很低,排除溢流量后实际注入量更小,严重影响测井结果的准确性。
3、管柱结构注水井由于长期注水或施工作业,容易造成管柱腐蚀或管壁结垢,在测井过程中仪器受到机械碰撞,稳定性变差,造成曲线变形失真。
198放射性同位素测井工艺技术的实施,主要实现注水剖面测井的技术手段,通过同位素测井技术的应用,解决油田开发的实际问题。
在油田生产现场,应用各种测井技术措施,得到需要的测井数据资料,通过对资料的解释和分析,掌握油田生产的动态,为合理开发油气田奠定基础。
1 同位素测井工艺概述放射性同位素测井是应用同位素的半衰期,对井下储层的物性参数进行测井的技术措施。
用于研究井筒的地质剖面,用于测试井筒的具体情况,为合理开发油气田提供测井数据资料。
通过同位素的注入,提高井筒内的伽马射线的强度,通过获取射线的变化曲线,进行解释和分析,得到需要的数据信息资料,完成井筒测试的任务。
放射性同位素测井使用的同位素必须满足一定的技术要求,才能达到同位素测井的要求,得到放射性同位素测井的曲线,通过对曲线的分析和解释,更好地完成井筒测试的任务。
首先放射性同位素必须能够被探测到,而且增加伽马射线的强度,才能对井筒的生产状况进行对比,得到需要的数据资料。
其次,需要设计优化同位素,确定合理的半衰期,如果半衰期比较短,不利于同位素的储存和运输,如果半衰期太长,会导致同位素发生作用的时间过长,影响测井施工的周期,增加测井施工作业的成本。
最后要求同位素具有较强的吸附能力,要求同位素能够溶于油或者水,使其活化,达到测井技术的要求。
由于放射性同位素对人体有害,因此,在进行同位素测井施工过程中,避免人体直接接触放射性同位素,采取必要的保护措施,即完成测井施工任务,同时保护岗位员工的身心健康,使其达到安全环保的技术要求。
2 同位素测井工艺技术的应用放射性同位素测井的应用,能够检查窜槽的井段,为封堵管外的窜槽和漏失提供依据。
而且能够检查水泥的封堵情况,确定封堵的效果。
在低渗透的储层中,用放射性同位素测井的方式,检查压裂酸化施工的效果,可以将压裂液加入放射性同位素,在实施压裂的过程中,确定压裂的裂缝形态,测试压裂时前后的两条伽马曲线,通过对曲线的对比,确定压裂施工的效果。
关于提高同位素测井资料解释精度的探讨
【摘要】在油田开发的过程中,同位素注入剖面测井资料以了解不同时期的注水状况,为油田动态分析,注水调整提供了可靠的依据,但是在测井的过程中,资料的质量受多种因素的影响,这些因素都会对资料的解释精度造成影响。
本文通过理论分析与实际对比,确定了提高同位素解释精度的方法。
【关键词】生产测井注入剖面解释精度
吸水剖面测井技术是油田开发中重要的动态监测手段之一,根据吸水剖面解释结果不仅可以确定水井的吸水情况,而且还可以为水井调剖及地层改造等提供依据。
地层由于长期的注水冲刷、压裂等措施等导致出现大孔道(高渗层);封隔器失效、窜槽、套损等情况出现越来越多,测井资料显示同位素曲线解释结果与流量解释结果差异较大,这些问题的出现使得资料解释更加复杂化。
因此,提高同位素测井资料的解释精度和解释准确性势在必行。
1 同位素曲线与流量曲线解释结果差异分析
对于同位素注入剖面组合测井,其中流量曲线可以比较准确的划分出各个配注层段的吸水流量,但是无法确定层段内各个小层的吸
水量,确定小层的吸水量只能依靠同位素吸水面积来实现。
理论上,在同一层段内,同位素曲线计算得出的相对吸水量与流量计算得出的值应该是一致的。
统计我大队2012年同位素测井资料,对464
口同位素五参数测井资料共1729个解释层段进行统计,其中同位素解释结果与流量解释结果超过±20%的井占到了总数的29.27%。
通过对同位素与流量解释结果存在较大差异的井和层段进行原因
分析,各种原因所占比例分别为:地层存在大孔道(高渗层)11.8%,井段内沾污严重44.9%,窜槽4.5%,封隔器漏失、挡球漏失2.6%,注水量大、替注时间把握不好25.4%,其他10.8%。
5个原因里,大孔道、窜槽、封隔器挡球漏失都属于井况原因,无法从测井施工、解释方法这两个角度校正,只有从沾污处理和确定合理替注时间这两个方面入手来提高提高同位素测井解释结果的准确性。
2 采用不同时间同位素替注曲线综合解释
在实际资料解释的过程中,经常会出现这样的情况,对于相同替注时间,一口井在不同配注段的替注效果是不同的,注入水先流经的井段、地层条件好的井段同位素先分配好,等后续流井段也分配好之后,先分配好的井段同位素已经被水流冲刷掉,如果此时用最后一条曲线进行同位素面积叠合,得到的叠合面积一定是不符合井正常吸水情况的。
下面以葡85-62井为例分析说明:
葡85-62井2012年5月4日同位素测试,该井日注水量82m3/d,注水压力10mpa,在测井过程中,该井共跟踪了四次同位素曲线,分别为注源后25min,70min,90min,105min。
从测井原图看,替注90min时大部分层段同位素曲线分层明显,仅有第三配注段pi5层吸水和工具沾污分开不明显。
查看继续替注15min后的追踪曲线,pi5层吸水曲线已经分开清楚且有明显幅度,但是其上部层段同位素曲线幅度明显降低,出现归基线趋势。
统计两次解释结果进行对比,如表1所示。
从两次解释结果对比来看,随着替注时间的延长,偏iii层段流量与同位素解释结果差值减小,分层清楚了,但偏i段吸水层数减少了两个,同时吸水幅度也变小,所以此时得到的小层吸水情况是不准确的。
从该井测分层压力资料上看,偏iii注水段的压力较其他层段低了3mpa左右,同时该层段的流动系数为0.017μm.m/mpa.s,相比较也是偏低的。
也就说明该层段地层渗透性相对差,流体流动能力低,压力低,造成水注入困难。
这也就从根本上造成了在替注时一条同位素曲线不可能完全兼顾同时录取到各个层位最佳替注效果。
鉴于两次替注时都各有一部分曲线是可靠合理的,所以我们考虑利用解释软件的“曲线拼接”功能,将不同替注时间的同位素曲线可靠的部分拼接在一起。
再进行面积叠合解释。
得到解释图如图3所示:
图3?葡85-62拼接解释成果
从图中数据可以看出,采用了新的曲线拼接解释方法之后,同位素解释结果与流量解释结果相比,差值明显减小。
解释结果更加的符合了地层的真实吸水状况,在一定程度提高了同位素资料的解释准确合理性。
3 结论及建议
(1)通过分析,我们找到了造成同位素、流量解释结果差异大的影响因素;
(2)应用多条同位素曲线综合分析、再进行面积叠合的方法能够克服在同位素测试过程中一条曲线不能上下兼顾的缺点,也有效的提高了同位素资料的解释准确度。