p管制图（不良率管制图）理论计算不良率管制图之统计理论基础为二项分配，假设制程处于稳定状态，制程中不符合规格的机率为必而且连续生产之各单位是独立的，因此每一生产的单位可以看成是白努利随机变量，其参数为p。
假如随机抽取n个样本，D是样本中之不合格品数，则D属于二项分配，其参数为n及p亦即P{D=x}=x=0, 1, 2, …, n随机变量D的平均数与变异数分别为np及np(1-p)。
样本不良率之定义为：样本中不合格品数目D与样本大小n之比值随机变数的分配从二项分配得知，因此的平均数与变异数分别是μ﹦p假设y为量测品质特性之样本统计量，y之平均数为μy，标准差为δy，则苏华特管制图的一般型式为：UCL＝μy＋kδy中心线＝μyLCL=μy－kδy使用条件由于不良率管制图主要管制制程不合格率必所以也称为p管制图，此管制图虽然是用来管制产品之不合格率，但并非适用于所有之不合格率数据。
在使用不良率管制图时，要满足下列条件a.发生一件不合格品之机率为固定。
b.前、后产品为独立。
如果一件产品为不合格品之机率，是根据前面产品是否为不合格品来决定，则不适合使用p管制图。
c.如果不合格品有群聚现象时，也不适用p管制图。
此问题通常是发生在产品是以组或群之方式制造。
例如在制造橡胶产品之化学制程中，如果烤箱之温度设定不正确，则当时所生产之整批产品将具有相当高之不合格率。
如果一产品被发现为不合格，则同批之其它产品也将为不合格。
实际使用可能之情形a.不良率p已知假设不良率p已知，或p值由管理人员决定，则不良率管制图的参数计算如下：UCL＝p＋中心线＝pLCL＝p－p管制图之实施步骤包括抽取n个样本，计算样本不良率，并将点在图上，只要在管制界限内，且不存在系统性、非随机性的变化，则可认为在水准p下，制程处于管制内(in control)。
假设有任一点超出管制界限，或者存在非随机性变化的情形，则表示制程的不良率已改变且制程不在管制内(out of control)。
