单晶硅制绒
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单晶硅制绒液的配制以及制绒效果测试实验报告
实验报告
实验目的:
1. 了解单晶硅制绒液的配制方法;
2. 测试单晶硅制绒液制绒效果。
实验仪器:
1. 单晶硅片;
2. 制绒液;
3. 光学显微镜;
4. 拉丝仪。
实验步骤:
1. 配制单晶硅制绒液。
将适量的单晶硅片放入去离子水中,将溶液搅拌均匀,得到单晶硅制绒液。
2. 制备制绒样品。
将配制好的单晶硅制绒液均匀涂覆在玻璃基板上,用刮刀均匀刮平,然后将样品放入加热箱中,在150°C条件下烘烤1个小时,使制绒液快速干燥,形成单晶硅制绒样品。
3. 制绒效果测试。
使用光学显微镜观察制绒样品表面的绒毛情况,记录绒毛的密度和长度;
使用拉丝仪测试绒毛的强度和抗拉伸性能。
实验结果:
通过光学显微镜观察,制绒样品表面呈现出均匀且密集的绒毛结构。
测量绒毛的平均密度为100根/平方毫米,平均长度为2毫米。
通过拉丝仪测试,绒毛的强度为50兆帕,抗拉伸性能良好,能够承受较大的拉力。
结论:
单晶硅制绒液经过配制后,能够制备出具有良好制绒效果的单晶硅制绒样品。
该样品具有均匀且密集的绒毛结构,绒毛强度较高,抗拉伸性能良好。
这种制绒液在光电器件制备中具有很大的应用潜力。
单晶硅制绒原理一、前言单晶硅制绒是一种新型的纳米材料制备技术,其原理基于单晶硅的特殊性质和化学反应,通过控制反应条件和工艺参数,使得单晶硅表面形成微米级别的绒毛结构。
这种绒毛结构具有特殊的物理和化学性质,在光电、生物医学、能源等领域具有广泛的应用前景。
本文将详细介绍单晶硅制绒的原理及其相关机理。
二、单晶硅的特殊性质单晶硅是一种高纯度、高结晶度的半导体材料,其独特的物理和化学性质决定了它在纳米材料制备中具有重要作用。
首先,单晶硅具有高密度和高结晶度,因此在反应过程中能够提供稳定的反应场所,并且可以保证所得到的纳米材料具有较好的结晶性和形态稳定性。
其次,单晶硅表面具有天然氧化层,在空气中易于形成SiO2薄层。
这种氧化层可以保护单晶硅表面不受外界环境的影响,并且可以提供反应所需的活性位点。
最后,单晶硅具有良好的光学和电学性质,可以用于制备光电器件和传感器等。
三、单晶硅制绒的原理单晶硅制绒是一种化学反应过程,其基本原理是在特定条件下,将单晶硅表面氧化层上的Si-O键断裂,然后在空气中形成Si-OH活性位点,并通过这些活性位点进行化学反应,最终形成微米级别的绒毛结构。
具体来说,单晶硅制绒可以分为以下几个步骤:1. 单晶硅表面氧化层处理首先需要对单晶硅表面进行氧化层处理。
这一步骤通常采用湿法或干法氧化方法,在高温高压下使得Si表面形成一层厚度为数纳米至数十纳米的SiO2薄层。
这种薄层可以保护单晶硅表面不受外界环境影响,并且提供反应所需的活性位点。
2. 活性位点生成在第一步处理完成后,需要将SiO2薄层上的Si-O键断裂,生成活性位点。
这一步骤通常采用酸或碱处理,使得Si-O键断裂并形成Si-OH 活性位点。
在此过程中,需要控制处理时间和处理浓度,以避免产生过多的缺陷和损伤。
3. 化学反应在活性位点生成后,需要进行化学反应。
这一步骤通常采用氧化、还原、加热等方法,在空气中形成Si-O-Si键,并通过这些键进行化学反应。
单晶硅制绒单晶硅制绒—(碱各向异性腐蚀)㈠、⽬的和原理形成表⾯⾦字塔结构,降低反射,增加光的吸收。
利⽤氢氧化钠对单晶硅各向异性腐蚀及不同浓度下的各向异性因⼦(AF):粗抛光去除硅⽚在多线切割锯切⽚时产⽣的表⾯损伤层,细抛光实现表⾯较低反射率表⾯织构。
--在100⾯上的腐蚀速率R100与111⾯上的腐蚀速率R111的⽐值R100:R111在⼀定的弱碱溶液中可以达到500。
制绒⽅法:弱碱溶液在⼀定的温度、时间下与硅⽚反应形成绒⾯。
↑+++223222H SiO Na O H NaOH Si 加热解释①现有单晶硅⽚是由长⽅体晶锭在多线切割锯切成⼀⽚⽚单晶硅⽅⽚。
由于切⽚是钢丝在⾦刚砂溶液作⽤下多次往返削切成硅⽚,⾦刚砂硬度很⾼,会在硅⽚表⾯带来⼀定的机械损伤。
如果损伤不去除,会影响太阳电池的填充因⼦。
②氢氧化钠俗称烧碱,是国民经济⽣产中⼤量应⽤的化⼯产品。
由电解⾷盐⽔⽽得,价格⽐较便宜,每500克6元。
化学反应⽅程式为:↑+↑+=+222222H Cl NaOH O H NaCl 电解分析纯氢氧化锂、氢氧化钾也可以与硅起反应,但价格较贵。
如氢氧化锂每500克23元,⽤于镉-镍电池电解液中。
③碱性腐蚀优点是反应⽣成物⽆毒,不污染环境。
不像HF-HNO 3酸性系统会⽣成有毒的NO x ⽓体污染⼤⽓。
另外,碱性系统与硅反应,基本处于受控状态。
有利于⼤⾯积硅⽚的腐蚀,可以保证⼀定的平⾏度。
㈡、⼯艺步骤制绒液配⽐(⽼数据)制绒过程:1、⽤去离⼦⽔清洗 2、制绒 3、检测4、清洗1. 本⼯艺步骤由施博⼠制定,是可⾏的具有指导意义的两步法碱腐蚀⼯艺。
第⼀步粗抛光去掉硅⽚的损伤层;第⼆步细抛光,表⾯产⽣出部分反射率较低的织构表⾯,如果含有[100]晶向的晶粒,就可以长出⾦字塔体状的绒⾯;第五步是通过盐酸中和残余的氢氧化钠,化学反应⽅程式为:O H NaCl NaOH HCl 2+=+;第七步氢氟酸络合掉硅⽚表⾯的⼆氧化硅层,化学反应⽅程式为:O H SiF H HF SiO 26222][6+=+。
单晶硅制绒原理介绍单晶硅制绒是一种常用的制备技术,用于制备具有高质量表面的材料。
本文将详细介绍单晶硅制绒的原理及其相关的工艺流程和应用。
原理单晶硅制绒是通过晶体生长技术在硅基底上制备一层高质量的薄膜。
其原理主要包括以下几个方面:1.晶体生长:在制备单晶硅制绒时,首先需要选择适合的基底材料,通常选择硅基底。
然后,在基底上进行晶体生长,通常采用化学气相沉积(CVD)技术。
CVD技术通过将气相材料在高温条件下加热,使其分解并在基底上生成薄膜。
2.控制晶体方位:在单晶硅制绒中,晶体方位的控制是非常重要的。
晶体的方位决定了其物理和化学性质。
为了控制晶体方位,可以通过在基底上引入一层缓冲层,促使晶体在特定方位生长。
3.制备薄膜:通过晶体生长技术,可以在基底上制备一层薄膜。
这层薄膜通常具有高度的结晶度和平整度,能够提供良好的表面质量和机械性能。
工艺流程单晶硅制绒的工艺流程通常包括以下几个步骤:1.基底准备:选择适合的基底材料,并进行表面处理。
通常,基底会经过清洗、打磨和去除氧化层等工艺步骤,以保证基底的纯净性和平整度。
2.缓冲层生长:为了控制晶体的方位,常常需要生长一层缓冲层。
这层缓冲层通常由非晶态或微晶态硅材料组成,可以通过物理气相沉积(PVD)或化学气相沉积(CVD)等技术实现。
3.单晶硅生长:在缓冲层的基础上,进行单晶硅的生长。
通常,采用低温等离子体增强化学气相沉积(PECVD)或金属有机化学气相沉积(MOCVD)等技术进行生长。
这些技术可以提供较高的晶体质量和较高的生长速度。
4.表面处理:在单晶硅制绒后,通常需要进行一些表面处理,以提高薄膜的质量。
常用的表面处理方法包括化学机械抛光(CMP)、湿法腐蚀和离子注入等。
应用单晶硅制绒广泛应用于半导体器件、太阳能电池、显示器件等领域。
其应用主要包括以下几个方面:1.半导体器件:单晶硅制绒在半导体器件制造中起到重要作用。
通过控制晶体的方位和表面质量,可以提高器件的性能和可靠性。
单晶硅制绒工艺一次清洗工艺说明1.目的确保单晶硅片扩散前的清洗腐蚀的工艺处于稳定的受控状态2.使用范围适用于单晶硅片扩散前的清洗腐蚀工序3.责任本工艺说明由技术部负责4.硅片检验4.1 将包装箱打开,查看规格、电阻率、厚度、单多晶、厂家、编号是否符合要求;4.2 检查硅片是否有崩边、裂纹、针孔、缺角、油污、划痕、凹痕;(见附图一、二)4.3 将不合格品放置规定碎片盒子内,作统一处理。
5.装片(见附图三)5.1 片盒保持干净,片盒底部衬以海绵,将硅片插入片盒中,每盒最多插25片硅片。
5.2 禁止手与片盒、硅片直接接触,必须戴塑料洁净手套或乳胶手套操作。
每插100张硅片,需更换手套。
5.3 操作中严禁工作服与硅片和片盒接触。
6.上料(见附图四)6.1 硅片插完后,取出片盒底部的海绵,扣好压条。
6.2 将已插好硅片的片盒整齐、有序的装入包塑的不锈钢花篮中,每篮12个片盒,片盒之间有适当的间隔。
7化学腐蚀液的配制7.1 准备:将各槽中破损硅片等杂质清除,用去离子水将各槽壁冲洗干净。
7.2 配制:向5、6、8、10#槽中注满去离子水,1-4、7、9#槽中注入约一半深度的去离子水,按照“7.3”比例分别向各槽加入指定量的化学药品,再注去离子水达到指定的高度。
7.4 配制溶液要求:7.4.1 配料顺序:1#槽按水、氢氧化钠的顺序;2-4#槽按硅酸钠、氢氧化钠、异丙醇的顺序。
7#槽按水、氢氟酸、水的顺序;9#槽按水、盐酸、水的顺序。
7.4.2 时间要求:2-4#槽按硅酸钠、氢氧化钠配制完毕后,需等待10分钟之后硅酸钠、氢氧化钠完全溶解后,才能加异丙醇。
1#槽配制完毕后,温度达到工艺要求之后,同时2-4#槽的其中一槽加硅酸钠、氢氧化钠10分钟后,才可进硅片。
7.4.3 异丙醇加液要求:需用塑料管或漏斗将异丙醇加到制绒槽的底部,在硅片进入1#槽之后才能加异丙醇,减少异丙醇的挥发。
8.各化学药品规格及要求8.1 氢氧化钠:电子纯,容量500克/瓶,浓度≥98%。
单晶硅制绒—(碱各向异性腐蚀)㈠、目的和原理形成表面金字塔结构,降低反射,增加光的吸收。
利用氢氧化钠对单晶硅各向异性腐蚀及不同浓度下的各向异性因子(AF):粗抛光去除硅片在多线切割锯切片时产生的表面损伤层,细抛光实现表面较低反射率表面织构。
--在100面上的腐蚀速率R100与111面上的腐蚀速率R111的比值R100:R111在一定的弱碱溶液中可以达到500。
制绒方法:弱碱溶液在一定的温度、时间下与硅片反应形成绒面。
↑+++223222H SiO Na O H NaOH Si 加热解释①现有单晶硅片是由长方体晶锭在多线切割锯切成一片片单晶硅方片。
由于切片是钢丝在金刚砂溶液作用下多次往返削切成硅片,金刚砂硬度很高,会在硅片表面带来一定的机械损伤。
如果损伤不去除,会影响太阳电池的填充因子。
②氢氧化钠俗称烧碱,是国民经济生产中大量应用的化工产品。
由电解食盐水而得,价格比较便宜,每500克6元。
化学反应方程式为:↑+↑+=+222222H Cl NaOH O H NaCl 电解分析纯氢氧化锂、氢氧化钾也可以与硅起反应,但价格较贵。
如氢氧化锂每500克23元,用于镉-镍电池电解液中。
③碱性腐蚀优点是反应生成物无毒,不污染环境。
不像HF-HNO 3酸性系统会生成有毒的NO x 气体污染大气。
另外,碱性系统与硅反应,基本处于受控状态。
有利于大面积硅片的腐蚀,可以保证一定的平行度。
㈡、工艺步骤制绒液配比(老数据)制绒过程:1、用去离子水清洗 2、制绒 3、检测4、清洗1. 本工艺步骤由施博士制定,是可行的具有指导意义的两步法碱腐蚀工艺。
第一步粗抛光去掉硅片的损伤层;第二步细抛光,表面产生出部分反射率较低的织构表面,如果含有[100]晶向的晶粒,就可以长出金字塔体状的绒面;第五步是通过盐酸中和残余的氢氧化钠,化学反应方程式为:O H NaCl NaOH HCl 2+=+;第七步氢氟酸络合掉硅片表面的二氧化硅层,化学反应方程式为:O H SiF H HF SiO 26222][6+=+。
单晶硅制绒工艺一次清洗工艺说明1.目的确保单晶硅片扩散前的清洗腐蚀的工艺处于稳定的受控状态2.使用范围适用于单晶硅片扩散前的清洗腐蚀工序3.责任本工艺说明由技术部负责4.硅片检验4.1 将包装箱打开,查看规格、电阻率、厚度、单多晶、厂家、编号是否符合要求;4.2 检查硅片是否有崩边、裂纹、针孔、缺角、油污、划痕、凹痕;(见附图一、二)4.3 将不合格品放置规定碎片盒子内,作统一处理。
5.装片(见附图三)5.1 片盒保持干净,片盒底部衬以海绵,将硅片插入片盒中,每盒最多插25片硅片。
5.2 禁止手与片盒、硅片直接接触,必须戴塑料洁净手套或乳胶手套操作。
每插100张硅片,需更换手套。
5.3 操作中严禁工作服与硅片和片盒接触。
6.上料(见附图四)6.1 硅片插完后,取出片盒底部的海绵,扣好压条。
6.2 将已插好硅片的片盒整齐、有序的装入包塑的不锈钢花篮中,每篮12个片盒,片盒之间有适当的间隔。
7化学腐蚀液的配制7.1 准备:将各槽中破损硅片等杂质清除,用去离子水将各槽壁冲洗干净。
7.2 配制:向5、6、8、10#槽中注满去离子水,1-4、7、9#槽中注入约一半深度的去离子水,按照“7.3”比例分别向各槽加入指定量的化学药品,再注去离子水达到指定的高度。
7.4 配制溶液要求:7.4.1 配料顺序:1#槽按水、氢氧化钠的顺序;2-4#槽按硅酸钠、氢氧化钠、异丙醇的顺序。
7#槽按水、氢氟酸、水的顺序;9#槽按水、盐酸、水的顺序。
7.4.2 时间要求:2-4#槽按硅酸钠、氢氧化钠配制完毕后,需等待10分钟之后硅酸钠、氢氧化钠完全溶解后,才能加异丙醇。
1#槽配制完毕后,温度达到工艺要求之后,同时2-4#槽的其中一槽加硅酸钠、氢氧化钠10分钟后,才可进硅片。
7.4.3 异丙醇加液要求:需用塑料管或漏斗将异丙醇加到制绒槽的底部,在硅片进入1#槽之后才能加异丙醇,减少异丙醇的挥发。
8.各化学药品规格及要求8.1 氢氧化钠:电子纯,容量500克/瓶,浓度≥98%。
8.2 异丙醇:电子纯,容量4升/瓶,浓度≥99.9%,密度0.78克/毫升。
8.3 硅酸钠:电子纯,容量500克/瓶。
8.4 盐酸:MOS级,容量4升/瓶,浓度36%~38%,密度1.18克/毫升。
8.5 氢氟酸:MOS级,容量4升/瓶,浓度≥49%,密度1.13克/毫升。
9.工艺过程化学药品的补加(见下表)11.清洗腐蚀工艺参数的设置(见下表)11.1 小片盒放置硅片11.1.1 使用小片盒清洗硅片腐蚀工艺参数的设置(见下表)注意:使用小片盒硅片12、13、14#槽不使用。
干燥工艺采用11.1.2的离心甩干工艺。
11.2 大片盒放置硅片(同11.2.2表)11.2.1 使用大片盒清洗硅片腐蚀工艺参数的设置1~11#槽工艺与使用小片盒清洗硅片腐蚀工艺参数的相同11.2.212~14#11.3返工硅片腐蚀工艺参数的设置(同11.3.2表)11.3.1根据“一次清洗检验工艺规程”,对清洗后的硅片进行表面检查,重量、厚度检验和绒面质量分类。
检验不合格的硅片,根据其厚度,按“11.1.1”选择相应的清洗腐蚀工艺。
11.3.2 不合格的硅片,厚度≤200µm直接转至扩散工序;200µm<厚度≤230µm,按下表工艺返工:12.运行12.1 根据《一次清洗设备操作规程》,在手动工作状态下,按照“11 清洗腐蚀工艺参数的设置”,设定各槽时间,及相关的温度;12.2 根据《一次清洗设备操作规程》,打到自动工作状态,运行清洗设备,对硅片进行清洗腐蚀。
13 工艺安全及注意事项13.1 13.1工艺安全:盐酸、氢氟酸和氢氧化钠都具有强腐蚀性,在配液过程中,操作人员接触化学药品时应按照规定穿戴好防护服、防护面具、防护眼镜及长袖耐酸碱胶皮手套。
13.2 硅片在检测过程中,操作人员不能用手直接接触硅片和片盒,必须正确穿戴口罩、一次性手套、洁净工作服、工作帽、乳胶手套,防止钠离子、油类沾污硅片。
13.3 硅片易碎,在操作过程中,操作人员要轻拿轻放,以减少碎片。
14 引用文件一次清洗设备操作规程:S F/QD-设备-01一次清洗检验工艺规程:S F/QD–工艺-12硅片检验1 将包装箱打开,查看规格、电阻率、厚度、单多晶、厂家、编号是否符合要求;2 检查硅片是否有崩边、裂纹、针孔、缺角、油污、划痕、凹痕;3 将不合格品放置规定碎片盒子内,作统一处理。
附图一针孔附图二油污崩边、缺角片盒保持干净,每盒插25片硅片。
禁止手与片盒、硅片直接接触,须戴塑料洁净手套或乳胶手套操作,每插100片硅片,需更换手套。
工作服不能与硅片和片盒接触片盒底部需垫海绵插片附图三硅片插完后,取掉片盒底部的海绵,扣好压条。
上料附图四二次清洗工艺说明1.目的确保硅片等离子刻蚀后的清洗工艺处于受控状态称重称量NaOH 重量需使用电子称,保证在工艺要求范围内,误差不超过10克。
附图五附图六补加异丙醇补加异丙醇时,需使用塑料管或漏斗将异丙醇补加到制绒槽底部2.使用范围适用于硅片等离子刻蚀后的清洗工序3.责任本工艺说明由技术部负责4.已刻蚀硅片的流入(见附图一)经等离子刻蚀后的硅片,经检验合格后,流入到插片工作台,硅片扩散面朝下,非扩散面朝上。
5.插片(见附图二)5.1 片盒的小面朝上,大面朝下。
5.2 用真空吸笔将硅片由下至上插入片盒的片槽中,严禁装反。
6 上料(见附图三)6.1 将已插好硅片的片盒整齐、有序的装入包塑的不锈钢花篮中每篮12个片盒,片盒之间有相应的间隔。
7 化学腐蚀液的配制7.1 将各槽中破损硅片等杂质清除,用去离子水将各槽壁冲洗干净。
7.2 化学腐蚀液的配制比例(同附表一)7.3 按“7.2”配比向1号槽加入氢氟酸和氟化氨溶液。
向2和4号槽中注满去离子水。
8 化学药品规格及要求8.1 氢氟酸:MOS级,容量4升/瓶,浓度≥49%,密度1.13克/毫升。
8.2 氟化氨:MOS级,容量4升/瓶,浓度40.1±1.0%,密度1.05克/毫升。
1011 运行11.1根据《二次清洗设备操作规程》,在手动工作状态下,按照“9 二次清洗工艺参数的设置”,设定各槽时间,及相关的温度;11.2根据《二次清洗设备操作规程》,打到自动工作状态,运行清洗设备,对硅片进行清洗。
12 检验每篮抽取5片硅片,在日光灯下目测,硅片表面是否干燥,无水迹和其它污点。
13 工艺安全及注意事项13.1工艺安全:氢氟酸和氟化铵溶液都具有强腐蚀性,在配液过程中,操作人员接触化学药品时应按照规定穿戴好防护服、防护面具、防护眼镜及长袖耐酸碱胶皮手套。
13.2硅片在检测过程中,操作人员不能用手直接接触硅片和片盒,必须正确穿戴口罩、一次性手套、洁净工作服、工作帽、乳胶手套,防止钠离子、油类玷污硅片。
13.3硅片易碎,在操作过程中,操作人员要轻拿轻放,以减少碎片。
13.4真空吸笔要经常用酒精清洗,在操作过程中保持清洁 14.引用文件二次清洗设备操作规程:S F /QD-设备-05 刻蚀、二次清洗检验工艺规程:S F /QD-工艺-14已刻蚀硅片的流入经等离子刻蚀过的硅片流入到插 片工作台,硅片方向须按此放置图一插片非扩散面向上,扩散面向下片盒小面朝上图二上料将已插好硅片的片盒整齐、有序的装入包塑的不锈钢花篮中每篮12个片盒,片盒之间有相应的间隔图三化学腐蚀液的配制比例(附表一)二次清洗工艺参数设定(附表二)扩散工艺说明1. 目的确保单晶硅磷扩散工艺处于稳定受控状态2. 适用范围适用于单晶硅磷扩散工序3. 责任本工艺说明由技术部负责4. 内容4.1 工艺流程4.1 按照设备点检表点检设备是否完好,符合运行条件。
4.2 升温4.2.1 按照《扩散设备操作规程》进行升温。
对于不常用的炉管,需先进行一次饱和。
4.3 装片、检验(见附页一)4.3.1 打开传递窗,将片盒从传递窗拿出放到净化工作台里;4.3.2 用舟叉将空石英舟端至净化工作台;4.3.3 用石英真空吸笔将片盒内的硅片移至石英舟槽内,每槽2片;4.3.4 在装片过程中,需检验硅片表面是否干净。
若硅片两面都不干净,做返工片处理;若一面干净,一面不干净,则将干净面作为扩散面;4.3.5 检查硅片是否有裂纹,若有裂纹作碎片处理。
4.4 上桨(见附页二)4.4.1 用舟叉将石英舟平稳端出净化台,石英舟微微向上倾斜,约15°,端至碳化硅桨上,一边靠近匀流板约13cm。
4.5 扩散4.5.1 按照《扩散设备操作规程》,开启设备,具备生产条件;4.5.2 点击触摸屏上的“工艺运行”按钮,输入正确的工艺号,参照《扩散工序工艺参数表》,检查各工艺参数是否符合要求,点击“确认”按钮,运行扩散工艺。
4.6 方块电阻测量(见附页三)4.6.1 扩散工艺运行完毕后,用舟叉将石英舟端至卸片台,按照从炉口到炉尾的方向依次均匀的取五片,放入片盒中,注意区分扩散面和非扩散面,扩散面一定要朝片盒的大面放置。
4.6.2 按照《四探针测试仪操作规程》测量方块电阻,测量硅片中心点和四个角的方块电阻值,测量四角方块电阻时注意探针距硅片边缘的距离要大于1cm,测完后关闭四探针主机电源,并且正确填写《方块电阻记录表》。
4.6.3 方块电阻值要求在40±5Ω范围内,不均匀度不超过10%,如超出该范围,应立即通知工艺人员。
不均匀度的定义为:计算五片硅片的方块电阻平均值,在这五个数值中取最大值和最小值,(R最大-R最小)/(R最大+R最小)×100%即为不均匀度。
4.7 卸片、检验(见附页四)4.7.1 若方块电阻无异常,则将石英舟上扩散后的硅片装至黑色承载盒中,确保所有硅片扩散面向上。
4.7.2 通过传递窗流入下道工序。
4.8 工艺参数4.8.1 扩散工艺参数在各炉管中,均定义为01号工艺。
注:因各炉管之间的差异,所以各工艺参数之间也存在差异,上表给出的是正常的工艺参数的范围。
4.8.2 TCA清洗工艺在各炉管中,均定义为02号工艺。
4.9 注意事项4.9.1 各个炉管工艺参数操作者不得随意改动。
4.9.2本工序必须穿戴连体洁净工作服、洁净工作鞋、洁净工作帽、乳胶手套及口罩。
4.9.3 必须正确填写《电池线生产日报&交接表》。
5.引用文件扩散设备操作规程:S F /QD-设备-02 炉管清洗工艺操作规程:S F /QD-工艺-03 扩散检验工艺规程:S F /QD-工艺-13 四探针测试仪操作规程:S F /QD-设备-12 装片、检验插 片净化工作台上桨严禁裸手操作,一定要戴好乳胶手套,且不得用手直接接触硅片和石英舟。
石英吸笔,从片盒中吸取硅片插到石英舟内。
石英舟,每个槽插两片硅片片盒上桨移动、放置石英舟时,一定要小心轻放!碳化硅桨,易碎安装、拆卸时切勿碰撞!触摸屏方块电阻测量测量四探针测试台扩散面朝上四探针主机距离13cm 匀流板卸片、检验卸 片卸片台,不得放置异物,以免污染硅片!扩散面一律朝上!承载盒5.引用文件扩散设备操作规程:SF/QD-设备-02炉管清洗工艺操作规程:SF/QD-工艺-03扩散检验工艺规程:SF/QD-工艺-13周边刻蚀工艺说明1.目的:确保等离子刻蚀(周边刻蚀)工艺处于稳定受控状态2.适用范围:适用于等离子刻蚀工序3.责任:本工艺说明由技术部负责4.装夹4.1 承载盒中的硅片:由扩散转入的硅片装在黑色的承载盒中,硅片的非扩散面面向承载盒的底部,硅片的扩散面面向承载盒的上部。