红外成像系统性能参数测试系统讲诉
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红外热成像测试方法(实用版3篇)篇1 目录1.红外热成像测试方法的背景与现状2.红外热成像测试方法的原理与应用3.红外热成像测试方法在继电器触点性能测试中的应用4.红外热成像测试方法的优势与不足5.未来发展趋势与展望篇1正文红外热成像测试方法是一种基于红外热成像技术的测试方法,它能够通过检测物体表面的热辐射,将物体表面的温度分布状况转换成可视化的图像。
这种方法在许多领域都有广泛的应用,比如在国防和安全领域,可以用于探测、分类和追踪隐藏在个人身上、包裹中、车辆上或船运集装箱中的武器、人员、车辆、物品和材料。
红外热成像测试方法的原理是通过光电技术检测物体表面的热幅射的红外线特定波段信号,将该信号转换成可供人类视觉分辨的图像和图形,并可以进一步计算出温度值。
当物体表面的温度超过绝对零度时,即会辐射出电磁波,随着温度变化,电磁波的辐射强度与波长分布特性也随之改变,波长介于 0.75 微米到 1000 微米间的电磁波称为红外线,而人类视觉可见的可见光波长介于 0.4 微米到 0.75 微米。
红外热成像测试方法在继电器触点性能测试中也有着重要的应用。
传统的继电器触点性能测试方法包括电阻测量以及电压和电流测量,但这些方法都无法全面地评估触点的性能。
而红外热成像测试方法可以通过检测触点表面的温度分布,来评估触点的性能,从而有效地避免了触点故障的发生。
尽管红外热成像测试方法具有许多优势,但是它也存在一些不足。
比如在环境温度变化较大时,红外热成像测试方法的精度可能会受到影响。
此外,红外热成像测试方法还需要较高的设备成本和专业操作技能,这也限制了它在一些领域的应用。
总的来说,红外热成像测试方法是一种非常有前景的测试方法,随着科技的发展和成本的降低,它有望在更多的领域得到应用。
篇2 目录1.红外热成像测试方法的背景和现状2.红外热成像测试方法的原理和应用3.红外热成像测试方法的优势和局限性4.基于红外热成像的继电器触点性能测试系统及方法5.未来发展趋势和展望篇2正文红外热成像测试方法是一种基于红外热成像技术的测试方法,可以用于检测物体表面的温度分布状况。
第37卷,增刊红外与激光工程2008年6月V ol.37SupplementInfrared and Laser EngineeringJun.2008收稿日期:2008-06-03作者简介:宦克为(),男,吉林长春人,硕士,助教,主要从事红外技术及其应用研究。
:@6红外成像系统的性能测试及评价方法研究宦克为,庞博,石晓光,赵青义,石宁宁(长春理工大学理学院,吉林长春130022)摘要:可全天候工作是红外光电系统与生俱来的优势,性能模型是热成像技术的重要环节,它可为系统设计、分析、论证提供理论依据和分析工具。
以一个实际红外光学系统为例,给出了测试SiTF ,NETD ,MTF ,MRTD 的原理和测试设备,并将理论值和测量结果进行比较,得到较好的一致性。
关键词:红外成像系统;性能模型;SiTF ;NETD ;MTF ;MRTD中图分类号:TN216文献标识码:A文章编号:1007-2276(2008)增(红外)-0482-05Research on per formance testing and evaluation of infraredimaging systemHUAN Ke-wei,PANG Bo,SHI Xiao-guang,ZHAO Qing-yi,SHI Ning-ning(Coll ege of Science ,Changchun University of Science and Technology ,Changchun 130022,Chi na)Abstr act:Infrared Optical-Electric Im aging System (IREOIS )have an inherent advantage that it can work both day and night.Perform ance model is important to infrared im a ging system.It can provide theoretical basis and analytical tools for system design,analysis and verification.T ake a thermal im aging system for example,the m ethods and equipment of testing SiTF,NETD,MTF and MRTD have been given,and the experimental results and theoretical values have been compared,the consistency is well.Key wor ds:Infrared imaging system ;Performance model;SiTF;NETD;MTF;MRTD0引言近年来,随着各种新型的红外成像系统在军事和民用领域的广泛应用,出现了多种红外成像系统性能预测模型。
红外成像系统性能评估方法研究红外成像系统性能评估方法研究摘要:红外成像系统在军事、航空航天、热工学、医学等领域具有广泛的应用。
为了正确评估红外成像系统的性能,本文提出了一种综合的评估方法。
该方法通过对红外成像系统的分辨率、灵敏度、动态范围、线性度等关键性能指标进行评估,为红外成像系统性能的可靠评估提供了参考。
关键词:红外成像系统;性能评估;分辨率;灵敏度;动态范围;线性度一、引言红外成像技术是指利用红外辐射对目标进行成像和检测的技术。
随着红外材料、红外探测器和图像处理算法的不断发展,红外成像系统在军事、航空航天、热工学、医学等领域得到了广泛的应用。
为了充分发挥红外成像系统的性能,正确评估其性能是必不可少的。
二、红外成像系统性能评估指标1. 分辨率红外成像系统的分辨率是指系统能够识别和显示出两个相距较近目标的能力。
分辨率主要由系统的光学分辨率和探测器的像元尺寸确定。
光学分辨率是指红外成像系统光学部件的分辨能力,通常用模点传输函数(MTF)来表示。
MTF是描述成像系统对频域信息的携带能力,能够反映系统光学部件的成像质量。
像元尺寸是指探测器上每个像元的尺寸。
像元尺寸越小,系统的分辨率越高。
常见的红外探测器像元尺寸为10-30μm,而高分辨率红外成像系统的像元尺寸通常小于10μm。
2. 灵敏度红外成像系统的灵敏度描述了系统对红外辐射能量的接收和转换能力。
灵敏度受探测器的噪声电流、介质吸收和系统光学部件的透过率等因素影响。
噪声电流是指探测器自身产生的电流噪声,是影响系统灵敏度的重要因素。
减小噪声电流可以提高系统的灵敏度。
介质吸收是指在红外波段,大气和透光介质对红外辐射的吸收。
介质吸收会减弱探测器接收到的红外辐射能量,降低系统的灵敏度。
3. 动态范围红外成像系统的动态范围是指系统能够显示的最大和最小辐射能量之间的比值。
动态范围越大,系统对强光和弱光目标的显示能力就越好。
动态范围受到探测器的线性度和量化位数的影响。
红外热像仪原理、主要参数和应用红外热像仪原理、主要参数和应用1. 红外线发现与分布1672年人们发现太阳光(白光)是由各种颜色的光复合而成的。
当时,牛顿做出了单色光在性质上比白光跟简单的著名结论。
我们用分光棱镜可把太阳光(白光)分解为红、橙、黄、绿、青、蓝、紫等单色光。
1800年英国物理学家赫胥尔从热的观点来研究各色光时,发现了红外线。
红外线的发现标志着人类对自然的又一个飞跃。
随着对红外线的的不断探索与研究,已形成红外技术这个专门学科领域。
红外线的波长在0.76--100μM之间,按波长的范围可分为近红外、中红外、远红外、极远红外四类,它在电磁波连续频谱中的位置是处于无线电波与可见光之间的区域。
红外线辐射是自然界存在的一种最为广泛的电磁波辐射,它是基于任何物体在常规环境下都会产生自身的分子和原子无规则的运动,并不停地辐射出热红外能量,分子和原子的运动愈剧烈,辐射的能量愈大,反之,辐射的能量愈小。
温度在绝对零度以上的物体,都会因自身的分子运动而辐射出红外线。
通过红外探测器将物体辐射的功率信号转换成电信号,成像装置的输出的就可以完全一一对应地模拟扫描物体表面温度的空间分布,经电子系统处理后传至显示屏上,得到与物体表面热分布相应的热像图。
运用这一方法,便能实现对目标进行远距离热状态图像成像和测温并进行分析判断。
2. 红外热像仪的原理红外热像仪是利用红外探测器、光学成像物镜和光机扫描系统(目前先进的焦平面技术则省去了光机扫描系统)接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元上,在光学系统和红外探测器之间,有一个光机扫描机构(焦平面热像仪无此机构)对被测物体的红外热像仪进行扫描,并聚焦在单元或分光探测器上,由探测器将红外辐射能转换电信号,经放大处理、转换为标准视频信号通过电视屏或监测器显示红外热像图。
这种热像图与物体表面的分布场相对应;实际上是被测目标物体各部分红外辐射的热像分布图由于信号非常弱,与可见光相比缺少层次和立体感,因此,在实际动作过程中为更有效地判断被测目标的红外热场,常采用一些辅助措施来增加仪器的实用功能,如图像亮度、对比度的控制,实际校正,伪色彩描绘等高线和直方进行运算、打印等。
红外热像仪的MRTD检测MRTD是评价热成像系统综合性能的重要参数。
红外成像技术已在军事和民用领域得到了较为广泛的应用,更灵敏、精密的红外成像系统对系统性能测试提出了更高的要求,测试技术必须适应红外技术的发展,因此红外成像系统的性能评价与测试变得越来越重要。
目前世界上一些国家提出了几种用来评价红外光电系统性能的模型,并建立了一套与之相适应的红外成像系统评估和测试的实验室测量系统。
在红外热成像系统的多项性能参数中,由于MRTD既反映了系统的热灵敏度特性,又反映了系统的空间分辨力,它既能被热像仪的生产厂家测试也能够被热像仪的用户测试,因此成为综合评价红外成像系统性能的最主要参数。
作为一个主观参数,MRTD尽管看起来简单,但事实上MRTD测试是非常困难的,因为在测量过程中有很多容易犯的错误,这些错误会严重降低测试结果重复性和准确性。
Optikos的I-SITE系统能够实现客观的MRTD测试,并且具有NIST 可溯源校准,广州固润作为Optikos国内代理,能够为客户提供定制的设备需求。
在不同实验室的有经验人员之间,MRTD观察效果不一致,在f0=1/2DAS处,差别达±30%,在高频渐近线处,可达±50%”。
因此作为一种生产检验和产品验收的判断准则不够理想,分析和研究引起MRTD测试结果重复性和精度较差的原因,找出相应的解决措施是一个迫切需要解决的问题。
MRTD的主观测量方法是一个非常耗时的过程。
使用客观测量方可以缩短测试时间,但是,由于在客观测试之前需要对同一类型的热像仪进行大量的MRTD主观测量,从而确定系统参数。
这一要求使得MRTD客观测量仅仅在大量同一型号的热像仪需要测试时有优势,客观测量法适合于热像仪生产厂家使用。
MRTD客观测量法主要有:MTF法、光度法和图像识别法。
MRTD的主观测量通常采用多名观察员(3名以上)进行独立测量,取多次测量结果的平均值,理论上可以消除不同测试人员视力及判据不同带来的差异,实验结果表明,多个不同测试团队对同一热像仪的MRTD测量结果的偏差高达50%是很常见的。
红外成像系统性能参数测试系统摘要:经过近几十年的发展,红外成像系统经历数次变革,已经由最初的点源和线阵扫描型发展到现在的第三代红外焦平面凝视型系统,目前国外对红外成像系统实验室测试的性能参数多达十六七项。
本文对其最主要的信号传递函数(SITF)、噪声等效温差(NETD)和三维噪声模型、调制传递函数(MTF)、最小可分辨温差(MRTD)五个参数进行研究,阐述了它们的定义、物理意义和测量方法。
关键字:红外成像系统性能参数定义测量方法1 红外成像系统性能参数测试研究的意义基于光电图像的测量,是以图像的获取及其处理为手段,来确定被测对象的诸如空间、时间、温度、速度以及功能等等有关参数或者特性的一种测量方法。
把图像当作检测和传递的手段或载体加以利用,是一种建立在光学成像技术基础上并融入了计算机技术、光电子学数字图像处理技术以及光机电一体化的综合测量技术,其目的在于从图像中提取有用的信号。
由于其具有非接触、高灵敏度和高准确度等特点,在信息科学、生命科学、工农业生产和制造业、航空航天、国防军事、科学研究以及人们的日常生活等领域中得到了广泛应用,是当代先进测试技术之一[1]~[3]。
自然界中凡是温度高于绝对零度的物体,就会一直向外辐射能量。
通过探测并收集这些辐射能,再现物体的辐射起伏,进而显示出物体的特征信息,这样的成像系统就是红外成像系统。
红外成像系统利用景物本身各部分辐射的差异获取被测对象的细节,可以穿透烟、雾、霾以及雪等不利因素以及识别伪装,具有较强的抗干扰和全天时远距离观察目标的能力,这些特点使红外成像系统广泛应用于军事领域。
现代军事应用中,要求红外系统不仅具有高灵敏度、大视场、高空间分辨率、高帧频、适装性好的特点,为了适应恶劣的环境条件,还同时要求具有很好的结构稳定性和温度特性等。
传统的红外光学系统的结构形式有反射式、折射式和折反式,它们共同的特点是结构简单,这往往不能满足现代军用特殊条件下的高质量的成像要求,需要增加辅助器件,就使得结构变得复杂,更加促使了人们开发新型的结构[4]。
世界各国都以巨额投资竞相开展这一领域的研究工作。
经过近几十年的发展,红外成像系统经历数次变革,已经由最初的点源和线阵扫描型发展到现在的第三代红外焦平面(IRFPA)凝视型系统。
同时,红外成像系统的性能测试技术也必须适应红外焦平面成像技术的发展,因此,对红外成像系统的性能评估也变得十分重要。
[5]目前国外对红外成像系统实验室测试的性能参数多达十六七项。
我国在通用规范中确定测试17个参数。
在这些参数中,最主要的性能参数包括信号传递函数(SITF)、噪声等效温差(NETD)和三维噪声模型、调制传递函数(MTF)、最小可分辨温差(MRTD)等。
2红外成像系统性能模型红外成像系统的性能模型大体可分为两大类:静态性能模型和动态性能模型。
[6]红外成像系统性能模型由以下模块组成,图2.1是静态性能模型和动态性能模型框图。
两种性能模型都包括目标与背景模块、大气衰减干扰模块、光学系统模块、传感器模块和电子信号处理模块。
不同的是:静态性能模型由人眼观察完成识别,动态性能模型是由机器视觉来完成自动目标识别。
两模型的基本框架类似。
图2.1红外成像系统性能模型基本框图以约翰逊准则为基础的红外成像系统静态性能模型,仅适用于静态目标的成像性能的预测估计。
它认为目标和背景都是均匀的:目标的特征仅以目标背景的温差和尺寸来表示。
它没有考虑到目标的运动、目标的细节和形状、背景杂波等因素;也没有考虑到图象处理算法和跟踪探测算法对红外系统性能的影响。
因此,不适合红外预警、搜索跟踪、导引头等具有自动目标识别的红外成像系统的评估和预测。
为了适应红外成像系统对复杂背景中的动态目标进行预测和评估,国外开展了动态性能评估模型的研究工作,并取得了较好的成果和应用。
国外对动态性能模型的研究取得了很大的进展,现在已经开发的动态性能模型有:科学应用国际公司开发的红外导引头/传感器动态性能模型(IRS/SDPPM)、瑞士国防科学研究中心发展的通用红外搜索跟踪探测性能模型(OPTSIM)、美国陆军导弹司令部研究开发工程中心开发的红外传感器性能分析模型(ISPAM)和通用导引头仿真模型(GENSS)等。
这些动态性能模型在现场测试中已经得到很好的验证,如探测距离、锁定距离等性能与试验测量的性能结果能够很好的拟合。
虽然动态性能模型的研究取得了一定的成果,但仍有很多地方需要完善:复杂背景杂波的逼真模拟、信号处理技术的模拟、目标辨别算法评估、闭环模拟中跟踪算法对工作平台运动轨迹的影响、提出新的探测准则等等。
动态性能模型为了预测动态性能,必然要模拟各种红外成像系统的实时工作过程,仿真各种复杂的背景及系统各部分的运动状态,这就需要速度极快的计算机处理大量的数据流。
随着红外成像系统性能水平的提高,性能模型也需要不断地改进以适应新一代的热成像系统的性能预测要求。
建立详尽的目标背景统计模型:模拟各种图像处理算法和搜索跟踪算法;干扰效应的模拟;成像系统的载体和目标的机动性建模;完善动态性能模型对红外搜索跟踪系统和导引头性能的闭环预测等,将是未来红外成像系统性能模型发展的重点。
计算机性能水平的提高为动态性能模型更准确更快的预测现场性能提供了可能。
3红外成像系统性能参数3.1信号传递函数(SITF)信号传递函数是对红外成像系统进行客观评价的参数,它不受观察者主观判断差异的影响。
信号传递函数定义为红外成像系统入瞳上的输入信号与其输出信号之间的函数关系,输入信号规定为靶标与其均匀背景之间的温差,输出信号规定为红外系统输出电压。
响应度函数的线性部分(斜率)就是信号传递函数(如图3.1),必须对它进行测量以计算噪声等效温差[7]。
图3.1描述SITF 的典型响应度函数SITF 的计算公式为:212(,)()()4d e B s y s A M T S I T F G R T d F Tλλλλλλ∂=∂⎰ (3-1) 其中,G 是系统的增益系数,()R λ是对波长λ的响应度,A d 为探测器面积,F 为F 数,(,)e B M T T λ∂∂为辐射泰勒级数的简化式子,T sys (λ)为系统的光学传递函数。
如果每个系统的光谱响应不同,那么各系统的信号传递函数也有变化。
信号传递函数本身不是一个很好的比较各系统性能的品质系数,因为仅改变线性增益就能使其发生变化。
若标明了信号传递函数,它通常意味着系统工作于最大增益。
交流藕合的扫描系统中,信号在水平方向而不是在垂直方向上藕合,这样在扫描方向上有一个总的电压移动(信号和背景),而垂直方向上不存在电压移动(图3.2)。
必须测量信号和背景之间的电压差,而不只是测量信号的峰值。
交流藕合扩展了系统的动态范围,因为如果目标充满50%视场,有效电压差(目标和背景之间)与全部有效输出电压相等。
在大面积目标饱和之前小面积目标达到饱和,且小面积目标具有较小的动态范围。
如果饱和或动态范围己定,目标尺寸必须确定。
图3.2观察目标时,交流耦合使输出绝对值发生变化(a) 横穿视场的两条线 (b)两条线的输出电压信号传递函数是响应度曲线线性段的斜率,斜率的最佳估计值由对N 个数据对(,i i V T ∆∆)动作最小二乘方拟合来确定:1112211()()N N Ni i i ii i i N N i i i i N V T V T SITF N T N T =====∆∆-∆∆=∆-∆∑∑∑∑∑ (3-2)在响应度函数中可能存在一个偏置,这个偏置可能因为不能精确地测量背景温度或是目标和其背景之间出射度不同引起的。
在不同的试验室比较测试技术时要注意的正是这个偏置。
除非己知不存在偏置,否则不能仅用一次输入值的测量来精确地确定信号传递函数,偏置可表示为:________offset V V SIFT T =∆-∆ (3-3)式中____1Nii T T N =∆∆=∑ (3-4)____1N ii V V N =∆∆=∑ (3-5)除了增益,对SITF 测试结果会造成的影响的可能因素还有[8]:待测红外成像系统和评估系统的光学透过率较低或其光学系统受到污染;系统非均匀性与噪声没有得到较好的校正;待测红外成像系统探测器阵列存在死像元;测试期间环境温度发生了变化;3.2噪声等效温差(NETD)和三维噪声模型3.2.1噪声等效温差噪声等效温差的标准测试图案如图3.3所示。
一个均匀温度的目标,处于均匀的背景中,假定目标和背景都是黑体。
当系统对这个测试图案进行观察时,则使系统所产生的峰信号电压V s 等于系统的均方根噪声电压V n ,即信噪比等于1时,目标与背景的温差△T 称为系统的噪声等效温差,记为NETD 。
图3.3 NETD 的标准测试图案在实际测量时,为保证测量精度,通常是目标和背景有较大温差,使信号电压Vs 数倍于噪声电压V n ,然后按下式计算:s nT NETD V V ∆= (3-6)上式为NETD 的定义式,下面给出NETD 的一般表达式,NETD 一般表达式推导过程中需假定如下条件:目标和背景都是黑体,它们的发射率相同且都等于1,即T B εε==1;探测器在整个光敏面上的响应度一致;D *与噪声等效温度差中的其它参数无关;目标与系统间的大气透过损失忽略不计,即()1a τλ=;系统工作波段内0()τλ为常数0τ;电子处理电路不产生附加噪声。
则在λ1到λ2范围内NETD 的一般表达式可写为:21122()B p B c NETD M T d T λλλλλ-⎡⎤=⎢⎥⎢⎥⎣⎦⎰ (3-7)其中,F 为光学系统的F 数,n f ∆为噪声等效带宽,n s 为串联元数,A d 为探测器探测面积,0τ为光学系统的光谱透射比,λp 探测器材料所确定的截止波长,M λ为目标的光谱辐射出射度(21W cm m μ--⋅⋅),T B 为背景辐射的温度,c2为第二辐射常数,c2=14388m K μ⋅。
NETD 作为系统性能的综合量度有一些不足之处:首先,NETD 的测量点是在基准化电路的输出端。
由于从电路输出端到终端图像之间还有其它子系统(如显示器),因而NETD 并不能表征整个系统的性能。
其次,NETD 反映的是客观信噪比限制的温度分辨率,但人眼对图像的分辨效果与视在信噪比有关。
NETD 没有考虑视觉特性的影响。
最后,NETD 反映的是系统对低频景物(均匀目标)的温度分辨率,不能表征系统用于观测高空间频率景物时的温度分辨性能。
鉴于NETD 存在以上这些缺点,需要采用更完善的性能指标作为红外光电系统综合性能的评价,例如MRTD 。
3.2.2三维噪声模型所用的噪声分析方法采用D ’Agostino 和webb 的噪声分析法。
噪声被分为一个与三维坐标系的时间和空间有关的八个分量集,按这种方式分析噪声的优点是:通过将它降为易管理的分量集,从而简化对复杂现象的理解,并使系统设计者深入地了解硬件和软件中可能引入噪声的因素,对于系统性能建模者来说,该方法简化了复杂噪声因素并入模型公式的过程。