下载文档原格式
磁化率的测定一、目的要求1、测定物质的摩尔磁化率，推算分子磁矩，估计分子内未成对电子数，判断分子配键的类型。
2、掌握古埃(Gouy)磁天平测定磁化率的原理和方法。
二、实验原理1.磁化率物质在外磁场中，会被磁化并感生一附加磁场，其磁场强度H′与外磁场强度H之和称为该物质的磁感应强度B，即B = H + H′ (1)H′与H方向相同的叫顺磁性物质，相反的叫反磁性物质。
还有一类物质如铁、钴、镍及其合金，H′比H大得多（H′/H）高达104，而且附加磁场在外磁场消失后并不立即消失，这类物质称为铁磁性物质。
物质的磁化可用磁化强度I来描述，H′=4πI。
对于非铁磁性物质，I与外磁场强度H成正比I = KH(2)式中，K为物质的单位体积磁化率(简称磁化率)，是物质的一种宏观磁性质。
在化学中常用单位质量磁化率χm或摩尔磁化率χM表示物质的磁性质，它的定义是χm = K/ρ(3)χM = MK/ρ(4)式中，ρ和M分别是物质的密度和摩尔质量。
由于K是无量纲的量，所以χm和χM的单位分别是cm3·g-1和cm3·mol-1。
磁感应强度SI单位是特［斯拉］(T)，而过去习惯使用的单位是高斯(G)，1T=104G。
2.分子磁矩与磁化率物质的磁性与组成它的原子、离子或分子的微观结构有关，在反磁性物质中，由于电子自旋已配对，故无永久磁矩。
但是内部电子的轨道运动，在外磁场作用下产生的拉摩进动，会感生出一个与外磁场方向相反的诱导磁矩，所以表示出反磁性。
其χM就等于反磁化率χ反，且χM<0。
在顺磁性物质中，存在自旋未配对电子，所以具有永久磁矩。
在外磁场中，永久磁矩顺着外磁场方向排列，产生顺磁性。
顺磁性物质的摩尔磁化率χM是摩尔顺磁化率与摩尔反磁化率之和，即χM =χ顺 + χ反 (5)通常χ顺比χ反大约１～３个数量级，所以这类物质总表现出顺磁性，其χM>0。
顺磁化率与分子永久磁矩的关系服从居里定律(6)式中，N A为Avogadro常数;K为Boltzmann常数(1.38×10-16erg·K-1);T为热力学温度;μm为分子永久磁矩(erg·G-1)。
磁化率的测定磁化率是描述物质磁性的物理量，它是一个无量纲的比例系数，表示物质在外加磁场下的磁化程度。
磁化率的测定是物理学研究中的重要实验方法之一。
本文将介绍磁化率的测定原理、测量方法以及实验步骤。
一、磁化率的测定原理磁化率是磁化强度和外加磁场强度之间的比值，可以用公式表示为：χ = M/H其中，χ为磁化率，M为物质的磁化强度，H为外加磁场强度。
通过测量物质在不同外加磁场下的磁化强度，可以得到磁化率的数值。
二、磁化率的测量方法常见的磁化率测量方法有磁感应强度法、霍尔效应法、磁滞回线法等。
1. 磁感应强度法：该方法利用磁场中的磁感应强度与磁化强度之间的关系来测量磁化率。
实验中，通过改变外加磁场的强度，测量物质的磁感应强度，然后计算得到磁化率。
2. 霍尔效应法：该方法利用霍尔效应来测量磁化率。
实验中，将物质置于磁场中，利用霍尔元件测量磁场引起的电势差，通过计算得到磁化率。
3. 磁滞回线法：该方法适用于测量磁化率随外加磁场的变化情况。
实验中，将物质置于交变磁场中，测量物质的磁滞回线，通过分析磁滞回线的形状和大小，可以得到磁化率。
1. 准备实验所需的材料和仪器，包括物质样品、磁场发生器、磁感应强度计等。
2. 根据实验要求选择适当的测量方法，例如磁感应强度法、霍尔效应法或磁滞回线法。
3. 进行实验前的准备工作，包括校准仪器、调整实验参数等。
4. 开始实验，根据测量方法的要求进行实验操作。
例如，在磁感应强度法中，通过改变外加磁场的强度，测量物质的磁感应强度，并记录数据。
5. 根据实验数据计算磁化率的数值，并进行数据处理和分析。
6. 根据实验结果，进行实验讨论和结论，对实验结果进行解释和分析。
四、总结磁化率的测定是物理学实验中的一项重要内容，通过测量物质在不同外加磁场下的磁化强度，可以得到磁化率的数值。
常用的测量方法包括磁感应强度法、霍尔效应法和磁滞回线法。
在进行实验时，需要注意实验步骤的正确性和仪器的准确性。
实验三十 磁 化 率 的 测 定一、实验目的1．掌握古埃（Gouy ）法磁天平测定物质磁化率的基本原理和实验方法；2．通过对一些络合物磁化率的测定，推算其不成对电子数，判断这些分子的配键类型。
二、基本原理物质中的分子是一种复杂的电磁体系，它们在外加磁场的作用下，会发生磁化，从而表现出一些宏观性质。
我们通过这些性质来研究分子的微观结构。
置于外磁场中的物质，在外磁场的作用下会感应出一个附加的磁场。
这时物质的磁感应强度B 等于外加磁场强度H 与附加磁场强度/H 之和。
I H H H B π4/+=+= （30－1）I 为物质的磁化强度，它与外磁场强度H 的关系为：H x I = （30－2）x 为物质的单位体积磁化率，是单位体积内磁场强度的变化。
化学上常用单位质量磁化率m X 和摩尔磁化率M X 来表示。
它们的定义是： dx X m = （30－3） dx M X M X m M ⋅=⋅= （30－4） 式中d 是物质的密度，M 为分子量。
由于x 是无量纲的量。
故m X 和M X 的单位分别为厘米3／克和厘米3／摩尔。
物质的磁性可分为三种，即铁磁性，逆磁性和顺磁性。
铁磁性是指物质在较低外磁场中就能达到饱和的磁化，磁性随外磁场的强度的增加而急剧增大。
在外磁场去掉后，磁性并不消失，呈现滞后现象。
逆磁性物质被磁化后所感应出的磁场强度与外加的磁场强度方向相反。
存在于所有的物质当中。
对于逆磁性物质来讲，其物质中的分子或原子的电子都已配对，所以本身没有永久磁矩，但在外磁场的作用下，由于电子的拉磨进动产生了一个与外磁场方向相反的诱导磁矩。
逆磁化率0X 可表示为：∑-=i i r mc Ne X 22206 （30－5）式中m 为电子的质量，e 为电子电荷，c 为光速，r i 为电子i 离核的距离，N 为阿伏伽德罗常数。
逆磁性质的x <0 ，数量级在10-6～10-3左右。
顺磁性是指物质被磁化后，所产生的磁感应强度方向与外加的磁场强度相同。
磁化率的测定磁化率的测定是研究物质磁性性质的一种常用方法。
磁化率是描述物质在外磁场作用下磁化程度的物理量，是磁场强度与物质磁化强度之间的比值。
测定磁化率可以帮助我们了解物质的磁性特征，对于研究磁性材料、电磁器件设计等具有重要意义。
磁化率的测定可以通过多种方法实现，下面将介绍几种常见的测定方法。
一、磁化曲线法磁化曲线法是一种基于磁化过程的测定方法。
它通过在外磁场中改变物质的磁化状态，测定物质的磁化强度，从而计算出磁化率。
常用的仪器是霍尔差分磁化仪。
通过在不同磁场强度下测量样品的磁化强度，得到磁化曲线，通过对磁化曲线的分析，可以得到物质的磁化率。
二、振荡磁滞回线法振荡磁滞回线法是一种利用物质在交变磁场中的磁滞特性来测定磁化率的方法。
该方法通过在交变磁场中测量物质的磁化强度和磁场强度的关系，得到磁滞回线，进而计算出磁化率。
常用的仪器是交流磁滞仪。
该方法适用于测量低频范围内的磁化率。
三、饱和磁化法饱和磁化法是一种通过测量物质在饱和磁场下的磁化强度来计算磁化率的方法。
该方法利用了物质在饱和磁场下，磁化强度与磁场强度成线性关系的特点。
通过在饱和磁场下测量磁化强度，可以准确计算出磁化率。
常用的仪器是饱和磁化强度计。
四、库仑法库仑法是一种通过物质在恒定磁场中的磁导率来计算磁化率的方法。
该方法利用了物质在恒定磁场中，磁感应强度与磁场强度成线性关系的特点。
通过测量磁感应强度和磁场强度的比值，可以计算出磁化率。
常用的仪器是库仑磁感应强度计。
以上介绍了几种常见的磁化率测定方法，每种方法都有其适用范围和优缺点。
在实际应用中，选择合适的测定方法需要考虑样品特性、测量精度、实验条件等因素。
磁化率的测定在研究物质磁性性质、材料科学、电磁器件设计等领域具有重要应用价值。
磁化率的测定可以帮助我们了解物质的磁性特征，指导材料的选择和设计，推动科学研究的进展。
通过不断改进测定方法和提高测量精度，我们能够更好地理解和应用磁性材料，为科学技术的发展做出更大的贡献。
实验一磁化率的测定【实验目的】①掌握古埃（Gouy）磁天平测定物质磁化率的实验原理和技术。
②通过对一些配位化合物磁化率的测定，计算中心离子的不成对电子数，并判断d 电子的排布情况和配位体场的强弱。
【实验原理】（1）物质的磁性物质在磁场中被磁化，在外磁场强度H的作用下产生附加磁场，该物质内部的磁感应强度B为：B＝H+4πI＝H+4πκH①式中，I称为体积磁化强度，物理意义是单位体积的磁矩。
式中的κ＝I/H称为物质的体积磁化率。
I和κ分别除以物质的密度ρ可以得到σ和χ，σ＝I/ρ称为克磁化强度；χ＝κ/ρ称为克磁化率或比磁化率。
χm＝κM/ρ称为摩尔磁化率（M是物质的摩尔质量）。
这些数据都可以从实验测得，是宏观磁性物质。
在顺磁、反磁性研究中常用到χ和χm，铁磁性研究中常用到I、σ。
不少文献中按宏观磁性物质，把物质分成反磁性物质、顺磁性物质和铁磁性物质以及亚铁磁性物质、反铁磁性物质几类。
其中，顺磁性物质的χm＞0而反磁性物质的χm ＜0。
（2）古埃法（Gouy）测定磁化率古埃法是一种简便的测量方法，主要用在顺磁测量。
简单的装置包括磁场和测力装置两部分。
调节电流大小，磁头间距离大小，可以控制磁场强度大小。
测力装置可以用分析天平。
为了测量不同温度的数据，要使用变温、恒温和测温装置。
样品放在一个长圆柱形玻璃管内，悬挂在磁场中，样品管下端在磁极中央处，另一端则在磁场强度为零处。
样品在磁场中受到一个作用力。
d F＝κHA d H式中，A表示圆柱玻璃管的截面积。
样品在空气中称量，必须考虑空气修正，即d F＝(κ－κ0)Ha d Hκ0表示空气的体积磁化率，整个样品的受力是积分问题：F ＝∫(κ－κ0)HA d H ＝1/2(κ－κ0)A (H 2－H 02) ②因H 0＜＜H ，且忽略κ0，则F ＝1/2κAH 2 ③式中，F 可以通过样品在有磁场和无磁场的两次称量的质量差来求出。
F ＝(△m 样－△m 空) g ④式中，△m 样为样品管加样品在有磁场和无磁场时的质量差；△m 空为空样品管在有场和无磁场时的质量差；g 为重力加速度。
磁化率测定磁化率是描述物质磁性强度和磁化能力的重要物理量。
磁化率测定是研究物质磁性的常用手段之一，被广泛应用于化学、物理、材料科学等领域。
下面将介绍磁化率测定的基本原理、测量方法和应用。
一、基本原理磁化率是物质在外磁场中受到磁化时的响应能力。
它是指单位体积物质在外磁场下磁化强度与磁场强度之比。
具体表达式为：χ=ΔM/ΔH其中，χ为磁化率，ΔM为单位体积物质磁化强度的变化量，ΔH为单位时间内恒定磁场强度的变化量。
磁化率的单位是安培每米（A/m）或开尔文每伏特（K/V）。
根据磁化率的定义可以知道，磁化率受物质本身结构、组成和温度等因素的影响，对于不同的物质具有不同的数值。
磁化率的正负值也表明物质本身的磁性性质，正值表示物质具有磁性，负值表示物质是反磁性。
二、测量方法磁化率的测量方法有多种，目前主要有静态法和动态法两种。
1、静态法静态法又称恒定场法，是指在恒定外磁场中测量物质的磁化率。
其主要原理是在恒定磁场下，测量物质的磁化强度和磁场强度之间的关系。
常用的测量装置有磁化强度计和磁场强度计等，可以测量各种常温常压下的物质磁化率。
2、动态法三、应用磁化率测定在各种领域得到广泛应用。
以下简要介绍一些典型应用：1、化学分析2、材料科学磁化率测定是磁性材料研究的重要手段之一。
可以通过测量材料在外磁场下的磁化强度和磁场的关系，分析材料的磁性和磁化机制。
同时还可以评价材料的磁、电、声、光等多种性质，为材料设计和制备提供重要依据。
3、医学磁化率测定在医学领域也有广泛应用。
例如，可以通过测量人体组织的磁化率来评价其磁性和磁共振成像的效果，为临床诊疗提供帮助。
4、地球物理学地球物理学家利用磁化率测定的原理来探测地球内部的磁性物质。
例如，可以测量地球磁场和岩石磁性强度之间的关系，推测地球内部地幔和核部分的磁性结构。
总之，磁化率测定是一种广泛应用于物理、化学、材料科学、医学、地球物理学等领域的手段，可以为各种问题的解决提供重要的实验数据和物理基础。
络合物的磁化率测定1.实验目的及要求1）掌握古埃(Gouy)法测定磁化率的原理和方法。
2）通过测定一些络合物的磁化率，求算未成对电子数和判断这些分子的配键类型。
2.实验原理2.1 物质的磁性根据物质在磁场下的作用情况，即物质对磁场的影响（磁性），可将物质分为抗磁性（逆磁性）和顺磁性（以及铁磁性、反铁磁性、亚铁磁性、超顺磁性和其它类型）等。
简单说，抗磁性就是指物质在磁场作用下会产生对磁场的一定的微弱作用力，而顺磁性是指物质在磁场作用下会产生一个与磁场方向相同的作用力。
关于顺磁性的一种解释是顺磁性物质可以被看作是由许多微小的磁棒组成的，这些磁棒可以旋转，但是无法移动。
这样的物质受到外部磁场的影响后其磁棒主要顺磁力线方向排列，但是这些磁棒互相之间不影响。
热振动不断地使得磁棒的方向重新排列，因此磁棒指向不排列比排列的可能性高。
因此磁力线的强度越强顺磁性物质内磁棒的排列性就越强。
抗磁性的成因，是当物质处在外加磁场中，外加磁场使得物质电子轨道运动产生改变的连带效应。
当施加一外源磁场B 时，会对运动中的电子（电荷q）产生了磁力F：F = q v ×B。
此力改变了电子所受的向心力，使得电子轨道运动或是加速，或是减慢。
电子速度因此受到改变，而连带改变了其与外加磁场相反方向上的轨道磁矩。
所有物质都会对外加磁场作出不同程度的抗磁性反应；但是对于同时拥有其他磁性性质的材料来说（如铁磁性和顺磁性），抗磁性可以完全忽略不计。
在无外加磁场时，分子内的各种微磁矩随机排列，故不显示磁性。
2.2 磁化率物质在外磁场作用下，物质会被磁化产生一附加磁场。
物质的磁感应强度等于：''00B B B H Bμ=+=+（1）式中B0为外磁场的磁感应强度；B′为附加磁感应强度；H为外磁场强度；μ0为真空磁导率，其数值等于4π×10-7N／A2。
物质的磁化可用磁化强度M来描述，M也是矢量，它与磁场强度成正比。
H M χ= （2）式中X 为物质的体积磁化率。
在化学上常用质量磁化率X m 或摩尔磁化率X M 来表示物质的磁性质。
m χχρ= (3)M m M M χχχρ==(4) 式中ρ、M 分别是物质的密度和摩尔质量。
2.3 分子磁矩与磁化率物质的磁性与组成物质的原子，离子或分子的微观结构有关，当原子、离子或分子的两个自旋状态电子数不相等，即有未成对电子时，物质就具有永久磁矩。
由于热运动，永久磁矩的指向各个方向的机会相同，所以该磁矩的统计值等于零。
在外磁场作用下，具有永久磁矩的原子，离子或分子除了其永久磁矩会顺着外磁场的方向排列。
(其磁化方向与外磁场相同，磁化强度与外磁场强度成正比)，表现为顺磁性外，还由于它内部的电子轨道运动有感应的磁矩，其方向与外磁场相反，表观为逆磁性，此类物质的摩尔磁化率χM 是摩尔顺磁化率χ顺和摩尔逆磁化率χ逆的和。
M χχχ顺逆＝＋ (5)对于顺磁性物质，χ顺 >>∣χ逆∣，可作近似处理，χM =χ顺 。
对于逆磁性物质，则只有χ逆，所以它的χM =χ逆。
第三种情况是物质被磁化的强度与外磁场强度不存在正比关系，而是随着外磁场强度的增加而剧烈增加，当外磁场消失后，它们的附加磁场，并不立即随之消失，这种物质称为铁磁性物质。
磁化率是物质的宏观性质，分子磁矩是物质的微观性质，用统计力学的方法可以得到摩尔顺磁化率χ顺和分子永久磁矩μm 间的关系2003m N C kT Tμμχ=顺＝ （6） 式中N 0为阿佛加德罗常数；k 为波尔兹曼常数；T 为绝对温度。
物质的摩尔顺磁磁化率与热力学温度成反比这一关素，称为居里定律，是居里首先在实验中发现，C 为居里常数。
物质的永久磁矩产。
与它所含有的未成对电子数n 的关系为m μμ= （7）式中μB 为玻尔磁子，其物理意义是单个自由电子自旋所产生的磁矩。
249.27410/4B eeh J T m μπ-=⨯＝ （8）式中h 为普朗克常数；m e 为电子质量;e 为电子电荷量；h 为普朗克常数。
因此，只要实验测得χM ，即可求出μm ，算出未成对电子数。
这对于研究某些原子或离子的电子组态，以及判断络合物分子的配键类型是很有意义的。
2.4 磁化率的测定图1 古埃磁天平示意图古埃法测定磁化率装置如图—1所示。
将装有样品的圆柱形玻管如图所示方式悬挂在两磁极中间，使样品底部处于两磁极的中心。
亦即磁场强度最强区域，样品的顶部则位于磁场强度最弱，甚至为零的区域。
这样，样品就处于一不均匀的磁场中，设样品的截面积为A ，样品管长度方向dS 的体积AdS 在非均匀磁场中所受到的作用力dF 为：0dHdF HAdS dSχμ= (9) 式中dH dS为磁场强度梯度，对于顺磁性物质的作用力，指向磁场强度最大的方向，反磁性物质则指向场强度弱的方向，当不考虑样品周围介质(如空气，其磁化率很小)和H 。
的影响时，整个样品所受的力为：20012H H H HdH F AHdS H A dS χμχμ===⎰＝(10)当样品受到磁场作用力时，天平的另一臂加减砝码使之平衡，设∆m 为施加磁场前后的质量差，则2012F H A g m χμ==∆因样品管也会对F 有一定贡献，故样品的贡献为：201(2sampleF H A g m g m m χμ==∆∆∆空管＋样品空管＝－） (11) 由于m χχρ=，M m M M χχχρ==；m hA ρ＝（h 为装的样品高度，ρ为样品的密度）代入(11)式整理得202(M ghM m m mHχμ∆∆=空管＋样品空管－） (12) 式中h 为样品高度；m 为样品质量(无磁场时称量的质量)；M 为样品摩尔质量；g 为重力加速度；μ0为真空磁导率。
μ0=47π×10-7N ／A 2。
磁场强度H 可用“特斯拉计”测量，或用已知磁化率的标准物质进行间接测量。
例如用莫尔盐[(NH 4)2SO 4·FeSO 4·6H 20]，已知莫尔盐的χm 与热力学温度T 的关系式为：939500410/1m m kg T χπ-=⨯⨯+ (13) 根据式（13）计算出标样的X m 之后，代入式（12）就可以计算出实验时的H ，再代入式（12）可计算出样品的X m 。
但要对所装样品的高度测量时，容易产生较大的误差，故一般将装样品的试管装好后对样品的高度作一记号，装标样时也装到该高度，即对于式（12）来说，样品与标样的高度h 一样，其它实验条件一样时有：202(MghM m m m H χμ∆∆=样品样品空管＋样品空管样品－） （14） 202(M ghM m m m H χμ∆∆=标样空管标样空管＋标样标样－） （15）由式（14）（15）得到：MMm m m M m m M m χχ∆∆=⨯⨯∆∆样品空管＋样品空管样品标样标样空管样品空管＋标样标样－－ （16） 3.仪器与药品古埃磁天平(包括电磁铁，电光天平，励磁电源)1套；特斯拉计1台；软质玻璃样品管4只；样品管架1个；直尺1只；角匙4只；广口试剂瓶4只；小漏斗4只。
莫尔氏盐(NH 4)2SO 4·FeSO 4·6H 2O(分析纯)；FeSO 4·7H 2O(分析纯)；K 3Fe(CN)6(分析纯)；K 4Fe(CN)6·3H 2O(分析纯)。
4.实验步骤1）将特斯拉计的探头放入磁铁的中心架中，套上保护套，调节特斯拉计的数字显示为“0”（即将地磁场的强度设置为0）。
2）除下保护套，把探头平面垂直置于磁场两极中心，打开电源，调节“调压旋钮”，使电流增大至特斯拉计上显示约“0.3T”，调节探头上下、左右位置，观察数字显示值，把探头位置调节至显示值为最大的位置，此乃探头最佳位置。
用探头沿此位置的垂直线，测定离磁铁中心各高度处的H ，至H 为0，即H 0，距离最佳位置有一高度（估测为h 0），这也就是样品管内应装样品的最大高度。
关闭电源前，应调节调压旋钮使特斯拉计数字显示为零。
3）用莫尔氏盐标定磁场强度。
取一支清洁的干燥的空样品管悬挂在磁天平的挂钩上，使样品管正好与磁极中心线齐平(样品管不可与磁极接触，并与探头有合适的距离)。
准确称取空样品管质量(H=0)时，得m 1(H 0)；调节旋钮，使特斯拉计数显为“0.300T”(H 1)，迅速称量，得m 1(H 1)，逐渐增大电流，使特斯拉计数显为“0.350T” (H 2)，称量得m 1(H 2)，然后略微增大电流，接着退至(0.350T)H 2，称量得m 2(H 2)，将电流降至数显为“0.300T” (H 1)时，再称量得m 2 (H 1)，再缓慢降至数显为“0．000T” (H 0)，又称取空管质量得m 2 (H 0)。
这样调节电流由小到大，再由大到小的测定方法是为了抵消实验时磁场剩磁现象的影响。
111211()()2m H m H m H ∆∆+∆空管（）＝〔〕 （17） 212221()()2m H m H m H ∆∆+∆空管（）＝〔〕 （18）式中：111110()()m H m H m H ∆-（）＝ （磁场上升时，与不施加磁场的差值）212120()()m H m H m H ∆-（）＝（磁场下降时，与不施加磁场的差值） 与此类似，当装上不同样品之后，也可以称得在不同电流所产生的磁场下的质量，以及求得其平均质量变化（由于磁场引起的质量变化）。
4）取下样品管用小漏斗装入事先研细并干燥过的莫尔氏盐，并不断让样品管底部在软垫上轻轻碰击，使样品均匀填实，直至所要求的高度，（用尺准确测量，或在样品高度出做一记号)，按前述方法将装有莫尔盐的样品管置于磁天平上称量，重复称空管时的路程，得：m 1空管+样品(H 0)，m 1空管+样品(H 1)，m 1空管+样品(H 2)，m 2空管+样品(H 2)，m 2空管+样品(H 1)，m 2空管+样品(H 0)，求出1m H ∆空管＋标样（）和2m H ∆空管＋标样（）。
5）同一样品管中，装填同样高度的样品，同法分别测定FeSO 4·7H 2O ，K 3Fe(CN)6和K 4[Fe(CN)6]·3H 20的1m H ∆空管＋样品（）和2m H ∆空管＋样品（）。
测定后的样品均要倒回试剂瓶，可重复使用。
5. 数据记录与处理5.1 在各电流所产生的磁场下的质量数据处理5.2 在各电流所产生的磁场下的质量变化注： 指相对于不施加磁场时的质量改变（最初的称量）5.3 在各电流所产生的磁场下的平均质量改变1）根据式（13）计算莫尔盐的X m。
2）根据式（16）计算其它样品的X m。
此时式（16）变为：M Mm m m MM m m mχχ∆∆=⨯⨯∆∆样品空管＋样品空管样品标样标样样品标样空管空管＋标样－－分别由在3A、5A磁场下数据计算出X M，再求平均值即可。
