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HALT（High Accelerated Life Testing）测试综述摘要： HALT（Highly Accelerated Life Testing）测试，主要应用于产品研发设计阶段，对于暴露产品的潜在缺陷效果明显，是设计工程师提高产品可靠性的重要试验手段。
目前该试验方法已被国内外电子业界充分认可并逐渐推广使用。
本文介绍了HALT测试对提高产品可靠性的重要性，阐释了与HALT试验相关的一些术语和定义，并就如何进行HALT试验进行了较详细的论述，内容涉及试验前的准备工作、试验参数的规格指标、试验设备的能力要求以及试验步骤和试验细节等。
文章还对HALT试验后关于测试报告和后续整改及验证的要求进行了概括。
关键词：HALT，潜在缺陷，步进应力试验，可靠性，工作（操作）极限，破坏极限，六自由度振动。
一．HALT概述HALT是“高加速寿命测试”（Highly Accelerated Life Testing）的英文缩写，其是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。
试品通过HALT所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。
HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。
施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。
往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。
1.1 试验项目及采用标准列表表1试验项目及试验参数1.2 低温步进应力测试测试前去掉机壳，从-40℃开始，步进步长为-10℃，温变率40℃/min。
温度稳定后每个温度台阶保持10min并完成功能测试。
每个温度台阶结束后，进行5次上下电测试，保证每次上下电后功能可以完全恢复。
试验一致持续直到发现被测设备的运行限和破坏限。
如果温度降至-60℃还没有发现破坏限，则停止此测试项。
此项测试过程需要记录的内容如下：每个步进台阶的测试结果每次上下电后信息恢复情况最后的操作限和破坏限失败过程分析、修正措施和结论图1低温步进应力测试图1.3 高温步进应力测试测试前去掉机壳，从60℃开始，步进步长为10℃，温变率40℃/min。
温度稳定后每个温度台阶保持10min并完成功能测试。
每个温度台阶结束后，进行5次上下电测试，保证每次上下电后功能可以完全恢复。
试验一致持续直到发现被测设备的运行限和破坏限。
如果温度升至100℃还没有发现破坏限，则可以停止此测试项。
此项测试过程需要记录的内容如下：每个步进台阶的测试结果每次上下电后信息恢复情况最后的操作限和破坏限失败过程分析、修正措施和结论图2高温步进应力测试图1.4 快速热循环测试测试测试前去掉机壳，从快速热循环的高/低温极点选择高/低温步进应力测试中得到的操作限的80%，循环5次，温度变化率40℃/min。
温度稳定后每个温度台阶保持5min并完成功能测试。
在快速热循环过程中，必须对产品规格最高输入电压（15V）和最低输入电压（9V）进行裕度测试，以鉴定输入高低操作限的设计裕度。
每个温度台阶结束后，进行1次上下电测试，保证每次上下电后功能可以完全恢复。
下表说明了不同的交流输入电压施加的顺序。
表2快速热循环测试输入电压顺序每个循环的测试结果每次上下电后信息恢复情况失败过程分析、修正措施和结论25图3快速热循环测试图1.5 振动步进应力测试测试前去掉机壳，振动步进应力测试在环境温度25℃下进行，使用1个样本。
1,HALT：HALT是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法.HALT的主要目的：是通过增加被测物的极限值,进而增加其坚固性及可靠性.HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品、能够在早期发现产品缺陷,操作设计边际及结构强度极限的方法.其加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等.利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷,改善设计缺陷,增加产品可靠性并缩短其上市周期,同时还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据.简单地说,HALT是以连续的测试,分析,验证及改正构成了整个程序,关键在于分析所有故障的根本原因.HALT 的主要测试功能如下:利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;了解产品的设计能力及失效模式;作为高应力筛选及稽核规格制定的参考;快速找出产品制造过程的瑕疵;增加产品的可靠性,减少维修成本;建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并可缩短设计制造周期.HALT应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品可靠性的薄弱环节.其所施加的应力要远远高于产品在正常运输、贮藏、使用时的应力.HALT包含的如下内容:逐步施加应力直到产品失效或出现故障;采取临时措施,修正产品的失效或故障;继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;重复以上应力-失效-修正的步骤;找出产品的基本操作界限和基本破坏界限.2.HALT 可靠性测试的步骤：HALT共分为4个主要试程,即:温度应力;高速温度传导;随机振动;温度及振动合并应力.HALT/HASS,温度范围为-100℃~200℃、温度变化最大速率为70℃min,最大加速度可到100Grms,而且振动机与温度箱合二为一的设计可同时对被测物施加温度（湿度可选）与振动应力.以下就四个试程的一般情况分别加以说明:(1)温度应力此项试验分为低温及高温两个阶段应力.首先执行低温阶段应力、设定起始温度为20℃、每阶段降温10℃、阶段温度稳定后维持10min,之后在阶段稳定温度下执行至少一次的功能测试,如一切正常则将温度再降10℃、并待温度稳定后维持10min再执行功能,依此类推直至发生功能故障,以判断是否达到操作界限或破坏界限;在完成低温应力试验后,可依相同程序执行高温应力试验、即将综合环境应力试验机自20℃开始,每阶段升温10℃、待温度稳定后维持10min,而后执行功能测试直到发现高温操作界限及高温破坏界限为止.(2)高速温度传导此项试验将先前在温度阶段应力测试中所得到的低温及高温操控界限作为此处的高低温度界限,并以每分钟60℃的快速温度变化率在此区间内进行6个循环的高低温度变化.在每个循环的最高温度及最低温度都要停留10min,并使温度稳定后再执行功能测试.检查待测物是否发生可回复性故障,寻找其可操作界限.在此试验中不需寻找破坏界限.(3)随机振动此项试验是将G值自5g开始,且每阶段增加5g,并在每个阶段维持10min后在振动持续的条件下执行功能测试,以判断其是否达到可操作界限或破坏界限.(4)温度及振动合并应力此项试验将高速温度传导及随机振动测试合并同时进行、使加速老化的效果更加显著.此处使用先前的快速温变循环条件及温变率,并将随机振动自5g开始配合每个循环递增5g,且使每个循环的最高及最低温度持续10min,待温度稳定后执行功能测试,如此重复进行直至达到可操作界限及破坏界限为止。
可靠性试验 HALT & HASS前言 Foreword任何产品都有其缺陷所在，当这些故障发生时产品往往已超过了时效，尤其是配套应用在汽车上的电子产品，如DVD、汽车音响、多媒体接收系统等。
如果不能在早期发现并解决潜藏在这些电子产品中的问题，而等其装配到汽车上，用户使用一段时间后才让问题慢慢显露出来，则会给制造商和用户带来极大的损失。
解决问题，首先要发现问题的所在，借由增加外部环境应力、强迫故障提早暴露出来，是早期发现和解决问题的一个有效方法。
目前，国内汽车电子产品通用的可靠性测试手段，一般是在研发时采用传统的性能各异的温湿度箱来验证提高产品的可靠性性能；在线生产采用的是老化寿命（即高温等）的传统测试方法。
仅依靠以上这些传统的测试手段，要达到目前国外汽车电子产品高质量的技术指标，尚存在着一定的困难。
HALT （ Highly Accelerated Life Test ，高加速寿命试验） & HASS （ Highly Accelerated Stress Screening ，高加速应力筛选），这是一种行之有效的能够提高产品可靠性的测试手段。
HALT & HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费 6 个月甚至 1 年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故 HALT & HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
在美国之外，许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。
概念 Definition1、 HALTHALT 是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。
HALT 的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。
HALT 利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。
Halt测试标准参考手册目录内容版本历史 ....................................................................................... 错误!未定义书签。
目录内容 .. (2)1.GB/T 29309-2012 电工电子产品加速应力试验规程 (3)1.01 范围 (3)1.02 试验环境条件 (3)1.03 检测项目 (4)1.04 检测项目要求 (4)1.GB/T 29309-2012 电工电子产品加速应力试验规程1.01 范围本标准规定的高加速寿命试验，施加的试验应力包括高温步进、低温步进、快速温度变化循环、六自由度非高斯宽带随机振动等应力。
本标准使用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等。
对于大型整机，宜优先考虑在前端的装配级别（如印制电路板组件、子模块）上进行试验。
本标准还适用于电工电子产品的研发、设计和（或）试产阶段，也可用于批量生产阶段。
1.02 试验环境条件本标准规定的试验，在GB/T 2421.1-2008表2规定的测量和试验用标准大气条件下进行。
1.03 检测项目除非相关规定另有规定，一般按表1的规定进行试验，试验过程中，可能进行功能判断或失效分析及故障维修；1.04 检测项目要求测试项目测试要求备注常温性能测试在标准大气压条件下检查样品的功能，测量其性能指标，确认样品正常温度均匀性测试切断箱内样品电源，将试验温度设定为某一温度(如:40℃)，启动试验，待箱内温度稳定后，测量试验样品各有关部位的温度。
可通过改变试验样品和导风管风口的位置，使各测量部位间的温度偏差维持在±5℃内。
低温步进试验1.以常温或相关规定的温度点为起始温度，开始试验；2.以一定的温度步进进行降温(LAB一般选择10℃步进)；3.试验样品温度达到稳定后5-20min驻留(LAB选择10min) 性能试验一般在试验样品达到稳定后进行，也可在整个试验过程中进行（LAB在整个过程中进行，并进行一次开关机确认）；4.重复步骤2）和3），确定试验样品的低温工作极限；5.继续步进试验，直至确认样品的低温破坏极限；试验过程中，若试验温度达到了预期目标值，试验也可终止高温步进试验1.以常温或相关规定的温度点为起始温度，开始试验；2.以一定的温度步进进行升温(LAB一般选择10℃步进)；3.试验样品温度达到稳定后5-20min驻留(LAB选择10min) 性能试验一般在试验样品达到稳定后进行，也可在整个试验过程中进行（LAB在整个过程中进行，并进行一次开关机确。
halt测试标准在软件开发过程中，测试是非常重要的一环。
而在测试过程中，halt测试是一种常见的测试方法。
本文将介绍halt测试的标准，希望能够对大家有所帮助。
首先，halt测试是指硬件高级语言测试。
在这种测试中，我们需要对硬件进行测试，以确保其能够正常运行。
在进行halt测试时，需要遵循一定的标准，以保证测试的准确性和有效性。
在进行halt测试时，首先需要明确测试的目的和范围。
我们需要确定测试的具体内容，包括测试的硬件设备、测试的功能点等。
只有明确了测试的目的和范围，才能够有针对性地进行测试，提高测试效率。
其次，halt测试需要遵循一定的测试流程。
在进行测试时，需要按照预定的流程进行，不能随意更改或跳过测试步骤。
只有按照规定的流程进行测试，才能够保证测试结果的准确性和可靠性。
另外，halt测试需要使用合适的测试工具和设备。
在进行测试时，需要选择适合的测试工具和设备，以确保测试的有效性。
同时，还需要对测试工具和设备进行合理的配置和调试，以满足测试的需求。
在进行halt测试时，还需要对测试结果进行详细的记录和分析。
测试人员需要及时记录测试过程中的各项数据和结果，以便后续分析和总结。
只有对测试结果进行详细的记录和分析，才能够找出问题的原因，并及时进行修复和改进。
最后，halt测试还需要进行测试报告的编写和提交。
在完成测试后，测试人员需要编写测试报告，对测试过程和结果进行总结和分析。
测试报告需要包括测试的目的、范围、流程、结果等内容，以便相关人员进行查阅和参考。
综上所述，halt测试是一种重要的测试方法，需要遵循一定的标准和流程。
只有严格按照标准进行测试，才能够保证测试的准确性和有效性。
希望本文介绍的halt测试标准能够对大家有所帮助，谢谢阅读。
高加速寿命试验（Highly Accelerated Life T esting, HALT）是一种旨在快速暴露产品设计缺陷和弱点的测试方法。
以下是一些常见的HALT高加速寿命试验标准和步骤：1. 试验目的：确定产品的极限工作条件。
暴露潜在的设计、材料和制造缺陷。
提高产品的可靠性并缩短产品开发周期。
2. 试验阶段：温度步进：产品在逐步增加或减少的温度条件下进行测试，以确定其热耐受极限。
温度循环：产品在快速变化的高温和低温环境中进行测试，模拟极端的环境条件。
振动测试：通过施加阶跃或随机振动来模拟运输、操作或环境引起的机械应力。
综合环境应力：同时应用多种应力，如温度、振动和湿度，以模拟真实世界的复杂环境条件。
3. 试验程序：应力筛选：通过逐步增加应力水平直到产品达到其破坏点或临界故障状态。
发现故障模式：记录和分析在试验过程中出现的任何故障或异常行为。
故障分析：对发现的故障进行详细的物理和工程分析，以确定其根本原因。
改进设计：基于故障分析的结果，对产品设计、材料或制造工艺进行改进。
4. 试验设备：高低温箱：用于实现快速和精确的温度控制。
振动台：用于施加各种类型的振动应力。
数据采集系统：用于实时监控和记录产品的性能参数和环境条件。
5. 试验标准和规范：虽然HALT本身可能没有一个统一的国际标准，但相关的环境试验和可靠性测试通常遵循以下标准：IEC 60068-2系列：环境试验MIL-STD-810系列：环境工程考虑和实验室测试JEDEC JESD22系列：微电子设备的环境Stress Aids for Reliable Product Development6. 安全和注意事项：在进行HALT试验时，必须确保操作人员的安全，并遵守所有适用的健康和安全规定。
对于某些类型的产品，可能需要特殊的防护措施或测试设施。
每个行业的具体HALT试验标准可能会有所不同，因此在进行试验时应参考相关行业的具体规范和最佳实践。
可靠性试验HALT & HASS前言Foreword任何产品都有其缺陷所在，当这些故障发生时产品往往已超过了时效，尤其是配套应用在汽车上的电子产品，如DVD﹑汽车音响﹑多媒体接收系统等。
如果不能在早期发现并解决潜藏在这些电子产品中的问题，而等其装配到汽车上，用户使用一段时间后才让问题慢慢显露出来，则会给制造商和用户带来极大的损失。
解决问题，首先要发现问题的所在，借由增加外部环境应力﹑强迫故障提早暴露出来，是早期发现和解决问题的一个有效方法。
目前，国内汽车电子产品通用的可靠性测试手段，一般是在研发时采用传统的性能各异的温湿度箱来验证提高产品的可靠性性能；在线生产采用的是老化寿命（即高温等）的传统测试方法。
仅依靠以上这些传统的测试手段，要达到目前国外汽车电子产品高质量的技术指标，尚存在着一定的困难。
HALT（Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验）& HASS（Highly Accelerated Stress Screening，高加速应力筛选），这是一种行之有效的能够提高产品可靠性的测试手段。
HALT & HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。
它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT & HASS的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
在美国之外，许多国际的3C电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。
概念Definition1、HALTHALT是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。
HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。
HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。
1.范围本标准规范规定了----的平板电脑的HALT试验技术要求、试验方法.适用于-------实验中心在新产品开发阶段及生产过程中的质量监控，确保产品的可靠性。
2.测试内容HALT（Highly accelerated life test高加速寿命试验）是一种利用阶梯应力加诸于产品，快速发现产品设计缺陷、操作边际及结构强度极限的方法，并加以改善和提高，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。
施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、综合应力等。
高加速寿命试验的具体测试内容包括以下几点：1). 逐步施加应力直到产品失效或出现故障；2). 采取临时措施，修正产品的失效或故障；3). 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正；4). 重复以上试验→失效→改进的步骤；5). 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。
3.测试目的HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。
往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。
其关键在于分析失效的根本原因。
试验的主要目的如下：1)．利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；2). 了解产品的设计能力及失效模式；3). 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；4). 快速找出产品制造过程的瑕疵；5). 增加产品的可靠性，减少维修成本；6). 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。
4.名词解析操作极限（OL）：产品的工作状态不再满足技术条件要求的极限应力，但应力消除后，产品仍能恢复正常工作。
LOL（Lower Operating Limit）:下操作极限UOL（Upper Operating Limit）:上操作极限破坏极限（DL ）：产品的工作状态不再满足技术条件要求的极限应力，且应力降低后，产品仍然不能能恢复正常工作（硬故障）。
LDL （Lower Destruct Limit ）下破坏极限UDL （Upper Destruct Limit ）上破坏极限Bypass 失效：用如隔离，局部加热，局部固定等手法使得某失效暂时不发生，测试可以继续进行。
图-1：产品规格与产品极限关系图5.测试项目5.1 初始检验测试样机数量：5台试验要求：试验样品所有的项目检测结果需要符合设计要求且没有不正常和用户感受不良问题。
试验方法：检查驱动是否正常安装，运行工程模式检查各功能模块是否正常1)：外观检查（包含烤漆，丝印等）2)：缝隙和断差检查（有无超出规格）3)：LCD 检查4)：IO 接口功能检查5)：按键和开关功能和手感的检查，6)：扬声器（音量调节到最大，播放音乐确认是否存在回音，杂音等异常）7)：LED 检测8)：其他（环境测试前后需进行基本功能检测、外观及装配检测、射频性能检测（典型信道静态条件下的射频性能检测），所有检测应正常. LDL LOL UOL UDL 产品规格 操作裕 操作裕 破坏裕 破坏裕 Stress5.2低温步进应力试验1) 没有包装的待测产品一台，插入SIM卡，在待机的状态下，插上充电器，耳机，播放能支持的最大分辨率的电影，并设置重复播放；2)从10℃开始，温度驻留20min，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常。
3)温度下降10℃，驻留20min, 透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.4)重复步骤3，直到样品显示或音乐异常，记录此温度。
5)停止测试，恢复到常温20℃,驻留10分钟后，对样品进行功能检查，并分析失效原因，对失效部位加以改进。
6)测试从失效温度+10℃继续进行，重复步骤3，直到产品失效，虽然常温下可以样品恢复正常，但此失效无法改善，则记录失效温度为LOL.7)从LOL继续测试，重复步骤3-5，直至产品失效，常温下样品仍无法工作，且此失效无法bypass,记录此失效温度为LDL.温度(℃)时间(min)图-2：低温步进曲线图5.3 高温步进应力试验1)没有包装的待测产品1台，插入SIM卡，在待机的状态下，插上充电器，耳机，播放能支持的最大分辨率的电影，并设置重复播放；2)从30℃开始，温度驻留20min，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常。
3)温度上升10℃，驻留20min, 透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.4)重复步骤3，直到样品显示或音乐异常，记录此温度。
5)停止测试，恢复到常温20℃,驻留10分钟后，对样品进行功能检查，并分析失效原因，对失效部位加以改进。
6)测试从失效温度-10℃继续进行，重复步骤3，直到产品失效，虽然常温下可以样品恢复正常，但此失效无法改善，则记录失效温度为UOL.7)从UOL继续测试，重复步骤3-5，直至产品失效，常温下样品仍无法工作，且此失效无法bypass,记录此失效温度为UDL.温度(℃)时间(min)图-3：高温步进曲线图5.4 快速热循环试验1) 没有包装的待测产品一台，插入SIM卡，在待机的状态下，插上充电器，耳机，播放能支持的最大分辨率的电影，并设置重复播放。
2)从20℃开始，温度驻留10min，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常。
3)温度上升到UOL-10℃，温度上升速率为60℃/min,驻留30min, 透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.4)温度下降到LOL-10℃，温度下降速率为60℃/min,驻留30min, 透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.5)重复测试步骤3-4四次，一共5个循环。
6)如测试过程中样品失效，对样品进行功能检查，并分析失效原因，对失效部位加以改进。
如仍然失效则先降低温度变化速率，如果过速率降至40℃/min仍然失效，则尝试改变上限和下限温度。
7)恢复到常温20℃,驻留20分钟后，对样品进行功能检查。
温度(℃)时间(min)图-4：快速温变曲线图5.5 振动步进应力试验1) 没有包装的待测产品1台，插入SIM卡，在待机的状态下，插上充电器，耳机，播放能支持的最大分辨率的电影，并设置重复播放；固定于振动平台上。
2) 测量样品上振动响应值，振动响应值在输入值50%~150%中间为最佳。
如不在此区间范围，尝试改变样品固定方式。
3)从10GRMS开始（根据样品耐振动能力不同，初始振动值可以从2GRMS,5GRMS开始），驻留10min，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常。
4)振动上升5GRMS（根据样品耐振动能力不同，振动上升幅度可以为 2.5GRMS），驻留10min,透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.5)重复步骤3，直到样品显示或音乐异常，记录此振动值。
6)停止测试，对样品进行功能检查，并分析失效原因，对失效部位加以改进。
7)测试从失效振动值上一步继续进行，重复步骤4，直到产品失效，虽然停止测试样品恢复正常，但此失效无法改善，则记录失效振动值为UOL.8)从UOL继续测试，重复步骤4-6，直至产品失效，停止测试仍无法正常工作，且此失效无法bypass,记录此失效振动值为UDL.振动(GRMS)时间(min)图-5：振动测试曲线图5.6 综合应力试验1) 没有包装的待测产品一台，插入SIM卡，在待机的状态下，插上充电器，耳机，播放能支持的最大分辨率的电影，并设置重复播放；2)从20℃开始，温度驻留10min，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常。
3)温度上升到温度UOL-10℃，温度上升速率为60℃/min,驻留30min, 同时设备开始振动，振动值为振动（UOL-5）/5，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.4)温度下降到LOL-10℃，温度下降速率为60℃/min,驻留30min, 振动值仍然为（UOL-5）/5，透过视窗和耳机检查样品画面和音乐是否正常.5)重复测试步骤3-4四次，一共5个循环，从第二个循环开始到第五个循环振动值依次为（UOL-5）*2/5，（UOL-5）*3/5，（UOL-5）*4/5，（UOL-5）。
6)如测试过程中样品失效，对样品进行功能检查，并分析失效原因，对失效部位加以改进。
如仍然失效则根据失效分析情况适量降低温度上下限值，温冲速率或振动值。
7)恢复到常温20℃,停止振动，驻留20分钟后，对样品进行功能检查。
时间(min)图-6：综合测试曲线图6 参考文献1、IPC-9592-20082、MIL2HDBK2217 , Reliability Prediction ofElectronic Equipment , U. S.Departmentof Defense[ S] .3、Barry Ma and Mekonen Buzuayene ,MIL2HDBK2217 vs. HALT/ HASS , Anritu ,2000.4、Michael Pecht ,Why the traditional reliabil2ity prediction models do not work2istherean alternative ? ,CALCE Electronic Packaging Research Center ,2000.5、Leonard , C. T. and Pecht , M. ,“HowFailure Prediction MethodologyAffectsElectronic Equipment Design ,”6、 Jones , J . and Hayes , J ,A Comparison ofElectronic2Reliability PredictionModels ,IEEE Transactions on Reliability , Vol .48 , No. 2 , June 1999。
