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高分辨透射电镜的原理
高分辨透射电镜（High-ResolutionEmissionTomography,HRET）是一种高分辨率的显微成像技术，它以高分辨的电子探针（ElectronProbe）作为主要成像工具。
它可获得原子分辨率的三维图像。
与其他显微成像技术相比，HRET具有下列优点：
1.获得的图像比电子探针观察到的高一个数量级；
2.对样品无破坏性；
3.图像质量高，分辨率可达0.1纳米；
4.可获得样品表面精细结构和信息；
5.可观察样品表面或内部细微结构，且不受样品厚度限制；
6.扫描速度快，每秒可扫描数百张图片。
高分辨透射电镜的工作原理是：电子探针在透射电镜中通过电子束轰击样品时，被激发的电子或离子被偏转到样品表面的不同部位，并在这些部位产生新的电子或离子。
这些被偏转的电子或离子分别向各自相反的方向运动。
偏转后，原来被激发到样品表面的电子或离子又回到原来的位置。
这样，就可以通过扫描电镜记录下来。
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高分辨率电子显微镜的原理与应用高分辨率电子显微镜，简称高分电镜，是一种基于电子束扫描显微镜的高分辨率显微技术。
与光学显微镜相比，高分电镜具有更高的分辨率和更强的深度，可以观察到更小的物质结构和更细微的细节。
本文将介绍高分电镜的原理、分类以及应用。
一、高分电镜的原理高分电镜的原理是基于电子的物理性质。
电子是一种带负电的基本粒子，其波长比光的波长小得多。
当电子射向物体时，会发生散射和反射现象，这种现象可以被用来获取物质结构的信息。
由于电子波长的小特性，高分电镜相比光学显微镜有更高的分辨率，可以观测到更小的细节。
高分电镜基于的物理原理包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜等，这里介绍一种常见的透射电子显微镜原理。
透射电子显微镜的工作原理是通过调节电子束的能量和散射角度，电子束穿透样品表面进入内部，被样品中的原子、分子等物质结构散射和吸收，通过诸如透射、散射、激光等方式记录电子图像的强度分布信息。
在这个过程中，光学透镜被用来聚焦电子束和样品。
通过收集样品上所有位置的透射电子（也就是电子散射后穿过样品的电子），原子和分子之间的空间结构和材料组成，可以得到高分辨率的图像。
二、高分电镜的分类高分电镜按照用途和功能可以分为以下类型：1. 透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜是将电子束直接发射到样品之内，检测被样品反射或者透射的电子，得到样品的图像。
TEM 的分辨率大概在 1 埃左右，可以观测到原子尺寸的细节，然而，由于透射电子束在穿过样品时会受到吸收、散射和偏转等因素的影响，因此，解析度还受到分辨差限制。
2. 扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜是利用电子束在样品表面形成的二次电子图像获取样品的表面特征。
SEM 适用于材料学、纳米科技和生物学等领域的表面和深度分析，具有较大的深度和高分辨率。
3. 原位电子显微镜（IEM）原位电子显微镜，是一种可以通过对反应的实时电子显微镜成像来定量直接观察化学反应发生过程的技术。
