射线检测计算题解

三、问答题３、1 什么就是射线照相灵敏度？绝对灵敏度与相对灵敏度得概念又就是什么？3、2 简述像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度得区别与联系？3、3 什么就是影响射线照相影像质量得三要素？３、４什么叫主因对比度？什么叫胶片对比度？它们与射线照相对比度得关系如何?3、5 写出透照厚度差为△X得平板底片对比度公式与像质计金属丝底片对比度公式,说明公式中各符号得含义,并指出两个公式得差异?3、６就像质计金属丝得底片对比度公式讨论提高对比度得主要途径，并说明通过这些途径提高对比度可能会带来什么缺点?3、7 何谓固有不清晰度?3、８固有不清晰度大小与哪些因素有关？3、9 何谓几何不清晰度？其主要影响因素有哪些？3、10实际照相中，底片上各点得U g值就是否变化？有何规律?3、１1试述U g与Ｕｉ关系以及对照相质量得影响。

３、12试述底片影像颗粒度及影响因素。

3、１3什么叫最小可见对比度?影响最小可见对比度得因素有哪些？3、14为什么射线探伤标准要规定底片黑度得上、下限?３、15采用源在外得透照方式比源在内透照方式更有利于内壁表面裂纹得检出，这一说法就是否正确，为什么?3、1６在底片黑度,像质计灵敏度符合要求得情况下，哪些缺陷仍会漏检?3、17为什么裂纹得检出率与像质计灵敏度对应关系不好？问答题答案3、１答：射线照相灵敏度就是评价射线照相影像质量得最重要得指标,从定量方面来说,就是指在射线底片上可以观察到得最小缺陷尺寸或最小细节尺寸；从定性方面来说,就是指发现与识别细小影像得难易程度。

绝对灵敏度就是指在射线照相底片上所能发现得沿射线穿透方向上得最小缺陷尺寸。

相对灵敏度就是指该最小缺陷尺寸与射线透照厚度得百分比。

3、2答：为便于定量评价射线照相灵敏度，常用与被检工件或焊缝得厚度有一定百分比关系得人工结构，如金属丝、孔、槽等组成所谓透度计,又称为像质计,作为底片影像质量得监测工具，由此得到得灵敏度称为像质计灵敏度.自然缺陷灵敏度就是指在射线照相底片上所能发现得工件中得最小缺陷尺寸.像质计灵敏度不等于自然缺陷灵敏度，因为自然缺陷灵敏度就是缺陷得形状系数、吸收系数与三维位置得函数;但像质计灵敏度得提高,表示底片像质水平也相应提高，因而也能间接地反映出射线照相相对最小自然缺陷检出能力得提高.3、3答：影响射线照相影像质量得三个要素就是:对比度、清晰度、颗粒度。

射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量= 质子数+ 中子数 A = Z + N例：60Co中有几个质子、中子？（27个质子、33个中子）二最短波长计算公式：hc 12.4∴λmin = ---- = ------- (h、c、e均为常数）Ue U单位：λmin：埃。

U：千伏。

例：U=200Kv, λmin =12.4 / 200= 0.062 埃三连续X射线的效率（转换效率）计算：公式：η=KUZK= 1.1--1.4×10-9 /v；K= 1.1--1.4×10-6 /Kv例：Z=74；U=200；求ηη=1.4×10-6 ×74×200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T’= 0.693 / λ例：60Co 已知：λ =0.130/年，求T’= 0.693 / 0.130 = 5.3年或：已知：T’ = 5.3年，求λ = 0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1------- =(------ )n n= t / T’No 2例: 60Co半衰期为5.3年，新源放射强度16居里，10.6年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x (1/2)n=16 x(1/4)=4(居里)五X射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ λ或λ= 0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev; λ的单位：埃。

或者：λ= 12.4 / E（与λmin=12.4/U有本质区别）这里：E的单位：Kev; λ的单位：埃。

例1：波长为0.25Å的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例2：能量为0.25 Mev的光子波长是多少？λ= 0.0124 / 0.25 = 0.0496Å例3：管电压为200Kv时，连续X射线的最大能量是多少？λmin=12.4/U=12.4/200=0.062ÅE= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ μ或μ =0.693/Th 例1：某材料衰减系数μ为1.3/cm，求半值层Th？Th=0.693/ μ=0.533cm.例2: 穿过12mm厚钢板前后射线强度分别为50mR/h和15mR/h,求这种钢板的半值层和衰减系数？50 15I=Io e-µd15=50 e-µd d=12 ln(15/50)=ln(e-µd )=- µd=-12 µµ = ln(15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式：I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图26例1：距源1.5米处射线强度为40mR/ h,求3. 5处的射线强度？I2= I1 /（f22/f12 ）=40/（3. 5 2/ 1.5 2）=7.35 (mR/ h)例2：焦距为1米处透照，得底片黑度为2。

射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例： 60Co 中有几个质子、中子？（ 27 个质子、 33 个中子）二最短波长计算公式： hc 12.4••• 入 min =---- = -- （h、c、e 均为常数）Ue U单位：入min埃。

U:千伏。

例： U=200Kv,入 min=12.4 / 200= 0.062 埃三连续 X 射线的效率（转换效率）计算：公式：n =KUZK= 1.1--1.4 X 10-9v ; K= 1.1--1.4 X 10-6Kv例：Z=74; U=200 ;求n n =1.4 X-60 X 74 X 200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T' = 0.693 / 入例：60Co 已知：入=0.130/年，求 T' = 0.693 / 0.130 = 5.3 年或：已知： T' = 5.3年，求入=0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1 =（）n n= t / T ' No 2例: 60Co 半衰期为 5.3 年，新源放射强度 16居里， 10.6 年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x （1/2）n=16 x（1/4）=4（居里）五X 射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ 或入=0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev;的单位：埃。

或者：入=12.4 / E （与入min=12.4/U 有本质区别）这里：E的单位：Kev; 入的单位：埃。

例 1：波长为 0.25? 的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例 2：能量为 0.25 Mev 的光子波长是多少？入=0.0124 / 0.25 = 0.0496?例 3：管电压为 200Kv 时，连续 X 射线的最大能量是多少？入 min=12.4/U=12.4/200=0.062?E= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ 卩或卩=0.693/ Th 例1 :某材料衰减系数□为1.3/cm，求半值层 Th？Th=0.693/ =0.533cm.例 2: 穿过 12mm 厚钢板前后射线强度分别为 50mR/h 和 15mR/h, 求这种钢板的半值层和衰减系数？5015I=lo e- d15=50 e-卩 d d=12 In(15/50)=1 n(e- 卩 d )=- 卩 d=-12 卩卩=In (15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式： I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图 26例1：距源 1.5 米处射线强度为 40mR/ h, 求3. 5 处的射线强度？I2= I1 / ( f22/f12 )=40/ ( 3. 5 2/ 1.5 2 )=7.35 (mR/ h)例 2：焦距为 1 米处透照，得底片黑度为 2。

射线检测计算题例题(答案供参考)1.已知Co60半衰期为年，从10Ci 衰减到大概需要多少时间解：已知 A 0＝10Ci A ＝ T 1/2＝年求 T ＝先求所相当的半衰期数A A N 02= 2693.05.210ln 2ln ln 0===A A N 年6.103.5221=⨯==NT T答：大概需要年。

2.用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照某工件焊缝，当时焦距为800mm ，曝光时间为8min ，底片黑度为。

若在10个月后，用该γ射源透照同一工件焊缝，其他条件都不变，焦距改为600mm ，求此时所需曝光时间。

解：已知 F 1＝800mm F 2＝600mm t 1=8min T=10月≈300天求 t 2=首先求10个月所相当的半衰期数N ，47530021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝24＝16根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 721680060082212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间为72min 。

3.某一工件焊缝，采用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照，当时焦距为1600mm ，曝光时间为90min 。

经过5个月后，仍用该γ射源透照同一部位焊缝，其他条件都不变，只将焦距改为800mm ，保持原来的黑度。

求此时所需曝光时间。

解：已知 F 1＝1600mm F 2＝800mm t 1=90min T=5月≈150天求 t 2=首先求5个月所相当的半衰期数N ，27515021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝22＝4根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 9041600800902212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间仍然为90min 。

4.对一壁厚为14mm 容器纵缝进行射线照相，照相质量为AB 级，采用的曝光参数为管电压150kV ，管电流5mA ，焦距600mm ，曝光时间为3min ，得到底片黑度为。

射线检测复习题（含参考答案）第1章一.是非题1.当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。

（X）2.当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。

（X）3.不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射Y射线。

（X）4.放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。

（X）5.射线能量越高，传播速度越快，例如Y射线比X射线传播快。

（X）6. Y射线或X射线强度越高，其能量就越大。

（X）7.当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。

（X）8.连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。

（X）9.X射线的波长与管电压有关。

（V）10.X射线机产生X射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为X射线的能量。

（X）11.同能量的Y射线和X射线具有完全相同的性质。

（V）12.X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。

（V）13.光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。

（V）14.光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。

（V）15.连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。

（X）16.连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。

（V）17. Y射线与X射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。

（X）18.在管电压、管电流不变的前提下，将X射线的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。

（V）19.连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。

（V）二.选择题1.质子和中子的区别是中子没有（ A ）A.电荷B.质量^自旋D半衰期2.当几种粒子和射线通过空气时,其电离效应最高的是（ A ）A.a粒子B.B粒子C.中子D.X和Y粒子3 .在射线探伤中应用最多的三种射线是（ A ）A.X 射线,Y 射线和中子射线B. a 射线,B 射线和Y 射线C. X 射线,B 射线和Y 射线D. X 射线，Y 射线和a 射线 4 .X 射线，Y 射线和a 粒子有一个共同点，即它们都是（D ）A.均质粒子辐射8.电磁辐射 C.微波辐射D.电离辐射 5 .通常所说的200kVX 射线指（A ）A.最大能量为0.2MeV 的白色X 射线B.平均能量为0.2MeV 的连续射线C.能量为0.2MeV 的单色射线D.有效能量为0.2MeV 的连续射线6 .在一般的工业探伤中，射线与物质相互作用时,主要产生的二个效应是（ B ）A.光电效应和电子对效应；B.光电效应和康普顿散射；C.康普顿散射和电子对效应；D.康普顿散射和电离；7 .当光子与物质相互作用时, 光子将部分能量用于逐出轨道电子，且剩余的能量 ）B. 光电效应D.电离 B.发射标识x 射线 D.以上都是 A ） B.物质的扬氏模量 D. 物质的晶粒度 10 .连续X 射线穿透厚工件时，有何特点?（ C ）A 第二半价层小于第一半价层；B 第二半价层等于第一半价层^第二半价层大于第一半价层；口.第二半价层与第一半价层关系不确定. 11 .X 射线的穿透能力取决于（B ）A.毫安B.千伏C.曝光时间 ^焦点尺寸12 .当施加于X 射线管两端的电压不变,管电流增加时，则（B ） A.产生的X 射线变为电子的动能,这就是（ B A.康普顿散射 C. 电子对效应8 .光电效应的特征是（ A ）?A.产生光电子C.发射二次电子9 .射线通过物质时的衰减取决于A.物质的原子序数、密度和厚度; C.物质的泊松比波长不变，强度不变.B产生的X射线波长不变，强度增加。

计算题1.在某管电压下产生的X射线穿过某物质其半值层为0.65cm，则它的十分之一值层是多少？解：半值层0.65cm时，μ=(ln2)/0.65=1.07cm-1，十分之一值层时ln10=1.07X，X=(ln10)/1.07=2.15cm2.透过厚铝板的X射线窄射束的照射剂量率是400x10-7C/Kg，再透过20mm厚的铝板时，剂量率变为200x10-7C/Kg，那么再透过10mm厚的铝板时，剂量率为多少？解：I1=I0e-μx1，200*10-7=400*10-7*e-3μ，μ=（ln2）/2，再按I2=I0e-μx2，这里x2=20+10=30mm=3cm，代入各参数即可求得I2=141x10-7C/Kg3.6个月前购进192Ir源，当时的射源强度为148x1010Bq，现在的强度为多少？（按每月30天计算）解：192Ir源的半衰期为75天，则λ=0.693/T1/2=0.693/75，根据G=G0e-λt,t=6x30(天)，代入得G≈28x1010Bq4.已知透过观片灯窗口的光照度为100000lx，若透过底片的光强不少于50lx，则该观片灯能观察底片的最大黑度值为多少？解：设L0=100000lx，L=50lx，则D max=lg(L0/L)=lg(100000/50)=3.35.若散射线忽略不计，当平板透照厚度的增厚量或减薄量相当于半值层厚度的1/x时，则胶片接受的射线照射量将减少或增大百分之几？解：(1)参阅图a,设半值层厚度为H,原厚度为T,增厚量为△T时,胶片接受的照射量的变动量为ξ-，则I1=I0/2T/H --(1)I2=I0/2(T+△T)/H --(2)(2)÷(1)：I2/I1=2(T-T-△T)/H=2(-△T/H)令△T=H/x，则I2/I1=2(-1/x)令I2=I1-△I，则(I1-△I)/I1=2(-1/x)=>1-(△I/I1)=2(-1/x)令△I/I1=ξ-，得ξ-=1-2(-1/x)(2)参阅图b，设半值层厚度为H,原厚度为T,减薄量为△T时,胶片接受的照射量的变动量为ξ+，则I1=I0/2T/H --(1) I2=I0/2(T-△T)/H --(2) (2)÷(1)：I2/I1=2(T-T+△T)/H=2(△T/H)令△T=H/x，则I2/I1=2(1/x)令I2=I1+△I，则(I1+△I)/I1=2(1/x) 令△I/I1=ξ+，得ξ+=2(1/x)-16.有A，B两种不同类型的胶片，经完全相同条件曝光后，得到的底片黑度分别为2.7和1.2。

“我是技能王”射线照相技术理论培训试卷一判断题15道，每题2分，共30分，对的打J，错的打X。

1・X射线和Y射线具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞，破坏生物组织。

(V )2•阴极电子以很高的动能飞向阳极，绝大部分能量转换为X射线，仅有一小部分转变为热能。

(X )3•射线照相法的最大优点是可以获得缺陷的直观图像，缺陷定性容易。

(V )4•便携式X射线机体积小，重量轻，便于困难位置作业。

(J )5.X射线管必须具有足够的真空度、足够的绝缘强度和良好的热传导能力。

(J )6.X射线机的技术参数中所列出的焦点尺寸通常是指实际焦点尺寸。

(X)7•像质计是用来检查和评价射线底片影象质量的工具。

(J )8•评价射线照相影像质量最重要的指标是射线照相灵敏度。

(J )9.y射线源体积小、重量轻、不用电、不用水，特别适合野外作业。

(V )10.训机的目的是吸收X射线管内的气体，提高X射线管的真空度。

(V ) 11•使用铅增感屏是减少散射线最方便,最经济也是最常用的方法。

(V ) 12•外径小于等于89mm,壁厚小于等于8mm的小径薄壁管，一般采用双壁单影法透照。

（X ）13•水洗不充分的底片，长期保存后会出现发黄现象。

（J ）14•显影时间的长短对底片的黑度和反差不会造成太大的影响。

（X ）15•显影温度与配方有关，手工处理的显影配方推荐的显影温度多在18°C—22°Co （ V ）二.选择题（单选）共15道，每题2分，共30分。

1.下列哪种材料的靶产生X射线的效率最高？（B ）A、低原子序数材料B、高原子序数材料C、低硬度材料D、高硬度材料2・射线的生物效应与下列哪些因素有关？（D）A、射线的性质和能量B、射线的照射量C、肌体的照射量D、以上都是3.射线检测人员每年允许接受的最大射线剂量为：（B ）A、50雷姆B、5雷姆C、0.5雷姆D、以上都不对4.X射线管的有效焦点是指：（C）。

A、阳极靶面积B、电了流轰击的儿何尺寸C、电了流轰击的几何尺寸在透照方向上的正投影尺寸D、阴极面积5•显影时，哪一条件的变化会导致影像颗粒粗大？（D）A、显影液活力降低B、显影液搅动过度C、显影时间过长D、显影温度过高6.胶片的银盐颗粒粗时：（A ）A、感光度高B、清晰度高C、对比度高D、灵敏度高7.引起底片黑度过大的原因是：(A )A、透照曝光参数过大B、定影时间过长C、水洗时间过长D、显影温度过低8.检出小缺陷的能力叫做：(B )A、射线照相的对比度B、射线照相的灵敏度C、射线照相的黑度D、射线照相的分辨力9.下述增感屏中，所得底片质量最佳的是：(A )A、铅箔增感屏B、金属荧光增感屏C、荧光增感屏D、以上都一样10・从可检验出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于: (D )A胶片颗粒度B、底片上缺陷图像的不清晰度C、底片上缺陷图像的对比度D、以上三种因素11・为了减少几何不清淅度：(A )A、在其它条件不变的情况下，源的焦点尺寸越小越好；B、在其它条件不变的情况下，源的焦点尺寸越大越好；C、胶片离被检物尽可能远；D、阳极到被检物的距离应尽可能小.12.显影过程中搅动胶片的目的是：(B )A、保护胶片，使之免受过大的压力B、使胶片表面的显影剂更新C、使胶片表面未曝光的银粒子散开D、防止产生网状皱纹13、减少底片水迹的方法是：(B )A、湿胶片快速晾干；B、将胶片在脱水液中浸一两分钟后自然晾干;C、使用新鲜的定影液；D、冲洗时使水象瀑布似地落在胶片上.14、y射线的能量是：(B)A、由焦点尺寸决定的B、由同位素的类型决定的；C、可由操作者控制的；D、铁192比钻60的射线能量高。

76.有一圆周长3000mm的圆周对接焊道，母材厚度28mm，使用单面焊，焊冠高2mm，若采用中心照相，射源尺寸为4mm，请计算其几何不清晰度？（请简要写出计算过程）(3000/2π)-30=447mm Ug=FT/D=计算题1.在某管电压下产生的X射线穿过某物质其半值层为0.65cm，则它的十分之一值层是多少？解：半值层0.65cm时，μ=(ln2)/0.65=1.07cm-1，十分之一值层时ln10=1.07X，X=(ln10)/1.07=2.15cm2.透过厚铝板的X射线窄射束的照射剂量率是400x10-7C/Kg，再透过20mm厚的铝板时，剂量率变为200x10-7C/Kg，那么再透过10mm厚的铝板时，剂量率为多少？解：I1=I0e-μx1，200*10-7=400*10-7*e-3μ，μ=（ln2）/2，再按I2=I0e-μx2，这里x2=20+10=30mm=3cm，代入各参数即可求得I2=141x10-7C/Kg3.6个月前购进192Ir源，当时的射源强度为148x1010Bq，现在的强度为多少？（按每月30天计算）解：192Ir源的半衰期为75天，则λ=0.693/T1/2=0.693/75，根据G=G0e-λt,t=6x30(天)，代入得G≈28x1010Bq4.已知透过观片灯窗口的光照度为100000lx，若透过底片的光强不少于50lx，则该观片灯能观察底片的最大黑度值为多少？解：设L0=100000lx，L=50lx，则D max=lg(L0/L)=lg(100000/50)=3.35.若散射线忽略不计，当平板透照厚度的增厚量或减薄量相当于半值层厚度的1/x时，则胶片接受的射线照射量将减少或增大百分之几？解：(1)参阅图a,设半值层厚度为H,原厚度为T,增厚量为△T时,胶片接受的照射量的变动量为ξ-，则I1=I0/2T/H --(1)I2=I0/2(T+△T)/H --(2)(2)÷(1)：I2/I1=2(T-T-△T)/H=2(-△T/H)I2/I1=2(-1/x)令I2=I1-△I，则(I1-△I)/I1=2(-1/x)=>1-(△I/I1)=2(-1/x)令△I/I1=ξ-，得ξ-=1-2(-1/x)(2)参阅图b，设半值层厚度为H,原厚度为T,减薄量为△T时,胶片接受的照射量的变动量为ξ+，则I1=I0/2T/H --(1) I2=I0/2(T-△T)/H --(2) (2)÷(1)：I2/I1=2(T-T+△T)/H=2(△T/H)令△T=H/x，则I2/I1=2(1/x)令I2=I1+△I，则(I1+△I)/I1=2(1/x)令△I/I1=ξ+，得ξ+=2(1/x)-16.有A，B两种不同类型的胶片，经完全相同条件曝光后，得到的底片黑度分别为2.7和1.2。

射线检测复习题(含参考答案)第3章是非题1.射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比度降低。

(×)？2.一般说来,对厚度较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。

(×)3.用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。

(×)4.减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。

(√)5.增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。

(×)6.使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。

(×)7.胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。

(×)?8.如果信噪比不够，即使增大胶片衬度，也不可能识别更小的细节影像。

(√)9.散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。

(√)10.底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。

(√)11.射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。

(√)12.底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。

(√)13.固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。

(√) 选择题1.射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做( B )A.主因对比度B.底片对比度C.清晰度D.胶片反差2.影响主因对比度的是( D )A.射线的波长B.散射线C.工件的厚度差D.以上都是3.射线底片上缺陷轮廓鲜明的程度叫做( C )A.主因对比度B.颗粒度C.清晰度D.胶片对比度4.几何不清晰度也称为( D )A.固有不清晰度B.几何放大C.照相失真D.半影5.决定细节在射线底片上可记录最小尺寸的是( D )A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是6.固有不清晰度与下列哪一因素有关( D )A.源尺寸B.胶片感光度C.胶片粒度D.射线能量7.下列哪一因素对胶片感光度、梯度、粒度均产生影响（ D ）？A.改变KV 值B.改变焦距C.改变mA 值D.底片的黑度6.工件中靠近射源一侧的缺陷图象，在下列哪种情况下清晰度最差？（ C ）A.焦距增大B.焦点尺寸减小C.工件厚度增大D.胶片与工件距离减小10.决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因素是（ A ）?A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是11.胶片与增感屏贴合不紧，会明显影响射线照相的（ B ）A.对比度B.不清晰度C.颗粒度D.以上都是12.以下哪一种措施不能提高射线照相的信噪比（ D ）？A.使用速度更慢的胶片B.增加曝光量C.提高底片黑度D.提高射线能量问答题1. 影响射线质量的三个要素有哪些？如何定义的？答：影响射线质量的三个要素是：⑴射线照相对比度，定义为底片影像中相邻区域的黑度差；⑵射线照相清晰度，泛指底片图像的明晰程度，采用“不清晰度(胶片影像黑度过渡区的宽度)”来定量描述清晰度，。

射线检测试题一、判断题（本题每小题1分，共30分）1．射线照像的主要优点是可检测工件内部缺陷的大小、深度。

( ) 2．x射线、r射线和可见光都是电磁波。

( ) 3．射线检测只能对低碳钢，低合金钢和奥氏体钢进行检测。

( ) 4．检测用仪器、设备性能应进行定期检定，检定结果合格就行，可不作记录。

( ) 5．根据容器在使用中的重要作用、设计压力以及介质的危害性程度，第一类压力容器指的是危害程度最高的容器。

( ) 6．压力容器的无损检测必须在形状尺寸和外观质量检查合格后才可进行。

( ) 7．锅炉压力容器一般选用的射线照相质量等级为B级。

( ) 8．压力管道按其用途来分可分为工业管道，公用管道和长输管道。

( ) 8．为了提高底片清晰度，在能穿透工件的前提下尽可能的选用较低能射线。

( ) 9．X射线管在使用过程中冷却不良会影响管电流的稳定性。

( ) 10．曝光后的胶片处理过程是显影、停影、定影、水洗和干燥。

( ) 11．如果显影时间过长，有些未曝光的AgBr也会被还原，从而增大了底片灰雾。

( ) 12．椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。

( ) 13．像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的中间位置。

( ) 14．标记一般应放在焊缝边缘紧贴焊缝的位置。

( ) 15．公称厚度是指受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。

( ) 16．当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，只要有一种方法检测合格，就可以认定此部位合格。

( ) 17．焊缝缺陷中纵向裂纹指的是与焊熢垂直的裂纹。

( ) 18．当各类缺陷的质量级别不同时，以质量平均级别作为对接焊接扫头的质量级别。

( ) 19．JB/T4730-2005标准中，压力管道对接钢焊缝焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹和根部咬边共七大类。

( ) 20．辐射防护一般有距离防护，屏蔽防护，时间防护。

射线检测复习题(含参考答案)第2章是非题1。

X光管的有效焦点总是小于实际焦点。

（√) 2.X射线管中电子的速度越小,则所发出的射线能量也就越小。

(√）3。

放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。

(×）4.同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。

(√) ?5.对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度越大. （√）6.相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。

（×）7。

所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。

(×) 8.胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。

（√) 9。

宽容度大的胶片其对比度必然低。

（√) 10.对非增感胶片来说，胶片反差系数随黑度的增加而减小。

(×) 11。

铅增感屏除有增感作用外,还有减少散射线的作用因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。

（×）12。

放射源的比活度越大，其半衰期就越短.（×）选择题1.管电压、管电流不变，将X射线管阳极由铜换成钨，产生X射线线质如何变化?( C )A。

变硬 B.变软 C.不变 D.不一定2.X射线管的阳极靶最常用的材料是（ B ）A.铜B.钨C.铍D。

银3。

在条件允许的情况下，焦点尺寸应尽可能的小,其目的是（ B ) A。

减小设备体积 B.提高清晰度C。

增加能量密度D。

节省合金材料4。

下列哪一个特征，不是X射线的靶材料所要求的（ D )A.高原子序数B.高熔点C。

高热传导率D。

高质量吸收系数5。

X射线管对真空度要求较高，其原因是( D ）A.防止电极材料氧化B。

使阴极与阳极之间绝缘B.使电子束不电离气体而容易通过D。

以上三者均是6。

决定X射线机工作时间长短的主要因素是( D )A.工作电压kV的大小B。

工作电流mA的大小C。

工件厚度的大小 D.阳极冷却速度的大小7。

一般X射线机调节管电压的方法通常是（ B )A.调节灯丝的加热电压B. 调节阴极和阳极之间的电压C。

射线检测计算题例题(答案供参考)1.已知Co60半衰期为5.3年，从10Ci 衰减到2.5Ci 大概需要多少时间？解：已知 A 0＝10Ci A ＝2.5Ci T 1/2＝5.3年求 T ＝？先求所相当的半衰期数A A N 02= 2693.05.210ln 2ln ln 0===A A N 年6.103.5221=⨯==NT T答：大概需要10.6年。

2.用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照某工件焊缝，当时焦距为800mm ，曝光时间为8min ，底片黑度为2.0。

若在10个月后，用该γ射源透照同一工件焊缝，其他条件都不变，焦距改为600mm ，求此时所需曝光时间。

解：已知 F 1＝800mm F 2＝600mm t 1=8min T=10月≈300天求 t 2=?首先求10个月所相当的半衰期数N ，47530021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝24＝16根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 721680060082212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间为72min 。

3.某一工件焊缝，采用Ir 192射线源(T 1/2＝75天)透照，当时焦距为1600mm ，曝光时间为90min 。

经过5个月后，仍用该γ射源透照同一部位焊缝，其他条件都不变，只将焦距改为800mm ，保持原来的黑度。

求此时所需曝光时间。

解：已知 F 1＝1600mm F 2＝800mm t 1=90min T=5月≈150天求 t 2=?首先求5个月所相当的半衰期数N ， 27515021===T T N 再求射源活度的衰减倍数K ，K ＝2N ＝22＝4根据曝光因子并考虑射源活度的衰减倍数K ，则K F F t t 212212= min 9041600800902212212=⨯⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯==K F F t t 答：所需曝光时间仍然为90min 。

问答题1、射线检测工件时，用探测器检测到，没有缺陷部位的一次射线透照强度为150mR/h,缺陷部位的一次射线透照强度为165mR/h,，衰减系数0.2 ,散射比1.75,若忽略缺陷的衰减系数，求透照方向缺陷的厚度。

解：由题意I P =150mR/h, I P ’=165mR/h, n=1.75, μ=0.2 若忽略μ’ ΔI = I P ’-I P =165-150=15mR/h 由I = IP （1+n ）＝150×（1＋1.75）＝412.5 由主因对比度公式：△I/I=μ△T/(1+n)△T=△I(1+n)/(μI ）=15×(1+1.75)/(0.2×412.5)=0.5cm 答：透照方向缺陷的厚度为0.5cm.2、采用双壁双影法透照￠57×3.5mm 的高径法兰与管子对接焊缝，已知X 射线机源尺寸为3.0×3.0mm ，透照焦距为600mm ，求胶片侧焊缝和射源侧焊缝的照相几何不清晰度Ug 1和Ug 2？是否满足JB/T 4730.2–2005的 AB 级要求？解：已知：D 0=57mm ， d =3mm ， T =3.5mm ， F =600mm ，焊缝余高ΔT 取2mm ，胶片侧时b 1=T+ΔT ，射源侧时 b 2=D 0+2ΔT 胶片侧焊缝的几何不清晰度： 1g U= d b f=db F b=-00()()d T T F T T +∆-+∆=3(3.52)600(3.52)⨯+-+0.0276m m =射源侧焊缝的几何不清晰度 ：2g U= d b f=d b F b=-00(2)3(5722)0.3395(2)600(5722)O O d D T m m F D T +∆⨯+⨯==-+∆-+⨯答：胶片侧焊缝的几何不清晰度Ug 1为0.028 mm ，射源侧焊缝的几何不清晰度Ug 2为0.34 mm ，3、用某X 射线探伤机透照某一试件，原透照管电压为200kV ，管电流为5mA ，曝光时间为4min ，焦距为600mm ，现透照时管电压不变，而将焦距变为900mm ，如欲保持底片黑度不变，问如何选择管电流和时间？ 解：已知i1=5mA ， t1=4min ， F1=600mm ， F2=900mm ，求i 2和t 2. 由式 i 1t 1/F 12= i 2t 2/F 22得 i 2t 2= i 1t 1F 22/ F 12=5×4×9002/6002=45mA ·min 答：第二次透照的曝光量为45mA ·min ，可选择电流5mA ，曝光时间9min 。