美国军用标准（MIL-O-13830A）
此标准适用于生产，加工以及检测军事装备所需的光学组件。
此标准已通过美国国防部的认可，强制以下部门（海军，空军，陆军）使用
1.概述：
此标准函盖生产，加工以及检测以下光学组件产品诸如：透镜，棱镜，窗口以及用于防火仪器或设备。
2.应用文件
2.1以下文件自投标或询单发出之日起试用，将成为报价内容的一部分。
文件如下：
MIL-G-174 -----玻璃光学组件
MIL-C-675-----镀膜玻璃光学组件
MIL-A-3920---光学组件粘着力,热塑性
MIL-S-11030—密封材料，非固化的聚硫化物基料
MIL-M-13508---光学组件反射镜、玻璃前表面铝化
MIL-A-14443---用于透镜粘合的玻璃与金属粘合的粘合剂
MIL-O-16898—光学组件包装
图纸
美国军需品要求
F7560085----振动测试
C7641866---光学组件表面质量标准
3.图纸要求：
3.1所有的光学组件，配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求，除非详细规格或合同之可行图纸有特殊的说明和指定。
3.2所用的材料也必须与规格或图纸的说明相一致
3.2.1光学玻璃组件在规格，以及级别必须与图纸要求相一致，同时也必须符合MIL-G-174的要求，除非合同管理人员另有规定。一旦授权使用玻璃而非其它材料时，玻璃光学数据及设计数据等完整的信息应提供给合同管理人员。
3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明，光学粘合必须同MIL-A-3920的要求相一致
3.2.3 粘结化合物对于玻璃同金属相粘连，必须与MIL-A-14443的要求相一致
3.2.4密封化合物用于密封的化合物必须与MIL-S-11030的要求相一致
3.2.5增透膜：光学表面镀膜要求的增透膜必须与MIL-C-675的要求相一致
3.2.5.1 反射面：铝化反射面必须于MIL-M-13508的要求相一致
3.3机械尺寸大小
光学组件机械尺寸及光学数据必须与合同以及图纸的要求相一致
3.3.1边缘
所有光学组件都应当倒边，大小0.020-0.005英寸，45度+/-15度（沿面宽进行测量），除非有特殊指定。如果边的交汇处角度在135度或者更大，则不需要倒边，除非图纸对此有特殊的要求。
3.4抛光和缺陷
光学玻璃在抛光和缺陷的限制方面都必须符合此标准或在可行图纸或图表数据上有所显示。
3.4.1玻璃的缺陷
裂纹、条纹、孔、气泡、杂质、划横、皱纹及其它MIL-G-174允许的，存在于点、面、或者定位的缺陷，如果损坏了组件的性能，则应该引起拒收。
3.5 光学玻璃表面质量
3.5.1 光学用图纸和图表光学图纸表明表面质量，光学图表表明光学轴向光束直径。
3.5.1.1 指定缺陷许可范围
对于表面质量的许可范围通常以两个数字来表示（C7641866），表示在两个方面的级别要求。第一个数字表示划痕，第二个数字表示麻点。
3.5.2划痕
3.5.2.1 圆形组件
最大划痕的尺寸大小的总和不得超过光学组件直径的四分之一
3.5.2.1.1 最大划痕的长度
如果存在较大划痕，则这类划痕的总数*组件长度/组件直径或正确区域的直径的比值，不超过与最大划横总数的一半。如果不存在较大的划痕，则划痕的总数*组件长度/组件直径或正确区域的直径的比值，不超过与最大划横总数。
3.5.2.2 非圆形光学组件
非环行光学组件直径的计算方法为同等面积的圆周直径。利用3.5.2.1.1计算划横时，根据光学组件图纸的透光区外的划横不被考虑在内。
3.5.2.2.1 棱镜有效脊面
棱镜有效脊面被认为为是一个单个面，其面积相当于各个脊面的总和。这个方法用于划横和麻点的计算，此外脊边不视为可允许划横长度总和之内。屋脊棱镜划横、麻点公差是在从上方观察同等面积基础上所得出的。
3.5.2.2.2 中心区表面质量
规定划横数为20或更少的表面应没有划横凝聚现象，也就是说，每1/4英寸的直径范围内，不超过4个划横。此要求不适用于划横数少于10的表面。直径≤20mm的光栅表面，特别是胶合光栅，应该在图纸上消除区域分别来单独处理光栅表面。
3.5.2.3 透光区外表面质量
表面质量认为是80/50，除非另有规定。
3.5.2.4 镀膜划横
未渗入玻璃表面的镀膜划横，与3.5.2规定的划横规定一致。镀膜划横不能决定表面质量，但除了表面质量，他可用于评估玻璃划横和镀膜划横。
3.5.3 麻点
3.5.3.1 麻点定义
麻点大小是允许存在的缺陷直径为量的，单位1/100mm。如果是不规则的麻点，其直径为最大长度与宽度和的平均值。
3.5.3.2 最大麻点尺寸
在单一光学表面上每20mm直径上允许有一个最大麻点。所有麻点直径由检验员统计，不得超过最大尺寸麻点直径（20mm直径内的最大麻点）的两倍。小于2.5微米的麻点忽略不计。
3.5.3.3 表面质量
麻点数为10个或更少的表面，所有麻点必须间隔1mm。麻点数多余10个的不要求表面进行散射检验。3.5.4 气泡和杂质
气泡被视为表面麻点。玻璃内的杂质为视为气泡。不规则杂质尺寸取其最大长度与宽度和的一半。气泡尺寸公差与麻点相同，但相同气泡公差，尽管相同，又区别于麻点。
3.5.
4.1 最大尺寸气泡
单个组件每20mm光径或面积可允许的最大尺寸气泡只有1个。检验员评估所有气泡直径总和，这个值不超过最大气泡直径的两倍。麻点数为10或更少，则气泡要求与3.5.3.1麻点的要求一致。
3.5.5 表面缺陷的极限值
如果图纸无规定，S/D的极限值由表I确定，S/D是建立在放大光束直径基础上的。
3.5.5.1 放大光束直径
光束直径是从光学数据中得出的。一束进入观察者眼睛的有向轴向射线设想在光学表面上的直径为光束直径。如果出射光瞳大于3.5mm，那幺在眼中的光束直径为3.5mm；如果出射光瞳小于3.5mm，那幺眼中的光束直径应出射光瞳一样大。
3.5.5.2 小于表I的光束直径
光束直径小于但接近于焦平面时，缺陷尺寸通过目镜放大或目镜乘以直立系统放大倍数来决定。
3.5.5.3 区域
轴向光束直径≤25%透光区，那幺这个表面分为中心区和外部区。中心区宽度上为透光区的一半。光栅区域大小见3.7.11.1规定。
3.6 粘合缺陷
粘合透镜透光区内粘结气泡，污点，不溶解颗粒，灰尘等不得超过3.5.3.1、3.5.4.1规定的麻点、气泡限制。
3.6.1 粘合表面质量
透光区内粘合缺陷应考虑到粘合界面是规定了表面质量的单独的一个面。如未规定，粘合面的表面质量应在临近各面的中间。
3.6.2 边的分离
光学组件边的分离与粘合缺陷不应超过棱镜或透镜粘结面的倒边，大于组件倒边与透光区半径之间距离的1/2。边的分离与缺陷最大不得进入组件粘合表面1mm。在棱镜、透镜倒边处测得边的分离与缺陷总和大于1/2mm，那幺不得超过周长的10%。
3.6.3 焊接缺陷（玻璃与金属）
焊接光学装置沿焊接边有弧型粘结的连续焊珠。
3.6.3.1 空隙与分离
符合3.7.2、3.8.2.5.2要求的，空隙与分离不应超过焊接区域的10%。
3.7 光学组件详诉
3.7.1 操作温度
粘合的光学组件经过-80到+160F度温度检测后，应该没有“羽毛状”，没有边的饿分离或粘合软化现象，除非3.6另有规定。但边的持续分离或粘合缺陷应该引起拒收光学组件。
3.7.2 相关湿度—操作温度
粘合组件经过温度+130F度，至少95%相关湿度，然后经受-80，+160F度后，应没有“羽毛状”，没有边的分离或粘合软化现象，3.6规定的除外。
3.7.3 增透膜
光学组件按图纸规定的“表面镀膜”应镀上增透膜。
3.7.4 光学黑化
光学组件精磨面黑化时，采取一定的技术手段。
3.7.5 分辨检测
每个目标仪，聚象透镜，直立系统，目镜，反射镜，楔子，窗口片，滤光片，棱镜，棱镜装置按4.2.5规定的进行分辨检测。
3.7.6 滤光片平行度
滤光片平行度应在图纸规定的公差范围内。如果没有公差规定，置于望远镜内部或前面的滤光片光线偏转
不得超过1弧分；目镜和出射光瞳之间的滤光片不得偏转5弧分。
3.7.7 光栅刻度距离
光栅刻度距离按4.2.10.5的规定检测。
3.7.8 抛光表面
根据4.2.2检测时抛光表面应没有灰尘或污迹。
3.7.9 透镜
3.7.9.1 表面质量
各种透镜表面质量必须符合图纸或仪器规定要求。如果未作规定，表面质量按下列方法进行：
物镜、组合透镜、窗口片及焦平面外≥15个屈光度的光学组件，他们的表面质量为80/50或更好。
聚光透镜，向场透镜中心区表面质量20/5，外部区40/15
目镜中心的透镜在中心区表面质量40/15，外部区40/20。
接目镜，除了对称的目镜以外，中心区表面质量40/20，外部区60/30。
置于组件内的滤光片按棱镜3.7.10.1要求。
位于目镜前的滤光片表面质量为80/50或更好。
3.7.9.2 崩口
如果边崩口不影响装置棱镜的密封，那幺未侵入棱镜透光区的崩口是允许的。所有崩口＞1/2mm的表面，应该粗糙其表面，降低其反射和另外崩口的可能性。崩口总宽度＞1/2mm，那幺崩口不得超过周长的10%。在任一面或边上深度1/2mm的裂缝必须磨去。精磨面崩口标准按本段要求，超过此限制的应引起拒收。崩口、裂纹超过精磨面2%或超过2mm深的应引起拒收。崩口、裂纹妨碍光学路径或注膜或密封装置无论其大小，都应引起拒收。
3.7.9.3 同心度
精磨时所有组件的边对应着光学轴直径作为中心。由两或多个组件构成的透镜应该胶合，而且以每个组件的轴与其它组件轴的重合轴作为中心。目透镜应该是6弧分之内的同心度。其它所有透镜应该是3弧分的同心度，除非图纸或规定另外有说明。中心化和胶合后，突出直径公差50%的机械离心玻璃应该去除。光学离心定义为：与透镜几何轴重合的入射光线折射后的角度偏转。
3.7.10 棱镜和反射镜
3.7.10.1 表面质量
每个棱镜的表面质量应根据可行图纸和仪器规定。焦平面外≥15个屈光度的面，它的SD80/50或更好。焦平面内5-15个屈光度的面，中心区的表面质量为20/5，外部区域为40/15。焦平面内5个以内的屈光度的面，SD要求应于光栅相同。
3.7.10.2 边崩口
边崩口未侵入棱镜透光区的，在下列限制中可以存在：崩口总宽度不超过崩口所在边的长度的10%。崩口从倒边处测得，不是从尖边处。例如倒边后，非倒边前。小于1/2mm的崩口不被计算在内。大于1/2mm的崩口需要处理。崩口的侵入应从倒边处棱镜面测得。如果紧靠抛光面的棱镜最短边的正常长度（测得倒边前尖角）为≤25.4毫米，崩口可以侵入表面1mm；如果长度为＞25.4mm，可侵入表面2mm。如果崩口未影响注膜或密封，崩口没有侵入透光区，那幺崩口可以存在。肉眼可视断口不允许存在。
3.7.10.3 图纸要求
角度偏差、锥型差或由于金字塔形、球形，散光、清晰度、成像失真所引起的误差由图纸规定。
3.7.10.4 直棱镜
直棱镜根据4.2.5.2规定检测。
3.7.10.5 反射面-镀银或铝
3.7.10.5.1 边
目视透镜一部分镀银的面的边应该是尖形，规则状。检测时需放大镜协助，放大倍数与棱镜的相关。
3.7.10.5.2 缺陷
反射面的缺陷与其它光学表面一样，可用3.7.10.1规定的同样的方法处理。
7.10.5.3 透光区
棱镜透光区应无其加工面留下的银或铝颗粒。
3.7.11 光栅
3.7.11.1 表面质量
表面质量由图规定。没有规定时，表面质量应遵照3.5.5.3的焦平面标准，区域范围除外。对于在中心面积内有光栅刻度端和那些在中心面积外有无刻度的水平和垂直线的光栅，它们的中心区应是中心面积，宽度上是透光区的一半。中心区域外有刻度的光栅，在宽度上1/2透光区，中心区应是中心面积，宽度上是透光区的3/4。在透光区范围外的缺陷如果不影响仪器性能可以允许其存在。
3.7.11.2 边崩
边崩限制根据3.7.9.2评价。
3.7.11.3 平面的平行度
光线平面的平行度应该在图纸规定的公差范围内。如果没有给定公差，公差应该是光径公差6弧分。
3.7.11.4 标记
光栅标记利用目镜观察，放大倍数与在成品仪器里观察光栅的放大倍数相同。主要检测字母和数字（无论是在产品号码还是靠近刻度的地方）的清晰可读度。如果字母和数字是清晰的，那幺数字或字母缺陷是可以接受的。印刷体字母或数字是允许的。线截掉线宽的一半是允许的。光栅包括≥15线，每5条线有一条断开或裂纹是允许的。所有的线应是统一的宽度和深度，而且线交汇于尖点。沿着线方向线宽的稳定变化或突然变化不应超过线宽的20%。任何情况下光栅线弯曲都不超过线宽的1/2.光栅线交叉点箭头半径不应超过线宽。如果用合适目镜观察光栅时有可见酸燃烧，则应该引起拒收。
3.7.11.5 照明光栅
用仪器灯或相同范围的灯照射光栅线时，缺陷亮度高于光栅线的亮度，则缺陷应引起拒收。
3.7.12 楔子和窗口片其表面质量应根据3.7.9.1规定一致。
3.8 光具组
3.8.1 未装配的组件
按设计规定完成的未装配的光具组根据与光具组相关的光学图例进行装配，然后根据4.2.9进行检测。
3.8.2 装配的组件
按设计规定完成他们各自装配的光具组将根据图纸和仪器规格进行组装，然后根据4.2.10进行检测。
3.8.2.1 缺陷标准
本标准里未包括的缺陷，如果没有损坏成品仪器的性能的缺陷，是可以接受的。缺陷的接受与否取决于组件在成品光具组中的位置。组件中的缺陷如果离焦平面有一定距离，那幺缺陷就没有靠近焦平面的缺陷后果严重。任何情况下应该着重强调的是棱镜或透镜的性能而不是它们的外形，除非后者确实说明工艺不精。重要的顺序如下：
a．最精确的表面
光栅的刻蚀表面
焦平面内聚光透镜表面
b．一般精确的表面
光栅最近处物镜表面
焦平面附近聚光透镜、中心透镜或棱镜表面
c．不精确表面
窗口片、物镜、棱镜、直立系统，目镜
3.8.2.2 校准
所有完成装配的光具组的光学组件进行校准，这样从光学轴上观察的出射光瞳，它的最小直径为≥90%主直径。从光学轴的一点距目镜2英尺处，在10%的出射透光区内观测出射光瞳与出射透光区是同心的。3.8.2.3 密封连接
根据规定，湿的密封化合物应用到光学组件上，形成不易破裂的珠滴。注入密封化合物24小时后，方可观察仪器。
3.8.2.4 填充
使用填充、填隙、契子或光学组件下或周围有间隙应该拒收，除非图纸有规定。
3.8.2.5 性能特征
3.8.2.5.1 振动
光学仪器按照规定4.2.10.7进行振动检测后，所含杂质应在规定的范围内。如果没有详细的要求，任何所限
空间的杂质不应在尺寸或数量上超过可允许麻点的规格。仪器此检测后应没有松动和损坏。
3.8.2.5.2 冲击
完成装配的光学组件通过玻璃与金属的粘合得到其它组件机械支撑，因此需进行冲击实验。
3.8.2.5.3 清洁
成品仪器光学表面应该清洁，没有冷凝物和易挥发的物质。检查方法如4.2.10.9。未经责任技术部门许可，禁止使用保留灰尘的油脂。
3.8.2.5.4 视差
应该据4.2.10.4消除视差。
3.8.2.5.5 固定目镜焦距
除非另有规定，目镜放置在-0.75-- -1.0屈光度时，物镜中心的光栅应该在焦点上。一个有放大3倍的校准的屈光度计或同样的辅助望远镜可完成此项工作。
3.9 工艺
根据机第四章检测时，工艺标准应符合本标准所有要求及任何参考标准或图纸。
4. 质量保证条令
4.1 检测责任
除非合同或定单上有所规定，卖方负责所有检测要求的性能。除非另有规定，卖方可以利用自己的设施或政府认可的赢利性实验室进行实验检测。政府有权开展产品规格中所列的任何检测，这些检测是保证卖方及其服务满足要求的必要手段。
4.2 检测方法
4.2.1 光学组件检测
光学组件根据可行的产品标准认可的光学方法和设备来开展检测。如没有检测方法与设备，应采用下列通用标准程序。在得到责任技术活动批准前应采用合适的样品程序。
4.2.1.1 机械尺寸
应检测每个光学组件的机械尺寸是否与图纸的一致，应根据此标准要求的开展检测。
4.2.2表面质量
组件应利用符合3.5.2 3.5.5 3.6.1 3.7.9.1 3.7.10.1要求的下列方法开展检测。
4.2.2.1 检测方法1
观测待检组件的精磨玻璃或乳白表面，方法：距离玻璃大约3英寸处用40瓦白炽灯泡照射其背面。在紧靠玻璃前面的位置上放置大约占据1/2玻璃面的两或多个不透明水平棒。
4.2.2.2 方法2
40瓦发出的光穿过精磨玻璃后穿过组件。光径与黑色背景区成大约90度时，光从表面分散可观察到缺陷。
4.2.3 温度测试
4.2.3.1取每种型号胶合或粘合组件第一批10片中的3片，在3.7.1规定的高低温下开展检测。如有因怀疑其质量，检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测。经过这些测试的组件将通过其它所有要求的测试。
4.2.3.2胶合或粘合组件应在-80+/-2度F下5个小时。在此温度下视觉上检测，然后在室温下放置5小时后再进行检测,光学设备上没有羽毛状或网状、表面组件没有分离现象。开展此实验时光学仪器冷却至-80度或升温至室温过程中不应受到任何热冲击。
4.2.3.3 胶合光学装配在高温下应该开展以下测试。组件被严格固定，方法为它的胶合分界面大约在垂直面。扩大重量导致光学装配中每平方英寸胶合或粘合面受到其它组件5央司的抗煎应力的停滞。在任何情况下重量都不小于1央司。如透镜，π*D2/4，可以计算民间机，其中D是透镜直径。整套装置可以在周围温度+160+/-2F度或再高一点的温度环境下2小时。透镜在室温下检测并且一个组件相对于另一个的运动或滑动不超过0.002英寸时，则组件符合4.2.6规定的要求，。开展此实验时光学仪器升温至+160度或冷却至室温过程中不应受到任何热冲击。
4.2.3.4 故障调查
光学装置的故障阻碍了正常的发货，应展开调查原因。如果合同管理公司代表在场且希望得知装置故障的原因，那幺立约人应该在代表在场的情况下立即展开调查。如果调查显示原因在于胶合或粘合，将不接受此光学装置以及它的胶合或粘合缺陷。立约人应改正胶合技术及改正先前生产的错误的光学装置。取此种
型号的拒收品10片，经过检测，成功通过温度检察后再认可和发货。
4.2.4 温度-相关湿度
4.2.4.1 样品尺寸
合同初期或者一旦改变胶合方法或胶合类型时，取每种型号首批胶合或粘合组件10片中的3片，，在规定的温度、湿度下开展检测。如有因怀疑其质量，检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测。
4.2.4.2 检测步骤
胶合或粘合组件在干燥环境下应逐渐加热至+140+/-2F度，然后立即放置于95%湿度、周围温度+130/+/-2F 度环境下，时间为2小时。从湿环境中取出光学装置，立即擦干，冷却到室温。8小时后，组件开展4.2.3.2及4.2.3.3规定的检测。无论何时光学装置有边的分离或实验增加初期有胶合起泡，或者3.6规定之外另有胶合失败现象时，应在相同步骤下重复本段规定的检测。组件没有通过最初的检测，或胶合缺陷改变，或重新检测后另有胶合缺陷发生，这些都应拒收，包括那些从相关批次挑选出来用于检测的、胶合缺陷可以存在的那些光学装配。所有组件被接受前如果要求，则应该再开展湿度检测，重新胶合与镀膜。
4.2.4.3 拒收标准
未通过4.2.4检测规定的组件，应按4.2.3.4规定的同样方式处理。
4.2.5 清晰度检测
清晰度检测是标准的检测，使用分辨放大倍数图表来开展，看图1。分辨放大倍数检测光学性能。分辨放大倍数是一系列可以分辨的平行晶棒的对角边。通过观察包含相等间距平行晶棒的图表，测得分辨能力。使用望远镜获得足够的放大效果。分辨放大倍数图表由4套线组成，每套包括3或4条线，成45度（水平、垂直、2个成45度）。3条线的那套，它的线是其实际线宽的5倍。4条线的那组，是实际线宽的7倍。线的宽度与间距的宽度是同等的。白色背景下是黑色线，黑色背景下是白色线。在4套线中心有一个识别数字。对比尽可能的大。正确尺寸的图表可以在准直仪里，或者直接可以观察。如果直接观察，图表应该距离望远镜至少2M2英尺，M是正被用于检测的望远镜的放大倍数。图表的对角边测得用秒表示，相当于反正切2W/X。W指图表线的宽度，X指准直仪焦距或图表到望远镜的距离。望远镜校准，这样图表在视线中间。增加辅助望远镜，方向至图表中心。辅助望远镜屈光度为0，这样检测中的望远镜可集中于分辨放大倍数图表中心的数字。读分辨读数时，辅助望远镜定焦在4条经线中的一条+/-1/8屈光度。所有经线有正确的线的读数。任意一条经线开始退化，则达到了分辨极限。
4.2.
5.1 物镜和直立系统
利用上图表检测物镜和直立系统时，上图表应该放置到正确的距离，物镜或直立系统所成的像用标准要求的或合同规定的放大倍数的显微镜观测。这有可能断定相当于规定分辨率的图表线条结构。图表应该被照明，这样成像亮度为10-20的10-3朗伯。
4.2.
5.2 透镜
透镜作用于正进行检测的成品仪器清晰度时，仪器的合格的另一光学组件像放置到实际仪器里一样放置妥当。透镜放到给定位置，通过辅助望远镜（透光区每英寸放大40-60倍）观察图表。有可能断定要求清晰度的线的结构. 图表应该被照明，这样成像亮度为10-20的10-3朗伯。非合同人生产的需要进行此项检测的光学组件必须由合同管理人员来进行。
4.2.
5.3 平面组件用到光学系统上。从组件的透光区观察清晰度检测，成像在图1显示。用至少放大5倍的望远镜（大于组件与眼睛之间的光学系统的放大倍数）观察成像。
4.2.
5.4 光学组件或未部分组件
光学组件及部分未完成组件根据详细标准及合同文件进行检测。
4.2.6 透镜的同心度
检测胶合和单个透镜是否符合3.7.9.3同心度要求。4.2.8 列出的仪器及改革件，须进行此项检测，准直仪光栅除外。准直仪里的光栅集中放到组合透镜（由准直仪物镜、正进行同心度检测的透镜和允许透镜以几何轴为中心旋转的工作台组成）焦平面上。
4.2.7 棱镜偏转
使用光谱仪检测透过棱镜的光线来检测棱镜偏转角度。
4.2.8 平行度
窗口片、契形，光栅或相似平面组件，通过检测通过其光线的偏转来检测面的平行度。
4.2.8.1 仪器
仪器由准直仪、观察望远镜、旋转工作台组成，旋转仪器决定光线偏转量，由此得出平行度的偏转。
4.2.8.1.1 准直仪
准直仪由物镜和光栅组成。光栅附带垂直、水平的交叉线。光线从后面照射光栅。
4.2.9 未装配光学装置的检测
4.2.9.1 光学组件
此类组件进行4.21-4.2.8列出的检测。
4.2.9.2 装置、光学组件组
组件组合到装置里以便检测、发货。根据与装置匹配的光学图纸的要求相互有一定分隔，装配到主仪器或测试器检测其清晰度和成像质量。不符合要求的组件将被替换。（看图1，检测目标，，4.2.10.2，4.2.10.3检测大纲）
4.2.10 已装配光学装置的检测
4.2.10.1 光学组件
这些装置的光学组件按4.2检测。
4.2.10.2 标板
用于光学装置检测的标板可以与实际标板同等尺寸或者准直仪里的小标板。在白色背景上印上黑线可以做成实际尺寸的标板。准直仪里的是实际尺寸标板的缩小模型的蚀刻或照相光栅。标板根据详细标准、要求从普通交叉线到包含垂直线、平行线、公差限制、刻度范围的标板（看图1清晰度检测标板）
4.2.10.2.1 准直仪光栅
准直仪里的光栅单元格可以调整，，这样光栅可以接近/背离物镜来表示外面标板放置的不同的外面距离。例如，从200码处观察标板，准直仪标板用于检测，望远镜规格要求仪器没有视差。此时调整准直仪光栅来表示不同的距离就很必要了。在200码距离观察外部标板，然后使用同样的望远镜调整准直仪光栅，直到通过望远镜看准直仪光栅，观察不到视差为止。
4.2.10.2.2 图象质量
准直仪标板用于检测望远镜图象质量时，象差有适当的公差，准直仪物镜的象差看起来是用望远镜检测的缺陷。应该消除这些象差的影响。
4.2.10.3 仪器，检测
在必要的地方，使用光度计或同样的辅助望远镜观察物镜来弥补检测员视力的不足。
4.2.10.4 视差
物镜中心应没有视差，除非标准另有规定。
4.2.10..5 光栅刻度间距
通过检测光栅刻度间距对角边的标板来检测其准确度。标板是光栅放大的模板或准直仪光栅标板。放大的标板在白色背景下黑线或标记，放置在正确的位置上，其标板面垂直于望远镜视线所在的线上。
4.2.10.6 表面质量光栅
用放大镜观察光栅是否与3.7.11.1一致，放大倍数等于或大于望远镜的观察透镜。灯光与方法与4.2.2规定的相同。
4.2.10.7 振动检测
光学仪器单独安装和组装在振动机器和装置上，在振幅不小于1/16英寸（在装置安装面中心总运动轨迹1/8英寸）频率30赫兹2到2分半时间内振动。
4.2.10.8 冲击检测
胶合或粘合装置上的冲击检测。如没有具体的要求，每个装置要经受胶合面平行方向上的加速冲击，以检测其粘着力或胶合粘合面的不完整的处理。加速振动时间大约是正弦函数的半周期，时间为0.7到2.0毫秒。高频率组件的振幅比加速曲线不超过基本振幅的30%。除非另有固定，每个装置经受150G加速的6次冲击。
4.2.10.9 清洁
裸眼通过物镜和目镜观察其光学装置。利用阴影技术检测其湿度，观察亮度为300透明的英尺伯朗的透光区检测灰尘颗粒。
5 包装
5.1 包装
包装要求应与合同或定单规定的一致。材料的实际包装由国防部人员开展时，这些人员需要联系相关的责任包装来确定必须的包装要求。包装要求由军事防御部门或系统指挥军事部门的库存控制包装事宜掌控。军事部门或防御机构自动化包装文件，，CD产品或联系责任包装事宜的包装数据修补是有效的。
6 备注（本节包含的一般或说明性的备注可以有用，但不是强制的）
6.1 计划使用
光学组件使用于军火控制仪器，像瞄准器、望远镜、窥视窗、测距仪、单独的光学组件、部分或完整的装配，和加工的、未加工的等，根据合同要求。
6.2 要求文件应规定以下
a. 此规定名称、代码及日期
b. 选择的可行的保存、包装级别
6.3 定义
6.3.1 划横表面的标记或裂缝。划横类型鉴别如下：
a．块：在抛光中引起的系列划横
b．滚动-切割或切割痕-精磨引起的曲线划横
c．光滑的-丝状划横
d．压榨或摩擦-操作不当引起的小的表面划横
6.3.2 麻点
在抛光面上一个小的粗糙点，相似于表面上的凹点，通常是操作不当导致。
6.3.3 羽毛状
胶合形状改变引起胶合失去粘性，发展成羽毛状。
美国军用标准化发展概况 张笑瑜 （周四；编号：35；学号：201202025017） 摘要：美军明确提出“军用标准化是未来战略思想的核心要素之一”，“未来战争要成功，靠标准”。世界各主要军事强国均把标准化战略作为实现其军事战略的重要组成部分。我军在军用标准化方面还有所欠缺，美国军用标准化的发展阶段进程值得我军学习借鉴。 关键词：美军军用标准化；发展概况；军用标准化 十八大报告提出“走中国特色军民融合式发展路子，坚持富国和强军相统一”, 明确了建设巩固国防和强大军队是我国现代化建设的战略任务。国防和军队现代化建设离不开军用标准的体系建设，美军作为世界上公认的最为现代化的军队，其军用标准化的发展值得我军学习借鉴。 美军军用标准化体系是伴随着美国科技发展和国家战略需求而逐步演化和完善的，从美军的军用标准化发展可以看出美国军用标准是当前世界公认的先进技术标准，具有体系完整、内容丰富、结构严谨、技术先进等特点，长期以来一直被认为是美国的宝贵财富。通过我的调研发现，美国军用标准化发展大致可分为三个阶段。 一、起步阶段 第二次世界大战中，美国需要向欧洲运送大量的军用物资。由于当时美国的标准化程度不高，给军用物资的运输、存储、维护和使用，以及后勤供应等工作带来了极大的困难，直接影响了部队的战斗力。第二次世界大战后，为满足装备采办的需求，美国于1951面发布了《军用标准化备忘录》，1952年7月1日，美国国会通过了《国防编目和标准化法》，该法规定“在国防部范围内展开单一的统一的标准化活动”。随后，美国国防部根据公法、联邦法和条例建立了一整套有关军用标准化的指令、指示和细则，对军用标准化工作实施了科学管理和全程控制。从此，美国国防部一直依据法律集中、统一地展开军用标准化建设，在“国防部标准化计划”的指导下，美国军用标准数量快速增长，从20世纪50年代到20世纪80年代初的30年间，总数达到43580项。该阶段，美国军用标准化的发展具有两个特点：保障军用标准发展的各项制度法规全面建立；军用标准数量呈急剧增长状态。 二、调整阶段 20世纪80年代起，美军标准化工作的指导性文件——DOD4120系列文件和
美國軍用標准 (MIL-PRF-13830B) 性能標准 軍火控制設備用光學元件；監控生產、裝配、檢測的通用標准 所有國防部門和代理部門可允許使用此標准。 1.范圍 1.1范圍。此標准包括精加工光學光學元件的生產、裝配、檢測，諸如用於軍火控制設備上的球面鏡、稜鏡、平面鏡、分劃板、觀景窗以及光楔等。 2.應用文件 2.1概要 本章列出的文件需要參閱本標准3、4、5章的要求。本章不包括本標准其他章節的文件或其他信息推存的文件。為了保証本目錄的完整性，文件使用者必須注意文件須滿足本標准3、4、5章列出的文件要求，無論這些內容是否在本章中列出。 發行申明：此為公用版本，發行不受限制。 2.2其他政府文件，圖紙及出版物 下列政府其他文件、圖紙和出版物組成本文件內容的一部分，擴大本文的范圍。除非另有規定，這些文件、圖紙和出版物是征求引用的。 圖面資料 美國軍事裝備研究發展工程技術中心 C7641866---光學元件表面質量標准 (立約人要求的其他政府文件、圖紙、出版復印件及具體的功能應該從簽約事宜或簽約指示得到) 2.3優先順序 本標准內容與其引出的參考有沖突時，以本標准內容為准。本標准未述內容，可行法律法規代行除非有具體的免除通知。(看附加優先標准合同條令) 3.要求： 3.1所有的光學元件，配件以及系統產品都必須符合這一標准的要求，除非具體的儀器標准或合同之可行圖紙另有要求與定義。 3.2所用的材料必須與所適用的仕樣書或圖紙相一致 3.2.1光學玻璃光學玻璃的種類和等級必須在圖紙中規定，允許使用規定的其它玻璃材料時，應提供給合同管理人員相關的玻璃光學特性及設計數據完整的信息。3.2.1.1 放射性材料 本文中要求的光學材料應不含釷或其他加入的超過0.05%重量的放射性材料。 3.2.2粘接劑除非合同和定單中有規定，光學粘合劑必須同附錄A的要求相一致。
液体渗透防护 侵入防护 固体微粒防护 海能达DMR对讲机可以耐受各种恶劣环境，比如极端的温度条件、跌落 于仓库混凝土楼板，或需要防尘防湿的情况。无论环境如何，海能达对讲机都可让您保持工作顺利进行，是您的最佳选择。， 所有海能达对讲机均采用美国军用标准 (MIL-STD) 及 IP 代码进行认证， 您可以据此了解每种型号的坚固程度和防护等级。那么，这些认证是什么？分别代表什么含义呢？ MIL-STD-810 美国 MIL-STD-810 是为美国军方设计的一系列环境工程考量和实验室测试，用于测试设备在寿命期内各种预期使用条件下的环境设计及限制情况。该标准还制定了模拟设备所受环境影响的测试方法。MIL-STD-810 不禁 旨在根据装备系统性能要求，提供切实可行的装备设计和测试方法。 虽然该标准最初用于军事应用，但现在也常常用于商业产品。MIL-STD-810 已为商业对讲机行业广泛采用，为客户提供易于理解的评级系统，并使用独立的测试方法，确保可靠的对讲机环境性能和耐用性。 MIL-STD-810 标准指南和测试方法旨在：
● 确定环境应力顺序、耐受度和设备寿命等级 ● 用于制定适合设备及其环境寿命的分析和测试标准 ● 评估环境应力寿命周期下的设备性能 ● 发现设备设计、材料、制造工艺、包装技术和维护方法的缺陷和不足 ● 体现产品的合规性。 MIL-STD-810 涵盖各种环境条件，包括：低压高度测试；高温、低温及 热震试验（工作及存储）；雨雪环境试验（包括大风和冻雨情况）；湿度、霉菌、盐雾防锈测试；沙尘暴露；爆炸性气体环境；泄漏；加速度；冲击和运输冲击；炮振；以及随机振动。在对讲机行业内，MIL-STD-810 常 用于测试和指示对讲机对温度、跌落、冲击和振动的耐受程度。 IP 等级 IP 代码（国际防护或异物防护）由国际电工委员会 (IEC) 制定，“划分了 机械和电子设备对异物入侵（如手和手指等身体部位）、灰尘、意外接触和液体渗入的防护程度”。与IEC 60529 相对应的欧洲标准是EN 60529。 IP 代码由字母“IP”加两位数字组成，有时还包含选择性字母。IP 代表异 物防护(Ingress Protection)。第一个数字表示电气外壳的固体防护水平，包括手和手指等身体部位、灰尘的侵入及意外接触；第二个数字表示电气外壳的液体防护水平。目的是为用户提供更清晰的指导，而不仅仅是“防水”这样的模糊术语。 以下定义是 DMR 对讲机及其相关基础设施的普遍 IP 等级。例如： 第一位数字：固体防护 ● 5：防尘——不能完全防止灰尘进入，但灰尘的侵入量不足以影响设备 的正常运作；完全防止接触。
国外军用电子元器件质量等级与国内对应情况 为了保证元器件的质量，我国制定了一系列的元器件标准。在上世纪70年代末期制定了“七专”7905技术协议和80年代初制定了“七专”8406技术协议，已具备了军用器件标准的雏形，但标准是在改革开放之前制定的，有很多局限性，很难与国际接轨。从80年代开始，我国标准化部门参照了美国军用标准（MIL）体系建立了GJB体系，元器件的标准有规范、标准、指导性文件等三种形式。 1.国内军用元器件质量分级 2.美国军标质量等级体系： （1）B-2级：不完全符合MIL-STD-883的1.2.1节的要求，并按照政府批准文件，包括卖方等效的B级要求进行采购。 （2）B-1级：完全符合MIL-STD-883（微电子器件试验方法和程序）的1.2.1节所要求，并按照标准军用图样（SMD – Standard Microcicuit Drawing），国防电子供应中心（DESC – Defence Electronic Supply Center）图样或政府批准的其它文件进行采购。即通常称883级，器件上有5962 – xxx号。 （3）S-1级：完全按照MIL-STD-975（NASA标准的电子电气和机电源器件目录）或MIL-STD-1547（航天飞行器和运载火箭用元器件、材料和工艺技术要求）进行采购，并有采购机关的规范批准。 MIL-PRF-38534D 混合集成电路规范（依次低→高等级）
电阻、电容、电感元件 MIL 标准中有可靠性指标的元件失效等级分五级 3.欧空局元器件 半导体分立器件： ESA/SCC（Europe Space Agency/Space Componet Cooperation）5000标准 试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 微电路： ESA/SCC（Europe Space Agency/Space Componet Cooperation）9000标准 试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 电阻、电容、电感器件： ESA/SCC（Europe Space Agency/Space Componet Cooperation）3000和4000标准试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 4.国外军用元器件与我国军用元器件质量等级对应关系 微电路质量对应等级
美国军用标准 （MIL-PRF-13830B） 性能标准 军火控制设备用光学元件；监控生产、装配、检测的通用标准 所有防御和代理部门可允许使用此种标准。 1.范围 1.1 范围。此标准包括精加工光学元件的生产、装配、检测，诸如：透镜，棱镜，面镜、光栅、窗口以及用于防火仪器或设备。 2.应用文件 2.1本章列出的文件需要满足本标准3、4、5章的要求。本章不包括本标准其他章节的文件或其他信息推荐的文件。为了保证本目录的完整性，文件使用者必须注意文件须满足本标准3、4、5章列出的文件要求，无论这些内容是否在本章中列出。 2.2 其他政府文件，图纸及出版 下列政府其他文件、图纸和出版组成本文件内容的一部分，扩大本文的范围。除非另有规定，这些文件、图纸和出版是征求引用的。 图纸C7641866---光学元件表面质量标准 （立约人要求的其他政府文件、图纸、出版复印件及具体的功能应该从签约事宜或签约指示得到。） 2.3 优先顺序 本标准内容与其引出的参考有冲突时，以本标准内容为准。本标准未述内容，可行法律法规代行除非有具体的免除通知。（看附加有限标准合同条令）
3.要求： 3.1所有的光学元件，配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求，除非具体的仪器标准或合同之可行图纸另有要求与定义。 3.2所用的材料也必须与图纸的说明以及使用文件的标准相一致 3.2.1玻璃光学元件在规格，以及级别必须与图纸要求相一致。允许使用玻璃材料时，应提供给合同管理人员相关的玻璃光学特性及设计数据完整的信息。 3.2.1.1 放射性材料 本文中要求的光学材料应不含钍或其他加入的超过0.05%重量的放射性材料。 3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明，光学粘合剂必须同附录A的要求相一致。 3.2.3 粘连材料对于玻璃同金属相粘连，必须与附录D的要求相一致 3.2.4密封材料用于密封的材料必须与附录E的要求相一致 3.2.5 增透膜用于光学表面镀膜的增透膜必须与附录C的要求相一致 3.2.5.1 反射表面铝化反射面必须与附录B的要求相一致 3.3机械尺寸大小 光学元件必须与合同以及图纸的要求的尺寸和光学数据相一致 3.3.1边 所有光学元件都应当倒边在（0.020-0.005英寸在45度+/-15度），沿面宽进行测量，除非有特殊指定。如果边于在135度或者更大角度处交汇，则不需要倒边，除非图纸对此有特殊的要求。
国外军用电子元器件质量等级与国内对应一览表 为了保证元器件的质量，我国制定了一系列的元器件标准。在上世纪70年代末期制定了“七专”7905技术协议和80年代初制定了“七专”8406技术协议，已具备了军用器件标准的雏形，但标准是在改革开放之前制定的，有很多局限性，很难与国际接轨。 从80年代开始，我国标准化部门参照了美国军用标准（MIL）体系建立了GJB体系，元器件的标准有规范、标准、指导性文件等三种形式。 一、国内军用元器件质量分级 二、美国军标质量等级体系： MIL-PRF-19500半导体器件试验总规范（依次低→高等级） 单片微电路规范（依次低→高等级） B-2级：不完全符合MIL-STD-883的节的要求，并按照政府批准文件，包括卖方等效的B级要求进行采购。 B-1级：完全符合MIL-STD-883（微电子器件试验方法和程序）的节所要求，并按照标准军用图样（SMD –Standard Microcicuit Drawing），国防电子供应中心（DESC –DefenceElectronic Supply Center）图样或政府批准的其它文件进行采购。即通常称883级，器件上有5962 –
xxx号。 S-1级：完全按照MIL-STD-975（NASA标准的电子电气和机电源器件目录）或MIL-STD-1547（航天飞行器和运载火箭用元器件、材料和工艺技术要求）进行采购，并有采购机关的规范批准。 MIL-PRF-38534D混合集成电路规范（依次低→高等级） 电阻、电容、电感元件MIL 标准中有可靠性指标的元件失效等级分五级 MIL 标准中有可靠性指标的失效率等级和失效率的对应关系 三、欧空局元器件 半导体分立器件： ESA/SCC（Europe SpaceAgency/Space Componet Cooperation）5000标准 试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 微电路： ESA/SCC（Europe SpaceAgency/Space Componet Cooperation）9000标准 试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 电阻、电容、电感器件： ESA/SCC（Europe SpaceAgency/Space Componet Cooperation）3000和4000标准 试验等级：B级、C级（从高到低） 批接收等级：1级、2级、3级（从高到低） 四、国外军用元器件与我国军用元器件质量等级对应关系 半导体分立器件质量等级对应关系
美国常用军用标准 MIL-STD 分类：美军 | 标签：美军标 MIL-STD-469-1966 雷达工程电磁兼容*设计要求 MIL-STD-463A 电磁干扰和电磁兼容*技术术语的定义和单位制 MIL-STD-463A-1977 电磁干扰和电磁兼容*技术术语的定义和单位制 MIL-STD-462-1986 暂行通知5(海军) 电磁干扰特*有测量 MIL-STD-461C-10-1986 第10部分为控制电磁干扰面制订的电磁发射和敏感要求对商用电气和电机设备要求(C3类) MIL-STD-461C-9-1986 第9部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对在关键区内的机动发电及其有关部件不间断电源(UPS)以及可移动的供电和用电设备(EMP)的要求(C2类) MIL-STD-461C-8-1986 第8部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对战术和专用车辆及机动设备要求(C1类) MIL-STD-461C-6-1986 第6部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对潜艇内的设备和分系统的要求(A5类)第7部分为控制电磁干扰面制订的电磁发射和敏感要求对地面非关键区内的辅助设备和分系统的要求(B类) MIL-STD-461C-5-1986 第5部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对水面舰船内的设备和分系统要求(A4类) MIL-STD-461C-4-1986 第4部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对地面装置内的设备和分系统(固定的和移动的包括履带式和轮式车辆)的要求(A3类) MIL-STD-461C-3-1986 第3部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求对星载和弹载设备和分系统(包括相应的地面辅助设备)要求(A2类) MIL-STD-461C-2-1986 第2部为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感度要求对机载设备和分系统(包括相应的地面辅助设备)的要求(A1类) MIL-STD-461C-1-1986 第1部为控制电磁干扰的发射与敏感度要求总要求 MIL-STD-461B 控制电磁干扰的发射与敏感度要求 MIL-STD-461B-1980 为控制电磁干扰而制订的电磁发射和敏感*要求 MIL-STD-454G-1980 电子设备标准的通用要求 MIL-STD-4538(USAF)-1977 射线照相探伤 MIL-STD-449D-1973 无线电频谱特*的测量 MIL-STD-414-1957 计量检查抽样程序和表 MIL-STD-414-1957 计量检查抽样程序和表 MIL-STD-413B-1969 橡胶O形圈外观检验指南 MIL-STD-403B-1968 火箭和导弹结构用铆钉和螺钉的准备及其装配 MIL-STD-401B-1967 夹层结构与芯材通用试验方法 MIL-STD-291B-1967 标准战术空中导航(塔康)信号 MIL-STD-290D-1976 石油及石油产品的包装 MIL-STD-285-1956 电子试验用电磁屏蔽室的衰减测量方法
美国军用标准MIL-E-11991对导弹及其武器系统 电子、电气和机电设备的要求 美国军用标准MIL-E-11991《导弹及其武器系统电子、电气和机电设备通用规范》对导弹及其武器系统电子、电气和机电设备提出了一系列要求。主要针对所有级别的类型的电子、电气和机电设备材料、零件、工艺和部件等提出了详细的制造、测试和性能的要求，包括各研制阶段的试验、生产准备和生产等。 1鉴定 标准要求所提供的设备应按照在各个设备和部件的详细规范所规定的鉴定要求进行鉴定。 因为许多规范是根据性能要求定的，在设计和质量管理中这些性能要求有可能变化，而且对某些产品而言，要求和试验的特性可能出现这样的情况，唯一依靠验收试验来采购产品而不允许过久地拖延交货是不现实的。为连续地保证在这些情况下产品可用性，在裁决投标揭示之前，要求对某些产品进行鉴定。 系统或设备的鉴定应满足各个设备详细规范规定的所有要求。 从工厂取得产品，进行检验和试验，然后在合格产品目录上作出标记的全过程称为鉴定。遵循规范要求而预先和独立于任何采购活动所进行的产品试验称之为鉴定试验。为了建立合格产品目录（QPL），就必须有要求鉴定并规定了后续鉴定检验、试验和鉴定保持准则的规范。 2材料的质量 产品设计应根据合格的材料的使用而定，并与我们所预定应用的严格度等级一致。当需要特殊的材料或特殊的工艺时，要求对其进行鉴定，而且它们的质量至少应等于适用的政府规范所规定的现有产品。如果可适用的规范并不存在，而且必须制定新的规范，为保证产品的合格，新材料和新工艺应满足新的规范要求。要通过各种努力，来避免采
用特殊的材料和工艺，这是指避免非标准的或者未被政府或国防部所选用的工业标准的商用材料或工艺。应该避免使用那些难以用合理的费用进行批量生产的方法，但是，如有必要，要求在采纳之前预先经过批准。为了提供经济可行的可接受的可靠性，使用经批准的技术是正确的，这些技术有如印制电路、小型化部件、组件和微型组件方案和封装技术。在尽可能不危及部件或设备预定用途的情况下，最大限度地使用可回收/重复使用的材料。 在满足设备性能要求的前提下，应最低程度地使用关键性或战略性材料。合同商在完成可能要使用关键性或战略性材料的设计之前，应经采购部门批准。因为国家处于紧急状态时，这些材料的现有生产不足以满足在质量和数量上的要求，所以这些材料对国家安全是必不可少的。 3材料 所有材料都有相应的要求和规范。下面仅就一些特殊材料叙述如下。 3.1橡胶 除泡沫型以外的橡胶，凡用于吸收噪声、冲击或振动橡胶材料，或要求有弹性的各种应用均应按照MIL-R-3065。橡胶材料的型号、类别和等级（包括添加剂）应根据应用的要求进行选择。 3.2 合成橡胶 遵循MIL-S-6855的通用合成橡胶应用于要求防止油料或燃料腐蚀的地方。遵循ZZ-R-765的硅橡胶应用于要求耐高温和耐低温的地方。 3.3 泡沫橡胶 用于吸收噪音、冲击、振动的泡沫橡胶，或要求有弹性的地方，应按照MIL-C-3133。并根据应用的要求来选择其型号、类别和等级（包括泡沫橡胶的添加剂）。 3.4 陶瓷材料 除作为电容器的介质使用的地方之外，陶瓷材料应遵循MIL-I-10；但是使用玻璃粘接的云母应经采购部门事先批准。只要不是用于电气方面的陶瓷材料可以是上釉的或者是不上釉的，而且不需进行处理。电气用的陶瓷应是上釉的。上釉陶瓷的表面应该光滑、均匀而且无气孔。不能上釉的陶瓷处理应根据材料厂家提供的指导进行；这些处理应经
美军颁发安全性军用标准MIL-STD-882E 曾天翔 美国国防部从1969年7月发布第一个系统安全军用标准MIL-STD-882，到2012年5月颁发最新的标准MIL-STD-882E的42年中，该标准先后进行了6次重大修订，平均每7年修订一次，充分体现了美军重视跟踪标准的应用情况并及时进行修订，以保持标准的先进性和适用性。随着美国国防战略计划和目标的改变和科学技术的发展，该标准的目标从保障武器装备和军事人员的安全向保持环境安全和人员职业健康延伸，标准的技术内容从设备硬件向系统软件扩展，实现系统安全目标的方法也从单项技术向系统集成演变。 1. MIL-STD-882 标准的演变和发展 1969年7月，美国国防部首次颁发了系统安全军用标准MIL-STD-882“系统及其有关的分系统、设备的系统安全工作要求”，规定了系统安全管理、设计、分析和评价的基本要求。该标准作为国防部范围内武器装备采办必须遵循的文件，系统安全成为美军各种武器装备研制必须采用的工作项目。 1977年6月，MIL-STD-882进行了修订后发布MIL-STD-882A“系统安全工作要求”。MIL-STD-882A标准提出接受风险的概念，并以此作为系统安全工作的准则。该标准要求引入危险可能性并建立危险发生频率的等级，以便与危险严重性等级相协调，同时还增加了软件安全性要求。 1984年3月MIL-STD-882A做了修订并颁发了MIL-STD-882B“系统安全工作要求”，提出系统安全工程和管理要求的详细指导原则，并首次详细描述软件系统安全。在附录中给出了定性风险评价表。 1987年7月发布了MIL-STD-882B的修改通报，在这标准的修订中，增加了软件安全性的工作项目，包括软件需求危险分析、概要设计危险分析、软件安全性测试、软件与用户接口分析和软件更改危险分析等。 1993年1月MIL-STD-882B进行修订并发布了MIL-STD-882C“系统安全工作要求”，删除了MIL-STD-882B对软件独立规定的工作项目，将危险和软件系统安全工作整合在一起，接着在1996年1月发布了MIL-STD-882C的修改通报。 2000年2月，对MIL-STD-882C进行修订，发布了MIL-STD-882D“系统安全标准实践”。MIL-STD-882D是在20世纪90年代中期的采办改革的环境中诞生的，由于受到军用
美国军用标准（MIL-O-13830A） 此标准适用于生产，加工以及检测军事装备所需的光学组件。 此标准已通过美国国防部的认可，强制以下部门（海军，空军，陆军）使用 1.概述： 此标准函盖生产，加工以及检测以下光学组件产品诸如：透镜，棱镜，窗口以及用于防火仪器或设备。 2.应用文件 2.1以下文件自投标或询单发出之日起试用，将成为报价内容的一部分。 文件如下： MIL-G-174 -----玻璃光学组件 MIL-C-675-----镀膜玻璃光学组件 MIL-A-3920---光学组件粘着力,热塑性 MIL-S-11030—密封材料，非固化的聚硫化物基料 MIL-M-13508---光学组件反射镜、玻璃前表面铝化 MIL-A-14443---用于透镜粘合的玻璃与金属粘合的粘合剂 MIL-O-16898—光学组件包装 图纸 美国军需品要求 F7560085----振动测试 C7641866---光学组件表面质量标准 3.图纸要求： 3.1所有的光学组件，配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求，除非详细规格或合同之可行图纸有特殊的说明和指定。 3.2所用的材料也必须与规格或图纸的说明相一致 3.2.1光学玻璃组件在规格，以及级别必须与图纸要求相一致，同时也必须符合MIL-G-174的要求，除非合同管理人员另有规定。一旦授权使用玻璃而非其它材料时，玻璃光学数据及设计数据等完整的信息应提供给合同管理人员。 3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明，光学粘合必须同MIL-A-3920的要求相一致 3.2.3 粘结化合物对于玻璃同金属相粘连，必须与MIL-A-14443的要求相一致 3.2.4密封化合物用于密封的化合物必须与MIL-S-11030的要求相一致 3.2.5增透膜：光学表面镀膜要求的增透膜必须与MIL-C-675的要求相一致 3.2.5.1 反射面：铝化反射面必须于MIL-M-13508的要求相一致 3.3机械尺寸大小 光学组件机械尺寸及光学数据必须与合同以及图纸的要求相一致
柔性可热封静电防护材料特性规范 美国军用标准MIL-PRF-81705D 上海防静电工业协会王福良译本规范已批准用于军队的所有部门与国防部承包商。 1 范围 1．1范围 本规范建立了一套军用微电路、敏感半导体器件，敏感电阻和相关高档部件的柔性可热封静电防护包装材料的要求。另外I型材料可提供防水防电磁辐射的性能（见6.1）。1．2分类 防护材料有以下三种类型： I类防水、防静电、静电屏蔽和电磁屏蔽。 1型无使用限制。 2型仅适用于自动制袋机。 II类透明、防水、静电耗散型。 1型无使用限制。 2型仅适用于自动制袋机。 III类透明、防水、防静电、静电屏蔽。 1型无使用限制。 2型仅适用于自动制袋机。 2 应用文件 2.1 概述 本节列出的文件由本规范第3、4节作出详细规定与说明。本节所列文件不包括本规范其他章节引用的文件或附加建议的信息和例子。尽管已努力做到确保所列文件的完整性，但文件使用者应注意必须满足本规范第3、4节所规定的要求。不管它们是否已被列入表中。 2.2 政府文件 2.2.1 规范、标准和手册 下面的规范、标准和手册是本文件的组成部分。除非另有规定，这些已列入国防部规范，标准和附录索引的文件均可被引用。 规范
联邦文件 QQ-S-698 片状和条状低碳钢 QQ-A-250/4 铝合金、板状和片状 标准 FED-STD-101 包装材料的测试程序 2.3 非政府出版物 下列文件是本规范的扩展部分。除非另有规定，国防部已采用的列入索引的文件可以被引用，没被列入索引的要求可参见6.2。 ANSI（美国国家标准协学会） J-STD-006焊料合金等级，有助焊剂和无助焊剂。固体焊料应用要求。 ASQC（美国质量协会） ASQC-Z1.4 程序，检验抽样表（国防部已采用） ASTM-B451 用于印刷板的铜箔，铜棒，铜片和传送带规范 ASTM-D257 绝缘材料的直流电阻或传导率（国防部已采用） ASTM-F15 铁-镍-钴封焊合金规范 ASTM（美国试验与材料协会） EIA（电子工业协会） EIA-541 静电敏感物体的包装材料标准 2.4 优先权 当本文件与引用的参考文件发生矛盾时，则本文件优先。但本文件不能取代法律和法规，除非得到明确承诺。 3 要求 3.1 资格确认 根据本规范提供的静电防护材料，在订合同前该产品应由权威机构确认过，并列入认证产品目录表中（见4.2/6.4） 3.2 材料 静电防护材料应由确保能符合本规范要求的原材料和生产流程制造。 3.3 结构 防护材料由一层或多层构成，不管怎样它应符合本规范的要求。 3.3.1I型
MIL-STD-105E 什么是MIL-STD-105E MIL-STD-105E是美军军用抽样标准，是世界上应用最普及的抽样标准(1989年5月10日发布)，亦是105D的最新版本(美国军用标准MIL-STD-105D 是较早使用的调整型抽样标准，也是应用最为广泛的调整型抽样标准。它是1945年由哥伦比亚大学统计研究小组为美国海军制定的抽样检验表。) MIL-STD-105E的历史背景 计数值之标准抽样程序是在二次大战期间所开发出来的。最原始之版本称为JAN-STD-l05(全名为jointarmy-navystandardl05)，系在1949年设计完成。在1950年，JAN-STD-l05被修订为MIL-STD-l05A。 随后在1958、1961和1963年分别推出MIL-STD-l05B、MIL-STD-105C 和MlL-STD-l05D。在1964年，美国、英国和加拿大三国共同修正 MIL-STD-105D，称为ABC-STD-l05(注：ABC代表America、Britain和Canada)。MIL-STD-l05D的民间版是在1971年推出，由美国国家标准局(AmericanNationalStandardInstitute,ANSI)将其列入美国国家标准。称为 ANSI/ASQCZ1.4 最近之修订版为ANSI/ASQCZ1.41981。在1974年，国际标准化组织(InternationalOrganizationforStandardization,ISO)将ANSI/ASQCZ1.4稍作修正，将其编列为ISO2859。 我国中央标准局于1970年公布之国家标准CNS2779和日本的JISZ9015国家标准，都与MIL-STD-l05标准类似。目前之最新版本为1989年5月l0日，美国军备研究发展工程中心公布之MIL-STD-l05E。105E和过去105D版本相类似，只有在文字部分加以修订，另行编排。MIL-STD-105E是以允收品质水准(acceptablequalitylevel，简称AQL)为基础之抽样计画。AQL是指买方可接受之品质水准。在以AQL为基础之检验计划中，货批很明确地被拒收或被允收，并不包含选别检验。选别检验虽然可使出货之不合格率降低，但必须付出额外之检验成本！