信号完整性测试指导书 ——Ver 2.0 编写：黄如俭（sam Huang） 钱媛（Tracy Qian） 宋明全（Ivan Song） 康钦山（Scott Kang）
目录 1. CLK Test (3) 1.1 Differential Signal Test (3) 1.2 Single Signal Test (5) 2. LPC Test (7) 2.1 EC Side Test (7) 2.2 Control Sidse Test (8) 3. USB Test (11) 3.1 High Speed Test (11) 3.2 Low Speed Test (12) 3.3 Full Speed Test (12) 3.4 Drop/Droop Test (12) 4. VGA Test (14) 4.1 R、G、B Signal Test (14) 4.2 RGB Channel to Channel Skew Test (14) 4.3 VSYNC and HSYNC Test (15) 4.4 DDC_DA TA and DDC_CKL Test (15) 5. LVDS Test (17) 5.1 Differential data signals swing Test (17) 5.2 Checking Skew at receiver Test (18) 5.3 Checking the offset voltage Test (19) 5.4 Differential Input Voltage Test (20) 5.5 Common Mode Voltage Test (20) 5.6 Slew Rate Test (21) 5.7 Data to Clock Timing Test (23) 6. FSB Test (26) 7. Serial Data（SA TA/ESA TA, PCIE, DMI,FDI）Test (29) 8. HD Audio Test (30) 8.1 Measurement at The Controller (30) 8.2Measurement at The Codec (31) 9. DDR2 Test (34) 9.1 Clock (34) 9.2 Write (35) 9.3 Read (37) 10.Ethernet Test (39) 11.SMbus Signal Test (40) 12. HDMI Test (42) 13. DisplayPort Test (43)
胶带保持力和胶黏剂类产品粘力保持力测试试验方法以及 使用仪器 1 概述 本产品按照中华人民共和国国家标准GB/T4851-1998之规定制造，适用于压敏胶粘带等产品进行持粘性测试试验。 1.1 工作原理：把贴有试样的试验板垂直吊挂在试验架上，下端挂规定重量的砝码，用一定时间后试样粘脱的位移量或试样完全脱离所需的时间来测定胶粘带抵抗拉脱的能力。 1.2 仪器结构：主要由计时机构、试验板、加载板、砝码、机架及标准压辊等部分构成。 1.3 技术指标：砝码—1000±10g(含加载板重量) 试验板—60（L）*40(B)*1.5(D)mm（与加载板相同） 压辊荷重：2000±50g 橡胶硬度：80°±5°（邵尔硬度） 计时器—99小时59分钟60秒 工位—6工位 净重—12.5kg 电源—220V 50Hz 外形尺寸—600（L）*240(B)*400(H)mm 2操作方法 2.1水平放置仪器，打开电源开关，并将砝码放置在吊架下方槽内。
2.2不使用的工位可按“关闭”键停止使用，重新计时可按“开启/清零”键。 2.3 除去胶粘带试卷最外层的3～5 圈胶粘带后，以约300 mm／min的速率解开试样卷（对片状试样也以同样速率揭去其隔离层），每隔200mm左右，在胶粘带中部裁取宽25 mm，长约100 mm的试样。除非另有规定，每组试样的数量不少于三个。 2.4 用擦拭材料沾清洗剂擦洗试验板和加载板，然后用干净的纱布将其仔细擦干，如此反复清洗三次。以上，直至板的工作面经目视检查达到清洁为止。清洗以后，不得用手或其他物体接触板的工作面。 2.5 在温度23℃±2℃，相对湿度65％±5％的条件下，按图2规定的尺寸，将试样平行于板的纵向粘贴在紧挨着的试验板和加载板的中部。用压辊以约300 mm/min的速度在试样上滚压。注意滚压时，只能用产生于压辊质量的力，施加于试样上。滚压的次数可根据具体产品情况加以规定，如无规定，则往复滚压三次。 2.6 试样在板上粘贴后，应在温度 23℃±2℃，相对湿度 65％±5%的条件下放置20 min。然后将试验。板垂直固定在试验架上，轻轻用销子连接加载板和砝码。整个试验架置于已调整到所要求的试验环境下的试验箱内。记录测试起始时间。 2.7 到达规定时间后，卸去重物。用带分度的放大镜测出试样下滑的位移量，精确至0.1mm；或者记录试样从试验板上脱落的时间。时间数大于等于1h的，以min为单位，小于1h的以s为单位。 3 试验结果处理 试验结果以一组试样的位移量或脱落时间的算术平均值表示。
一、测量磁导率 一．实验目的：测量介质中的磁导率大小 二．实验器材：DH4512型霍尔效应实验仪和测试仪一套，线圈一副（N匝）万用表一个三．实验步骤 1. 测量并计算磁场强度H ○1测量线圈周长L。 ○2线圈通电，测的线圈中的电流为I0，则总的电流为I M=N ?I0 ○3由磁介质安培环路定理的积分形式可知：∮c H ?dl=I故H ?L= N ?I0，H=（N ?I0）/L. 2.测量并计算磁感应强度B——利用霍尔效应实验 ○1实验原理： 霍尔效应从本质上讲，是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。当带电粒子（电子或空穴）被约束在固体材料中，这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积，从而形成附加的横向电场。如下图1所示，磁场B位于Z的正向，与之垂直的半导体薄片上沿X 正向通以电流Is（称为工作电流），假设载流子为电子（N型半导体材料），它沿着与电流Is相反的X负向运动。由于洛仑兹力f L作用，电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的B侧偏转，并使B侧形成电子积累，而相对的A侧形成正电荷积累。 与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力f E的作用。随着电荷积累的增加，f E增大，当两力大小相等（方向相反）时，f L=－f E，则电子积累便达到动态平衡。这时在A、B两端面之间建立的电场称为霍尔电场E H，相应的电势差称为霍尔电势V H。 设电子按平均速度，向图示的X负方向运动，在磁场B作用下，所受洛仑兹力为： f L=－e B 式中：e 为电子电量，为电子漂移平均速度，B为磁感应强度。 同时，电场作用于电子的力为：f l E
高分子结晶度的分析方法研究进展 ……专业聂荣健学号：……指导老师：…… 摘要：综述聚合物结晶度的测定方法，包括：差示扫描量热法；广角X衍射法；密度法；红外光谱法；反气相色谱法等，并对不同方法测定结晶度进行分析比较 , 同时对结晶度现代分析技术的发展作出展望。 关键词：结晶度；测试方法；分析比较
引言 高分子材料是以聚合物为主体的多组分复杂体系 , 由于具有很好的弹性、塑性及一定的强度，因此有多种加工形式及稳定的使用性能。由于聚合物自身结构的千变万化 , 带来了性能上的千差万别，正是这一特点 , 使得高分子材料应用十分广泛，已成为当今相当重要的一类新型材料[1]。 结晶度是表征聚合物性质的重要参数，聚合物的一些物理性能和机械性能与其有着密切的关系。结晶度愈大，尺寸稳定性愈好，其强度、硬度、刚度愈高；同时耐热性和耐化学性也愈好，但与链运动有关的性能如弹性、断裂伸长、抗冲击强度、溶胀度等降低。因而高分子材料结晶度的准确测定和描述对认识这种材料是很关键的。所以有必要对各种测试结晶度的方法做一总结和对比[2]。 1.结晶度定义 结晶度是高聚物中晶区部分所占的质量分数或体积分数 . ( )%100*W Wc Xc = 式中 : W ———高聚物样品的总质量 ; W c ———高聚物样品结晶部分的质量 结晶度的概念虽然沿用了很久，但是由于高聚物的晶区与非晶区的界限不明确，有时会有很大出入。下表给出了用不同方法测得的结晶度数据，可以看到，不同方法得到的数据的差别超过测量的误差。因此，指出某种聚合物的结晶度时，通常必须具体说明测量方法。 表1.1用不同方法测得的结晶度比较 结晶度（%） 方法 纤维素（棉花） 未拉伸涤纶 拉伸过的涤 纶 低压聚乙烯 高压聚乙烯 密度法 60 20 20 77 55 X 射线衍射法 80 29 2 78 57 红外光谱法 -- 61 59 76 53 水解法 93 -- -- -- -- 甲酰化法 87 -- -- -- -- 氘交换法 56 -- -- -- --
附件3 特殊医学用途配方食品稳定性研究要求（试行） 一、基本原则 特殊医学用途配方食品稳定性研究是质量控制研究的重要组成部分，其目的是通过设计试验获得产品质量特性在各种环境因素影响下随时间 稳定性研究用样品应在满足《特殊医学用途配方食品良好生产规范》要求及商业化生产条件下生产，产品配方、生产工艺、质量要求应与注册申请材料一致，包装材料和产品包装规格应与拟上市产品一致。 影响因素试验、开启后使用的稳定性试验等采用一批样品进行；加速试验和长期试验分别采用三批样品进行。 （二）考察时间点和考察时间
稳定性研究目的是考察产品质量在确定的温度、湿度等条件下随时间变化的规律，因此研究中一般需要设置多个时间点考察产品的质量变化。考察时间点应基于对产品性质的认识、稳定性趋势评价的要求而设置。加速试验考察时间为产品保质期的四分之一，且不得少于3个月。长期试验总体考察时间应涵盖所预期的保质期，中间取样点的设置应当考虑产品的稳定性特点和产品形态特点。对某些环境因素敏感的产品，应适当增加考 3.检验方法：稳定性试验考察项目原则上应当采用《食品安全国家标准特殊医学用途配方食品通则》（GB 29922）、《食品安全国家标准特殊医学用途婴儿配方食品通则》（GB 25596）规定的检验方法。国家标准中规定了检验方法而未采用的，或者国家标准中未规定检验方法而由申请人自行提供检验方法的，应当提供检验方法来源和（或）方法学验证资料。检验方法应当具有专属性并符合准确度和精密度等相关要求。
四、试验方法 （一）加速试验 加速试验是在高于长期贮存温度和湿度条件下，考察产品的稳定性，为配方和工艺设计、偏离实际贮存条件产品是否依旧能保持质量稳定提供依据，并初步预测产品在规定的贮存条件下的长期稳定性。加速试验条件由申请人根据产品特性、包装材料等因素确定。 ％。如在6 温度 ％， 25℃±2℃ 长期试验是在拟定贮存条件下考察产品在运输、保存、使用过程中的稳定性，为确认贮存条件及保质期等提供依据。长期试验条件由申请人根据产品特性、包装材料等因素确定。 长期试验考察时间应与产品保质期一致，取样时间点为第一年每3个月末一次，第二年每6个月末一次，第3年每年一次。 如保质期为24个月的产品，则应对0、3、6、9、12、18、24月样品进行
一、检验项目：原材料的线性成品线性 二、定义：量测待测物(以下简称为试片)测量电压值与理论电压值的误差 三、适用范围：本标准检验方法适用于公司所有须做线性测试之试片。 四、目的：本实验的目的在测试试片的导电情形是否良好。 五、检验方法： Ⅰ、方法一（适用于纳米银导电材料） 1. 样品准备：SNWFilm 2. 使用装置：激光机、万用表、稳压电源 3. 测量原理 a)在导电膜上刻上电极(宽度10mm)，给电极加5V(DC)电压，然后用电压表测量待测 位置的电压，如图1所示 b)按图2所示分好测试点，（长220mm、23个测试点）A点、B点电压在所示位置取 得，10mm为距离测一个点 c)测量参数：E A：输出电压测量起点A处的电压 E B：输出电压测量终点B处的电压 E X：输出电压测量任意点X处的电压 E XX：理论计算电压 L：线性 计算公式： E XX（理论电压）=E AB*X/(B-A)+ E A L(%)= （︱E XX- E X︱）÷（E B- E A）×100 图 1
图 2 V A(0) mm 5V 0V EB 图 3 4. 操作步骤： a) 设计图纸，开好材料，覆膜 b) 激光镭射 c) 将稳压电源调至ON ，电压调至５V 。 d) 将稳压电源正极夹至右边银棒、负极夹至左边银棒。 e) 将万用表表负极夹至右边银棒，正极拿来测试。 f) 将试片置入定位，开始测试并记录分压值。 g) 将所测得之电压值输入表（一）～表（五），计算其线性。 Ⅱ、方法二（适用于成品） 1. 样品准备：成品
2. 使用仪器：线性测试机 3. 测量原理及要求 ※线性度的定义：当施加DC 5V在“X”方向电极和“Y”方向电极时，用笔（Special stylus）压点（X,Y）以得到各自输出电压（E OX,E OY）。如Fig.1（测量关系）。在A和B的区域内（Active area），在X，Y方向各以2mm为间隔划直线。如Fig2。 ※注：线性测量范围：A.A区边缘单边内缩2mm。 测量关系 测 量 Y 坐 标 Y （X+电极） Vcc （Y+电极） 测量X坐标 X Fig 2 ※计算公式：V XX（理论电压）=V AB*X/(B-A)+ V A L(%)= （︱V XX- V X︱）÷（V B- V A）×100 V A：输出电压测量起点A处的电压 V B：输出电压测量终点B处的电压 V X：输出电压测量任意点X处的电压 V XX：理论计算电压 L：线性 4. 操作步骤：见作业指导书 六、检验数据处理： １、表（一）：分压表＆线性表。 ２、表（二）：线性错误及异常对照表。 ３、表（三）：线性错误及异常统计表。 ４、表（四）：平均线性分析图。 ５、表（五）：平均电压分析图。
插拔力测试仪简介和操作方法 一、概述 GH-951C插拔力测试仪试验装臵适合连接器、插头插座等接插件产品作插入、拔出之力量及抗疲劳寿命测试。搭配专利设计之自动求心装臵，将可得到完全准确之插拔力试验，利用Windows 视窗中文画面设定，操作简单方便，且所有资料皆可储存( 试验条件、位移、曲线图、寿命曲线图、检查报表等）解决各种连接器测试的夹具问题及测试时公母连接器能自动对准，不会有吃单边的问题。搭配动态阻抗测试系统，可在测试插拔力同时测试动态阻抗并绘制（荷重行程-阻抗曲线图）。 二、主要技术参数 1、测定最大荷重：50Kg，20Kg，5Kg，2Kg 2、最小分解能力：0.01Kg或1g 3、最大测定高度：150mm 4、最小微调距离：0.01mm 5、测定速度范围：0-200mm/min 6、X轴移动范围：0-75mm 7、Y轴移动范围：0-75mm 8、传动机构：丝杆传动 9、驱动马达：伺服马达 10、外观尺寸：360×260×940mm 11、重量：约60Kg 12、电源：220V/50Hz 三、功能
本机主要用于测试公插从母插拔出时所需最大的力及插入时最小的力。本机配臵力量数显表。以具体数值显示力的大小。 四、设备特点 1、测试条件皆由电脑画面设定，并可储存。由下拉式菜单勾选设定或直接输入数据。（含试验类别、测定运动方向、荷重测定范围、行程测定范围、行程原点位臵、行程原点检出、测定速度、测定总次数、暂停时间每次等候位臵、空压次数等）。 2、可储存及打印图形（荷重-行程曲线图-荷重衰减寿命曲线图-检验报表）荷重元超负载之保护功能、可确保荷重元不致损坏。 3、同时显示荷重-行程曲线图及寿命曲线图。 4、自动荷重零点检出，并可设定原点检出荷重值。 5、荷重单位显示：N、lb、gf、Kgf可自由切换。 6、可同时搭配数个荷重元（2Kgf/5Kgf/20Kgf/50Kgf选购）。 7、机台采用高钢性结构设计，搭配伺服马达，长时间使用下能确保精度，适合一般引张压缩测试及插拔力寿命测试。 8、超规格值停止（于寿命测试时，测试数据超出设定上下限值时机器自动停止。 9、测定项目：最大荷重值、峰值、谷值、行程之荷重值、荷重之行程值插入点电阻值、荷重或行程之电阻值。 五、测试项目 1、连接器单孔插拔试验 2、连接器插拔寿命试验 3、连接器Normal Force 测试 4、连接器整排插拔试验 5、连接器单Pin与塑胶保持力试验 6、可同时与接触阻抗机连线(选购) 7、各种压缩、拉伸破坏强度试验。 六、操作方法 1、检视输入电压是否220V。
磁导率表示物质磁化性能的一个物理量，是物质中磁感应强度B与磁场强度H之比，又成为绝对磁导率。物质的绝对磁导率和真空磁导率（设为μ0=4*3.14*0.0000001H/m）比值称为相对磁导率，也就是我们一般意义上的磁导率。对于顺磁质μr＞1，对于抗磁质μr＜1，但它们都与1相差很小（例如铜的μr与1之差的绝对值是0．94×10-5）。然而铁磁质的μr可以大至几万。 非铁磁性物质的μ近似等于μ0。而铁磁性物质的磁导率很高，μ>>μ0。铁磁性材料的相对磁导率μr=μ/μ0如铸铁为200～400；硅钢片为7000～10000；镍锌铁氧体为10～1000；镍铁合金为2000；锰锌铁氧体为300～5000；坡莫合金为20000～200000。空气的相对磁导率为1.00000004；铂为1.00026；汞、银、铜、碳(金刚石)、铅等均为抗磁性物质，其相对磁导率都小于1，分别为0.999971、0.999974、0.99990、0.999979、0.999982。 所以，铜虽然具有抗磁性，但相对磁导率也有0.99990;纯铁为顺磁性物质，其相对磁导率会达到400以上。所以用铜裹住铁并不能阻断磁力，而且是远远不能。在某些特殊情况下，铜的抗磁性就会表现出来，如规格很小的烧结钕铁硼磁体D3*0.8电镀镍铜镍后,磁通量会降低7-8%（当然，这个损失还包括倒角和镍层屏蔽导致的磁损）。 直截了当地讲，磁场无处不在，是不能阻断的。只不过各种物质导磁性有所差异，如空气、材料、铜、铝、橡胶、塑料等相对磁导率近似为1，它们对磁不感兴趣；而铁磁性材料如铸铁、铸钢、硅钢片、铁氧体、坡莫合金等材料具有良好的导磁性
X 射线衍射法测定高岭石合成的NaY 分子筛物相组成、 结晶度、晶胞参数及硅铝比研究 程 群* （北京普析通用仪器有限责任公司 北京 100081） 摘要：由高岭石合成的NaY 分子筛经如下处理：将试样放入玛瑙研钵中充分研细，经120℃，1小时烘干，然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中（室温20~30℃）吸水16至24小时；将处理后试样照X 射线衍射仪(XRD)进行测定，分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比。该方法测得的NaY 分子筛各参数，比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好，并为高岭石合成NaY 分子筛提供了有效的理论依据，从而可以及时监控合成NaY 分子筛的生产过程，降低了NaY 分子筛生产成本。 关键词：X 射线衍射仪；NaY 分子筛；物相组成；结晶度；晶胞参数；硅铝比 Study on Determining Composition, crystallinity, cell parameter and ratio of silicate to aluminium of Zeolite NaY treated from kaolinite by X-ray Diffractometer Abstract: In this paper, Zeolite NaY treated from kaolinite continued to be treated, such as ground in the agate mortar , dried in 120℃ for an hour, damped in the surroundings of supersaturated calcium chloride solution(room temperature from 20℃ to 30℃) for 16 to 24 hours, The treated Zeolite NaY was determined by X-ray diffractometer, the Composition, crystallinity, cell parameter and ratio of silicate to aluminium of Zeolite NaY was analyzed. The Analytical result showed the feasibility of synthesizing Zeolite NaY from kaolinite, Then the cost is obviously reduced. Keywords: X-ray diffractometer ；Zeolite NaY ；Composition ；crystallinity ；cell parameter ；ratio of silicate to aluminium 1 引言 Hewell 等人首先利用高岭土矿物合成NaA 沸石以来，引起了国内外学者对以天然矿物合成NaY 沸石方法的广泛重视[1-3]，而且矿物原料来源丰富，降低了成本，所以其在矿物合成NaY 沸石中，占有重要的地位。本文中，研究了XRD 测定由高岭石合成产物结晶度、晶胞参数及硅铝比，为高岭石合成NaY 分子筛提供了有效的理论依据，从而可以及时监控合成NaY 分子筛的生产过程，降低了NaY 分子筛生产成本。 2 实验原理 2.1 测定结晶度实验原理[4] 为了排除高岭石特征衍射峰的干扰，本实验选择331，333，660，555四峰为被测峰，以NaY 分子筛79Y-16为外标，用四峰的峰面积之和计量衍射峰强度，用外标法测定试样的相对结晶度，分别计算试样和外标衍射峰强度测I 和标I ，按照下式计算样品的结晶度Rc: ___________ *E-mail: qun.cheng@https://www.doczj.com/doc/9e11042368.html,
稳定性试验方案 1 2020年4月19日
Stability Study Protocol for Exhibit Batch of Chloroquine Phosphate Tablets USP, 250mg 规格为250 mg的USP磷酸氯喹片长期、中期及加速稳定性研究方案 Prepared By: Date: 起草者：日期：Reviewed By QA: Date: 审核者：日期： Approved By: Date: 批准者：日期： Starting Date: Completed Date:
文档仅供参考，不当之处，请联系改正。 开始日期：结束日期： 3 2020年4月19日
Contents 目录 1. Purpose目的…………………………………………………………………………………………错误!未定义书签。 2. Scope范围…………………………………………………………………………………………..错误!未定义书签。 3. R e f e r e n c e s参考资料…………………………………………………………………………………..错误!未定义书签。 4. G e n e r a l I n f o r m a t i o n基本信息………………………………………………………………………..错误!未定义书签。 4.1 S t a b i l i t y S a m p l e s稳定性研究样品…………………………………………………………错误!未定义书签。 4.2 P r o d u c t O u t l i n e样品概述………………………………………………………………..……错误!未定义书签。 4.3 F o r m u l a t i o n处方………………………………………………………………………………错误!未定义书签。 4.4 C o n t a i n e r-C l o s u r e S y s t e m s包装……………………………………………………………错误!未定义书签。 4.5 Labeling标签…………………………………………………………………………………..错误!未定义书签。 4.6 S a m p l e s a n d P a c k a g e样品与包装………………………………………………………….错误!未定义书签。
无机材料的介电常数及磁导率的测定 一、实验目的 1. 掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。 2. 学会使用Agilent4991A 射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。 3. 分析影响介电常数和磁导率的的因素。 二、实验原理 1.介电性能 介电材料（又称电介质）是一类具有电极化能力的功能材料，它是以正负电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。极化指在外加电场作用下，构成电介质材料的内部微观粒子，如原子，离子和分子这些微观粒子的正负电荷中心发生分离，并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动，从而形成偶极子的过程。极化现象和频率密切相关，在特定的的频率范围主要有四种极化机制：电子极化 (electronic polarization ，1015Hz)，离子极化 (ionic polarization ，1012～1013Hz)，转向极化 (orientation polarization ，1011～1012Hz)和空间电荷极化 (space charge polarization ，103Hz)。这些极化的基本形式又分为位移极化和松弛极化，位移极化是弹性的，不需要消耗时间，也无能量消耗，如电子位移极化和离子位移极化。而松弛极化与质点的热运动密切相关，极化的建立需要消耗一定的时间，也通常伴随有能量的消耗，如电子松弛极化和离子松弛极化。 相对介电常数（ε），简称为介电常数，是表征电介质材料介电性能的最重要的基本参数，它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。ε的数值等于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电容器的电容量之比值。表达式如下： A Cd C C ?==001εε （1） 式中C 为含有电介质材料的电容器的电容量；C 0为相同情况下真空电容器的电容量；A 为电极极板面积；d 为电极间距离；ε0为真空介电常数，等于8.85×10-12 F/m 。 另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗，一般用损耗角的正切（tanδ）表示。它是指材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应
信号完整性测试规范和工作流程(Ver0.9x) 历史记录： 1．2003-4-22：初稿、起草。 2．2003-5-23： 一．主要目的： 信号完整性测试的思想是信号源输出，经过传输线到达信号末端（负载），信号本身的相对变化情况。主要目的是验证PCB设计是否保证了信号在传输过程中能否保证其完整性，以信号的相对测试为主旨，信号本身8的绝对测试为辅。信号比较的内容主要是信号的本征特性参数。同时也部分验证电路原理设计的合理性。也检验产品的性能符合国家有关标准的要求，比如3C、EMC、ESD等。从定性参数的角度保证PCB设计达到了电路设计的要求，同时也保证产品的可靠性、一致性。 信号完整性测试一般是在线测试，因此很多测试参数在不同的工作模式下会有较大的差别。一般情况下需要测试静态工作模式，但一些参数需要测试满负荷工作模式。另外测试点的选择，特别是接地点的位置会对测试结果有很大的影响。 二．基本要求： 要求测试准确、可靠、完善。并要求有完整的测试报告。这里的要求是一般通用性的要求，针对具体的产品、产品的不同阶段，可以提出不同的参数要求和具体的测试内容。由于测试是在PCB板上（或称“在线”）的测试，因此一些测试条件和测试参数的定义条件可能会出现不一致的情况，因此规定：测试的基本状态在没有任何说明的情况下，认为是静态工作模式或额定正常工作模式。如果在测试方法中有规定或说明的，以测试说明的条件为准。在类型和参数中列出了比较详细全面的参数，但在测试中可能没有要求，因此，具体产品如果需要测试请加以特别说明。一般规定：主要参数是必须测试的项目参数。 + 三．类型和参数： 3.1电源部分： 3.1.1电源类型分为LDO电源、DC/DC电源。 3.1.2主要参数有：幅度、纹波、噪声。 3.1.3状态分为：额定负载、空载、轻载、重载、超载。 3.1.4保护能力：输出电流保护、输出电压保护、输入电压保护、热保护。 3.1.5其它参数：输入电压适应性、静态电流、关机电流（漏电流）。 3.2时钟信号： 3.2.1时钟源分类：晶体时钟（正弦波时钟）、晶振时钟（方波时钟、钟振时钟）。 3.2.2时钟类型：系统时钟（源时钟）、（数据）同步时钟。 3.2.3主要参数：频率、占空比、过冲、上升沿、下降沿。 3.2.4其它参数：相位抖动、频率漂移、波形畸变。 3.3总线类信号： 3.3.1分类：数据类总线、地址类总线、混合类总线。 3.3.2主要参数：幅度、过冲。 3.3.3其它参数：抖动、上升沿、下降沿。 3.4端口信号： 3.4.1分类：数据信号、基带（调制）信号、二次调制信号、 3.4.2主要参数：幅度、过冲、上升沿、下降沿。 3.4.3其它参数：抖动、频谱、功率（谱）密度。 3.4.4使用到的几种埠：串口、网口、USB口、IF、RF。 3.5其它信号、器件、电路： 3.5.1主要的几个：复位信号、JTAG、无线、功耗、温度、音频振荡器。 3.5.2参数：
服务器稳定性是最重要的，如果在稳定性方面不能够保证业务运行的需要，在高的性能也是无用的。 正规的服务器厂商都会对产品惊醒不同温度和湿度下的运行稳定性测试。重点要考虑的是冗余功能，如：数据冗余、网卡荣誉、电源冗余、风扇冗余等。 一些测试方法主要分以下几种： 压力测试：已知系统高峰期使用人数，验证各事务在最大并发数（通过高峰期人数换算）下事务响应时间能够达到客户要求。系统各性能指标在这种压力下是否还在正常数值之内。系统是否会因这样的压力导致不良反应（如：宕机、应用异常中止等）。 Ramp Up 增量设计：如并发用户为75人，系统注册用户为1500人，以5％－7％作为并发用户参考值。一般以每15s加载5人的方式进行增压设计，该数值主要参考测试加压机性能，建议Run几次。以事务通过率与错误率衡量实际加载方式。 Ramp Up增量设计目标：寻找已增量方式加压系统性能瓶颈位置，抓住出现的性能拐点时机，一般常用参考Hits点击率与吞吐量、CPU、内存使用情况综合判断。模拟高峰期使用人数，如早晨的登录，下班后的退出，工资发送时的消息系统等。 另一种极限模拟方式，可视为在峰值压力情况下同时点击事务操作的系统极限操作指标。加压方式不变，在各脚本事务点中设置同集合点名称（如：lr_rendzvous("same");）在场景设计中，使用事务点集合策略。以同时达到集合点百分率为标准，同时释放所有正在Run的Vuser。 稳定性测试：已知系统高峰期使用人数、各事务操作频率等。设计综合测试场景，测试时将每个场景按照一定人数比率一起运行，模拟用户使用数年的情况。并监控在测试中，系统各性能指标在这种压力下是否能保持正常数值。事务响应时间是否会出现波动或随测试时
TP 线性度测试 一：线性度定义 备注： △ Ymax ：输出平均值与最佳直线问的最大偏差 Ymax-Ymin ：传感器的量程，是测量上限(高端)和测量下限(低端)的代数差 ? 以电阻屏为例：电阻式TP 由上下两个导电层构成，其等效电阻为Rx 、Ry 。测试时，先给X 向加基准 电压5V ，测试Y 向电压。因为触摸压力使两个导电层接触，通过计算测量Y 向电压就可以解析出触点Y 向基于相对零点的偏移量。同理可以测得X 向基于相对零点的偏移量。 在线性度测试中，根据所选定参考直线的不同，可获得不同的线性度 在不同衡量标准中，独立线性度足衡量线性特性的最客观标准（以最佳直线作为参考直线） 独立线性度定义为实际平均输 特性曲线对最佳直线的最大偏差，以满量程输出的分比来表示 Xmax-Xmin Lx=± △Xmax X 100% Ymax-Ymin Ly=± △Ymax X 100% Ymax Ymi Xmi Xma
二：测试原理 测试接触点的选择：在测试触摸屏线性度时，为了能够精确反应触摸屏的整体特性，需要选取尽量多的测 点。然而，对于测试时间与效率而言，希望选取尽量少的测试点。因此，在精度和效率之间需要选取一个平衡点。 线性度：支持并行线、垂直线、对角线、圆弧等多种图像来检测产品的线性偏差，可在测试区域内任意设 臵线距、线数及弧度大小，并支持两点同时划线、两点划圆等多种测试方式，达到更精确的体现产品特性； 灵敏度：可设定不同的划线轨迹，实现接触式划线或非接触式划线，触笔离产品的高度可按设定调节，并 能自动找出触控高度 在实际应用中，常用两个步进电机作为驱动装臵实现一个二维定位系统控制测试笔在触摸屏上打点，实现 测试的输入。 根据接触点输入集P （P1,P2,P2……….Pn-1,Pn ）与输出集T （T1,T2,T3……Tn-1,Tn ）中对应点的最大偏差 值即可求出整块屏的线性度 测试点分布示意 测试区域定位图
中文名称：磁导率 英文名称：magnetic permeability 定义：磁介质中磁感应强度与磁场强度之比。分为绝对磁导率和相对 磁导率，是表征磁介质导磁性能的物理量。 磁导率μ等于中B与磁场强度H之比，即μ=B/H 通常使用的是磁介质的相对磁导率μr，其定义为磁导率μ与μ0之比，即μr=μ/μ0 相对磁导率μr与χ的关系是：μr=1+χ 磁导率μ，相对磁导率μr和磁化率xm都是描述磁介质磁性的物理量。 对于μr>1；对于μr<1，但两者的μr都与1相差无几。在大多数情况下,导体的相对磁导率等于1.在中，B与 H 的关系是非线性的磁滞回线，μr不是常量，与H有关，其数值远大于1。 例如，如果空气(非)的磁导率是1，则的磁导率为10，000，即当比较时，以通过磁性材料的是10,000倍。 涉及磁导率的公式：
磁场的能量密度=B^2/2μ 在（SI）中，相对磁导率μr是无量纲的，磁导率μ的单位是/米（H/m）。 常用的真空磁导率 常用参数 (1)初始磁导率μi：是指基本磁化曲线当H→0时的磁导率 (2)最大磁导率μm：在初始段以后，随着H的增大，斜率μ=B/H逐渐增大，到某一强度下(Hm)，磁密度达到最大值（Bm），即 （3）饱和磁导率μS：基本磁化曲线饱和段的磁导率，μs值一般很小，深度饱和时，μs=μo。
（4）（）磁导率μΔ∶μΔ=△B/△H。ΔB及△H是在（B1，H1）点所取的增量如图1和图2所示。 （5）微分磁导率，μd∶μd=dB /dH，在（B1，H1）点取微分，可得μd。 可知：μ1=B1/H1，μ△=△B /△H，μd=dB1/dH1，三者虽是在同一点上的磁导率，但在数值上是不相等的。 非磁性材料（如铝、木材、玻璃、自由空间）B与H之比为一个常数，用μ。来表示非磁性材料的的磁导率，即μ。=1（在CGS单位制中）或μ。=4πX10o－7（在RMKS中）。 在众多的材料中，如果自由空间（真空）的μo=1，那△么比1略大的材料称为顺磁性材料（如白金、空气等）；比1略小的材料，称为反磁性材料（如银、铜、水等）。本章介绍的磁性元件μ1是大有用处的。只有在需要时，才会用铜等反磁性材料做成使磁元件的磁不会辐射到空间中去。 下面给出几个常用的参数式： （1）有效磁导率μro。在用L形成闭合中（漏磁可以忽略），的有效磁导率为：
服务器的稳定性:服务器稳定性测试思路方法疯狂代码 https://www.doczj.com/doc/9e11042368.html,/ ?:http:/https://www.doczj.com/doc/9e11042368.html,/SoftwareTesting/Article35038.html 服务器稳定性是最重要如果在稳定性方面不能够保证业务运行需要在高性能也是无用 正规服务器厂商都会对产品惊醒区别温度和湿度下运行稳定性测试重点要考虑是冗余功能如:数据冗余、网卡荣誉、电源冗余、风扇冗余等 些测试思路方法主要分以下几种: 压力测试:已知系统高峰期使用人数验证各事务在最大并发数(通过高峰期人数换算)下事务响应时间能够达到客户要求系统各性能指标在这种压力下是否还在正常数值的内系统是否会因这样压力导致不良反应(如:宕机、应用异常中止等) Ramp Up 增量设计:如并发用户为75人系统注册用户为1500人以5％－7％作为并发用户参考值般以每 15s加载5人方式进行增压设计该数值主要参考测试加压机性能建议Run几次以事务通过率和率衡量实际加载方式 Ramp Up增量设计目标: 寻找已增量方式加压系统性能瓶颈位置抓住出现性能拐点时机般常用参考Hits点击率和吞吐量、CPU、内存使用情况综合判断模拟高峰期使用人数如早晨登录下班后退出工资发送时消息系统等 另种极限模拟方式可视为在峰值压力情况下同时点击事务操作系统极限操作指标加压方式不变在各脚本事务点中设置同集合点名称(如:lr_rendzvous("same");)在场景设计中使用事务点集合策略以同时达到集合点百分率为标准同时释放所有正在RunVuser 稳定性测试:已知系统高峰期使用人数、各事务操作频率等设计综合测试场景测试时将每个场景按照定人数比率起运行模拟用户使用数年情况并监控在测试中系统各性能指标在这种压力下是否能保持正常数值事务响应时间是否会出现波动或随测试时间增涨而增加系统是否会在测试期间内发生如宕机、应用中止等异常情况 根据上述测试中各事务条件下出现性能拐点位置已确定稳定性测试并发用户人数仍然根据实际测试服务器(加压机、应用服务器、数据服务器 3方性能)估算最终并发用户人数 场景设计思想: 从稳定性测试场景设计意义应分多种情况考虑: 针对同个场景为例以下以公文附件上传为例简要分析场景设计思想: 1)场景:已压力测试环境下性能拐点并发用户为设计测试场景目验证极限压力情况下测试服务器各性能指标 2)场景 2:根据压力测试环境中CPU、内存等指标选取服务器所能承受最大压力50%来确定并发用户数 测试思路方法:采用1)Ramp Up-Load all Vusers simultaneously
传感器线性度的概念及表示方法 1传感器线性度的概念 线性度是描述传感器静态特性的一个重要指标，以被测输入量处于稳定状态为前提。 线性度又称非线性，表征传感器输出—输入校准曲线（或平均校准曲线）与所选定的作为工作直线的拟合直线之间的偏离程度。这一指标通常以相对误差表示如下。 %100.max ??±=S F L y L ξ （1） 式中：max L ?——输出平均校准曲线与拟合直线间的最大偏差； S F y .——理论满量程输出。 由式（1）可见，拟合直线是获得相应的线性度的基础，选择的拟合直线不同，max L ?不同，计算所得的线性度数值也就不同。 2线性度表示方法 线性度表示方法很多，一般常用的有以下四种方法。 2.1理论直线法 理论直线法是以传感器的理论特性直线作为拟合直线，与传感器被测输出值无关。 例如：在一个标准大气压力试验条件下，设定被测温度传感器下限值为0℃，上限值为100℃，以测量范围为0℃～100℃的二等标准水银温度计作为标准计量器具，不管温度标定试验级数如何确定，均以标准水银温度计示值作为拟合直线，即试验各温度测试点温度传感器计算温度值均直接与该测试点标准水银温度计示值进行比较，从中获取max L ?，max L ?值即为被测温度传感器线性误差，暂名之以“理论线性度”。理论直线法示意见图1。 图1 理论直线法示意图 0 y x
2.2最佳直线法 通过图解法或计算机辅助解算，获得一条“最佳直线”，使得传感器正反行程校准曲线相对于该直线的正、负偏差相等且最小，如图2所示。由此所得的线性度称为“独立线性度”。 2.3端点直线法 以传感器校准曲线两端点间的连线作为拟合直线，这种方法可为称之为端点直线法，端基直线法，相应地线性度称之为端点线性度或端基线性度。端点直线法示意见图3。 图3 端点直线法示意图 端点直线法拟合直线方程为： kx b y += （2） 2.4最小二乘直线法 利用最小二乘原理获取拟合直线的方法称为最小二乘直线法。这种方法的基本原理是使传感器校准数据的残差的平方和最小。 最小二乘法拟合直线以式（2）表示，设定传感器校准测试点为n ，第i 个标准数据i y 的残差i ?为： )(i i i kx b y +-=? （3） 按最小二乘法原理，应使∑=?n i i 12 最小。因此，以∑=?n i i 12 分别对b 和k 求一阶偏0 x y 0
化学分析方法确认 线性范围 a)采用校准曲线法定量，并至少具有6个校准点（包括空白），浓度范围尽可能覆盖一个 或多个数量级，每个校准点至少随机顺序重复测量2次，最好是3次或更多；对于筛选方法，线性回归方程的相关系数不低于0.98；对于准确定量的方法，线性回归方程的相关系数不低于0.99。 b)校准用的校准点应尽可能均匀地分布在关注的浓度范围内并能覆盖该范围。在理想的情 况下，不同浓度的校准溶液应独立配置，低浓度的校准点不宜通过稀释校准曲线中高浓度的校准点进行配置。 c)浓度范围一般应覆盖关注浓度的50%～150%，如需做空白时，则应覆盖关注浓度的0%～ 150%。 d)应充分考虑可能的基质效应影响，排除其对校准曲线的干扰。实验室应提供文献或实验 数据，说明目标分析物在溶剂中、样品中和基质成分中的稳定性，并在方法中予以明确。 通常各种分析物在保持条件的稳定性都已有很好的研究，监测保存条件应作为常规实验室确认系统的一部分。对于缺少稳定性数据的目标分析物，应提供能分析其稳定性的测定方法和确认结果。 检出限 a)仪器检出限（IDL）：为用仪器可靠的将目标分析物信号从背景（噪音）中识别出来时分 析物的最低浓度或量，该值表示为仪器检出限（IDL）。随着一起灵敏度的增加，仪器噪声也会降低，相应IDL也降低。 b)方法检出限（MDL）：为用特定方法可靠的将分析物测定信号从特定基质背景中识别或 区分出来时分析物的最低浓度或量。即MDL就是用该方法测定出大于相关不确定度的最低值。确定MDL时，应考虑到所有基质的干扰。 注：方法的检出限（LOD）不宜与仪器最低相应值相混淆。使用信噪比可用来考察仪器性能但不适用于评估方法的检出限（LOD）。 c)确定检出限的方法 1)目视评估法评估LOD 目视评估法是通过在样品空白中添加已知浓度的分析物，然后确定能够可靠检测出分析物最低浓度值的方法。即在样品空白中加入一系列不同浓度的分析物，随机对每一个浓度点进行约7次的独立测试，通过绘制阳性（或阴性）结果百分比与浓度相对应的反应曲线确定阀值浓度。该方法也可用于定性方法中检出限的确定。 2)空白标准偏差法评估LOD 即通过分析大量的样品空白或加入最低可接受浓度的样品空白来确定LOD。独立测试的次数应不少于10次（n≧10），计算出检测结果的标准偏差（s），计算方法见下表。