芯科电子科技有限公司品管（IQC）检验标准书

1目的本检验规范的目的是保证本公司所购贴片三极管的质量符合要求。2 适用范围本检验规范适用于本公司生产产品无特殊要求的贴片三极管。3 规范内容：3.1测试工量具及仪表：晶体测试特性仪，恒温铬铁，浓度不低于95%的酒精3.2缺陷分类及定义：A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，

三极管检验标准

三极管检验规范

电子元器件检验规范标准（一）IC类检验规范（包括BGA）备注：凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH寸应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。（二）贴片元件检验

IQC 来料检验指导书检验说明：一、目的：对本公司的进货原材料按规定进行核对总和试验，确保产品的最终品质。二、围:1、适用于IQC 对通用产品的来料检验。2、适用对元件检验方法和围的指导。3、适用于IPQC、QA 对产品在制程和终检时，对元件进行覆核查证。三、责任:1、IQC 在检验过程中按照检验指导书所示检验专案，参照供应商器件确认书对来料进行检验。2、检

M O S管和三极管检验标准与规范Company Document number：WTUT-WT88Y-W8BBGB-BWYTT-19998

三极管进料检验标准

版 本 A.0 页次Page 1 of 2版 本 A.0 页次Page 2 of 22.3.3参数特性三极管电参数用晶体管特性图示仪或三极管电性能测试仪。抽验项目：三极管的β值、Ts值、VBE值、VCE值。以120±2℃加温2小时，在置于常温下0.5小时，其电性能应在格内。3. 检验方法3.1 外观目测实物。人眼与被测物体保持≤20cm的距离。检测外形和封装

ˇ ˇˇ ˇˇ ˇˇˇˇ环保外箱须按要求粘贴环保标识 目视 查询SAP无环保标识或漏贴标识v物质环保资料符合规定期限查询SAP显示检测报告已超期v核准审核作成吴琼卡尺 抽样 尺寸在

德信诚培训网更多免费资料下载请进： 好好学习社区 灯具三极管检验标准1.0 目 的：为使三极管来料符合本厂之产品要求，特制定检验和判定标准。2.0 范 围：适合本公司所有来料三极管检验3.0 检验环境：在正常光源下，距30CM 远，以适宜视角观看产品。4.0 检验内容:

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电子元器件来料检验规程（一）半导体晶体管部分1内容本规程规定了本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验的抽样方式、接收标准、检验测试方法和所用测试仪器等具体要求。2范围本规程适用于本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验和验收。3引用标准GB2828.1-2003 计数抽样检

电子元器件来料检验规程（一）半导体晶体管部分1内容本规程规定了本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验的抽样方式、接收标准、检验测试方法和所用测试仪器等具体要求。2范围本规程适用于本公司常用半导体二极管、三极管、达林顿晶体管、绝缘栅双极晶体管（IGBT）来料检验和验收。3引用标准计数抽样检验程序第一部分：按接收质量限

一、适用范围及检验方案1、适用范围本检验标准中所指电子元器件仅为PCBA上的贴片件或接插件，具体下表清单所示：2、检验方案每批来料的抽检量（n）为5只，接收质量限（AQL）为：CR与MA=0，MI=（1，2），当来料少于5只时则全检，1且接收质量限CR、 MA与 MI=0。来料检验项目=通用检验项目+差异检验项目，差异检验项目清单中未列出部件，按通用检验项目

三极管检验规范1.0 目的规范三极管检验标准及检验方法，确保来料符合要求。2.0 范围适用于小功率三极管的来料品质验证。3.0 定义Na4.0 责任4.1 IQC负责来料检验；4.2 MRB负责异常物料的处置。5.0 参考：QP－B－002 品质管制程序6.0 程序6.1 抽样方案依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样，样品必须是随机从不同的最

晶体三极管1、适用范围：适用于我公司生产电子镇流器及同类型产品中采用晶体三极管的基本要求、检验方法、检查水平(IL)、可接收质量水平（AQL）、检验规则。并按相应规定将各种规格三极管进行选择。3．主要技术参数测试3.1晶体三极管的主要技术参数是在环境温度为25±2℃下测试，若环境温度有变化，应根据温度差异相应改变电参数的测试结果。3．3三极管相关额定值与电参

电子元器件检验规范标准书修订修订修订内容摘要页次版次修订审核批准日期单号2011/03/30 / 系统文件新制定4A/0 / / / 批准：审核：编制：部分电子元器件检验规范标准书IC 类检验规范 ( 包括 BGA)1.目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2.适用范适用于本公司所有IC （包括 BGA）之检验。围3. 抽样计正常单次抽样计划；具体抽样方式

三极管的检测方法1、中、小功率三极管的检测A、已知型号和管脚排列的三极管，可按下述方法来判断其性能好坏(a)、测量极间电阻。将万用表置于R×100或R×1k挡，按照红、黑表笔的六种不同接法进行测试。其中，发射结和集电结的正向电阻值比较低，其他四种接法测得的电阻值都很高，约为几百千欧至无穷大。但不管是低阻还是高阻，硅材料三极管的极间电阻要比锗材料三极管的极间电

重缺陷：0.065轻缺陷：0.654、缺陷分类4.1重缺陷：错料、混料，来料裂、变形，电性能不符合，引脚不上锡。4.2轻缺陷：尺寸略超差，但不影响使用；外观轻微缺陷，但不影响使用。